JP2009201840A - X線ct装置およびプログラム - Google Patents
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Abstract
【解決手段】実測投影データP0のうちX線高吸収体72a,72bを透過するパスのデータをその周辺のデータから推定されるデータに置換し(S103)、置換済投影データから断層像G1を画像再構成する(S104)。その後、断層像Gi(i=1,2,3,…)を順投影して投影データPi+1を得る処理(S106)と、投影データPi+1に基づいて断層像Gi+1を画像再構成する処理(S108)とを、n回(n≧1)行って、最後に得られた断層像Gn+1を最終的な断層像として得る(S111)。
【選択図】図2
Description
ただし、ΔPi+1(view,chz)=Pi+1(view,chz)−Pi(view,chz),
α=重み係数,chz=X線高吸収体透過領域に対応するチャネル
…(数式1)
ただし、ΔP′i+1(view,chz)=Pi+1(view,chz)−P1(view,chz)
…(数式2)
ただし、ΔP″i+1(view,chz)=Pi+1(view,chz)−P1(view,chz)
or Pi+1(view,chz)−Pi(view,chz)
…(数式3)
2 入力装置
3 中央処理装置
5 データ収集バッファ
6 モニタ
7 記憶装置
10 撮影テーブル
12 クレードル
15 ガントリ回転部
20 走査ガントリ(撮影手段)
21 X線管
22 X線制御部
23 コリメータ
24 X線検出器(X線検出器)
24a X線検出素子
25 データ収集装置
26 回転制御部
29 ガントリ制御部
31 スキャン制御部
32 X線高吸収体特定部(X線高吸収体特定手段)
33 データ置換部(データ置換手段)
34 第1の再構成部(第1の再構成手段)
35 順投影部(順投影手段)
36 データ調整部(データ調整手段)
37 第2の再構成部(第2の再構成手段)
38 繰返し制御部(制御手段)
100 X線CT装置(X線CT装置)
71 被検体
72a,72b X線高吸収体
73 オブジェクト
74 軟部組織
81 X線ビーム
171,271,371 輪郭線
172a,172b,272a,272b,372a,372b X線高吸収体画像
173,273,373 オブジェクト画像
174,274,374 軟部組織画像
175,275,375 アーチファクト
Claims (11)
- X線高吸収体を含む被検体を複数ビューでX線照射し前記被検体の透過X線を複数のチャネルを有するX線検出器で検出して、前記被検体の実測投影データを得る撮影手段と、
前記実測投影データに基づいてX線高吸収体透過領域を特定する高吸収体領域特定手段と、
前記実測投影データにおける前記X線高吸収体透過領域に対応するデータを、該領域の近傍領域に対応するデータから推定されるデータに置換して、置換済投影データを得るデータ置換手段と、
前記置換済投影データに基づいて断層像を画像再構成する第1の再構成手段と、
前記第1の再構成手段により画像再構成された断層像を前記複数ビューで順投影して順投影データを算出する順投影手段と、
前記順投影データに基づいて断層像を画像再構成する第2の再構成手段とを備えるX線CT装置。 - X線高吸収体を含む被検体を複数ビューでX線照射し前記被検体の透過X線を複数のチャネルを有するX線検出器で検出して、前記被検体の実測投影データを得る撮影手段と、
前記実測投影データに基づいてX線高吸収体透過領域を特定する高吸収体領域特定手段と、
前記実測投影データにおける前記X線高吸収体透過領域に対応するデータを、該領域の近傍領域に対応するデータから推定されるデータに置換して、置換済投影データを得るデータ置換手段と、
前記置換済投影データに基づいて断層像を画像再構成する第1の再構成手段と、
所定の断層像を前記複数ビューで順投影して順投影データを算出する順投影手段と、
前記順投影データに基づいて断層像を画像再構成する第2の再構成手段と、
前記順投影手段および前記第2の再構成手段による処理を複数回繰返し行わせ、最後に再構成された断層像を得る制御手段とを備え、
前記所定の断層像は、1回目の処理では、前記第1の再構成手段により得られる断層像であり、2回目以降の処理では、前回の処理にて前記第2の再構成手段により得られる断層像である、X線CT装置。 - 前記順投影データにおける前記X線高吸収体透過領域に対応する前記チャネルのデータの値を、該データの値と、前記置換済投影データまたは前記所定の断層像の画像再構成に用いた投影データにおける前記X線高吸収体透過領域に対応する前記チャネルのデータの値との差分に基づいて変化させるよう調整してなる調整済投影データを得るデータ調整手段をさらに備え、
前記第2の再構成手段は、前記調整済投影データに基づいて断層像を画像再構成し、
前記制御手段は、前記順投影手段、前記データ調整手段、および前記第2の再構成手段による処理を複数回繰返し行わせる請求項2に記載のX線CT装置。 - 前記データ調整手段は、前記順投影データにおける前記X線高吸収体透過領域に対応する前記チャネルのデータの値に対して、該データの値と、前記置換済投影データまたは前記所定の断層像の画像再構成に用いた投影データにおける前記X線高吸収体透過領域に対応する前記チャネルのデータの値との差分に所定の重みを掛けて得られる値を加算することにより、前記調整済投影データを得る請求項3に記載のX線CT装置。
- 前記データ調整手段は、前記順投影データにおける前記X線高吸収体透過領域に対応する前記チャネルのデータの値に対して、該データの値と、前記置換済投影データまたは前記所定の断層像の画像再構成に用いた投影データにおける前記X線高吸収体透過領域に対応する前記チャネルのデータの値との差分に依存する所定の関数で導出される値を加算することにより、前記調整済投影データを得る請求項3に記載のX線CT装置。
- 前記データ置換手段は、前記X線高吸収体透過領域に対応するデータを前記近傍領域のデータと実質的に同レベルの値を有するデータに置換する請求項1から請求項5のいずれか1項に記載のX線CT装置。
- 前記順投影手段は、前記所定の断層像を、前記X線高吸収体を通るパスについてのみ順投影して前記X線高吸収体透過領域に対応するデータを得、前記所定の断層像の画像再構成に用いた投影データに該X線高吸収体透過領域に対応するデータを上書きして前記順投影データを算出する請求項2から請求項6のいずれか1項に記載のX線CT装置。
- 前記X線高吸収体特定手段は、前記実測投影データにおけるデータの値の閾値判定に基づいて前記X線高吸収体透過領域を特定する請求項1から請求項7のいずれか1項に記載のX線CT置。
- 前記X線高吸収体特定手段は、前記実測投影データから画像再構成して得られる断層像における画素値の閾値判定、または、該断層像上での操作者による位置指定に基づいて、該断層像のX線高吸収体領域を抽出し、前記X線高吸収体透過領域を特定する請求項1から請求項8のいずれか1項に記載のX線CT装置。
- コンピュータを、
X線高吸収体を含む被検体を複数ビューでX線照射し前記被検体の透過X線を複数のチャネルを有するX線検出器で検出して得られる前記被検体の実測投影データに基づいて、X線高吸収体透過領域を特定する高吸収体領域特定手段と、
前記実測投影データにおける前記X線高吸収体透過領域に対応するデータを、該領域の近傍領域に対応するデータから推定されるデータに置換して、置換済投影データを得るデータ置換手段と、
前記置換済投影データに基づいて断層像を画像再構成する第1の再構成手段と、
前記第1の再構成手段により画像再構成された断層像を前記複数ビューで順投影して順投影データを算出する順投影手段と、
前記順投影データに基づいて断層像を画像再構成する第2の再構成手段として機能させるためのプログラム。 - コンピュータを、
X線高吸収体を含む被検体を複数ビューでX線照射し前記被検体の透過X線を複数のチャネルを有するX線検出器で検出して得られる前記被検体の実測投影データに基づいて、X線高吸収体透過領域を特定する高吸収体領域特定手段と、
前記実測投影データにおける前記X線高吸収体透過領域に対応するデータを、該領域の近傍領域に対応するデータから推定されるデータに置換して、置換済投影データを得るデータ置換手段と、
前記置換済投影データに基づいて断層像を画像再構成する第1の再構成手段と、
所定の断層像を前記複数ビューで順投影して順投影データを算出する順投影手段と、
前記順投影データに基づいて断層像を画像再構成する第2の再構成手段と、
前記順投影手段および前記第2の再構成手段による処理を複数回繰返し行わせ、最後に再構成された断層像を得る制御手段として機能させるためのプログラムであり、
前記所定の断層像は、1回目の処理では、前記第1の再構成手段により得られる断層像であり、2回目以降の処理では、前回の処理にて前記第2の再構成手段により得られる断層像である、プログラム。
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