JP5616046B2 - フライングスポット方式の表面あるいは内層検査装置 - Google Patents

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本発明はポリゴンスキャナやガルバノスキャナを使用してレーザ光や白色光を走査し、スキャナ受光ユニットで受光するフライングスポット方式の素ガラス、成膜ガラス、光学フィルム等のFPD関連素材や、銅箔、ステンレス板、アルミ素管等の金属素材や樹脂板、光学ガラス基板、感光ドラム、セラミック板等の工業製品等の表面あるいは内層検査装置に関する。
従来、フライングスポット方式の表面あるいは内層検査装置に用いられる受光ユニットは、透明なアクリルやガラス棒1本で形成された導光体をスリット付きの円筒鏡で被い、前記導光体の端面には少なくとも1個以上の受光センサが取付けられている。
このように構成された受光ユニットでも、ある程度まで小型化することはできるが、導光棒の一部に拡散面(ブラスト加工や回折格子等)を設け、感度を上げるために円筒鏡で多重反射させる必要があるので、開口部を広く取れず、広範囲の光を集めることができないという欠点があるとともに、多重反射するということは受光センサの反応が鈍いことを意味し、高速化には自ずと限界があり、高速、高感度、小型、低コストで処理できるフライングスポット方式の表面あるいは内層検査装置を得るのは難しいという問題があった。
特開2005−201782 特開2005−351684
本発明は以上のような従来の欠点に鑑み、導光体で広範囲の光を集めることができ、高感度、高速化、小型、低コストで成膜ガラス、光学フィルム等のFPD関連素材、銅箔等の金属素材、光学ガラス基板、感光ドラム等の工業製品の表面あるいは内層検査を行なうことができるフライングスポット方式の表面あるいは内層検査装置を提供することを目的としている。
本発明の前記ならびにそのほかの目的と新規な特徴は次の説明を添付図面と照らし合わせて読むと、より完全に明らかになるであろう。
ただし、図面はもっぱら解説のためのものであって、本発明の技術的範囲を限定するものではない。
上記目的を達成するために、本発明はポリゴンスキャナやガルバノスキャナを使用して、レーザ光や白色光を走査し、スキャナ受光ユニットで受光するフライングスポット方式の表面あるいは内層検査装置において、前記スキャナ受光ユニットを複数本の導光棒を束ねた導光体と、この導光体の一端部に取付けられた受光センサと、前記導光体の他端部に取付けられたミラーあるいは受光センサとでフライングスポット方式の表面あるいは内層検査装置を構成している。
以上の説明から明らかなように、本発明にあっては次に列挙する効果が得られる。
(1)ポリゴンスキャナやガルバノスキャナを使用して、レーザ光や白色光を走査し、スキャナ受光ユニットで受光するフライングスポット方式の表面あるいは内層検査装置において、前記スキャナ受光ユニットを複数本の導光棒を束ねた導光体と、この導光体の一端部に取付けられた受光センサと、前記導光体の他端部に取付けられたミラーあるいは受光センサによって、複数本の導光棒を束ねた導光体を用いているので、従来の1本の導光棒を用いるものと比べ、小径複数化により、境界面を増加でき、光を取り入れる効率を数十倍にできる。
また、レンズ効果により、透過光を拡散させ、取り込み確率を向上でき、高感度、高速化、小型、低コスト化を図ることができる。
(2)前記(1)により、複数本の導光棒を束ねた導光体を用いるので、導光体として従来のように円筒鏡が不要で、簡単な箱状の反射鏡を用いても、用いなくても十分な光量が得られる。
(3)前記(1)によって、複数本の導光棒を束ねた導光体を用いるだけでよいので、構造が簡単で、導光体の配置場所の自由度を上げることができ、安価に実施することができる。
(4)請求項2は前記(1)〜(3)と同様な効果が得られるとともに、複数本の導光棒の光の取り入れを導光棒束ね材がじゃまするのを効率よく阻止することができる。
(5)請求項3は前記(1)〜(3)と同様な効果が得られるとともに、複数本の導光棒の端部を分割し、分割部分にそれぞれ受光センサを取付けているので、副走査方向の受光面積を大幅に増やすことができる。
本発明を実施するための第1の形態の概略説明図。 受光ユニットの正面図。 図2の3−3線に沿う拡大断面図。 導光体の光を取り込む状態を示す説明図。 従来品と本発明のビーム入射位置と受光量の関係を示す図。 散乱光を使用する装置の説明図。 透過光を使用する装置の説明図。 本発明を実施するための第2の形態の概略説明図。 受光ユニットの正面図。 図9の10−10線に沿う断面図。 本発明を実施するための第3の形態の概略説明図。 受光ユニットの正面図。 図12の13−13線に沿う断面図。 本発明を実施するための第4の形態の概略説明図。 受光ユニットの正面図。 図15の16−16線に沿う断面図。 本発明を実施するための第5の形態の概略説明図。 受光ユニットの正面図。 受光ユニットの側面図。 受光ユニットの平面図。 受光ユニットの断面図。 本発明を実施するための第6の形態の概略説明図。 受光ユニットの説明図。 図23の24−24線に沿う断面図。 図23の25−25線に沿う断面図。 本発明を実施するための第7の形態の概略説明図。 受光ユニットの説明図。 図27の28−28線に沿う断面図。 図27の29−29線に沿う断面図。
以下、図面に示す本発明を実施するための形態により、本発明を詳細に説明する。
図1ないし図7に示す本発明を実施するための第1の形態において、1は本発明のフライングスポット方式の表面あるいは内層検査装置で、このフライングスポット方式の表面あるいは内層検査装置1は検査物2にレーザ光を走査するスキャナユニット3と、このスキャナユニット3からの走査光を、前記検査物2を介した反射光、透過光、散乱光、本発明の実施の形態では反射光4を受光する受光ユニット5とで構成されている。
前記受光ユニット5は図2および図3に示すように、複数本、本発明の実施の形態では12本のアクリル棒やガラス等の透明素材の屈折率の高い導光棒6、この12本の導光棒6全体を束ねて覆う低屈折率の透明パイプを用いた導光棒束ね材7とで構成された導光体8と、この導光体8の一端部に取付けられたPMT やフォトダイオードを用いた受光センサ9と、前記導光体8の他端部に取付けられた、該導光体に取り込まれた光を前記受光センサ9へ反射させるミラー10とで構成されている。
上記構成のフライングスポット方式の表面あるいは内層検査装置1は、スキャナユニット3からの走査線3aを検査物2に照射し、反射光4を受光ユニット5で受ける。
この時、受光ユニット5の導光体8は12本の導光棒6を低屈折率の透明パイプを用いた導光棒束ね材7で束ねられているため、図4および図5に示すように境界面が増加し、光を取り入れる効率が高くなり、光の取り込み確率が向上し、高感度、高速化で、取り込んだ光を受光センサ9へ導くことができる。
なお、図6に示すように検査物2からの散乱光11を受光できる位置に受光ユニット5を配置してもよく、また、内層検査をする場合には、図7に示すように検査物2を透過する透過光12を受光できる位置に受光ユニット5を配置して使用する。
[発明を実施するための異なる形態]
次に、図8ないし図29に示す本発明を実施するための異なる形態につき説明する。なお、これらの本発明を実施するための異なる形態の説明に当って、前記本発明を実施するための第1の形態と同一構成部分には同一符号を付して重複する説明を省略する。
図8ないし図10に示す本発明を実施するための第2の形態において、前記本発明を実施するための第1の形態と主に異なる点は、12本の導光棒6の両端部だけを透明パイプを用いた導光棒束ね材7A、7Aで束ねた導光体8Aを使用した受光ユニット5Aを用いた点で、このような受光ユニット5Aを用いて構成したフライングスポット方式の表面あるいは内層検査装置1Aにしても、前記本発明を実施するための第1形態と同様な作用効果が得られる。
図11ないし図13に示す本発明を実施するための第3の形態において、前記本発明を実施するための第1の形態と主に異なる点は、12本の導光棒6を低屈折率の透明フィルムを用いた導光棒束ね材7Bで束ねた導光体8Bを使用した受光ユニット5Bを用いた点で、このような受光ユニット5Bを用いて構成したフライングスポット方式の表面あるいは内層検査装置1Bにしても、前記本発明を実施するための第1の形態と同様な作用効果が得られる。
図14ないし図16に示す本発明を実施するための第4の形態において、前記本発明を実施するための第1の形態と主に異なる点は、導光体8の他端部にミラーに代え受光センサ9を設けた2個の受光センサ9、9を使用した受光ユニット5Cを用いた点で、このような受光ユニット5Cを用いて構成したフライングスポット方式の表面あるいは内層検査装置1Cにしても、前記本発明を実施するための第1の形態と同様な作用効果が得られる。
図17ないし図21に示す本発明を実施するための第5の形態において、前記本発明を実施するための第1の形態と主に異なる点は、導光体8を箱状の反射鏡13内に設置した受光ユニット5Dを用いた点で、このような受光ユニット5Dを用いて構成したフライングスポット方式の表面あるいは内層検査装置1Dにしても、前記本発明を実施するための第1の形態と同様な作用効果が得られるとともに、簡単で安価に製造することができる反射鏡13によって、さらなる十分な光量が得られる。
なお、前記反射鏡13は一側部が開口した箱状のケース体14と、このケース体14の下部内底面に固定された支持金具15に固定された後端反射鏡16と、前記ケース体14の内側下面に固定された下部反射鏡17と、前記ケース体14内で前記後端反射鏡16の上部より、該ケース体14の開口部側の上面に位置する前記支持金具15に固定された上部反射鏡18とで構成されている。
図22ないし図25に示す本発明を実施するための第6の形態において、前記本発明を実施するための第1の形態と主に異なる点は、複数本の導光棒6の一端部側を、透明パイプを用いた導光棒束ね材7で束ねるとともに、他端部側を2分割し、その端部を透明パイプを用いた導光棒束ね材7A、7Aで束ねて、それぞれ受光センサ9、9に取付けた受光ユニット5Eを用いた点で、このような受光ユニット5Eを用いて構成したフライングスポット方式の表面あるいは内層検査装置1Eにしても、前記本発明を実施するための第1の形態と同様な作用効果が得られるとともに、2個の受光センサ9、9を使用しているので、副走査方向の受光面積を大幅に増やすことができる。
図26ないし図29に示す本発明を実施するための第7の形態において、前記本発明を実施するための第1の形態と主に異なる点は、複数本の導光棒6を束ねた2個の導光棒の束19、19の間に両面鏡20を介装した導光体8Cを使用した受光ユニット5Fを用いた点で、このような受光ユニット5Fを用いて構成したフライングスポット方式の表面あるいは内層検査装置1Fにしても前記本発明を実施するための第1の形態と同様な作用効果が得られるとともに、近接した受光位置の光量差(受光角度による影響)を計測する必要がある時に効果を発揮させることができる。
なお、前記本発明を実施するための各実施の形態では12本の導光棒6を束ねた導光体8、8A、8B、8Cを用いたが、複数本以上の導光棒を束ねて形成した導光体でも同様な作用効果が得られる。
本発明はフライングスポット方式の表面あるいは内層検査装置を製造する産業で利用される。
1、1A、1B、1C、1D、1E、1F:フライングスポット方式の表面あるいは内層検査装置、
2:検査物、 3:スキャナユニット、
4:反射光、
5、5A、5B、5C、5D、5E、5F:受光ユニット、
6:導光棒、 7、7A、7B:導光棒束ね材、
8、8A、8B、8C:導光体、9:受光センサ、
10:ミラー、 11:散乱光、
12:透過光、 13:反射鏡、
14:ケース体、 15:支持金具、
16:後端反射鏡、 17:下部反射鏡、
18:上部反射鏡、 19:導光棒の束、
20:両面鏡。

Claims (3)

  1. ポリゴンスキャナやガルバノスキャナを使用して、レーザ光や白色光を走査し、スキャナ受光ユニットで受光するフライングスポット方式の表面あるいは内層検査装置において、前記スキャナ受光ユニットを複数本の導光棒をレンズ効果により、透過光を拡散させ、取り込み確率を向上できるように束ねた導光体と、この導光体の一端部に取付けられた受光センサと、前記導光体の他端部に取付けられたミラーあるいは受光センサとで構成されていることを特徴とするフライングスポット方式の表面あるいは内層検査装置。
  2. 導光体は複数本の導光棒と、この複数本の導光棒を覆うように束ねて固定する低屈折率の透明パイプや低屈折率の透明フィルム、あるいは複数本の導光棒の両端部を低屈折率の透明パイプを用いた導光棒束ね材とで構成されていることを特徴とする請求項1記載のフライングスポット方式の表面あるいは内層検査装置。
  3. 導光体の一端部に取付けられた受光センサは導光体の複数本の導光棒の端部を分割し、該分割部分にそれぞれ受光センサを取付けたことを特徴とする請求項1記載のフライングスポット方式の表面あるいは内層検査装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS6275235A (ja) * 1985-09-30 1987-04-07 Toshiba Corp 表面検査装置
JPH0641923B2 (ja) * 1988-09-20 1994-06-01 株式会社東芝 表面検査装置
JP2635748B2 (ja) * 1989-01-12 1997-07-30 株式会社東芝 表面検査装置
JPH02300649A (ja) * 1989-05-16 1990-12-12 Asahi Optical Co Ltd プリント基板検査装置
JPH06317537A (ja) * 1993-05-10 1994-11-15 Fujitsu Ltd 基板検査装置
JPH09119901A (ja) * 1995-10-24 1997-05-06 Nkk Corp 表面検査装置
JPH10221273A (ja) * 1997-02-10 1998-08-21 Konica Corp 導光部材、光検出装置、欠陥検査装置

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