JP5611039B2 - スパッタリング装置 - Google Patents

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Description

本発明は、スパッタリング装置に関し、特に、セルフスパッタリングを安定に行い得るDCマグネトロンスパッタリング装置に関する。
近年の配線パターンの微細化に伴い、カバレッジの面内均一性の向上が要求されている。このような要求を実現する方法のひとつとして、例えば、SIP(Self-Ionized Plasma)技術を利用したDCマグネトロンスパッタ装置を用いることが知られている。このSIP技術によれば、電子閉じ込め能力の高い磁界中で高電圧を印加することで高密度プラズマを実現している。
上記セルフスパッタリングを安定して行うための装置として、ターゲットのスパッタ面と背向する側に磁石組立体を配置してターゲットのスパッタ面前方に磁界を形成することに加え、真空チャンバ側面にコイルを配置し、当該コイルにコイル用電源を介して通電することでスパッタ面に対して垂直な磁界を発生させ、ターゲットから飛び出した原子のイオン化を促進するように構成したものが特許文献1で知られている。
然し、上記特許文献1記載の装置では、コイルに通電するために電源を別途備えているため、スパッタリング装置のコスト高を招くという問題がある。その上、磁界の向きや磁界の強さを調節には、コイルへの通電電流を制御する電流制御回路も必要となり、一層コスト高を招く。
特開2000−144411号公報
本発明は、以上の点に鑑み、ターゲットから飛び出した原子のイオン化を促進してセルフスパッタリングを安定して行い得る低コストのスパッタリング装置を提供することをその課題とする。
上記課題を解決するため、本発明のスパッタリング装置は、真空チャンバ内で処理すべき基板に対向配置されたターゲットと、前記ターゲットのスパッタ面前方に磁界を形成する磁石組立体と、前記ターゲットに負の直流電位を印加する第1の電源とを備え、前記ターゲットのスパッタ面の裏側に第1のコイルが配置され、前記第1のコイルが、前記第1の電源と前記ターゲットとの出力間に電気的に接続され、前記第1の電源により前記ターゲットに負の直流電位を印加すると、前記第1のコイルに直流電流が流れてスパッタ面前方に磁界が発生するように構成したことを特徴とする。
本発明によれば、第1の電源により、例えばターゲットに対して予め設定された所定の負の電位を印加すると、ターゲットへの印加電位とプラズマのインピーダンスに応じた電流が第1のコイルに流れて磁界が発生する。これにより、磁石組立体によりターゲットのスパッタ面前方に発生している磁界の強さを増減できる。この場合、ターゲットへの投入電力を適宜調節して第1のコイルに流れる電流を制御したり、第1のコイルに流れる電流の向きを変えれば、任意の磁界の強さでターゲットのスパッタ面に対して垂直な磁界を発生させることができる。
このように本発明によれば、ターゲットに負の電位を印加すると、前記第1のコイルに通電される構成を採用したため、コイル用の電源は不要となり、しかも、ターゲットへの投入電力に応じて第1のコイルの電流が増減できるため、第1のコイルへの電流制御用回路も不要になり、低コスト化を図ることができる。
また、本発明においては、前記真空チャンバ内で前記ターゲットと前記基板との間でスパッタ面前方の空間を囲うように設けた電極と、前記電極に正の直流電位を印加する第2の電源とを更に備え、前記真空チャンバの側壁に沿って第2のコイルが配置され、前記第2のコイルが、前記第2の電源と前記電極との出力間に電気的に接続され、前記第2の電源により前記電極に正の電位を印加すると、前記第2のコイルに通電されてスパッタ面前方に磁界が発生するように構成してもよい。
これによれば、第2の電源により第2のコイルに電流が流れて電極に所定の正の電位が印加されることで、ターゲット及び基板間の空間に磁界を発生できる。この場合、電極への投入電力を適宜調節して第2のコイルに流れる電流を制御したり、第2のコイルに流れる電流の向きを変えれば、任意の磁界の強さでターゲットのスパッタ面に対して垂直な磁界を発生させることができる。その結果、ターゲットから飛び出した原子のイオン化を促進してセルフスパッタリングを安定して行い得る低コストのスパッタリング装置を実現できる。
なお、本発明においては、前記第1及び第2の両コイルへの通電を切り替える切替手段をそれぞれ備える構成を採用すれば、任意に第1及び第2の両コイルに通電できる構成を実現できる。この場合、通電の切替だけでなく、コイルに流す電流の向きも切り替わるように構成してもよい。
以下、図面を参照して本発明の実施の形態にスパッタリング装置ついて説明する。図1に示すように、スパッタリング装置1は、セルフスパッタリングが可能なDCマグネトロンスパッタリング方式のものであり、真空雰囲気の形成が可能な真空チャンバ2を備える。真空チャンバ2の天井部にはカソードユニットCが取付けられている。カソードユニットCは、ターゲット3とターゲット3のスパッタ面3a前方に磁界を形成する磁石組立体4とを備える。
ターゲット3は、処理すべき基板Wに形成しようとする薄膜の組成に応じて適宜選択された材料、例えばCu製であり、公知の方法で所定形状に作製されている。また、ターゲット3は、第1の電源たるDC電源5に電気的に接続され、所定の負の電位が印加されるようになっている。磁石組立体4は、スパッタ面3aと背向する側に配置され、ターゲット3に平行に配置された板状のヨーク4aと、当該ヨーク4aの上面にターゲット側の極性を交互に変えて同心に配置したリング状の磁石4b、4cとから構成されている。なお、磁石4b、4cの形状や個数は、ターゲット3の前方に形成しようとする磁界に応じて適宜選択され、例えば薄片状や棒状のものまたはこれらを適宜組合わせて用いるようにしてもよい。
また、ヨーク4aの中央部(本実施の形態では、ターゲット3の中心を通る中心線上に位置させて)には、磁性材料の円筒状の芯材6aの周囲に導線6bを巻回してなる第1のコイル6が設けられている。なお、第1のコイル6の位置は、磁石組立体4b、4cの配置に応じて適宜変更することができる。導線6bの両端は、DC電源5からターゲット3への出力に切替スイッチ(切替手段)7を介して電気的に接続されている。そして、DC電源5によりターゲット3に対して予め設定された所定の負の電位を印加すると、ターゲット3への印加電位とプラズマのインピーダンスに応じた電流が第1のコイル6に流れて磁界が発生する。この場合、図示省略したが、公知の構造を有する他の切替スイッチを更に設け、第1のコイル6に電流の向きが反転できるように構成しておくことが好ましい。
これにより、磁石組立体4によりターゲット3のスパッタ面3a前方に発生している磁界の強さが増減できる。この場合、導線6bの巻数を適宜設定した上、ターゲット3への投入電力を適宜調節して第1のコイル6に流れる電流を制御したり、第1のコイル6に流れる電流の向きを変えれば、所定の磁界の強さでターゲット3のスパッタ面3aに対して垂直な磁界を発生させることができる。
このように本実施の形態では、ターゲット3に負の電位を印加するときに第1のコイル6に通電される構成を採用したため、コイル用の電源は不要となり、しかも、ターゲット3への投入電力に応じて第1のコイル6の電流が増減されるため、第1のコイル6への電流制御用回路も不要になり、低コスト化を図ることができる。
また、真空チャンバ2の底部には、ターゲット3に対向させてステージ8が配置され、シリコンウエハ等の処理すべき基板Wを位置決め保持できる。ステージ8は、公知の構造を有する高周波電源9に電気的に接続され、スパッタリング中、ステージ8、ひいては基板Wに所定のバイアス電位が印加できるようになっている。
さらに、真空チャンバ2内には、ターゲット3のスパッタ面3aと基板Sとの間でスパッタ面3a前方の空間を囲うように電極たるイオンリフレクター10が設けられている。イオンリフレクター10は、ターゲット3の外径より大きな内径を有する略筒状のものであり、真空チャンバ2の壁面に沿うように絶縁体10aを介して取付けられている。イオンリフレクター10は、第2の電極たる他のDC電源11に電気的に接続され、所定の正の電位が印加されるようになっている。
真空チャンバ2の外側壁には、ターゲット3とステージ8との間に位置させて配置した磁性材料からなるリング状のヨーク12aに導線12bを巻回してなる第2のコイル12が設けられている。導線12bの両端は、DC電源11からイオンリフレクター10への出力に他の切替スイッチ(切替手段)13を介して電気的に接続されている。そして、DC電源11によりイオンリフレクター10に対して所定の正の電位を印加する場合、第2のコイル12に電流が流れてイオンリフレクター10に所定の正の電位が印加されるようになり、スパッタ面3a及び基板W間の空間に磁界が発生する。この場合、図示省略したが、公知の構造を有するさらに他の切替スイッチを設け、第2のコイル12に電流の向きが反転できるように構成しておくことが好ましい。
これにより、導線6bの巻数を適宜設定した上、イオンリフレクター10への投入電力を適宜調節して第2のコイル12に流れる電流を制御したり、第2のコイル12に流れる電流の向きを変えれば、所定の磁界の強さでターゲット3のスパッタ面3aに対して垂直な磁界を発生させることができる。その結果、ターゲット3から飛び出した原子のイオン化を促進してセルフスパッタリングを安定して行い得る低コストのスパッタリング装置1を実現できる。
真空チャンバ2の側壁には、アルゴンガスなどのスパッタガスを導入するガス管14が接続され、その他端は、図示省略したマスフローコントローラを介してガス源に連通している。また、真空チャンバ2には、ターボ分子ポンプやロータリポンプなどからなる真空排気手段15に通じる排気管15aが接続されている。
次に、上記スパッタリング装置1を用いた薄膜形成について、基板W上へのCu膜の形成を例に説明する。先ず、ステージ8に基板Wを載置した後、真空排気手段15を作動させて真空チャンバ2内を所定の真空度(例えば、10−5Pa)まで真空引きする。真空チャンバ2内の圧力が所定値に達すると、真空チャンバ2内にアルゴンガス等のスパッタスを所定の流量で導入しつつ、DC電源5よりターゲット3に所定の負の電位を印加(電力投入)して真空チャンバ10内にプラズマ雰囲気を形成する。このとき、切替スイッチ7を切り替えて第1のコイル6に通電して磁界を発生させ、磁石組立体4によりターゲット3のスパッタ面3a前方に発生している磁界の強さを増加させる。
それに併せて、バイアス電源9によりステージ8にバイアス電位を印加すると共に、DC電源11によりイオンリフレクター10に所定の正の電位を印加する。このとき、切替スイッチ13を切り替えて第2のコイル12に通電し、ターゲット3のスパッタ面3aに対して垂直な磁界を発生させる。
そして、プラズマ中のアルゴンイオンをスパッタ面3aに衝突させてスパッタ面3aがスパッタリングされ、スパッタ面3aから銅原子が飛散する。これにより、スパッタリング粒子である銅原子が基板Wに向かって飛来し、基板W表面に付着、堆積する。スパッタリング中、磁石組立体4及び第1及び第2の両コイル6、12による磁界で、スパッタ面3a前方で電離した電子及びスパッタリングによって生じた二次電子が捕捉され、スパッタ面3a前方におけるプラズマが高密度となる。
尚、本実施の形態では、ターゲット3の裏面中央部に第1のコイル6を、真空チャンバ2の側壁に第2のコイル12を配置したものを例に説明したが、これに限定されるものではなく、コイルの位置は適宜設定することができ、また、コイルに通電して磁界を発生するものであれば、本発明を適用することができる。
本発明の実施の形態によるスパッタリング装置の模式的断面図。
1 DCマグネトロンスパッタリング装置
2 真空チャンバ
3 ターゲット
3a スパッタ面
4 磁石組立体
5、11 DC電源(第1及び第2の各電源)
6、12 第1及び第2の各コイル
7、13 切替スイッチ(切替手段)
10 イオンリフレクター(電極)
C カソードユニット
W 基板

Claims (3)

  1. 真空チャンバ内で処理すべき基板に対向配置されたターゲットと、前記ターゲットのスパッタ面前方に磁界を形成する磁石組立体と、前記ターゲットに負の直流電位を印加する第1の電源とを備え、
    前記ターゲットのスパッタ面の裏側に第1のコイルが配置され、前記第1のコイルが、前記第1の電源と前記ターゲットとの出力間に電気的に接続され、前記第1の電源により前記ターゲットに負の直流電位を印加すると、前記第1のコイルに直流電流が流れてスパッタ面前方に磁界が発生するように構成したことを特徴とするスパッタリング装置。
  2. 前記真空チャンバ内で前記ターゲットと前記基板との間でスパッタ面前方の空間を囲うように設けた電極と、前記電極に正の直流電位を印加する第2の電源とを更に備え、 前記真空チャンバの側壁に沿って第2のコイルが配置され、前記第2のコイルが、前記第2の電源と前記電極との出力間に電気的に接続され、前記第2の電源により前記電極に正の電位を印加すると、前記第2のコイルに通電されてスパッタ面前方に磁界が発生するように構成したことを特徴とする請求項1記載のスパッタリング装置。
  3. 前記第1及び第2の両コイルへの通電を切り替える切替手段をそれぞれ備えることを特徴とする請求項1または請求項2記載のスパッタリング装置。
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