JP5382772B2 - 位置情報検出装置および位置情報検出方法 - Google Patents
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Description
下記特許文献1では、PN符号を用いて、測定対象物の距離解析を行うレーダ装置が提案されている。
すなわち、位置情報検出装置は、
(A)測定対象物に電磁波を照射するとき、所定の信号の電磁波を出射する電磁波出射部と、
(B)電磁波の照射された測定対象物からの反射波を受信して反射信号を出力する受信部と、
(C)前記所定の信号として、1ビット信号値が符号化された信号であって、ビット方向にビット単位でシフトすることにより、シフト前の信号とシフト後の信号とが互いに略直交するように構成される、2M−1(Mは自然数)の符号長さの符号化系列の信号を所定回数繰り返し生成した後、直前に生成した符合化系列の信号に対して1ビットシフトすることにより得られるシフトした符合化系列の信号を、前記所定の信号として、前記所定回数繰り返し生成するシフト処理を繰り返し行う第1の符号発生部と、
(D)前記所定の信号として最初に生成する符号化系列の信号と前記反射信号との間で相互相関関数の値を算出し、この算出結果に基づいて、測定対象物の位置情報を求める信号処理・演算部と、を有する。
(E)その際、前記第1の符号発生部は、幅×深さが2K×2L(K及びLは自然数)のサイズの2次元のメモリと、このメモリの深さ方向のアドレス位置を指定するアドレスコントローラと、を備え、前記メモリには、前記符合化系列の値が前記符合化系列を1単位として前記メモリの幅方向の先頭位置から、前記メモリの幅方向及び前記メモリの深さ方向に、複数単位繰り返し記憶されており、前記メモリのメモリ容量2K+Lは、(2M−1)・N+N(Nは自然数)であり、
(F)前記第1の符号発生部は、前記アドレスコントローラにより指定された前記メモリの深さ方向のアドレス位置における前記メモリの幅方向の先頭位置から前記メモリの幅方向及び前記メモリの深さ方向に沿って、前記符合化系列を複数単位呼び出すことにより、前記シフト処理で用いるシフトした符合化系列の信号を生成する。
そのとき、前記第1のシリアライザの個数をP個(Pは2以上の自然数)としたとき、前記第2のシリアライザで生成される前記符合化系列の信号が前記符合化系列の順番の信号となるように、前記メモリには、前記符合化系列の隣り合う値がP個おきに配置されて記憶されていることが好ましい。
前記第1の符号発生部は、前記シフト処理における前記符号化系列の信号のシフト量が前記上限値に達したとき、前記シフト処理を終了することが好ましい。
前記第1の符号発生部は、定めた前記基準シフト量に対応した数だけビットシフトした符号化系列の信号を、前記第1の符号発生部が、前記所定の信号として最初に生成する符号化系列の信号とすることが好ましい。
すなわち、位置情報検出装置は、
(G)測定対象物に電磁波を照射するとき、所定の信号の電磁波を出射する電磁波出射部と、
(H)電磁波の照射された測定対象物からの反射波を受信して反射信号を出力する受信部と、
(I)前記所定の信号として、1ビット信号値が符号化された信号であって、ビット方向にビット単位でシフトすることにより、シフト前の信号とシフト後の信号とが互いに略直交するように構成される、2M−1(Mは自然数)の符号長さの符号化系列の信号を繰り返し生成する第1の符号発生部と、
(J)前記符号化系列の信号を所定回数繰り返し生成した後、直前に生成した符合化系列の信号を1ビットシフトすることにより得られるシフトした符合化系列の信号を前記所定回数繰り返し生成するシフト処理を繰り返し行い、前記シフト処理により符号化系列の信号をシフトする度に、このシフトした符号化系列の信号と前記反射信号との間で相互相関関数の値を算出し、この算出結果に基づいて、測定対象物の位置情報を求める信号処理・演算部と、を有する。
(K)その際、前記第1の符号発生部は、幅×深さが2K×2L(K及びLは自然数)のサイズが定められた2次元のメモリと、このメモリの深さ方向のアドレス位置を指定するアドレスコントローラと、を備え、前記メモリに、前記符合化系列の値が前記符合化系列を1単位として前記メモリの幅方向の先頭位置から、前記メモリの幅方向及び前記メモリの深さ方向に、複数単位繰り返し記憶されており、前記メモリのメモリ容量2K+Lは、(2M−1)・N+N(Nは自然数)であり、
(L)前記第1の符号発生部は、前記アドレスコントローラにより指定された前記メモリの深さ方向のアドレス位置における前記メモリの幅方向の先頭位置から前記メモリの幅方向及び前記メモリの深さ方向に沿って、前記符合化系列を複数単位呼び出すことにより、前記シフト処理で用いるシフトした符合化系列の信号を生成する。
すなわち、位置情報検出方法は、
(M)測定対象物に電磁波を照射するとき、1ビット信号値が符号化された信号であって、ビット方向にビット単位でシフトすることにより、シフト前の信号とシフト後の信号とが互いに略直交するように構成される、2M−1(Mは自然数)の符号長さの符号化系列の信号を、所定回数繰り返し生成した後、直前に生成した符合化系列の信号を1ビットシフトすることにより得られるシフトした符合化系列の信号を前記所定回数繰り返し生成するシフト処理を繰り返し行うことにより、生成した符合化系列の信号の電磁波を照射するステップと、
(N)前記符合化系列の信号として最初に生成される符合化系列の信号と同じ信号と、前記反射信号との間で相関関数の値を算出し、この算出結果に基づいて、測定対象物の位置情報を求めるステップと、を有する。
(O)その際、幅×深さが2K×2L(K及びLは自然数)のサイズが定められた2次元のメモリであって、前記符合化系列の値が前記符合化系列を1単位として前記メモリの幅方向の先頭位置から、前記メモリの幅方向及び前記メモリの深さ方向に、複数単位繰り返し記憶されている前記2次元のメモリにおいて、指定された前記メモリの深さ方向のアドレス位置における前記メモリの幅方向の先頭位置から前記メモリの幅方向及び前記メモリの深さ方向に沿って、前記符合化系列を複数単位呼び出すことにより、前記シフト処理は行われ、
(P)前記メモリのメモリ容量2K+Lは、(2M−1)・N+N(Nは自然数)である。
すなわち、位置情報検出方法は、
(Q)測定対象物に電磁波を照射するとき、1ビット信号値が符号化された信号であって、ビット方向にビット単位でシフトすることにより、シフト前の信号とシフト後の信号とが互いに略直交するように構成される、2M−1(Mは自然数)の符号長さの符号化系列の信号の電磁波を、所定回数繰り返し生成して照射するステップと、
(R)前記符号化系列の信号と同じ信号を所定回数繰り返し生成した後、直前に生成した符合化系列の信号を1ビットシフトすることにより得られるシフトした符合化系列の信号を前記所定回数繰り返し生成するシフト処理を繰り返し行い、前記シフト処理により符号化系列の信号をシフトする度に、このシフトした符号化系列の信号と前記反射信号との間で相互相関関数の値を算出し、この算出結果に基づいて、測定対象物の位置情報を求めるステップと、を有する。
(S)その際、幅×深さが2K×2L(K及びLは自然数)のサイズが定められた2次元のメモリであって、前記符合化系列の値が前記符合化系列を1単位として前記メモリの幅方向及び前記メモリの深さ方向に、複数単位繰り返し記憶されている前記2次元のメモリにおいて、指定された前記メモリの深さ方向のアドレス位置における前記メモリの幅方向の先頭位置から前記メモリの幅方向及び前記メモリの深さ方向に沿って、前記符合化系列を複数単位呼び出すことにより、前記シフト処理は行われ、
(T)前記メモリのメモリ容量2K+Lは、(2M−1)・N+N(Nは自然数)である。
装置10は、測定対象物Obに照射した電磁波のうち測定対象物Obからの反射波を受信することにより得られる測定対象物Obの反射信号を用いて、測定対象物Obまでの奥行き方向に関する位置情報を求める装置である。
装置10は、レーダ本体部20と演算装置(コンピュータ)22とを有して構成される。
レーダ本体部20は、測定対象物に照射する電磁波の信号である、M系列の符合化系列信号(以下、単にM系列信号という)を生成して、この信号の電磁波をベースバンド方式で照射するとともに、受信した信号を用いて信号処理を行う部分である。M系列信号は、1ビット信号値が符号化された信号であって、ビット方向にビット単位でシフトすることにより、シフト前の信号とシフト後の信号とが互いに略直交するように構成される、2M−1(Mは自然数)の符号長さの信号である。ベースバンド方式は、搬送信号を用いた強度変調、周波数変調、位相変調等で電磁波を放射するのではなく、M系列信号の電磁波を直接放射する方式である。
アンテナ32は、増幅したM系列信号の電磁波を、ベースバンド方式により出射する部分である。アンテナ32は、1つのアンテナで構成されているが、複数のアンテナが配列されて構成されたマルチパスアレーアンテナで構成されてもよい。この場合、複数のアンテナの中から1つのアンテナを選択するRFスイッチが増幅器28とアンテナ32との間に設けられる。
アンテナ34は、測定対象物Obで反射した電磁波を受信する部分である。アンテナ34も、アンテナ32と同様に、1つのアンテナで構成されているが、複数のアンテナが配列されて構成されたマルチパスアレーアンテナで構成されてもよい。この場合、複数のアンテナの中から1つのアンテナを選択するRFスイッチがアンテナ34と増幅器30との間設けられる。
ミキサ42は、増幅器30により増幅された受信符号列の信号と参照信号(LO信号)とを混合しIF信号を生成する。ローパスフィルタ44は、IF信号から、ノイズ成分等を除去する。増幅器46は、IF信号を所定のゲインで増幅する。AD変換器48は、増幅されたIF信号をデジタル信号に変換して、演算装置22に供給する。
クロック発生器38は、クロック信号を発生して符号発生ユニット24,26に供給する。供給されたクロック信号により、符号発生ユニット24,26は同じタイミングでM系列信号を生成する。
条件設定部50は、測定対象物Obの測定のための各種条件を設定する部分である。具体的には、M系列信号の繰り返し回数Xを設定し、符号発生ユニット24の生成するM系列信号のシフト量の上限値を定める他、予め設定された基準位置にある測定対象物からの反射信号と参照信号であるM系列信号の相互相関関数の値が最大となるように、送信信号であるM系列送信信号のシフト量を基準シフト量として定める部分である。また、クロック発生器38で生成するクロック信号のクロック38周波数を設定することもできる。
M系列信号のシフト量の上限値は、後述するシフト処理におけるM系列信号のシフト量が上限値に達したとき、シフト処理を終了するように、用いられる。
シフト量の上限値を設定するのは、測定対象物Obの位置の情報がある程度判っている場合、M系列信号のビット単位のシフト量を必要以上に大きく設定したM系列信号の生成を防止するためである。これにより、測定対象物Obの測定は迅速に行うことができる。
また、上記基準シフト量は、測定対象物を基準位置において、装置10で予め測定することにより求められて設定される。あるいは、予め記憶されている設定する基準位置と基準シフト量の対応関係のデータを用いて、指示入力された基準位置から基準シフト量は設定される。この基準シフト量は、この基準シフト量に対応した数だけビットシフトしたM系列信号を、符号発生ユニット24がM系列信号として最初に生成する信号とするように、用いられる。クロック信号のクロック周波数は、M系列信号のデータ間隔を定める。このデータ間隔の変更により、測定対象物Obの位置情報の範囲や測定分解能を自在に変更することができる。
エンコーダパルスが入力されると、トリガパルス発生器40においてトリガパルスが生成され、このトリガパルスが符号発生ユニット24,26に供給される。供給されたトリガパルスにしたがって符号発生ユニット24,26は、同時に立ち上がり、クロック発生器38のタイミングにあわせてM系列信号を生成する。
ここでは、M系列信号に用いるM系列符号は、{0011101}である。
M系列符号は、1ビットの値で作られ、ビット方向にビット単位でシフト(ビットシフト)することにより、シフト前の信号とシフト後の信号とが互いに略直交するように構成された、擬似ランダム性を有する系列符号である。このM系列符号は以下のようにして生成される。mod2におけるk次の原始多項式h(x)の係数をhj(j=1〜kの自然数)とし、初期値としてa1〜akの値が与えられるとき、ai(i=k+1以上の自然数)は、下記式(1)に従って求められる。
ai=h1・ai-1 +h2・ai-2++h3・ai-3+・・・+hk・ai-k
このとき、a1〜akおよびai(i=k+1以上の自然数)は、周期2k−1で繰り返し同じ値が生成される。したがって、この符号列の符号長さは2k−1である。この値で構成される符号列がM系列符号である。
例えば、k=3のときのM系列符号が上記{0011101}である。
図3では、繰り返し数Xを3としている。
符号発生ユニット24は、FPGA(Field Programmable Gate Array)54と、シリアライザ62と、分配器64と、を有する。
アドレスコントローラ56は、メモリ58の深さ方向のアドレス位置を指定する部分である。具体的には、アドレスコントローラ56は、トリガパルスを受けるまで、幅方向に沿って信号値0が記憶されている深さ方向のアドレス位置を指定するとともに、トリガパルスを受けると、アドレスコントローラ56は、M系列信号が記憶されている深さ方向のアドレス位置を指定する。これにより、M系列信号の生成が開始される。
このメモリ58には、16個のシリアライザ60a1〜60a16が接続されており、シリアライザ60a1〜60a16のそれぞれは、メモリ58から呼び出された4つの値を1つのシリアル信号として生成する。シリアライザ60a1〜60a16のそれぞれで生成された合計16個のシリアル信号は、シリアライザ62によってさらに1つの信号にされて、M系列信号となるので、シリアライザ60a1〜60a16のそれぞれで生成されるシリアル信号の値は、M系列符号の順番において16個置きの値である。例えば、シリアライザ60a1は、M系列符号の0番目、16番目、32番目、48番目の値がシリアル信号として生成され、シリアライザ60a2は、M系列符号の1番目、17番目、33番目、49番目の値がシリアル信号として生成され、シリアライザ60as(sは自然数)は、M系列符号の(s−1)番目、(s+15)番目、(s+31)番目、(s+47)番目の値がシリアル信号として生成される。
したがって、メモリ58には、シリアライザ62で生成されるM系列信号がM系列符号の順番の信号となるように、M系列符号の隣り合う値が16個おきに配置されて記憶されている。すなわち、シリアライザ60a1〜60a16を第1のシリアライザといい、シリアライザ62を第2のシリアライザといい、第1のシリアライザの個数をP個(Pは2以上の自然数)としたとき、第2のシリアライザで生成されるM系列信号がM系列符号の順番の信号となるように、メモリ58には、M系列符号の隣り合う値がP個おきに配置されて記憶されている。
メモリ58では、図中の右上端から左方向(ビット幅方向)に沿ってM系列符号の値が、複数回(複数単位)繰り返し記憶されている。その際、M系列符号の値のメモリ58には、上述したようにM系列符号の隣り合う値が16個おきに配置されて記憶されている。このとき、M系列符号が複数回繰り替えされるときの、最後のM系列符号の値と最初の値も隣り合う値とする。
深さ方向の第1番目のアドレス位置0には、幅方向位置0〜63の全ての位置に値0が記憶されている。深さ方向のアドレス位置1(第2番目の位置)には、幅方向位置0(幅方向の右端の位置)から、M系列符号の隣り合う値が16個おきに、M系列符号の値が記憶されている。深さ方向のアドレス位置1、幅方向位置63の次は、深さ方向のアドレス位置2、幅方向位置0に記憶されている。このように、幅方向位置が63の次は、深さ方向のアドレス位置が1つ下がって、幅方向位置0から幅方向に沿って記憶されている。
ここで、M系列符号の符号長さは255(=28−1)であり、2のべき乗より1小さいので、深さ方向のアドレス位置1、幅方向位置0から順番に記憶したM系列符号の最終の値M254はビット幅方向位置63に位置しない。この状態で、M系列符号の値を隙間無く繰り返して詰めて記憶されて、図5に示すように配置されている。メモリ58では、アドレスコントローラ50により指定されたメモリ58の深さ方向のアドレス位置からメモリ58の幅方向の順番に沿って値が呼び出され、上述したようなシリアル信号が生成される。
このようにアドレスコントローラ56は、1ビットずつシフトしたM系列信号を生成するために、深さ方向のアドレス開始位置を指定するだけでよく、以降、深さ方向のアドレス位置を順に移動するだけでよい。
このような基準シフト量s0は、予め装置10を用いて測定されて演算装置22の図示されないメモリに、基準位置と基準シフト量との対応関係のデータを記憶保持していることが好ましい。
以上が、装置10の構成の説明である。
まず、オペレータから、測定のための各種条件が設定される。具体的には、基準シフト量s0の設定のための測定対象物の基準位置の設定、M系列信号の繰り返し回数Xの設定、シフト量の上限値の設定、さらには、クロック周波数の設定等が行われる。
ミキサ42では、参照信号と受信符号列が混合され、IF信号が生成される。このIF信号は、ローパスフィルタ44でろ過された後、増幅され、さらに、AD変換器48でデジタル信号に変換されて、演算装置22に送られる。デジタル変換のサンプリング周波数は、符号発生ユニット24,26で用いるクロック周波数と同期していることが、後述する相互相関関数の値を正確に算出する点で、好ましい。
演算装置22では、IF信号を用いてM系列信号の1周期分の値が積算することにより、参照信号と受信符号化列との間の相互相関関数の値が算出される。この算出結果に基づいて、相互相関関数が最大となるシフト量の情報を用いて、測定対象物Obの位置情報が求められる。
20 レーダ本体部
22 演算装置(コンピュータ)
24,26 符号発生ユニット
28,30,46 増幅器
32,34 アンテナ
36 信号処理部
38 クロック発生器
40 トリガパルス発生器
42 ミキサ
44 ローパスフィルタ
48 AD変換器
50 条件設定部
52 位置情報算出部
54 FPGA(Field Programmable Gate Array)
56 アドレスコントローラ
58 メモリ
60a1〜a16,62 シリアライザ
64 分配器
Claims (10)
- 測定対象物に電磁波を照射することにより測定対象物からの反射波を受信して信号処理を行い、測定対象物の位置情報を求める位置情報検出装置であって、
測定対象物に電磁波を照射するとき、所定の信号の電磁波を出射する電磁波出射部と、
電磁波の照射された測定対象物からの反射波を受信して反射信号を出力する受信部と、
前記所定の信号として、1ビット信号値が符号化された信号であって、ビット方向にビット単位でシフトすることにより、シフト前の信号とシフト後の信号とが互いに略直交するように構成される、2M−1(Mは自然数)の符号長さの符号化系列の信号を所定回数繰り返し生成した後、直前に生成した符合化系列の信号に対して1ビットシフトすることにより得られるシフトした符合化系列の信号を、前記所定の信号として、前記所定回数繰り返し生成するシフト処理を繰り返し行う第1の符号発生部と、
前記所定の信号として最初に生成する符号化系列の信号と前記反射信号との間で相互相関関数の値を算出し、この算出結果に基づいて、測定対象物の位置情報を求める信号処理・演算部と、を有し、
前記第1の符号発生部は、幅×深さが2K×2L(K及びLは自然数)のサイズの2次元のメモリと、このメモリの深さ方向のアドレス位置を指定するアドレスコントローラと、を備え、前記メモリには、前記符合化系列の値が前記符合化系列を1単位として前記メモリの幅方向の先頭位置から、前記メモリの幅方向及び前記メモリの深さ方向に、複数単位繰り返し記憶されており、前記メモリのメモリ容量2K+Lは、(2M−1)・N+N(Nは自然数)であり、
前記第1の符号発生部は、前記アドレスコントローラにより指定された前記メモリの深さ方向のアドレス位置における前記メモリの幅方向の先頭位置から前記メモリの幅方向及び前記メモリの深さ方向に沿って、前記符合化系列を複数単位呼び出すことにより、前記シフト処理で用いるシフトした符合化系列の信号を生成する、ことを特徴とする位置情報検出装置。 - 前記第1の符号発生部は、前記メモリから呼び出した値を用いてシリアル信号を生成する複数の第1のシリアライザを備え、さらに、生成した前記シリアル信号を1つの信号にまとめて前記符合化系列の信号を生成する第2のシリアライザを備える、請求項1に記載の位置情報検出装置。
- 前記第1のシリアライザの個数をP個(Pは2以上の自然数)としたとき、前記第2のシリアライザで生成される前記符合化系列の信号が前記符合化系列の順番の信号となるように、前記メモリには、前記符合化系列の隣り合う値がP個おきに配置されて記憶されている、請求項2に記載の位置情報検出装置。
- さらに、測定対象物の位置する測定範囲の上限を設定する条件設定部を有し、前記第1の符号発生部は、前記条件設定部で設定された前記上限に応じて前記符号化系列の信号のシフト量の上限値を定め、
前記第1の符号発生部は、前記シフト処理における前記符号化系列の信号のシフト量が前記上限値に達したとき、前記シフト処理を終了する、請求項1〜3のいずれか1項に記載の位置情報検出装置。 - さらに、予め設定された基準位置にある測定対象物からの反射信号と前記符合化系列信号の相互相関関数の値が最大となるように、前記符号化系列の信号のシフト量を基準シフト量として定める条件設定部を有し、
前記第1の符号発生部は、定めた前記基準シフト量に対応した数だけビットシフトした符号化系列の信号を、前記第1の符号発生部が、前記所定の信号として最初に生成する符号化系列の信号とする、請求項1〜4のいずれか1項に記載の位置情報検出装置。 - さらに、前記第1の符号発生部が前記シフト処理を行う最中、前記第1の符号発生部が生成する符合化系列の信号と同じタイミングで、前記所定の信号として最初に生成する符合化系列の信号と同じ信号を生成する第2の符号発生部を有し、この第2の符号発生部で生成する信号は、前記相互相関関数の値の算出のために用いられる、請求項1〜5のいずれか1項に記載の位置情報検出装置。
- 前記メモリの深さ方向のアドレス位置の1つには、前記メモリの幅方向に沿ってすべて0の値が記録されている、請求項1〜6のいずれか1項に記載の位置情報検出装置。
- 測定対象物に電磁波を照射することにより測定対象物からの反射波を受信して信号処理を行い、測定対象物の位置情報を求める位置情報検出装置であって、
測定対象物に電磁波を照射するとき、所定の信号の電磁波を出射する電磁波出射部と、
電磁波の照射された測定対象物からの反射波を受信して反射信号を出力する受信部と、
前記所定の信号として、1ビット信号値が符号化された信号であって、ビット方向にビット単位でシフトすることにより、シフト前の信号とシフト後の信号とが互いに略直交するように構成される、2M−1(Mは自然数)の符号長さの符号化系列の信号を繰り返し生成する第1の符号発生部と、
前記符号化系列の信号を所定回数繰り返し生成した後、直前に生成した符合化系列の信号を1ビットシフトすることにより得られるシフトした符合化系列の信号を前記所定回数繰り返し生成するシフト処理を繰り返し行い、前記シフト処理により符号化系列の信号をシフトする度に、このシフトした符号化系列の信号と前記反射信号との間で相互相関関数の値を算出し、この算出結果に基づいて、測定対象物の位置情報を求める信号処理・演算部と、を有し、
前記第1の符号発生部は、幅×深さが2K×2L(K及びLは自然数)のサイズが定められた2次元のメモリと、このメモリの深さ方向のアドレス位置を指定するアドレスコントローラと、を備え、
前記メモリに、前記符合化系列の値が前記符合化系列を1単位として前記メモリの幅方向の先頭位置から、前記メモリの幅方向及び前記メモリの深さ方向に、複数単位繰り返し記憶されており、前記メモリのメモリ容量2K+Lは、(2M−1)・N+N(Nは自然数)であり、
前記第1の符号発生部は、前記アドレスコントローラにより指定された前記メモリの深さ方向のアドレス位置における前記メモリの幅方向の先頭位置から前記メモリの幅方向及び前記メモリの深さ方向に沿って、前記符合化系列を複数単位呼び出すことにより、前記シフト処理で用いるシフトした符合化系列の信号を生成する、ことを特徴とする位置情報検出装置。 - 測定対象物に電磁波を照射することにより測定対象物からの反射波を受信して信号処理を行い、測定対象物の位置情報を求める位置情報検出方法であって、
測定対象物に電磁波を照射するとき、1ビット信号値が符号化された信号であって、ビット方向にビット単位でシフトすることにより、シフト前の信号とシフト後の信号とが互いに略直交するように構成される、2M−1(Mは自然数)の符号長さの符号化系列の信号を、所定回数繰り返し生成した後、直前に生成した符合化系列の信号を1ビットシフトすることにより得られるシフトした符合化系列の信号を前記所定回数繰り返し生成するシフト処理を繰り返し行うことにより、生成した符合化系列の信号の電磁波を照射するステップと、
前記符合化系列の信号として最初に生成される符合化系列の信号と同じ信号と、前記反射信号との間で相関関数の値を算出し、この算出結果に基づいて、測定対象物の位置情報を求めるステップと、を有し、
幅×深さが2K×2L(K及びLは自然数)のサイズが定められた2次元のメモリであって、前記符合化系列の値が前記符合化系列を1単位として前記メモリの幅方向の先頭位置から、前記メモリの幅方向及び前記メモリの深さ方向に、複数単位繰り返し記憶されている前記2次元のメモリにおいて、指定された前記メモリの深さ方向のアドレス位置における前記メモリの幅方向の先頭位置から前記メモリの幅方向及び前記メモリの深さ方向に沿って、前記符合化系列を複数単位呼び出すことにより、前記シフト処理は行われ、前記メモリのメモリ容量2K+Lは、(2M−1)・N+N(Nは自然数)であることを特徴とする位置情報検出方法。 - 測定対象物に電磁波を照射することにより測定対象物からの反射波を受信して信号処理を行い、測定対象物の位置情報を求める位置情報検出方法であって、
測定対象物に電磁波を照射するとき、1ビット信号値が符号化された信号であって、ビット方向にビット単位でシフトすることにより、シフト前の信号とシフト後の信号とが互いに略直交するように構成される、2M−1(Mは自然数)の符号長さの符号化系列の信号の電磁波を、所定回数繰り返し生成して測定対象物に照射するステップと、
前記符号化系列の信号と同じ信号を所定回数繰り返し生成した後、直前に生成した符合化系列の信号を1ビットシフトすることにより得られるシフトした符合化系列の信号を前記所定回数繰り返し生成するシフト処理を繰り返し行い、前記シフト処理により符号化系列の信号をシフトする度に、このシフトした符号化系列の信号と前記反射信号との間で相互相関関数の値を算出し、この算出結果に基づいて、測定対象物の位置情報を求めるステップと、を有し、
幅×深さが2K×2L(K及びLは自然数)のサイズが定められた2次元のメモリであって、前記符合化系列の値が前記符合化系列を1単位として前記メモリの幅方向の先頭位置から、前記メモリの幅方向及び前記メモリの深さ方向に、複数単位繰り返し記憶されている前記2次元のメモリにおいて、指定された前記メモリの深さ方向のアドレス位置における前記メモリの幅方向の先頭位置から前記メモリの幅方向及び前記メモリの深さ方向に沿って、前記符合化系列を複数単位呼び出すことにより、前記シフト処理は行われ、前記メモリのメモリ容量2K+Lは、(2M−1)・N+N(Nは自然数)であることを特徴とする位置情報検出方法。
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