JP5718014B2 - X線ct装置 - Google Patents
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- 239000006096 absorbing agent Substances 0.000 claims description 103
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 55
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 51
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 49
- 238000009826 distribution Methods 0.000 claims description 43
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 43
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 25
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 15
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 claims description 10
- 238000003860 storage Methods 0.000 claims description 8
- 239000002250 absorbent Substances 0.000 claims description 5
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 claims description 4
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 4
- 230000002745 absorbent Effects 0.000 claims 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 25
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 11
- 238000013480 data collection Methods 0.000 description 11
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 8
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 8
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 7
- 238000003709 image segmentation Methods 0.000 description 6
- 230000011218 segmentation Effects 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000006870 function Effects 0.000 description 4
- -1 bed Substances 0.000 description 3
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 3
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 3
- 238000006731 degradation reaction Methods 0.000 description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 3
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 210000001015 abdomen Anatomy 0.000 description 2
- 210000004204 blood vessel Anatomy 0.000 description 2
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 2
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910000531 Co alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 206010061216 Infarction Diseases 0.000 description 1
- 229910000990 Ni alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001069 Ti alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000008280 blood Substances 0.000 description 1
- 210000004369 blood Anatomy 0.000 description 1
- 210000000988 bone and bone Anatomy 0.000 description 1
- 230000037182 bone density Effects 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 230000001771 impaired effect Effects 0.000 description 1
- 230000007574 infarction Effects 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 230000003902 lesion Effects 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 229910001000 nickel titanium Inorganic materials 0.000 description 1
- HLXZNVUGXRDIFK-UHFFFAOYSA-N nickel titanium Chemical compound [Ti].[Ti].[Ti].[Ti].[Ti].[Ti].[Ti].[Ti].[Ti].[Ti].[Ti].[Ni].[Ni].[Ni].[Ni].[Ni].[Ni].[Ni].[Ni].[Ni].[Ni].[Ni].[Ni].[Ni].[Ni] HLXZNVUGXRDIFK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005457 optimization Methods 0.000 description 1
- 238000005192 partition Methods 0.000 description 1
- 239000013558 reference substance Substances 0.000 description 1
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 1
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 1
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 1
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 1
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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Description
第2の発明は、被検体にX線を照射するX線源と、前記X線源に対向配置され前記被検体を透過したX線を検出するX線検出器と、前記X線源と前記X線検出器を搭載し前記被検体の周囲を回転するスキャナと、前記X線検出器で検出された前記被検体の撮影部位における複数方向からの透過X線量に基づいて前記被検体の撮影部位における断面像を再構成する画像再構成装置と、再構成された断面像を表示する画像表示装置と、を備えたX線CT装置において、被検体の位置決め用画像を撮影する位置決め用画像撮影手段と、前記位置決め用画像を用いて、被検体内部の高吸収体の分布を解析する解析手段と、解析された高吸収体の分布、該高吸収体以外の部分の既知のX線減弱係数、前記位置決め用画像を撮影する際の照射X線量、及び計測された透過X線量に基づいて前記高吸収体のX線減弱係数を求め、該高吸収体の物質を推定する物質推定手段と、前記高吸収体の分布及びX線減弱係数を用いて撮影範囲の各断面位置における最適な照射X線量を算出する露出制御手段と、前記露出制御手段により算出された照射X線量に従って前記被検体の本撮影を行う撮影手段と、を備え、前記解析手段は、1方向から撮影された位置決め用画像の被検体領域を全て低吸収体と区分し、該領域の透過線量を水等価長に変換した単区分水等価長スキャノ画像のプロファイルを生成する単区分水等価長プロファイル生成手段と、前記位置決め用画像の被検体領域をその濃度分布から低吸収体及び高吸収体に区分し、各区分の透過線量をそれぞれ水等価長に変換した二区分水等価長スキャノ画像のプロファイルを生成する二区分水等価長プロファイル生成手段と、前記単区分水等価長プロファイルと前記二区分水等価長プロファイルとの差分から、前記高吸収体のプロファイルを算出する高吸収体算出手段と、前記高吸収体のプロファイルに2つのピークが存在するか否かを判定する判定手段と、前記高吸収体のプロファイルに2つのピークが存在する場合は、該高吸収体の形状を環状とみなし、前記ピークの分布に基づいて前記環の内径及び外径を推定する形状推定手段と、を備え、前記物質推定手段は、前記形状推定手段により推定された前記高吸収体の形状情報を用いて前記高吸収体のX線減弱係数を推定することを特徴とするX線CT装置である。
まず、図1〜図2を参照して、本実施の形態のX線CT装置1の構成について説明する。
画像処理装置422は、画像データの解析や解析結果に基づいて最適な照射X線量を算出する処理等を行う。
まず、全体の流れを説明する。
図3に示すように、寝台3に載置された被検体6に対して位置決め撮影を行う(ステップS101)。位置決め撮影とは、撮影対象部位を含む部位に対して、スキャナ2を回転させずに一定角度からX線を照射する撮影方法である。
以下の説明において、寝台方向と垂直な方向から撮影した位置決め画像を「縦スキャノ画像」と呼び、寝台方向と水平な方向から撮影した位置決め画像を「横スキャノ画像」と呼ぶ。第1の実施の形態では少なくとも2方向から撮影されたスキャノ画像を用いて被検体6内の金属製留置物(高吸収体)の分布を解析するため、縦スキャノ画像及び横スキャノ画像の撮影を行うものとする。なお、位置決め画像の撮影方向は、縦及び横に限定されるものでなく、任意の方向から撮影された位置決め画像を用いてもよい。
ステップS102の物質推定処理については後述する。
以上が撮影処理の全体の流れである。
位置決め画像から得られる情報から高吸収体506の物質を推定するために、本発明では、図5に示すように、まず位置決め画像を区分化し、高吸収体の分布を表した区分化画像を生成する(ステップS201)。高吸収体以外の区分は、低吸収体のみとしてもよいし、寝台、空気等に更に区分してもよい。
まず、中央制御装置400は、縦スキャノ画像及び横スキャノ画像について区分化処理を実施する(ステップS301)。すなわち、中央制御装置400は、縦スキャノ画像をその濃度分布に基づいて、高吸収体領域、低吸収体領域、及び空気領域に区分化する。また、横スキャノ画像をその濃度分布に基づいて、高吸収体領域、低吸収体領域、寝台領域、及び空気領域に区分化する。区分化は、濃度値の閾値処理により行えばよい。高吸収体と低吸収体との閾値は、例えば骨の濃度値の数倍程度以上とすればよい。
被検体6は寝台領域を概ね覆うように載置されるため、縦スキャノ画像では寝台領域を分離しにくい。そのため、寝台領域は区分化しないが、可能であれば区分化してもよい。
また、同一区分では同じ画素値、異なる区分では異なる画素値となるように区分化した各画素に画素値を与え、区分化画像を生成する。また、基準とする物質の透過長は、水の透過長でもよいし、それ以外の物質の透過長でもよい。
また、各位置決め画像上の物体の既知の位置情報や形状情報を区分化に利用してもよい。例えば寝台の位置や形状は、被検体との位置関係から推測可能であるため、この位置情報や形状情報を区分化に利用してもよい。
更に、上述の閾値と、物質の位置情報、形状情報等とを適宜組み合わせて区分化に利用してもよい。
中央制御装置400は、縦横の各拡張スキャノ画像の同一座標の区分を比較し、その結果に応じてその座標の区分を決定する(再区分化する)。
図9に示すように、縦横の各拡張スキャノ画像の同一座標が同一区分である場合は(ステップS401;Yes)、そのままの区分を採用する(ステップS402)。縦横の各拡張スキャノ画像の同一座標の区分が異なっており、一方が高吸収体である場合は(ステップS401;No→ステップS403;Yes)、他方の区分を採用する(ステップS404)。また、縦横の各拡張スキャノ画像の同一座標の区分が異なっており、いずれも高吸収体でなく一方が低吸収体である場合は(ステップS401;No→ステップS403;No→ステップS405;Yes)、他方の区分を採用する(ステップS404)。また、いずれも高吸収体でなく、かついずれも低吸収体でなく、いずれか一方が寝台である場合は(ステップS401;No→ステップS403;No→ステップS405;No→ステップS406;Yes)、寝台として再区分化する(ステップS407)。4区分化(高吸収体、低吸収体、寝台、空気)の場合、残りの領域(ステップS401;No→ステップS403;No→ステップS405;No→ステップS406;No)は、空気として再区分化する(ステップS408)。
なお、上述の再区分化処理では、3次元に拡張されたスキャノ画像(縦方向拡張スキャノ画像610、横方向拡張スキャノ画像620)の各画素についてステップS401〜ステップS408に示すような比較処理が行われるが、再区分化後の3次元スキャノ画像の画素サイズは任意である。例えば、いずれかの元画像(縦方向または横方向の拡張スキャノ画像610,620)の画素サイズとしてもよいし、新たな画素サイズを設定してもよい。
また、上述の画像区分化処理(図6)では直交する2方向のスキャノ画像を演算対象としたが、これに限定されるものではなく、斜交する2方向のスキャノ画像を用いてそれぞれ擬似的な3次元スキャノ画像を作成し、再区分化処理を行うようにしてもよい。斜交するスキャノ画像を用いる場合は、それらの斜交角度情報を用いて斜交座標系から直交座標系へ座標変換し、その後、擬似的な3次元スキャノ画像を作成し、再区分化処理を行えばよい。
高吸収体の物質を推定するには、高吸収体を透過するX線ビームの長さl1が分かれば、高吸収体のX線減弱係数μ1を上述の式(1)、低吸収体(寝台、空気等を区分化してもよい)のX線減弱係数μ2、低吸収体を透過するX線ビームの長さl2から、照射X線量I0、計測データIから求めることが可能となる。
なお、高吸収体のX線減弱係数を算出する際は、複数のデータ(複数断面または複数角度方向からの透過長)を用いて統計的に算出すれば、精度よく高吸収体のX線減弱係数を算出できる。
すなわち、中央制御装置401は、再区分化された3次元スキャノ画像を用いて、各スライス位置でのX線照射角度に応じた各区分のX線透過長と各区分に応じたX線減弱係数とを用いて、最適な照射X線量を求める。
管電流を調整する場合は、被検体6が低吸収体のみで組成されている場合と同じ透過線量が得られるように、スライス位置及びX線照射角度に応じて管電流を調整する。
また、管電圧を調整する場合は、高吸収体のX線減弱係数が基準X線減弱係数と近い値となるように管電圧を調整する。基準X線減弱係数とは、断層画像における低吸収体と高吸収体の画像コントラスト比が低下しすぎないようにするための基準値である。
また、管電流及び管電圧の調整を組み合わせて照射X線量を調整するようにしてもよい。
次に、図10〜図12を参照して、第2の実施の形態のX線CT装置1について説明する。第2の実施の形態のX線CT装置1のハードウエア構成は、第1の実施の形態のX線CT装置1と同様であるため、同一の部分には同一の符号を付して説明する。
また、第2の実施の形態のX線CT装置1は、全体としては第1の実施の形態と同様の流れで撮影処理(図3参照)を行うが、ステップS102の物質推定処理において、第2の実施の形態では、第1の実施の形態とは異なる手法で高吸収体の分布を解析するものとする。
また、第2の実施の形態の手法を適用するのに好適な例として、ステントグラフトのような中空円筒状(環状)構造の金属製留置物が体内に存在する場合を想定する。血管内に挿入されたステントグラフトの中空部分は血液等の低吸収体で満たされる。以下の説明では、簡単のため、ステントグラフトの長軸と寝台方向とが一致しているものとして説明する。
高吸収体の形状が中空円筒状(環状)であって、その高吸収体の長軸方向が縦スキャノ画像の寝台方向に平行な場合は、X線透過距離の位置依存性から、差分プロファイル73は、水等価長の長い部分2箇所と短い部分1箇所を有する特徴的なプロファイルとなる(図11(c))。図11(c)に示すように、差分プロファイル73の二つのピークの頂点の間隔を中空円筒状構造物の内径74とし、二つのピークの両端の間隔を中空円筒状構造物の外径75として、留置物の形状を推定できる。
すなわち、中央制御装置400は、上述の単区分水等価長スキャノ画像のプロファイル71を寝台方向に垂直な方向(縦方向)に拡張して擬似的な3次元スキャノ画像のプロファイルを作成することにより、低吸収体の形状を修正する。このとき、図12(a)に示すように、横方向(チャネル方向)の各位置に関して縦方向(体厚方向)の水等価長の中点76が一致するように低吸収体の断面形状を修正する。
第2の実施の形態に示す手法を用いて物質推定を行えば、1回の位置決め撮影から得た情報から中空円筒状構造物の形状情報を得ることが可能となり、画像情報に基づく高吸収体の物質推定性能が向上する。これにより、より最適に照射X線量を調整でき、高吸収体を含む被検体であっても画質劣化をより抑制することが可能となる。
また、上述の例では、中空円筒状構造物の長軸が寝台方向と一致する例を示したが、これ以外の配置であっても本実施の形態の手法を用いて物質を推定することが可能である。この場合は、ステップS502においてプロファイルを作成する際に、中空円筒状構造物(ステントグラフト)の芯線方向を法線とする断面のプロファイル(単区分水等価長スキャノ画像のプロファイル、二区分水等価長スキャノ画像のプロファイル、差分プロファイル)を作成し、上述の説明に適用すればよい。
また、中空円筒状構造物がY字状の場合は、分岐部分で分割し、芯線方向を法線とする断面のプロファイル(単区分水等価長スキャノ画像のプロファイル、二区分水等価長スキャノ画像のプロファイル、差分プロファイル)を作成し、上述の説明に適用すればよい。
また、上述の第2の実施の形態の物質推定処理を、差分プロファイルにピークが2つ現れない、すなわち中空円筒状の構造物でない場合に適用してもよい。この場合は、体内留置物の形状を球状や球に近い形状等に置き換えて、高吸収体の分布を推測することが考えられる。
次に、図13を参照して、第3の実施の形態のX線CT装置1について説明する。第3の実施の形態のX線CT装置1のハードウエア構成は、第1の実施の形態のX線CT装置1と同様であるため、同一の部分には同一の符号を付して以下の説明をする。
また、第3の実施の形態のX線CT装置1は、全体としては第1の実施の形態と同様の流れで撮影処理を行う(図3参照)。また、ステップS102の物質推定処理は、第1の実施の形態に示すような2方向の位置決め画像から高吸収体の分布を解析する手法を用いてもよいし、或いは第2の実施の形態に示すような1方向の位置決め画像から高吸収体の分布(形状)を解析する手法を用いてもよい。また、ステップS101の位置決め撮影、ステップS103の注意喚起処理、ステップS104の自動露出撮影、ステップS106の断層画像の表示処理に関しては、第1の実施の形態と同様とする。
2・・・・・スキャナ
201・・・X線管
205・・・X線検出器
206・・・データ収集装置
4・・・・・操作卓
400・・・中央制御装置
41・・・・入出力装置
42・・・・演算装置
421・・・画像再構成装置
411・・・記憶装置
3・・・・・寝台
500・・・注意喚起画面
501・・・位置決め画像
502・・・注意喚起メッセージ
505・・・チェックボックス
506・・・高吸収体
61・・・・縦スキャノ画像
610・・・縦方向拡張スキャノ画像
62・・・・横スキャノ画像
620・・・横方向拡張スキャノ画像
71・・・・単区分水等価長スキャノ画像のプロファイル
72・・・・二区分水等価長スキャノ画像のプロファイル
73・・・・差分プロファイル
74・・・・中空円筒状構造物の内径
75・・・・中空円筒状構造物の外径
Claims (6)
- 被検体にX線を照射するX線源と、前記X線源に対向配置され前記被検体を透過したX線を検出するX線検出器と、前記X線源と前記X線検出器を搭載し前記被検体の周囲を回転するスキャナと、前記X線検出器で検出された前記被検体の撮影部位における複数方向からの透過X線量に基づいて前記被検体の撮影部位における断面像を再構成する画像再構成装置と、再構成された断面像を表示する画像表示装置と、を備えたX線CT装置において、
被検体の位置決め用画像を撮影する位置決め用画像撮影手段と、
前記位置決め用画像を用いて、被検体内部の高吸収体の分布を解析する解析手段と、
解析された高吸収体の分布、該高吸収体以外の部分の既知のX線減弱係数、前記位置決め用画像を撮影する際の照射X線量、及び計測された透過X線量に基づいて前記高吸収体のX線減弱係数を求め、該高吸収体の物質を推定する物質推定手段と、
前記高吸収体の分布及びX線減弱係数を用いて撮影範囲の各断面位置における最適な照射X線量を算出する露出制御手段と、
前記露出制御手段により算出された照射X線量に従って前記被検体の本撮影を行う撮影手段と、を備え、
前記解析手段は、
少なくとも2方向から撮影された各位置決め用画像の濃度分布に基づいて、高吸収体とその他の既知のX線減弱係数を適用する部分とを区分化し、区分化画像を作成する区分化手段と、
前記各区分化画像を複写することにより次元を拡張する次元拡張手段と、
前記次元拡張手段により次元の拡張された各区分化画像の同一座標の区分を比較し、比較結果に応じて該座標の区分を決定する再区分化処理を行うことで前記高吸収体の分布を3次元的に推定し、あるX線照射角度における前記高吸収体の厚みを推定する厚み推定手段と、を備え、
前記物質推定手段は、前記厚み推定手段により推定された前記高吸収体の厚み、該高吸収体以外の部分の既知のX線減弱係数、前記位置決め用画像を撮影する際の照射X線量、及び計測された透過X線量に基づいて前記高吸収体のX線減弱係数を推定することを特徴とするX線CT装置。 - 前記再区分化処理は、
前記各区分化画像の同一座標が同一区分である場合は、そのままの区分を採用し、
同一座標の区分が異なり一方が高吸収体である場合は他方の区分を採用し、
同一座標の区分が異なりいずれも高吸収体でなく一方が低吸収体である場合は他方の区分を採用し、
同一座標の区分が異なりいずれも高吸収体でなく、かついずれも低吸収体でなく、いずれか一方が寝台である場合は寝台として再区分化し、
残りの領域は空気として再区分化することを特徴とする請求項1に記載のX線CT装置。 - 被検体にX線を照射するX線源と、前記X線源に対向配置され前記被検体を透過したX線を検出するX線検出器と、前記X線源と前記X線検出器を搭載し前記被検体の周囲を回転するスキャナと、前記X線検出器で検出された前記被検体の撮影部位における複数方向からの透過X線量に基づいて前記被検体の撮影部位における断面像を再構成する画像再構成装置と、再構成された断面像を表示する画像表示装置と、を備えたX線CT装置において、
被検体の位置決め用画像を撮影する位置決め用画像撮影手段と、
前記位置決め用画像を用いて、被検体内部の高吸収体の分布を解析する解析手段と、
解析された高吸収体の分布、該高吸収体以外の部分の既知のX線減弱係数、前記位置決め用画像を撮影する際の照射X線量、及び計測された透過X線量に基づいて前記高吸収体のX線減弱係数を求め、該高吸収体の物質を推定する物質推定手段と、
前記高吸収体の分布及びX線減弱係数を用いて撮影範囲の各断面位置における最適な照射X線量を算出する露出制御手段と、
前記露出制御手段により算出された照射X線量に従って前記被検体の本撮影を行う撮影手段と、を備え、
前記解析手段は、
1方向から撮影された位置決め用画像の被検体領域を全て低吸収体と区分し、該領域の透過線量を水等価長に変換した単区分水等価長スキャノ画像のプロファイルを生成する単区分水等価長プロファイル生成手段と、
前記位置決め用画像の被検体領域をその濃度分布から低吸収体及び高吸収体に区分し、各区分の透過線量をそれぞれ水等価長に変換した二区分水等価長スキャノ画像のプロファイルを生成する二区分水等価長プロファイル生成手段と、
前記単区分水等価長プロファイルと前記二区分水等価長プロファイルとの差分から、前記高吸収体のプロファイルを算出する高吸収体算出手段と、
前記高吸収体のプロファイルに2つのピークが存在するか否かを判定する判定手段と、
前記高吸収体のプロファイルに2つのピークが存在する場合は、該高吸収体の形状を環状とみなし、前記ピークの分布に基づいて前記環の内径及び外径を推定する形状推定手段と、を備え、
前記物質推定手段は、前記形状推定手段により推定された前記高吸収体の形状情報を用いて前記高吸収体のX線減弱係数を推定することを特徴とするX線CT装置。 - 各種物質のX線減弱係数に対応したビームハードニング補正係数を予め記憶した記憶手段と、
前記物質推定手段により推定された物質に対応するビームハードニング補正係数を前記記憶手段から選択する選択手段と、を備え、
前記画像再構成装置は、
前記選択手段により選択されたビームハードニング補正係数を用いて断層画像を再構成することを特徴とする請求項1または請求項3に記載のX線CT装置。 - 前記解析手段により前記被検体内部に高吸収体が存在すると判明した場合に、注意喚起のための報知データを生成して報知する注意喚起報知手段を更に備えることを特徴とする請求項1または請求項3に記載のX線CT装置。
- 前記注意喚起報知手段は、前記位置決め画像とともに前記高吸収体の存在位置を物質の種類とともに表示することを特徴とする請求項5に記載のX線CT装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010237066A JP5718014B2 (ja) | 2010-10-22 | 2010-10-22 | X線ct装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010237066A JP5718014B2 (ja) | 2010-10-22 | 2010-10-22 | X線ct装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012085936A JP2012085936A (ja) | 2012-05-10 |
JP5718014B2 true JP5718014B2 (ja) | 2015-05-13 |
Family
ID=46258218
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010237066A Active JP5718014B2 (ja) | 2010-10-22 | 2010-10-22 | X線ct装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5718014B2 (ja) |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2014081022A1 (ja) * | 2012-11-22 | 2014-05-30 | 株式会社東芝 | 磁気共鳴イメージング装置及び磁気共鳴イメージング方法 |
JP6466079B2 (ja) * | 2014-04-21 | 2019-02-06 | キヤノンメディカルシステムズ株式会社 | X線コンピュータ断層撮影装置及びスキャン計画設定支援装置 |
JP6142172B2 (ja) * | 2014-06-03 | 2017-06-07 | 朝日レントゲン工業株式会社 | ビームハードニング補正装置、ビームハードニング補正方法、及びx線撮影装置 |
JP6647776B2 (ja) * | 2014-08-04 | 2020-02-14 | キヤノンメディカルシステムズ株式会社 | X線コンピュータ断層撮影装置 |
JP6640527B2 (ja) * | 2014-10-31 | 2020-02-05 | キヤノンメディカルシステムズ株式会社 | X線ct装置 |
US9761019B2 (en) * | 2015-01-08 | 2017-09-12 | Toshiba Medical Systems Corporation | Computed tomography using simultaneous image reconstruction with measurements having multiple distinct system matrices |
KR101750173B1 (ko) * | 2015-10-16 | 2017-06-22 | 국립암센터 | 방사선 유효 피폭량 자동 계산 시스템 및 방법 |
US9895130B2 (en) * | 2015-11-19 | 2018-02-20 | General Electric Company | Water equivalent diameter determination from scout images |
JP5978432B1 (ja) * | 2016-01-26 | 2016-08-24 | 株式会社日立製作所 | 医用画像処理装置及び医用画像処理方法 |
JP7077056B2 (ja) * | 2018-02-20 | 2022-05-30 | キヤノンメディカルシステムズ株式会社 | リスク評価装置およびリスク評価方法 |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE69931253T2 (de) * | 1999-05-10 | 2007-02-22 | Ge Inspection Technologies Gmbh | Verfahren zum Messen der Wanddicke rohrförmiger Objekte |
JP4542259B2 (ja) * | 2000-12-25 | 2010-09-08 | ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー | X線ctシステム及びx線診断装置 |
JP4532005B2 (ja) * | 2001-03-09 | 2010-08-25 | 株式会社日立メディコ | X線ct装置及びその画像表示方法 |
JP4309631B2 (ja) * | 2001-10-22 | 2009-08-05 | 株式会社東芝 | X線コンピュータトモグラフィ装置 |
US6956929B2 (en) * | 2003-09-11 | 2005-10-18 | Siemens Aktiengesellschaft | Method for controlling modulation of X-ray tube current using a single topogram |
JP2008058139A (ja) * | 2006-08-31 | 2008-03-13 | Toray Ind Inc | 管状物の断面径および肉厚の測定方法 |
JP4729519B2 (ja) * | 2007-03-09 | 2011-07-20 | ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ | 器官に基づく放射線プロファイル設定を設けた放射線撮像の方法及びシステム |
JP5171215B2 (ja) * | 2007-11-08 | 2013-03-27 | ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー | X線ct装置 |
JP5317612B2 (ja) * | 2008-09-26 | 2013-10-16 | ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー | 断層像処理装置、x線ct装置およびプログラム |
-
2010
- 2010-10-22 JP JP2010237066A patent/JP5718014B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2012085936A (ja) | 2012-05-10 |
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Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
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|
A977 | Report on retrieval |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
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S533 | Written request for registration of change of name |
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R350 | Written notification of registration of transfer |
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S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
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R350 | Written notification of registration of transfer |
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R250 | Receipt of annual fees |
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