JP5501189B2 - 硬さ試験機 - Google Patents
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Description
このような硬さ試験機では、例えば、複数の試料に対して同一試験を行う場合、先ず、最初の試料の試験時に、試料の所定位置に座標系を設定し、その座標系上の所定点で試験をする試験手順を記憶しておき、後続の試料に対しては、座標系を設定すると、記憶した試験手順を利用して最初の試料と同様の試験を繰り返すという試験方法が知られている。
この再試験は、最初の試験時と同一の条件で実施するのが望ましいため、上記したような試験方法を用いて試験を行いたいという要望がある。
請求項1に記載の発明は、
試料台に載置された試料の表面に、所定の荷重を負荷した圧子を押し込んでくぼみを形成する硬さ試験機において、
前記圧子によりくぼみを形成する試料の表面画像を表示するメイン画面と、ユーザを補助する補助画像を表示するアシスト画面とを表示可能な表示手段と、
前記試料に初回の試験を行う場合に、前記試料における試験位置を設定する第1試験位置設定手段と、
前記試料に再試験を行う場合に、前記試料における試験位置を設定する第2試験位置設定手段と、
を備え、
前記第1試験位置設定手段は、
前記メイン画面に前記試料の表面画像が表示された場合、当該試料の表面画像に基準座標を設定する第1座標設定手段と、
前記第1座標設定手段により基準座標が設定された後、くぼみ形成位置の座標点を設定するくぼみ形成位置設定手段と、
前記くぼみ形成位置設定手段により設定された座標点の設定条件を記憶する設定条件記憶手段と、
前記メイン画面に表示された前記試料の表面画像を記憶する画像記憶手段と、
を備え、
前記第2試験位置設定手段は、
前記アシスト画面に、前記画像記憶手段に記憶された前記試料の表面画像を前記補助画像として表示させる補助画像表示制御手段と、
ユーザにより再試験開始指示操作がなされた場合、前記補助画像に対して、前記設定条件記憶手段に記憶された設定条件に基づいて、前記くぼみ形成位置設定手段により設定された座標点と異なる座標点を再くぼみ形成位置として設定する再くぼみ形成位置設定手段と、
前記画像記憶手段に記憶された前記試料の表面画像の輝度値に基づいて、前記再くぼみ形成位置設定手段により設定された再くぼみ形成位置の座標点が硬さ試験に適するか否かを判断する判断手段と、
を備え、
前記再くぼみ形成位置設定手段は、
前記判断手段により、設定した再くぼみ形成位置の座標点が硬さ試験に適さないと判断された場合、再度、再くぼみ形成位置の座標点を設定することを特徴とする。
前記再くぼみ形成位置設定手段は、
ユーザにより再試験開始指示操作がなされた場合、前記設定条件記憶手段に記憶された設定条件に基づいて、前記くぼみ形成位置設定手段により設定された座標点の前記試料の縁部からの距離を算出する距離算出手段と、
前記試料において、当該試料の縁部からの距離が前記距離算出手段により算出した距離と等しく且つ前記くぼみ形成位置設定手段により設定された座標点と異なる座標点を、再くぼみ形成位置として選択する再くぼみ形成位置選択手段と、
を備えることを特徴とする。
前記くぼみ形成位置設定手段により、前記試料の縁部からの距離が等しい2点の座標点がくぼみ形成位置として設定されていた場合、
前記再くぼみ形成位置選択手段は、前記試料の縁部の形状に沿って前記2点を結ぶ線上で、当該2点の中間となる点の座標点を再くぼみ形成位置として選択することを特徴とする。
前記再くぼみ形成位置設定手段により再くぼみ形成位置を設定する自動モードと、ユーザが任意で再くぼみ形成位置を指定する手動モードと、を選択する選択手段を備え、
前記第2試験位置設定手段は、
前記選択手段により手動モードが選択された場合、前記メイン画面に表示された前記試料の表面画像に対する、ユーザによる再試験位置指定操作に応じて、再くぼみ形成位置を決定する再くぼみ形成位置決定手段を備えることを特徴とする。
このため、再試験に適した位置が自動で設定され再試験が実施されることとなり、
一度試験した試料に対して再試験を行う場合の作業性を向上させることができる。
なお、以下では、硬さ試験機の左右方向をX方向、前後方向をY方向、高さ方向をZ方向とする。
この硬さ試験機100では、試料Sに対して一度目の試験(初回試験)を行う場合にくぼみ形成位置(試験位置)を設定する「第1試験位置設定処理」と、当該試料Sに対して再試験を行う場合に再くぼみ形成位置(再試験位置)を設定する「第2試験位置設定処理」とが実行可能である。
第1試験位置設定処理においては、試料Sの表面画像が撮影・記憶されるとともに、試料Sに対して設定したくぼみ形成位置の設定条件が記憶される。
また、第2試験位置設定処理においては、第1試験位置設定処理により記憶した試料Sの表面画像と設定条件を用いて、試料Sに対して再くぼみ形成位置が設定される。
これにより、硬さ試験機100は、試料Sに対して、再試験を容易に行うことが可能となっている。
具体的に、CCDカメラ12は、その試料Sの表面から対物レンズ15、ミラー1e、ハーフミラー1d、ミラー1g、及びレンズ1hを介して入力された反射光に基づき、当該試料Sの表面や圧子14aにより試料Sの表面に形成されるくぼみを撮像して、画像データを取得し、複数フレームの画像データを同時に蓄積、格納可能なフレームグラバ17を介して、制御部6に出力する。
XYステージ3は、制御部6が出力する制御信号に応じて駆動する駆動機構部(図示省略)により駆動され、試料台2を圧子14aの移動方向(Z軸方向)に垂直な方向(X軸,Y軸方向)に移動させる。
AF(Z)ステージ4は、制御部6が出力する制御信号に応じて駆動され、CCDカメラ12が撮像した画像データに基づき試料台2を微細に昇降させ、試料Sの表面に焦点を合わせる。
昇降機構部5は、制御部6が出力する制御信号に応じて駆動され、試料台2(XYステージ3、AF(Z)ステージ4)を上下方向に移動させることで、試料台2と対物レンズ15との間の相対距離を変化させる。
ここで、自動モードとは、再くぼみ形成位置設定手段(後述)により、再試験時に再くぼみ形成位置を自動で設定するモードである。また、手動モードとは、再試験時に、ユーザが、任意で再くぼみ形成位置を指定するモードである。
また、くぼみ形成位置設定操作とは、第1試験位置設定処理において、モニタ8のメイン画面A1に表示された試料Sの表面画像に基準座標が設定された後、当該試料Sの表面画像に対して、くぼみ形成位置をユーザが指定する操作である。
また、再試験開始指示操作とは、再試験の開始をユーザが指示する操作である。
また、再試験位置指定操作とは、手動モードで再試験を行う場合に、試料Sにおける再くぼみ形成位置をユーザが任意で指定する操作である。
ここで、各種の条件の設定とは、例えば、試験条件(試料Sの材質、圧子14aにより試料Sに負荷される試験力(N)、対物レンズ15の倍率、等の値)や、試験開始点、行・列数、ピッチ等の設定である。
これにより、モニタ8は、表示手段として機能する。
この表示画面G1は、メイン画面A1、ツールボックスB2、試験手順表示部B3等を備えている。
表示画面G1において、メイン画面A1には、CCDカメラ12により撮影された試料Sの表面画像が表示される。なお、CCDカメラ12には高倍率のレンズが搭載されているため、メイン画面A1には、試料Sの一部を捉えた拡大画像が表示されることとなる。
また、ツールボックスB2には、座標設定操作やくぼみ形成位置設定操作などの各種の操作を行うための各種ツールが一覧表示されている。
ユーザは、座標設定操作を行う場合、該当するツールを選択して、メイン画面A1をクリックすることで、メイン画面A1の任意の点を指定することができる。また、ユーザは、くぼみ形成位置設定操作を行う場合、該当するツールを選択して、メイン画面A1をクリックすることで、メイン画面A1の任意の点をくぼみ形成位置として指定することができる。
また、試験手順表示部B3には、初回試験時に試料Sに対して行われる試験手順が表示されている。
この表示画面G2は、メイン画面A1、アシスト画面A2、試験手順表示部B3、試験結果表示欄B4、等を備えている。
表示画面G2において、メイン画面A1には、再試験の対象となる試料(既にくぼみの形成された試料)Sの表面画像が、CCDカメラ12により撮影されて表示される。
また、アシスト画面A2には、当該試料Sの初回の試験時に撮像された表面画像が、補足画像として表示される。なお、アシスト画面A2は、第2試験位置設定処理を行う際に、モニタ8に表示されて利用される画面であって、ユーザにより画像呼び出し操作がなされた場合、試料Sの初回の試験時に撮像された表面画像を表示するようになっている。
また、試験手順表示部B3には、試料Sへの初回の試験時のくぼみ形成により作成された試験手順が一覧表示されている。
また、試験結果表示欄B4には、試験力、くぼみの大きさ、硬さ等の、試験結果が表示されるようになっている。
ここで、CPU61は、試料Sに対して初回試験を行う場合(第1試験位置設定処理を行う場合)、モニタ8に表示画面G1を表示させている。
そして、CPU61は、試料Sの撮影がなされると、メイン画面A1に試料Sの表面画像を表示させる。なお、このとき、CPU61は、当該試料Sの表面画像を当初画像として画像記憶部63eに記録させる。
また、CPU61は、試料Sに対して再試験を行う場合(第2試験位置設定処理を行う場合)、モニタ8に表示画面G2を表示させている。
そして、CPU61は、再試験を行う試料Sの撮影がなされると、メイン画面A1に当該再試験を行う試料Sの表面画像を表示させる。
CPU61は、かかるメイン画像表示制御プログラム63aを実行することで、メイン画像表示制御手段として機能する。
なお、ここでは、図8に示すように、円弧形状の試料Sに対して、等ピッチで法線を設定し、この法線上に複数箇所(ここでは3箇所)ずつ、くぼみを形成する場合を例示して説明する。
次に、図8(b)に示すように、ユーザが座標設定操作として、ツールボックスB2の所定のツールを用いて、表示画像における試料Sの縁部の任意の位置をクリックすると、CPU61は、クリックされた位置から法線方向に沿った基準線L1を設定する。
また、ここで、CPU61は、クリックされた位置を基準点P0(0,0)として、基準線L1上に法線方向に沿ったX軸を設定し、試料Sの縁部の形状に沿ったY軸を設定することで、基準座標を設定する。
次に、図8(c)に示すように、CPU61は、クリックされた位置(基準点P0)から、試料Sの縁部に沿って予め設定されたピッチずつ、予め設定された数だけ、法線方向に沿った基準線を設定する。図8(c)は、2つの基準線L2、L3が設定された例である。
なお、このとき、CPU61は、上記メイン画像表示制御プログラム63aにより、試料Sの表面画像に、基準点P0や基準線L1〜L3や、基準座標を重ねて表示させ、この画像を画像記憶部63eに記録させる。
ユーザは、メイン画面A1の試料Sの表面画像に対して基準座標が設定されると、図8(d)に示すように、くぼみ形成位置設定操作として、ツールボックスB2の所定のツールを用いて、基準線L1上の任意の位置をクリックする。図8(d)は、ユーザにより、くぼみ形成位置設定操作として、3点P1、P2、P3が指定された例である。
すると、CPU61は、基準座標を用いてクリックされた位置の座標点を算出し、この座標点をくぼみ形成位置として設定する。
次に、CPU61は、基準線L2、L3上において、基準線L1に設定されたくぼみ形成位置と、試料Sの縁部からの距離が等しい位置の座標点を算出し、くぼみ形成位置の座標点として設定する。図8(d)では、くぼみ形成位置設定操作に準じて、CPU61が、基準線L2、L3上にそれぞれ、P4〜P6と、P7〜9と、を設定した例である。
かかるくぼみ形成位置設定プログラム63cの実行によりくぼみ形成位置の座標点が設定されると、CPU61は、くぼみ形成プログラム63k(後述)を実行して試料Sにくぼみを形成する。
設定条件とは、どのような形状に対して、どのようにくぼみを形成するかを示す条件である。例えば、ここでは、自律倣い機能により取得した円弧形状の試料Sの縁部に対して、等ピッチで並んだ3つの法線(3つの基準線L1〜L3)上に、それぞれ3つのくぼみ(P1〜3、P4〜P6、P7〜9)を形成するように設定条件が記憶される。
具体的に、画像記憶部63eは、試料Sの表面画像(当初画像)を記憶する。
また、画像記憶部63eは、試料Sの当初画像に、座標設定操作がなされた位置や設定された基準座標が重ねて表示された画像を記憶する。
また、画像記憶部63eは、初回試験によりくぼみの形成された試料Sの表面画像を記憶する。
具体的に、試料Sに対して再試験を行う場合(第2試験位置設定処理を行う場合)、ユーザが画像呼び出し操作を実行すると、CPU61は、かかる操作に応じて、画像記憶部63eに記憶された初回試験の試料Sの表面画像を、補助画像としてアシスト画面A2に表示させる。
このとき、補助画像としては、試料Sの当初画像に、基準点P0、基準線L1〜L3、及びX軸とY軸(基準座標)などが重ねて表示された画像を表示させることが好ましい。
CPU61は、かかる補助画像表示制御プログラム63fを実行することで、補助画像表示制御手段として機能する。
具体的に、アシスト画面A2に補助画像を表示させた状態で、ユーザが再試験開始指示操作を行うと、CPU61は、設定条件記憶部63dに記憶された座標点の設定条件を参照し、試料Sの縁部から、各くぼみまでの距離(深度)を算出する。
なお、本実施形態では、図9(a)に示すように、P1、P4、P7の深度は同一である。また、P2、P5、P8の深度は同一であり、P3、P6、P9の深度は同一である。
CPU61は、かかる距離算出プログラム63gを実行することで、距離算出手段として機能する。
具体的には、例えば、図9(a)のように、試料Sの縁部からの距離が等しい2点以上の座標点がくぼみ形成位置として設定されていた場合、CPU61は、試料Sの縁部の形状に沿って隣り合う2点を結ぶ線(図9(a)〜(c)における仮想線K1〜K3)上で、当該2点の中間となる点の座標点を、再くぼみ形成位置として選択する。
例えば、図9(b)に示すように、2点P1とP4との中間点P11や、2点P4とP7との中間点P14などが、再くぼみ形成位置として選択される。
また、図9(c)に示すように、P2とP5との中間点P12、P3とP6との中間点P13、P5とP8の中間点P15、P6とP9の中間点P16などが、再くぼみ形成位置として選択される。
このように、初回試験時に形成したくぼみの影響を最も受けない位置が、再くぼみ形成位置として選択される。
例えば、CPU61は、2点P1とP4との中間点P11の座標点が硬さ試験に適さないと判断された場合、仮想線K1上で、2点P1とP4の間のP11を除いた位置を再び再くぼみ形成位置として設定する。
具体的に、CPU61は、上記再くぼみ形成位置選択プログラム63hの実行によって再くぼみ形成位置が選択されると、画像記憶部63eに記憶された初回試験の試料Sの表面画像を用いて、当該再くぼみ形成位置の輝度値を算出し、算出した輝度値が所定値を満たない場合、その再くぼみ形成位置が硬さ試験に適さないと判断する。
なお、この判断プログラム63iの実行により硬さ試験に適すると判断された場合、CPU61は、くぼみ形成プログラム63k(後述)を実行して試料Sの再くぼみ形成位置にくぼみを形成する。
CPU61は、かかる判断プログラム63iを実行することで、判断手段として機能する。
具体的に、再試験に際して、ユーザにより手動モードが選択されている場合、CPU61は、上記距離算出プログラム63g等を実行せずに、メイン画面A1に対するユーザによる再試験位置指定操作を待って、当該再試験位置指定操作がなされると、これに応じて指定された位置を再くぼみ形成位置として決定する。
CPU61は、かかる再くぼみ形成位置決定プログラム63jを実行することで、再くぼみ形成位置決定手段として機能する。
具体的に、CPU61は、上記くぼみ形成位置設定プログラム63cの実行によりくぼみ形成位置の座標点が設定された場合、初回試験時の試料Sに対して、くぼみを形成する。なお、このとき、CPU61は、くぼみの形成された試料Sの表面画像を、画像記憶部63eに記録させる。
また、CPU61は、上記判断プログラム63iの実行により硬さ試験に適すると判断された場合、及び上記再くぼみ形成位置決定プログラム63jの実行により手動モードでくぼみ形成位置が決定された場合、再試験時の試料Sに対して、くぼみを形成する。
CPU61は、かかるくぼみ形成プログラム63kを実行することで、くぼみ形成手段として機能する。
また、上記した距離算出プログラム63g、再くぼみ形成位置選択プログラム63h等により、ユーザにより再試験開始指示操作がなされた場合、アシスト画面A2に表示された補助画像に対して、設定条件記憶部63dに記憶された設定条件に基づいて、くぼみ形成位置設定プログラム63cの実行により設定された座標点と異なる座標点を、再くぼみ形成位置として設定する、再くぼみ形成位置設定手段が構成されている。
また、補助画像表示制御プログラム63f、再くぼみ形成位置設定手段、判断プログラム63i、等により、試料Sに再試験を行う場合に、試料Sにおけるくぼみ形成位置を設定する第2試験位置設定手段が構成されている。
硬さ試験機100における測定処理は、図10に示すように、初回試験時に試料Sに対してくぼみ形成位置を設定する第1試験位置設定処理(ステップS10)と、再試験時に試料Sに対して再くぼみ形成位置を設定する第2試験位置設定処理(ステップS20)と、を有している。
先ず、ステップS11において、CPU61は、CCDカメラ12により試料Sの表面画像を撮影する。
次いで、ステップS12において、CPU61は、試料Sの表面画像をモニタ8のメイン画面A1に表示する。なお、当該試料Sの表面画像(当初画像)は画像記憶部63eに記録される。
次いで、ステップS13において、ユーザは、試料Sの表面画像に対して座標設定操作を行う。なお、当該試料Sの表面画像には、座標設定操作がなされた位置が重ねて表示され、この画像は画像記憶部63eに記録される。
次いで、ステップS14において、CPU61は、試料Sの表面画像に基準座標を設定する。なお、当該試料Sの表面画像には、設定された基準座標が重ねて表示され、この画像は画像記憶部63eに記録される。
次いで、ステップS15において、ユーザは、試料Sの表面画像に対してくぼみ形成位置設定操作を行う。
次いで、ステップS16において、CPU61は、設定した基準座標を用いてくぼみ形成位置の座標点を設定する。
次いで、ステップS17において、CPU61は、設定された座標点にくぼみを形成する。なお、くぼみの形成された表面画像は、画像記憶部63eに記録される。
先ず、ステップS21において、CPU61は、再試験を行う試料Sの表面画像をモニタ8のメイン画面A1に表示する。
次いで、ステップS22において、CPU61は、ユーザによる画像呼び出し操作に応じて、初回試験時の試料Sの表面画像をモニタ8のアシスト画面A2に表示する。
次いで、ステップS23において、ユーザは、再試験開始指示操作を行う。
次いで、ステップS24において、CPU61は、再くぼみ形成位置の設定を自動モードで行うか否かを判断し、自動モードで行うと判断した場合(ステップS24:YES)、続くステップS25において、設定条件記憶部63dに記憶された設定条件に基づいて、再くぼみ形成位置を設定する。
次いで、ステップS26において、CPU61は、設定された再くぼみ形成位置が硬さ試験に適するか否かを判断し、適すると判断した場合(ステップS26:YES)、後述のステップS29に移行する。
一方、設定された再くぼみ形成位置が硬さ試験に適さないと判断した場合(ステップS26:NO)、続くステップS27において、CPU61は、再くぼみ形成位置の再設定を行って、上記ステップS26に戻って以降の処理を繰り返す。
また、上記ステップS24において、再くぼみ形成位置の設定を自動モードで行わないと判断した場合(ステップS24:NO)、続くステップS28において、CPU61は、ユーザの再試験位置指定操作により再くぼみ形成位置を決定する。
次いで、ステップS29において、CPU61は、くぼみを形成する。なお、くぼみの形成された表面画像は、画像記憶部63eに記録される。
このため、再くぼみ形成位置に適した位置が自動で設定され再試験が実施されることとなり、一度試験した試料Sに対して再試験を行う場合の作業性を向上させることができ。
このため、試料Sの縁部からの距離は変わらずに、初回試験と異なる点で再試験が行えるため、再試験した場合でも、試料Sの縁部からの距離(深度)による硬さ分布評価を好適に実行することができる。
このため、初回試験時の影響を最も受けない位置が再びくぼみ形成位置として選択される。
このため、試料Sに因って自動及び手動の切替が可能であって、手動の場合にはユーザが目視して任意の再くぼみ形成位置を指定することができるため、試料Sに応じた好適な方法を選択でき、操作性を良好にすることができる。
例えば、再試験において、アシスト画面A2に表示された試料Sの表面画像に、距離算出プログラム63gの実行により算出した仮想線K1〜3を、重ねて表示させることも可能である。
このようにした場合、手動モードにおいて、ユーザの操作性をより良好にすることができる。
試料Sの形状はこれに限定されず、また、くぼみの形成位置や数もこれに限定されない。
例えば、試料Sの縁部の形状が直線状の場合にも本発明は適用可能である。
また、形成されるくぼみの数が1つの場合には、予め設定された所定距離を離して、再くぼみ形成位置が設定されることとすれば良い。また、XY軸の設定の仕方も上記実施形態に限定されない。
2 試料台
6 制御部
61 CPU
63 記憶部
63a メイン画像表示制御プログラム
63b 第1座標設定プログラム(第1座標設定手段、第1試験位置設定手段)
63c くぼみ形成位置設定プログラム(くぼみ形成位置設定手段、第1試験位置設定手段)
63d 設定条件記憶部(設定条件記憶手段、第1試験位置設定手段)
63e 画像記憶部(画像記憶手段、第1試験位置設定手段)
63f 補助画像表示制御プログラム(補助画像表示制御手段、第2試験位置設定手段)
63g 距離算出プログラム(距離算出手段、再くぼみ形成位置設定手段、第2試験位置設定手段)
63h 再くぼみ形成位置選択プログラム(再くぼみ形成位置選択手段、再くぼみ形成位置設定手段、第2試験位置設定手段)
63i 判断プログラム(判断手段、第2試験位置設定手段)
63j 再試験位置決定プログラム(再試験位置決定手段、第2試験位置設定手段)
63k くぼみ形成プログラム
7 操作部(選択手段)
8 モニタ(表示手段)
A1 メイン画面
A2 アシスト画面
14a 圧子
Claims (4)
- 試料台に載置された試料の表面に、所定の荷重を負荷した圧子を押し込んでくぼみを形成する硬さ試験機において、
前記圧子によりくぼみを形成する試料の表面画像を表示するメイン画面と、ユーザを補助する補助画像を表示するアシスト画面とを表示可能な表示手段と、
前記試料に初回の試験を行う場合に、前記試料における試験位置を設定する第1試験位置設定手段と、
前記試料に再試験を行う場合に、前記試料における試験位置を設定する第2試験位置設定手段と、
を備え、
前記第1試験位置設定手段は、
前記メイン画面に前記試料の表面画像が表示された場合、当該試料の表面画像に基準座標を設定する第1座標設定手段と、
前記第1座標設定手段により基準座標が設定された後、くぼみ形成位置の座標点を設定するくぼみ形成位置設定手段と、
前記くぼみ形成位置設定手段により設定された座標点の設定条件を記憶する設定条件記憶手段と、
前記メイン画面に表示された前記試料の表面画像を記憶する画像記憶手段と、
を備え、
前記第2試験位置設定手段は、
前記アシスト画面に、前記画像記憶手段に記憶された前記試料の表面画像を前記補助画像として表示させる補助画像表示制御手段と、
ユーザにより再試験開始指示操作がなされた場合、前記補助画像に対して、前記設定条件記憶手段に記憶された設定条件に基づいて、前記くぼみ形成位置設定手段により設定された座標点と異なる座標点を再くぼみ形成位置として設定する再くぼみ形成位置設定手段と、
前記画像記憶手段に記憶された前記試料の表面画像の輝度値に基づいて、前記再くぼみ形成位置設定手段により設定された再くぼみ形成位置の座標点が硬さ試験に適するか否かを判断する判断手段と、
を備え、
前記再くぼみ形成位置設定手段は、
前記判断手段により、設定した再くぼみ形成位置の座標点が硬さ試験に適さないと判断された場合、再度、再くぼみ形成位置の座標点を設定することを特徴とする硬さ試験機。 - 前記再くぼみ形成位置設定手段は、
ユーザにより再試験開始指示操作がなされた場合、前記設定条件記憶手段に記憶された設定条件に基づいて、前記くぼみ形成位置設定手段により設定された座標点の前記試料の縁部からの距離を算出する距離算出手段と、
前記試料において、当該試料の縁部からの距離が前記距離算出手段により算出した距離と等しく且つ前記くぼみ形成位置設定手段により設定された座標点と異なる座標点を、再くぼみ形成位置として選択する再くぼみ形成位置選択手段と、
を備えることを特徴とする請求項1に記載の硬さ試験機。 - 前記くぼみ形成位置設定手段により、前記試料の縁部からの距離が等しい2点の座標点がくぼみ形成位置として設定されていた場合、
前記再くぼみ形成位置選択手段は、前記試料の縁部の形状に沿って前記2点を結ぶ線上で、当該2点の中間となる点の座標点を再くぼみ形成位置として選択することを特徴とする請求項2に記載の硬さ試験機。 - 前記再くぼみ形成位置設定手段により再くぼみ形成位置を設定する自動モードと、ユーザが任意で再くぼみ形成位置を指定する手動モードと、を選択する選択手段を備え、
前記第2試験位置設定手段は、
前記選択手段により手動モードが選択された場合、前記メイン画面に表示された前記試料の表面画像に対する、ユーザによる再試験位置指定操作に応じて、再くぼみ形成位置を決定する再くぼみ形成位置決定手段を備えることを特徴とする請求項1〜3の何れか一項に記載の硬さ試験機。
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US9897523B2 (en) * | 2015-03-05 | 2018-02-20 | Massachusetts Materials Technologies Llc | Contact mechanic tests using stylus alignment to probe material properties |
CN104422628B (zh) * | 2013-09-03 | 2017-05-24 | 北京时代之峰科技有限公司 | 基于维氏硬度的压痕图像识别方法及*** |
JP6094457B2 (ja) * | 2013-11-05 | 2017-03-15 | 株式会社島津製作所 | 硬さ試験機 |
CN104125401B (zh) * | 2014-07-22 | 2017-08-25 | 广州三星通信技术研究有限公司 | 控制图像传感器工作的方法和拍摄装置 |
AT518859B1 (de) * | 2016-08-12 | 2018-02-15 | Qness Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Härteprüfung |
US10564081B2 (en) * | 2017-02-03 | 2020-02-18 | United States Gypsum Company | System and method for evaluating edge hardness of cementitious boards and system for stacking cementitious boards inlcuding same |
JP2018165643A (ja) * | 2017-03-28 | 2018-10-25 | 株式会社ミツトヨ | 硬さ試験機及びプログラム |
DE102017124051A1 (de) * | 2017-10-16 | 2019-04-18 | Imprintec GmbH | Vorrichtung und Verfahren zur automatischen Werkstückprüfung |
CN108693059A (zh) * | 2018-04-28 | 2018-10-23 | 中国神华能源股份有限公司 | 硬度测量装置及硬度测量方法 |
JP7144035B2 (ja) * | 2018-07-17 | 2022-09-29 | アルミエース株式会社 | 硬さ基準片 |
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US20210010915A1 (en) * | 2019-07-12 | 2021-01-14 | Illinois Tool Works Inc. | Methods and apparatus to control staging of test specimens |
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US20230280218A1 (en) * | 2022-03-01 | 2023-09-07 | Asmpt Singapore Pte. Ltd. | Force measurement device and method for bonding or encapsulation process and apparatus incorporating the device |
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Family Cites Families (17)
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---|---|---|---|---|
IT1179997B (it) * | 1984-02-24 | 1987-09-23 | Consiglio Nazionale Ricerche | Procedimento ed apparecchiatura per il rilievo dell impronta lasciata in un provino nella misura della durezza alla penetrazione |
JPS63298024A (ja) * | 1987-05-28 | 1988-12-05 | Shimadzu Corp | 硬度計の圧痕測長装置 |
FR2619917A1 (fr) * | 1987-08-31 | 1989-03-03 | Armines | Procede et appareil de mesure des dimensions principales d'une empreinte d'indentation formee dans la surface d'une piece |
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JPH0599822A (ja) * | 1991-04-10 | 1993-04-23 | Matsuzawa Seiki Kk | 押込型硬さ試験機 |
JP3826548B2 (ja) * | 1998-03-06 | 2006-09-27 | 株式会社島津製作所 | グラフ表示機能を有する硬度計 |
JP2000146794A (ja) * | 1998-11-06 | 2000-05-26 | Nippon Steel Corp | ロックウェル硬度計 |
JP2000249640A (ja) * | 1999-03-01 | 2000-09-14 | Nippon Steel Corp | 硬度測定装置 |
JP2003166923A (ja) * | 2001-11-30 | 2003-06-13 | Akashi Corp | 硬さ試験機及び硬さ試験方法 |
US6996264B2 (en) * | 2002-10-18 | 2006-02-07 | Leco Corporation | Indentation hardness test system |
CN1316417C (zh) * | 2002-10-18 | 2007-05-16 | 莱克公司 | 刻痕硬度测试*** |
US7121136B2 (en) * | 2002-12-25 | 2006-10-17 | Mitutoyo Corporation | Hardness testing apparatus |
US6993959B2 (en) * | 2003-10-17 | 2006-02-07 | National Institutes Of Health | System and method for the analysis of atomic force microscopy data |
CN101120240B (zh) * | 2004-07-02 | 2010-12-29 | 埃里克·厄恩斯特 | 具有硬质金属或化合物压头和摆动冠的用于在高载荷下测试的硬度测试仪和硬度/深度分布比较评估的方法 |
CN101413859A (zh) * | 2008-12-12 | 2009-04-22 | 哈尔滨工业大学 | 一种材料硬度测试方法及*** |
JP2012078306A (ja) * | 2010-10-06 | 2012-04-19 | Mitsutoyo Corp | 硬さ試験機 |
JP5826611B2 (ja) * | 2011-11-17 | 2015-12-02 | 株式会社ミツトヨ | 硬さ試験機、及び硬さ試験方法 |
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