JP6858038B2 - 硬さ試験機及びプログラム - Google Patents
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Description
(例えば、特許文献1及び特許文献2参照)。
この際には、くぼみの対角線長さの計測は、例えば、図6(b)に示したように、計測ラインの各々をくぼみの頂点の各々に重なるように配置した上で、平行に引かれた計測ラインの間隔を計測することによって行われる。
試料の表面に圧子により所定の試験力を負荷してくぼみを形成させ、当該くぼみの寸法を計測することにより前記試料の硬さを測定する硬さ試験機において、
撮像手段を制御してくぼみが形成された試料の表面を撮像させ、当該試料の表面の画像データを取得する撮像制御手段と、
前記撮像制御手段により取得された前記画像データに基づいて、前記試料の表面に形成されたくぼみの頂点座標を抽出する抽出手段と、
前記抽出手段によって抽出された前記頂点座標に基づいて、基準線に対する前記くぼみの傾き角及び前記くぼみの中心座標を算出する算出手段と、
前記算出手段よって算出された前記傾き角に基づいて、前記画像データによる画像と共に表示される計測ラインと、当該計測ラインが長さを計測する線分と、が直交するように前記画像データ又は前記計測ラインのデータを補正して前記画像データによる画像と前記計測ラインとを表示手段に表示する表示制御手段と、
を備えることを特徴とする。
前記表示制御手段は、前記算出手段によって算出された前記傾き角に基づいて、前記中心座標を中心として画像データによる画像を回転させることを特徴とする。
前記表示制御手段は、前記算出手段によって算出された前記傾き角に基づいて、前記中心座標を中心として前記計測ラインを回転させることを特徴とする。
試料の表面に圧子により所定の試験力を負荷してくぼみを形成させ、当該くぼみの寸法を計測することにより前記試料の硬さを測定する硬さ試験機のコンピュータを、
撮像手段を制御してくぼみが形成された試料の表面を撮像させ、当該試料の表面の画像データを取得する撮像制御手段、
前記撮像制御手段により取得された前記画像データに基づいて、前記試料の表面に形成されたくぼみの頂点座標を抽出する抽出手段、
前記抽出手段によって抽出された前記頂点座標に基づいて、基準線に対する前記くぼみの傾き角及び前記くぼみの中心座標を算出する算出手段、
前記算出手段よって算出された前記傾き角に基づいて、前記画像データによる画像と共に表示される計測ラインと、当該計測ラインが長さを計測する線分と、が直交するように前記画像データ又は前記計測ラインのデータを補正して前記画像データによる画像と前記計測ラインとを表示手段に表示する表示制御手段、
として機能させるプログラムである。
硬さ試験機100は、例えば、圧子14aの平面形状が矩形状に形成されたビッカース硬さ試験機であり、図1及び図2に示すように、試験機本体10と、制御部6と、操作部7と、モニタ8と、を備えている。
これにより、CCDカメラ12は、撮像手段として機能する。
XYステージ3は、制御部6が出力する制御信号に応じて駆動する駆動機構部(図示省略)により駆動され、試料台2を圧子14aの移動方向(Z軸方向)に垂直な方向(X軸,Y軸方向)に移動させる。
AFステージ4は、制御部6が出力する制御信号に応じて駆動され、CCDカメラ12が撮像した画像データに基づき試料台2を微細に昇降させ、試料Sの表面に焦点を合わせる。
昇降機構部5は、制御部6が出力する制御信号に応じて駆動され、試料台2(XYステージ3、AFステージ4)を上下方向に移動させることで、試料台2と対物レンズ15との間の相対距離を変化させる。
これにより、モニタ8は、表示手段として機能する。
次に、本実施形態に係る硬さ試験機100の動作について説明する。
まず、CPU61は、記憶部63内に格納されたXYステージ制御プログラムを実行することにより、試料Sの表面の所定領域がCCDカメラ12の真下に位置するようにXYステージ3を移動させる。
次に、CPU61は、記憶部63内に格納された自動合焦プログラムを実行することにより、硬さ測定部1のCCDカメラ12によって得られる画像データに基づいて、AFステージ4を昇降させ、試料Sの表面に対する自動合焦を行う。
そして、CPU61は、記憶部63内に格納されたくぼみ形成プログラムを実行することにより、圧子14aを所定の試験力で試料Sの表面に押し付けてくぼみを形成する。
計測ラインL……は、モニタ8の縦方向又は横方向に沿う基準線と平行となるように、各方向2本ずつ、操作部7による操作に応じて平行関係を保ちつつ近接離間可能に表示される。
以上のように、実施形態に係る硬さ試験機100によれば、撮像された画像データを、くぼみの中心座標及びくぼみの対角線の基準線からの傾き角に応じて回転させることによって、圧子を調整せずとも、圧子によって形成されたくぼみの対角線と、計測ラインとの傾きを調整することができる。
これによって、圧子交換時の調整作業を廃止することができ、かつ、くぼみの傾きによる計測誤差を生じさせない正確な計測を行うことが可能となる。
上記実施形態では、硬さ試験機100として、圧子14aの平面形状が矩形状に形成されたビッカース硬さ試験機を例示して説明したが、硬さ試験機100は、ビッカース硬さ試験機には限られず、例えば、ヌープ硬さ試験機や、マルテンス硬さ試験機であってもよい。
12 CCDカメラ(撮像手段)
14a 圧子
61 CPU(撮像制御手段、抽出手段、算出手段、表示制御手段)
8 モニタ(表示手段)
S 試料
L 計測ライン
BL 基準線
θv、θk、θm 傾き角
Ov、Ok、Om 中心座標
Claims (4)
- 試料の表面に圧子により所定の試験力を負荷してくぼみを形成させ、当該くぼみの寸法を計測することにより前記試料の硬さを測定する硬さ試験機において、
撮像手段を制御してくぼみが形成された試料の表面を撮像させ、当該試料の表面の画像データを取得する撮像制御手段と、
前記撮像制御手段により取得された前記画像データに基づいて、前記試料の表面に形成されたくぼみの頂点座標を抽出する抽出手段と、
前記抽出手段によって抽出された前記頂点座標に基づいて、基準線に対する前記くぼみの傾き角及び前記くぼみの中心座標を算出する算出手段と、
前記算出手段よって算出された前記傾き角に基づいて、前記画像データによる画像と共に表示される計測ラインと、当該計測ラインが長さを計測する線分と、が直交するように前記画像データ又は前記計測ラインのデータを補正して前記画像データによる画像と前記計測ラインとを表示手段に表示する表示制御手段と、
を備えることを特徴とする硬さ試験機。 - 前記表示制御手段は、前記算出手段によって算出された前記傾き角に基づいて、前記中心座標を中心として画像データによる画像を回転させることを特徴とする請求項1に記載の硬さ試験機。
- 前記表示制御手段は、前記算出手段によって算出された前記傾き角に基づいて、前記中心座標を中心として前記計測ラインを回転させることを特徴とする請求項1に記載の硬さ試験機。
- 試料の表面に圧子により所定の試験力を負荷してくぼみを形成させ、当該くぼみの寸法を計測することにより前記試料の硬さを測定する硬さ試験機のコンピュータを、
撮像手段を制御してくぼみが形成された試料の表面を撮像させ、当該試料の表面の画像データを取得する撮像制御手段、
前記撮像制御手段により取得された前記画像データに基づいて、前記試料の表面に形成されたくぼみの頂点座標を抽出する抽出手段、
前記抽出手段によって抽出された前記頂点座標に基づいて、基準線に対する前記くぼみの傾き角及び前記くぼみの中心座標を算出する算出手段、
前記算出手段よって算出された前記傾き角に基づいて、前記画像データによる画像と共に表示される計測ラインと、当該計測ラインが長さを計測する線分と、が直交するように前記画像データ又は前記計測ラインのデータを補正して前記画像データによる画像と前記計測ラインとを表示手段に表示する表示制御手段、
として機能させるプログラム。
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- 2017-03-08 JP JP2017043510A patent/JP6858038B2/ja active Active
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