JP5345598B2 - 検査治具及び接触子 - Google Patents
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Description
上記のように、検査治具1と接触子10に各種の工夫がなされているが、それぞれに問題 点を有している。
本発明は、上記の課題に鑑みてなされたもので、製造容易として安価に製造できるだけでなく保守も容易な、接触子と電極との導電接触を確実にすることと、接触子の電気特性の直流抵抗と交流インダクタンスの改善ができるプリント配線板に通電する検査治具及び接触子を提供することを目的とする。
本発明のうち第4の態様に係るものに依れば、接触針とコイルばねは連結部で導電接続となり接触子の内部電気特性が良くなる。
本発明の各々の態様の効果は、共通手段をコイルばねの電極端の中心近傍の切断としているので、他の態様の効果にもなる共通の事項がある。
本発明のうち第9の態様に係るものに依れば、大径部が係止を確実にする。接触子は一体となるので保守が容易である。
本発明のうち第10の態様に係るものに依れば、接触針に大径部がないので、接触針の加工が容易でコスト低減する。
(実施の形態1)
(実施の形態2)
(実施の形態3)
(実施の形態4)
(実施の形態5)
(実施の形態7)
(実施の形態8)
(実施の形態9)
(実施の形態10)
(実施の形態11)
(実施の形態12)
(実施の形態13)
10,10a,10b,11c,10d・接触子
11,11a,11b,11c,11d,11e,11f・接触針
111・・先端
112・・突出部
113・・大径部
114,114a,114c,114d,114f・中継部
115・・連結部
116・・延設部
12,12a,12c・コイルばね
121・・電極端
121a・切断線
122,122a,122c・中継端
123・・ばね定数部
125・・コイルばね中心線
20・・・接触子保持体
21・・・第1案内板
22・・・第2案内板
23・・・コイルばね保持板
25・・・案内板
40・・・電極部
41・・・電極
42・・・電極板
44・・・リード線
46・・・コネクタ
Claims (8)
- 電子部品の検査に用いられる検査治具に組み込まれて使用される接触子であって、導電性の接触針と、導電性のコイルばねとを備え、
前記接触針は、検査対象電子部品の検査部位に接触する先端と、当該先端に続く軸状部分である突出部と、当該突出部に続き当該突出部よりも径の大きい軸状部分である大径部と、当該大径部に続き当該大径部よりも径の小さい軸状部分である中継部とを有しており、
前記コイルばねは、前記中継部と直列、又は前記中継部の外周に配置され、一端部が前記接触針の前記中継部又は前記大径部に当接して電気的に接続され、
他端部は、曲率半径を実質的に減少させることなく、かつ急激に曲げられることなく、ピッチ角を増加させてゆきつつ立体的に曲げられて、中心方向に方向を変えてコイルばね中心軸と交差する近傍に、切断された最端部があり、
前記コイルばねの径は、最小巻線径、又は当該最小巻線径に近い巻線径にある接触子。 - 電子部品の検査に用いられる検査治具に組み込まれて使用される接触子であって、導電性の接触針と、導電性のコイルばねとを備え、
前記接触針は、検査対象電子部品の検査部位に接触する先端と、当該先端に続く軸状部分である突出部と、当該突出部に続く軸状部分である中継部とを有しており、
前記コイルばねは、一端部において内周が前記中継部の外周と連結されることにより前記接触針と一体となっており、
他端部は、曲率半径を実質的に減少させることなく、かつ急激に曲げられることなく、ピッチ角を増加させてゆきつつ立体的に曲げられて、中心方向に方向を変えてコイルばね中心軸と交差する近傍に、切断された最端部があり、
前記コイルばねの径は、最小巻線径、又は当該最小巻線径に近い巻線径にある接触子。 - 前記接触針は前記コイルばねの伸縮を案内するように前記中継部が延設されて成る延設部であって、前記コイルばねの内径より小さい外径の延設部を有する、請求項1又は2に記載の接触子。
- 電子部品の検査に用いられる検査治具に組み込まれて使用される接触子であって、導電性の接触針と、導電性のコイルばねとを備え、
前記接触針は、検査対象電子部品の検査部位に接触する先端と、当該先端に続く軸状部分とを有しており、
前記コイルばねは、一端部が前記接触針の前記軸状部分の前記先端とは反対側の端部に当接することにより前記接触針と電気的に接続されるものであり、
他端部は、曲率半径を実質的に減少させることなく、かつ急激に曲げられることなく、ピッチ角を増加させてゆきつつ立体的に曲げられて、中心方向に方向を変えてコイルばね中心軸と交差する近傍に、切断された最端部があり、
前記コイルばねの径は、最小巻線径、又は当該最小巻線径に近い巻線径にある接触子。 - 前記他端部はコイル巻線機において、端末処理として自動形成されている、請求項1乃至4のいずれかに記載の接触子。
- 前記他端部を切断した切断線は中心方向、又は円周方向にある、請求項1乃至5のいずれかに記載の接触子。
- 電子部品の検査に用いられる検査治具であって、請求項1乃至6のいずれかに記載の接触子と、当該接触子を保持する接触子保持体と、当該接触子保持体に連結された電極部とを備え、
前記接触子保持体は、前記先端が露出するように前記接触針を軸方向に摺動可能に支持する案内部と、前記接触針の前記大径部、又は前記コイルばねの前記一端部に当接することにより、前記先端の所定以上の突出を係止する係止部と、前記コイルばねを収納する筒状空洞部と、を含み、
前記電極部は、前記接触子保持体に連結された電気絶縁性の電極板と、当該電極板を貫通するように当該電極板に固定され、一端面が前記コイルばねの前記最端部に当接することにより、電気的に接続されるとともに、前記コイルばねを付勢する軸状の導電性の電極と、を備える検査治具。 - 前記電極板には、前記筒状空洞部の前記電極板側と同軸の貫通孔が形成されており、前記電極は前記接触子の最大径よりも径が小さく、当該貫通孔に挿入され、かつ接着剤により当該貫通孔に固定されている、請求項7に記載の検査治具。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010229524A JP5345598B2 (ja) | 2010-09-01 | 2010-10-12 | 検査治具及び接触子 |
PCT/JP2011/065930 WO2012014673A1 (ja) | 2010-07-29 | 2011-07-13 | 検査治具及び接触子 |
CN2011800368770A CN103026242A (zh) | 2010-07-29 | 2011-07-13 | 检验夹具及触头 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010195592 | 2010-09-01 | ||
JP2010195592 | 2010-09-01 | ||
JP2010229524A JP5345598B2 (ja) | 2010-09-01 | 2010-10-12 | 検査治具及び接触子 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013097215A Division JP2013156275A (ja) | 2010-09-01 | 2013-05-06 | 検査治具及び接触子 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012073213A JP2012073213A (ja) | 2012-04-12 |
JP2012073213A5 JP2012073213A5 (ja) | 2012-07-12 |
JP5345598B2 true JP5345598B2 (ja) | 2013-11-20 |
Family
ID=46169526
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010229524A Expired - Fee Related JP5345598B2 (ja) | 2010-07-29 | 2010-10-12 | 検査治具及び接触子 |
JP2013097215A Pending JP2013156275A (ja) | 2010-09-01 | 2013-05-06 | 検査治具及び接触子 |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013097215A Pending JP2013156275A (ja) | 2010-09-01 | 2013-05-06 | 検査治具及び接触子 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (2) | JP5345598B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013232356A (ja) | 2012-04-27 | 2013-11-14 | Junkosha Co Ltd | コイル状ケーブル |
JP5894718B2 (ja) * | 2013-02-25 | 2016-03-30 | 秀雄 西川 | 接触子、検査治具、及び接触子の製造方法 |
JP6071633B2 (ja) * | 2013-02-25 | 2017-02-01 | 秀雄 西川 | 接触子、検査治具、及び接触子の製造方法 |
JP2015004518A (ja) * | 2013-06-19 | 2015-01-08 | 大西電子株式会社 | 検査治具 |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5543305Y2 (ja) * | 1975-03-07 | 1980-10-11 | ||
JP3326095B2 (ja) * | 1996-12-27 | 2002-09-17 | 日本発条株式会社 | 導電性接触子 |
JP2000046084A (ja) * | 1998-07-27 | 2000-02-15 | Kgm:Kk | コイルばね |
JP2001311746A (ja) * | 2000-04-28 | 2001-11-09 | Mitsubishi Materials Corp | コンタクトプローブ及びプローブ装置 |
US7154286B1 (en) * | 2005-06-30 | 2006-12-26 | Interconnect Devices, Inc. | Dual tapered spring probe |
JP4833011B2 (ja) * | 2005-12-20 | 2011-12-07 | 株式会社エンプラス | 電気部品用ソケット |
JP4831614B2 (ja) * | 2006-08-15 | 2011-12-07 | 株式会社ヨコオ | ケルビン検査用治具 |
JP2009047636A (ja) * | 2007-08-22 | 2009-03-05 | Inoue Shoji Kk | プリント配線板の導通検査治具 |
-
2010
- 2010-10-12 JP JP2010229524A patent/JP5345598B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2013
- 2013-05-06 JP JP2013097215A patent/JP2013156275A/ja active Pending
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2012073213A (ja) | 2012-04-12 |
JP2013156275A (ja) | 2013-08-15 |
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Date | Code | Title | Description |
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A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
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|
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