JP6009837B2 - レーザ顕微鏡および受光感度延命方法 - Google Patents
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Description
本発明は、光源から発せられたレーザ光を標本に照射し、該標本から戻る戻り光を集光する対物レンズと、前記戻り光を受光して光電変換する受光素子を有する光検出器と、前記対物レンズにより集光された前記戻り光を前記光検出器の前記受光素子に入射させる入射光学系と、前記受光素子に入射する前記戻り光の入射位置を同一の前記受光素子の他の位置に変更する入射位置変更部とを備えるレーザ顕微鏡を提供する。
本発明は、光源から発せられたレーザ光を標本に照射し、該標本から戻る戻り光を集光する対物レンズと、前記対物レンズにより集光された前記戻り光をスペクトル成分に分光する分光素子と、前記戻り光を受光して光電変換する受光素子を有する光検出器と、前記対物レンズにより集光された前記戻り光を前記光検出器の前記受光素子に入射させる入射光学系と、前記受光素子に入射する前記戻り光の入射位置を変更する入射位置変更部とを備え、前記入射位置変更部が、前記受光素子における前記戻り光の入射位置を前記スペクトル成分の分光方向に直交する方向に変更するレーザ顕微鏡を提供する。
このように構成することで、分光素子によりスペクトル成分に分光された戻り光を無駄なく複数の受光素子に入射させ、これらの受光素子により所望のスペクトル成分を選択的に1度に検出することができる。これにより、迅速かつ効率的に分光検出を行うことができる。
このように構成することで、受光素子における一定位置に無駄に戻り光が受光されるのを防止し、受光素子の受光感度をより効率的に延命することができる。
このように構成することで、受光素子ごとの受光感度を簡易に測定することができる。
このように構成することで、対物レンズによるレーザ光の照射位置に反射ミラーを配置する手間をかけることなく、切替機構によりレーザ光の光路上に折返し部材を配置するだけで、感度測定部により受光素子ごとの受光感度を測定することができる。
このように構成することで、切替機構により、レーザ光の光路上に折返し部材を配置するか光学素子を配置するかを切替えるだけで、光検出器の受光感度の測定と標本の観察とを切替えることができる。
本発明の第1実施形態に係るレーザ顕微鏡および受光感度延命方法について図面を参照して以下に説明する。
本実施形態に係るレーザ顕微鏡100は、図1に示されるように、標本Sを載置するステージ1と、レーザ光を発するレーザユニット10と、レーザユニット10から発せられたレーザ光を反射して標本S上で走査させる走査部23を有する照明光学系20と、照明光学系20からのレーザ光を標本Sに照射し、標本Sにおいて発生した蛍光(戻り光)を集光する対物レンズ5と、対物レンズ5により集光された蛍光を検出する検出器(光検出器)45を有する検出光学系30と、検出光学系30を制御する制御部(入射位置変更部)7とを備えている。図1において、符合3は照明光学系20からのレーザ光を対物レンズ5に向けて反射する反射ミラーを示している。
本実施形態に係る受光感度延命方法は、検出器45の受光素子46の受光感度が劣化した場合に、ユーザが入力部に入射位置切替の指示を入力し、制御部7によって入射位置切替ミラー41の軸回りの角度を変更することで、検出器45の受光素子46における蛍光の入射位置を異なる位置に変更するようになっている。
本実施形態に係るレーザ顕微鏡100により標本Sを観察するには、まず、ステージ1に標本Sを載置し、レーザユニット10から所定の波長域で所定の強度のレーザ光を発する。
受光素子46の受光感度が劣化した場合は、ユーザにより入力部を介して、受光素子46におけるレーザ光の入射位置を切替える指示を入力する。
次に、本発明の第2実施形態に係るレーザ顕微鏡および受光感度延命方法について説明する。
本実施形態に係るレーザ顕微鏡200は、図3に示すように、検出光学系30が、蛍光をスペクトル成分に分光する(Grating)回折格子等の分光素子136を備え、検出器45に代えて、分光素子136によるスペクトル成分の分光方向に沿って配列された複数の受光素子146を有する検出器145を備える点で第1実施形態と異なる。
以下、第1実施形態に係るレーザ顕微鏡100および受光感度延命方法と構成を共通する箇所には、同一符号を付して説明を省略する。
検出器145としては、例えば、多チャンネルPMT(Photomultiplier Tube、光電子増倍管器)が用いられる。
本実施形態に係るレーザ顕微鏡200により標本Sを観察する場合は、第1実施形態と同様に、レーザユニット10からレーザ光を発して標本Sに照射する。標本Sにおいて発生した蛍光は、対物レンズ5により集光されて照明光学系20を介してピンホール33を通過し、反射ミラー35により反射されて分光素子136によりスペクトル成分に分光される。
次に、本発明の第3実施形態に係るレーザ顕微鏡および受光感度延命方法について説明する。
本実施形態に係るレーザ顕微鏡300は、図6に示すように、反射ミラー37に代えて、分光素子136により分光された蛍光のスペクトル成分の分散方向に移動可能な移動可能ミラー237を備え、また、制御部7に代えて、検出器145の複数の受光素子146の感度の補正等を行う制御装置250を備える点で第1実施形態および第2実施形態と異なる。
以下、第1実施形態および第2実施形態に係るレーザ顕微鏡100,200および受光感度延命方法と構成を共通する箇所には、同一符号を付して説明を省略する。
アナログ演算回路は、検出器145から送られてくる電気信号を演算処理し、画像情報として入射位置情報とともにPC263に送るようになっている。
本実施形態に係るレーザ顕微鏡300により標本Sを観察する方法については、蛍光を反射ミラー37に代えて移動可能ミラー237により反射する点以外は第2実施形態のレーザ顕微鏡200と同様であるので説明を省略する。
本実施形態に係るレーザ顕微鏡300および受光感度延命方法においては、工場出荷時において、製造メーカにより次の処置を行う。
まず、ステージ1上にミラー標本(反射ミラー)S´を載置し、励起ダイクロイックミラー21として、レーザユニット10から発せられるレーザ光を反射する一方、ミラー標本S´から戻るレーザ光の反射光(戻り光)を透過する特性を有する素子(例えば、波長依存特性がなく、受光した光を一定の比率で反射し、残りを透過する特性を持つダイクロックミラー。)を配置する。また、ピンホール33のピンホール径を絞り、制御部207により、入射位置切替ミラー41を初期位置(光軸中心)に設定する。
まず、レーザユニット10からレーザ光を発してミラー標本S´に照射し、制御部207により走査部23を制御してミラー標本S´上でレーザ光を走査させる。そして、ミラー標本S´において反射されて励起ダイクロイックミラー21を透過した反射光を検出器145により検出して光電変換し、その電気信号をアナログ演算回路265により演算処理して、PC263によりミラー標本S´のXY画像を生成する。
ここまでの作業が製造メーカにより納品前に実施される。
まず、PC263により、納品前の感度補正ゲインの取得と同様の方法で、納品後の感度補正ゲインを取得する。納品後の感度補正ゲインが取得されると、PC263により、取得した納品後の感度補正ゲインと、記憶部261に記憶されている納品前の感度補正ゲインとが比較される。両者の差分が所定の閾値よりも大きい場合(例えば、2倍以上の場合)は感度劣化とみなし、受光素子146の受光感度延命方法を実行する。
例えば、第1変形例としては、図7に示すように、入射位置切替ミラー41が、分光素子136によりスペクトル成分に分光された蛍光の光路を、光路長が異なる2つの光路に切替える光路切替部として機能することとしてもよい。
7,207 制御部(入射位置変更部、計測部)
11 レーザ光源(光源)
23 走査部
41 入射位置切替ミラー(入射光学系)
45,145 検出器(光検出器)
46,146 受光素子
136 分光素子
261 記憶部
263 PC(感度測定部)
271 全反射ミラー(折返し部材)
273 ターレット(切替機構)
275 コーナキューブ(折返し部材)
277 ターレット
100,200,300 レーザ顕微鏡
Claims (12)
- 光源から発せられたレーザ光を標本に照射し、該標本から戻る戻り光を集光する対物レンズと、
前記戻り光を受光して光電変換する受光素子を有する光検出器と、
前記対物レンズにより集光された前記戻り光を前記光検出器の前記受光素子に入射させる入射光学系と、
前記受光素子に入射する前記戻り光の入射位置を同一の前記受光素子の他の位置に変更する入射位置変更部とを備えるレーザ顕微鏡。 - 光源から発せられたレーザ光を標本に照射し、該標本から戻る戻り光を集光する対物レンズと、
前記対物レンズにより集光された前記戻り光をスペクトル成分に分光する分光素子と、
前記戻り光を受光して光電変換する受光素子を有する光検出器と、
前記対物レンズにより集光された前記戻り光を前記光検出器の前記受光素子に入射させる入射光学系と、
前記受光素子に入射する前記戻り光の入射位置を変更する入射位置変更部とを備え、
前記入射位置変更部が、前記受光素子における前記戻り光の入射位置を前記スペクトル成分の分光方向に直交する方向に変更するレーザ顕微鏡。 - 前記対物レンズにより集光された前記戻り光をスペクトル成分に分光する分光素子を備え、
前記入射位置変更部が、前記受光素子における前記戻り光の入射位置を前記スペクトル成分の分光方向に直交する方向に変更する請求項1に記載のレーザ顕微鏡。 - 前記光検出器が、前記分光素子による前記スペクトル成分の分光方向に沿って配列された複数の前記受光素子を備える請求項2または請求項3に記載のレーザ顕微鏡。
- 前記入射位置変更部が、前記分光素子により前記スペクトル成分に分光された戻り光の光路を、光路長が異なる2つの光路に切替える光路切替部として機能する請求項2から請求項4のいずれかに記載のレーザ顕微鏡。
- 前記入射位置変更部が、前記光源の起動時に前記受光素子における前記戻り光の入射位置を変更する請求項1から請求項5のいずれかに記載のレーザ顕微鏡。
- 前記受光素子ごとの受光感度を測定する感度測定部と、
該感度測定部により測定された前記受光素子ごとの受光感度と前記複数の受光素子における前記戻り光の入射位置とを対応付けて記憶する記憶部と、
該記憶部により記憶されている前記受光素子ごとの受光感度と前記感度測定部により新たに測定された前記受光素子ごとの受光感度との差分を計測する計測部とを備え、
該計測部により計測された前記差分が所定の閾値よりも大きい場合に、前記入射位置変更部が前記複数の受光素子における前記戻り光の入射位置を変更し、前記記憶部が前記入射位置変更部により変更された前記複数の受光素子における前記戻り光の入射位置とその入射位置において前記感度測定部により測定された前記受光素子ごとの受光感度とを対応付けて記憶する請求項2から請求項5のいずれかに記載のレーザ顕微鏡。 - 前記感度測定部が、前記対物レンズによる前記レーザ光の照射位置に配置した反射ミラーからの反射光を用いて、前記受光素子の受光感度を測定する請求項7に記載のレーザ顕微鏡。
- 前記レーザ光の光路上に該レーザ光を折返す折返し部材を挿脱可能な切替機構を備える請求項7に記載のレーザ顕微鏡。
- 前記切替機構が、前記レーザ光を前記対物レンズに入射させる光学素子と前記折返し部材とを前記レーザ光の光路に選択的に配置可能な請求項9に記載のレーザ顕微鏡。
- 前記光源から発せられた前記レーザ光を反射して前記標本上で走査させる走査部と、
該走査部と前記対物レンズとの間の前記レーザ光の光路から外れた位置に配置された、前記レーザ光を折返し可能な折返し部材とを備え、
前記走査部が、前記折返し部材に向けて前記レーザ光を反射可能な請求項7に記載のレーザ顕微鏡。 - 光源からレーザ光を発して標本に照射することにより該標本から戻る戻り光を光検出器の受光素子に入射させ、該受光素子により前記戻り光を受光して前記標本を観察するレーザ顕微鏡に使用される前記受光素子の受光感度延命方法であって、
前記受光素子の受光感度が劣化した場合に、前記受光素子における前記戻り光の入射位置を異なる位置に変更する受光感度延命方法。
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