JP5549407B2 - X線検査装置 - Google Patents
X線検査装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5549407B2 JP5549407B2 JP2010138546A JP2010138546A JP5549407B2 JP 5549407 B2 JP5549407 B2 JP 5549407B2 JP 2010138546 A JP2010138546 A JP 2010138546A JP 2010138546 A JP2010138546 A JP 2010138546A JP 5549407 B2 JP5549407 B2 JP 5549407B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- image
- fluoroscopic
- area
- ray
- frame
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Description
図1は本発明の実施の形態の構成図で、装置の概略構造を表す模式図と制御装置の主要な機能的構成を表すブロック図とを併記して示す図である。
2 X線検出器
3 ステージ
4 移動機構
5 光学カメラ
10,12 画像データ取り込み回路
11 透視像記憶部
13 外観像記憶部
14 表示制御部
15 表示器
16 制御部
17 操作部
18 画像合成部
C 外観像
f,F 枠
Claims (1)
- 互いに対向配置されたX線発生装置とX線検出器の間に、被検査物を搭載するステージが設けられているとともに、そのステージとX線発生装置およびX線検出器を相対的にX線光軸方向を含む3軸方向に移動させる移動機構を備え、上記ステージの相対位置に応じた撮影倍率および撮影視野のもとに撮影した被検査物のX線透視画像を表示器に表示する表示器を備えたX線検査装置において、
複数回の撮影により得られた複数の部分透視像を合成することにより、当該装置による最低倍率での画像の視野よりも広い領域の透視像を合成するパノラマ画像合成手段と、上記ステージ上の被検査物を撮影する光学カメラと、その光学カメラによる被検査物の外観像を表示する外観像表示手段と、その外観像上に上記パノラマ画像合成手段により合成すべき領域を枠で指定するパノラマ撮影領域指定手段と、そのパノラマ撮影領域指定手段による指定があったとき、上記移動機構を自動的に駆動して、撮影倍率を規定倍率とした状態で、指定された枠内の領域を順次撮影して上記パノラマ画像合成手段に部分画像として供給する部分画像自動撮影手段と、
上記外観像表示手段により表示された被検査物の外観像上で、当該装置で設定可能な撮影倍率の範囲内の領域を透視領域として枠で指定する透視領域指定手段と、その透視領域指定手段による指定があったとき、指定された枠内の領域と透視領域とが一致するように上記移動機構を自動的に位置決めする透視視野自動設定手段を備えるとともに、上記外観像上で指定された枠の大きさから、当該指定された枠が上記パノラマ撮影領域指定手段と透視領域指定手段とのいずれの指定であるかを判別する判別手段を備えていることを特徴とするX線検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010138546A JP5549407B2 (ja) | 2010-06-17 | 2010-06-17 | X線検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010138546A JP5549407B2 (ja) | 2010-06-17 | 2010-06-17 | X線検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012002696A JP2012002696A (ja) | 2012-01-05 |
JP5549407B2 true JP5549407B2 (ja) | 2014-07-16 |
Family
ID=45534840
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010138546A Active JP5549407B2 (ja) | 2010-06-17 | 2010-06-17 | X線検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5549407B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101431781B1 (ko) | 2012-06-20 | 2014-08-20 | 삼성전자주식회사 | 엑스선 영상 장치 및 그 제어방법 |
US10098598B2 (en) | 2013-06-13 | 2018-10-16 | Samsung Electronics Co., Ltd. | X-ray imaging apparatus and method for controlling the same |
KR102662639B1 (ko) * | 2015-08-25 | 2024-05-03 | 삼성전자주식회사 | 엑스선 영상 장치 및 그 제어 방법 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000097881A (ja) * | 1998-09-24 | 2000-04-07 | Hitachi Constr Mach Co Ltd | X線検査装置、x線検査用画像処理装置、x線検査装置用画像処理プログラムが格納された記録媒体 |
JP2006343193A (ja) * | 2005-06-08 | 2006-12-21 | Shimadzu Corp | X線透視装置 |
-
2010
- 2010-06-17 JP JP2010138546A patent/JP5549407B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2012002696A (ja) | 2012-01-05 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7477723B2 (en) | X-ray fluoroscope | |
JP4577312B2 (ja) | X線ct装置およびx線ct方法 | |
JP4375555B2 (ja) | X線ct装置 | |
JP2012003214A (ja) | 情報処理装置、情報処理方法、プログラム、撮像装置、及び光学顕微鏡を搭載した撮像装置 | |
JP5549407B2 (ja) | X線検査装置 | |
JP5045134B2 (ja) | X線ct装置 | |
JP2006189342A (ja) | X線ct装置 | |
JP2009174972A (ja) | X線透視による3次元観測方法およびx線透視装置 | |
JP6063753B2 (ja) | 目視検査装置 | |
JP2013257155A (ja) | X線検査装置 | |
JP4072420B2 (ja) | X線透視検査装置の較正方法 | |
JP4742902B2 (ja) | X線検査装置 | |
JP5251264B2 (ja) | X線ct装置 | |
JP2013250072A (ja) | X線検査装置 | |
JP5544909B2 (ja) | X線検査装置 | |
JP4433182B2 (ja) | X線透視装置 | |
JP2008304422A (ja) | X線ct装置 | |
JP2007127601A (ja) | X線検査装置 | |
JP4609643B2 (ja) | X線ct装置 | |
JP2008175764A (ja) | 外観検査装置 | |
JP2007178229A (ja) | X線検査装置 | |
JP4577216B2 (ja) | X線検査装置 | |
JP4792918B2 (ja) | X線検査装置 | |
JP2008170303A (ja) | X線ct装置 | |
JP3897102B2 (ja) | X線透視装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20111219 |
|
RD05 | Notification of revocation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7425 Effective date: 20120201 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20120906 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20131016 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20131022 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20131212 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20140422 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20140505 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 5549407 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |