JP2010276579A - 電気接触子およびそれを備える検査治具 - Google Patents

Abstract

【課題】接触不良のトラブルが発生し難く、また、生産コストを抑えることが可能な電気接触子およびこの電気接触子を備える検査治具を提供すること。
【解決手段】回路基板Ｐの電気的特性を検査する検査治具１に用いられ、検査治具１の収容孔３の内部に配置される電気接触子２であって、電気接触子２は、線材１３から構成されると共に、電気接触子２の長さ方向の一端側に配置され回路基板Ｐに接触する検査側端部１０と、上記一端側に対して他端側に配置され検査治具１の接点に接触する治具側端部５と、検査側端部１０と治具側端部５とを繋ぎ、収容孔３に収容される本体部１２とを有し、本体部１２は、線材１３が螺旋状にばね性を有するように巻かれたばね巻き部２２を有することとする。
【選択図】図３

Description

本発明は、回路基板や電子部品等の電気的特性を検査するための電気接触子およびこの電気接触子を備える検査治具に関する。

一般に、回路基板の配線パターンあるいはＩＣ等の集積回路の短絡や断線等の異常を発見するための電気的検査には、検査対象物に接触する複数の電気接触子を備える検査治具が使用されている。電気接触子としては、たとえば、特許文献１または２に開示されるように、ピン状のプランジャをコイルばねで支持した構成のものが多く使用されている。かかる構成の電気接触子では、プランジャがコイルばねの弾性変形により検査対象物に対して弾性的に進退することができる。そのため、プランジャを検査対象物に対して適切な押圧力で接触させることができる。

特開２００８−２７５４２１号公報 特開２００８−５４６１６４号公報

しかしながら、特許文献１および２に記載の電気接触子では、電気接触子が、プランジャとコイルばね等の複数の部品から構成されている。そのため、各部品間での接触不良のトラブルが発生し易く、また、部品点数と組み立て工数が多いため、生産コストが嵩むという問題を有している。

そこで、本発明は、接触不良のトラブルが発生し難く、また、生産コストを抑えることが可能な電気接触子およびこの電気接触子を備える検査治具を提供することを目的とする。

上記の課題を解決するため、本発明は、検査対象物の電気的特性を検査する検査治具に用いられ、検査治具の収容孔の内部に配置される電気接触子であって、電気接触子は、線材から構成されると共に、電気接触子の長さ方向の一端側に配置され検査対象物に接触する検査側端部と、該一端側に対して他端側に配置され検査治具の接点に接触する治具側端部と、検査側端部と治具側端部とを繋ぎ、収容孔に収容される本体部とを有し、本体部は、線材が螺旋状にばね性を有するように巻かれたばね部を有することとする。

本発明の電気接触子において、検査側端部または治具側端部の少なくとも一方は、線材が巻かればね状に構成されていることとしてもよい。

また、本発明の電気接触子において、検査側端部または治具側端部の少なくとも一方は、先端に向かって巻き径が小さくなるように線材が巻かれていることとしてもよい。

また、本発明の電気接触子において、検査側端部または治具側端部の少なくとも一方の先端部には、巻かれている線材の巻き軸に沿って伸びる柱状部が形成されていることとしてもよい。

また、本発明の電気接触子において、検査側端部または治具側端部の少なくとも一方の先端部には、球状部が設けられていることとしてもよい。

また、本発明の電気接触子において、検査側端部または治具側端部の少なくとも一方は、電気接触子の端部側から本体部側に折り返される折り返し部にて形成されていることとしてもよい。

また、本発明の電気接触子において、本体部には、ばね部と検査側端部との間に、線材同士が密着するように巻かれた密着巻き部を有することとしてもよい。

また、本発明の電気接触子において、本体部のばね部の一部は、収容部に対して圧入されるように、ばね部の他の部分の巻き径よりも大きな巻き径の大径部を有することとしてもよい。

また、本発明の電気接触子において、電気接触子は、金メッキが被覆されていることとしてもよい。

上記の課題を解決するため、本発明は、検査対象物に電気接触子を接触させて、検査対象物の電気的特性を検査する検査治具において、電気接触子を収容する収容部を有する収容体を備え、電気接触子として上述の電気接触子を備えることとする。

上記の課題を解決するため、本発明は、検査対象物に電気接触子を接触させて、検査対象物の電気的特性を検査する検査治具において、電気接触子を収容する収容部を有する収容体を備え、電気接触子は、上述の電気接触子であり、収容部は、電気接触子の大径部が収容される大径収容部とばね部の大径部以外の部分である小径部が収容される小径収容部とを有し、大径収容部と小径収容部との境部には、大径部が当接する段部が形成されていることとしてもよい。

以上のように、本発明の電気接触子および検査治具によれば、接触不良のトラブルの発生を防止でき、また、生産コストを抑えることが可能となる。

本発明の実施の形態１に係る検査治具を示す正面図である。 図１のＥ−Ｅ方向から検査治具を示す図である。 図１に示す検査治具の内部構造を説明するための拡大断面図である。 図３に示す接触子の正面図である。 図３に示す接触子の平面図である。 図３に示す接触子の底面図である。 収容体の収容孔内に、接触子を配置した後、電極保持体を収容体に取り付ける前の状態を示す拡大断面図である。 検査治具の拡大断面図であり、回路基板に接触子を接触させる前の状態を示す図である。 検査治具の拡大断面図であり、回路基板に接触子を接触させた後の状態を示す図である。 検査側端部の先端部が、回路電極に対して斜めに接触した状態を示す図である。 本発明の実施の形態２にかかる接触子の構成を示す正面図である。 図１１に示す接触子の構成を示す底面図である。 本発明の実施の形態３に係る接触子の構成を示す正面図である。 図１３に示す接触子の球状部が、レジストに当接した状態を示す図である。 図１４に示す接触子の球状部が、凹部内に入り回路電極に接触した状態を示す図である。 図１３に示す接触子の球状部を形成する方法を説明する図である。 本発明の実施の形態４に係る接触子の構成を示す正面図である。 図１７に示す接触子の折り返し部が、レジストに当接した状態を示す図である。 図１７に示す接触子の折り返し部が、凹部内に入り回路電極に接触した状態を示す図である。 図１７に示す接触子を小径孔の側から取り付けることを説明する図である。

以下、本発明の第１の実施の形態を図面に基づいて説明する。

（検査治具の構成）
先ず、図１から図３を参照しながら検査治具１の全体的な構成について説明する。図１は、本発明の実施の形態にかかる検査治具１を示す正面図である。図２は、図１のＥ−Ｅ方向から見た検査治具１を示す図である。図３は、図１および図２に示す検査治具１の内部構造を説明するための拡大断面図である。なお、図２では、一部の電気接触子２および収容孔３にのみ符号を付している。以下の説明において、図中矢印Ｘ１方向を左方向、Ｘ２方向を右方向、Ｙ１方向を上方、Ｙ２方向を下方、そして、Ｚ１方向を前方、Ｚ２方向を後方として説明を行う。

本実施の形態の検査治具１は、回路基板やＩＣ等の検査対象物である回路基板Ｐ（図８，９等参照）の電気的特性を検査して、回路基板Ｐの短絡や断線等の異常を発見するための電気的検査に用いられるものである。

この検査治具１は、図１〜図３に示すように、複数の電気接触子２（以下、「接触子２」と記載する。）と、接触子２が一つずつ配置される複数の収容孔３が形成される収容体４と、収容孔３に収容された接触子２の治具側端部５にそれぞれ接触する複数の電極６と、これら複数の電極６を保持する電極保持体７と、検査治具１が備えられる検査装置（図示省略）の本体部と検査治具１とを電気的に接続する配線部８等、を有している。配線部８は、電極６毎に備えられる複数の導線９（図３参照）によって構成されている。

接触子２は、電極６に接触する治具側端部５と、回路基板Ｐの被検査端子として回路電極Ｐ１（図８、図９等参照）に接触する検査側端部１０と、治具側端部５と検査側端部１０とを繋ぎ、収容孔３の内部に収容される部分を有する本体部１２等を有している。

接触子２は、治具側端部５から検査側端部１０までが、導電性を有する線材１３によって一体に形成されている。この線材１３は、たとえば、螺旋状に巻き回されたときに螺旋部がばね性を有することができる材質のものが使用されている。線材１３としては、たとえば、ニッケル合金、ピアノ線、タングステン合金等を使用することができる。接触子２を形成する線材１３は、たとえば、直径が０.０５ｍｍ程度であり、また、電極６に接触する治具側端部５の先端部１４から、検査側端部１０の先端部１５での長さが、４．８ｍｍ程度の構成となっている。

収容体４は、絶縁性材料によってブロック状に形成されている。この収容体４には、上述のように、複数の収容孔３が形成されている。具体的には、収容体４には、図２、図３に示すように上下方向に貫通する収容孔３が複数形成されている。なお、図２では、説明の便宜上、前後方向および左右方向に所定ピッチで均等に収容孔３が形成された収容体４を図示しているが、実際には、収容孔３は、回路基板Ｐの回路電極Ｐ１の配置に対応した配置となっている。

収容孔３は、略円柱状に形成されている。具体的には、収容孔３は、上端側に形成される大径収容部としての大径孔１６と、この大径孔１６から下方に続き、大径孔１６の直径よりやや直径が小さい小径収容部としての小径孔１７とから構成されている。大径孔１６と小径孔１７との境界部分には、段部２５が形成されている。

電極保持体７は、収容体４と同様に、絶縁性材料によってブロック状に形成されている。この電極保持体７は、ネジ等の固定手段によって収容体４に固定されている。

本実施の形態では、配線部８を構成する複数の導線９のそれぞれの先端部分９Ａが電極６となっている。具体的には、図３に示すように、導線９の先端部分９Ａが電極保持体７に接着固定されており、電極保持体７に接着固定された部分が電極６となっている。電極６は、収容孔３の径方向の中心位置と電極６の径方向の中心位置とが略一致するように、電極保持体７に保持されている。１つの電極６には、１つの接触子２の治具側端部５が対応し接触している。

導線９は、たとえば、銅線の回りに絶縁層となる絶縁被膜（図示省略）が形成されたエナメル線である。この導線９の先端（図３における電極６の下端面、すなわち、接触子２の治具側端部５との接触面）には、所定のメッキ層が形成されている。

（電気接触子の構成）
次に、接触子２の詳細な構成について、図４、図５、図６等を参照しながら説明する。図４は、図３に示す接触子２を前方から見た正面図である。図５は、図４に示す接触子２を上方から見た平面図である。図６は、図４に示す接触子２を下方から見た底面図である。図７は、収容体４の収容孔３内に、接触子２を配置した後、電極保持体７を収容体４に取り付ける前の状態を示す拡大断面図である。

接触子２は、図４等に示すように、治具側端部５と、本体部１２と、検査側端部１０等とを有している。接触子２は、本体部１２を挟んで、一方の側（図４では上方）に治具側端部５が配置され、本体部１２の他方の側（図４では下方）に検査側端部１０が配置されている。また、接触子２は、１本の線材１３を巻き軸Ｌの周りに螺旋状に巻き回され、治具側端部５と本体部１２と検査側端部１０とが一本の線材１３により一体に構成されている。線材１３として、たとえば、ニッケル合金等の導線が使用されているため、接触子２は、検査側端部１０から治具側端部５に亘って電気的に導通が確保されている。

治具側端部５は、本体部１２の側から先端部１４（上方）に向かって巻き径が小さくなるように巻き回され、巻径縮小部１８として構成されている。本実施の形態では、巻径縮小部１８は、約１巻き半に亘って線材１３が巻かれた構成となっている。そして、先端部１４を形成する線材１３は、先端部１４が平らになるように巻き回のピッチ角が概ね０度とされている。また、図５に示すように、先端部１４に巻かれる線材１３の先端部分１９は、線材１３が巻かれる円弧部分から巻き軸Ｌの側に折り曲げられ巻き軸Ｌを通るように形成されている。さらに、巻径縮小部１８は、線材１３が間隔を開けて巻き回されている。したがって、巻径縮小部１８は、圧縮ばねの性状を有し、巻き軸Ｌの軸方向に沿う方向（上下方向）に弾性を有して変形可能に構成されている。

本体部１２は、密着巻き部２１と、ばね部としてのばね巻き部２２とを有する。密着巻き部２１では、線材１３が密着して巻き回されている。ばね巻き部２２では、線材１３が間隔を開けて巻き回されている。したがって、ばね巻き部２２は、圧縮ばねの性状を有し、巻き軸Ｌに沿って上下方向に弾性を有しながら変形することができる。一方、密着巻き部２１は、線材１３が互いに密着しているため縮み方向に変化し難く、また、巻き軸Ｌと直交する方向についても、剛性が高く変形し難い構成となっている。本体部１２は、ばね巻き部２２の上端部に設けられる大径部２３を除いて、密着巻き部２１およびばね巻き部２２の巻き径は同一に構成されている。大径部２３は、約１巻き分形成され、本体部１２の他の部分よりも大きな巻き径に形成されている。

検査側端部１０は、本体部１２から先端部１５（下方）に向かって巻き径が小さくなるように巻き回され、巻径縮小部２４として構成されている。本実施の形態では、巻径縮小部２４は、約４巻き半に亘って線材１３が巻かれた構成となっている。そして、先端部１５を形成する線材１３は、先端部１５が平らになるように巻き回しのピッチ角が概ね０度とされている。また、図６に示すように、先端部１５に巻かれる線材１３の先端部分２６は、線材１３が巻かれる円弧部分から巻き軸Ｌの側に折り曲げられ巻き軸Ｌを通るように形成されている。さらに、巻径縮小部２４は、線材１３が間隔を開けて巻き回されている。したがって、巻径縮小部２４は、圧縮ばねの性状を有し、上下方向に弾性を有して変形可能に構成されている。

接触子２は、上述したように、たとえば、線材１３の直径が０．０５ｍｍ、治具側端部５の先端部１４から検査側端部１０の先端部１５までの長さＮ１が４．８ｍｍ程度に構成される。この場合、接触子２の各部の寸法は、たとえば、図４に示すように設定される。つまり、密着巻き部２１の長さＮ２が１．８ｍｍ、大径部２３を含むばね巻き部２２の長さＮ３が２．４ｍｍ、巻径縮小部１８の長さＮ４が０．２６ｍｍ、そして巻径縮小部２４の長さＮ５が０．３４ｍｍに形成される。また、本体部１２は、たとえば、大径部２３の直径Ｒ１が０．４ｍｍ、大径部２３以外の部分の直径Ｒ２が０．３４ｍｍに形成される。そして、巻径縮小部１８，２４の先端部１４，１５の直径Ｒ３は、たとえば、０．２１ｍｍに形成される。

上述のように構成される接触子２は、図７に示すように、収容孔３の内部に配置される。各部の寸法が上述のように設定される接触子２に対して、収容孔３の各部の寸法は、たとえば、図７に示すように設定される。つまり、収容孔３の小径孔１７の内径Ｍ１は、接触子２の本体部１２の直径Ｒ２よりもやや太く設定され、たとえば、直径Ｒ２＝０．３４ｍｍの本体部１２に対して、小径孔１７は内径Ｍ１＝０．３５ｍｍに設定されている。また、収容孔３の上部に形成される大径部２３の内径Ｍ２は、接触子２の大径部２３の直径Ｒ１と同一に設定され、たとえば、上述のように直径Ｒ１＝０．４ｍｍの大径部２３に対して、大径孔１６は内径Ｍ２＝０．４ｍｍに設定されている。また、収容体４の厚さＨは、４ｍｍに設定されている。したがって、収容孔３の長さも４ｍｍに設定されている。そして、収容孔３の大径孔１６の上下方向長さＴ１は、０．１６ｍｍに、小径孔１７の上下方向長さＴ２は、３．８４ｍｍにそれぞれ設定されている。

接触子２は、大径孔１６の側から検査側端部１０を挿入方向に向けて収容孔３内に挿入される。そして、図７に示すにように、大径部２３が段部２５に当接するまで挿入される。検査側端部１０および本体部１２は、小径孔１７よりもわずかに細い直径に設定されている。そのため、検査用端部１０および本体部１２は、小径孔１７内にスムーズに挿入することができる。そして、大径部２３が段部２５に当接することで、接触子２は、上下方向の位置決めが行われる。なお、大径部２３の直径Ｒ１と、大径孔１６の内径Ｍ２とは同一である。そのため、大径部２３を大径孔１６に挿入する際には、大径部２３を大径孔１６に押し込む力をわずかに掛けて、大径部２３を大径孔１６に圧入することになる。

大径部２３が段部２５に当接した状態で、密着巻き部２１の一部および検査側端部１０が、収容体４の下面から下方に突出し、また、治具側端部５の一部は、収容体４の上面から上方に突出する。具体的には、接触子２および収容孔３が上述の寸法設定となっているので、接触子２が収容体４の下面から突出する突出長ｔ１は、０．７ｍｍとなっている。また治具側端部５が収容体４の上面から突出する突出長ｔ２は、０．１ｍｍとなっている。

接触子２が図７に示すにように各収容孔３に挿入された後、電極６が向けられた電極保持体７が、収容体４に対して取り付けられる。接触子２の治具側端部５の先端部１４は、収容体４の上面から突出している。したがって、電極保持体７が収容体４の上面に取り付けられると、接触子２の治具側端部５が電極６に対して付勢された状態で接触する。治具側端部５が電極６に対して付勢されていることで、電極６との電気的接触を確実なものとすることができる。

（検査治具１の使用時の動作）
次に、検査治具１を用いて検査対象物である回路基板Ｐの検査を行う際の検査治具１の動作を、図８、図９を参照しながら説明する。図８は、検査治具１の拡大断面図であり、回路基板Ｐに接触子２を接触させる前の状態を示す。図９も、検査治具１の拡大断面図であり、図９については、回路基板Ｐに接触子２を接触させた後の状態を示している。

先ず、図８に示すように、検査治具１の各検査側端部１０と、回路基板Ｐの検査が行われる所定の回路電極Ｐ１とが上下方向で対向するように、検査治具１と回路基板Ｐとの相対位置を合わせる。なお、図８および図９では、説明の便宜のため、１つの検査側端部１０と回路基板Ｐの所定の回路電極Ｐ１とが表わされている。各検査側端部１０と所定の回路電極Ｐ１とが上下方向で対向している状態で、検査治具１を回路基板Ｐ側に移動する。そうすると、図９に示すように、各検査側端部１０が所定の回路電極Ｐ１に当接し、検査治具１の移動量に応じて、接触子２のばね巻き部２２が縮み、検査側端部１０が回路電極Ｐ１に対して付勢された状態で接触する。この際、密着巻き部２１の上下方向の長さはほとんど変化しない。各検査側端部１０が所定の回路電極Ｐ１に接触することで、回路基板Ｐの回路電極Ｐ１と電極６とが接触子２を介して導通され、回路基板Ｐの検査が可能な状態となる。

（本実施の形態の主な効果）
以上のように、検査治具１および接触子２を構成することにより、以下に説明する効果を有する。

先ず、本実施の形態に係る形態では、接触子２は、１本の線材１３によって構成されている。つまり、接触子２は１つの部材から構成されている。したがって、構成が極めて簡単であり、また、単一の部材であるため、部品間での接触不良という問題がない。また、接触子２は全長が数ミリ程度の部材である。そのため、仮に接触子２が複数の部材から構成される場合には、組み立てに際して、極めて細かい作業が要求される。しかしながら、本実施の形態のように、接触子２を１つの部材から構成することにより、接触子２の組み立て作業が不要になり、組み立て工数を少なくすることができる。さらに、部品点数が減り、部品コストを削減することが可能となる。また、接触子２は、ほぼ全体が線材１３を螺旋状に巻かれて構成されている。そのため、線材１３を線状に構成する場合に比べて剛性と弾性を有する構成とすることができる。たとえば、上述したように線材１３は、直径０．０５ｍｍ程度であり、接触子２の全体を線状に構成した場合には、塑性変形し易い。これに対し、線材１３が螺旋状に巻かれることで、接触子２を剛性を有しながら弾性変形可能な構成とすることができる。

また、接触子２は、接触子２の長さ方向の一端側に配置され回路基板Ｐに接触する検査側端部１０と、この検査側端部１０に対して他端側に配置され検査治具１の電極６に接触する治具側端部５と、検査側端部１０と治具側端部５とを繋ぎ、収容孔３に収容される部分を有する本体部１２とを有している。そして、この本体部１２は、線材１３が螺旋状に圧縮ばねの性状を有するように巻かれたばね部としてのばね巻き部２２を有している。

このように構成される接触子２は、ばね巻き部２２が弾性を有して伸縮することができ、検査側端部１０を回路基板Ｐの回路電極Ｐ１に当接させる際に、検査側端部１０を回路電極Ｐ１に対して付勢された状態で当接させることができる。このため、検査側端部１０と回路電極Ｐ１との電気的接触を確実なものとすることができる。

また、接触子２は、検査側端部１０が、線材１３が圧縮ばねの性状を有するように巻かれているため、巻き軸Ｌに沿う方向に弾性を有する。このため、検査側端部１０は、図１０に示すように巻き軸Ｌに対して左右前後方向に撓むことができる。その結果、先端部１５を、回路電極Ｐ１に対して斜めに接触させることができる。

回路電極Ｐ１の周囲には、レジストＰ２が盛られ、回路電極Ｐ１は、レジストＰ２の凹部Ｐ３の内側に配置されている。このため、たとえば、先端がピン状の接触子Ｓを用いた場合には、接触子Ｓの先端が回路電極Ｐ１から僅かに外れレジストＰ２の表面に当接してしまうと、もはや、接触子Ｓを回路電極Ｐ１に接触させることができない。

これに対し、検査側端部１０は、ばね状に巻かれているため、巻き軸Ｌに対して左右前後方向に撓むことができる。また、検査側端部１０の先端部１５が平らになっている。そのため、検査側端部１０の先端部１５が、レジストＰ２の凹部Ｐ３側の縁部Ｐ４に当接してしまう場合であっても、検査側端部１０が撓むことで、縁部Ｐ４から回路電極Ｐ１側にはみ出た先端部１５が、回路電極Ｐ１に接触する方向に傾斜し、先端部１５を回路電極Ｐ１に接触させることができる。つまり、検査にあたっては、巻き軸Ｌが回路電極Ｐ１（凹部Ｐ３）の中心に位置するように、検査治具１と回路基板Ｐとの相対位置を位置合わせすることが理想であるが、この位置合わせにずれが生じ、先端部１５が縁部Ｐ４に当たるような状態であっても、接触子２の先端部１５と回路電極Ｐ１との接触を確実に行うことができる。

また、治具側端部５も、線材１３がばね状に巻かれているため、巻き軸Ｌに沿う方向に弾性を有する。このため、治具側端部５も、巻き軸Ｌに対して左右前後方向に撓むことができる。その結果、電極６と電極保持体７との間に段部があり、先端部１４がこの段部にかかるように当接する場合であっても、接触子２の先端部１４と電極６との接触を確実に行うことができる。

接触子２は、上述したように、ばね巻き部２２が弾性を有して伸縮することができる。そのため、検査側端部１０を回路基板Ｐの回路電極Ｐ１に当接させた状態で検査治具１を回路基板Ｐ側に移動すると、ばね巻き部２２が縮み、検査側端部１０が上方に移動し、図９に示すように小径孔１７内に入り込む。本実施の形態においては、接触子２は、検査側端部１０において、先端に向かって巻き径が小さくなるように線材１３が巻き回されている。そのため、検査側端部１０が、小径孔１７の開口縁部１７Ａに引っ掛かり、検査側端部１０の上方への移動が阻止されてしまうことが防止される。たとえば、上述の図１０に示すように、検査側端部１０の先端部１５がレジストＰ２の凹部Ｐ３側の縁部Ｐ４に当接し、検査側端部１０が左右前後方向に撓んだ状態で、上方に移動するようなことが発生する場合がある。このような場合であっても、検査側端部１０が先端に向かって巻き径が小さくなるように、線材１３が巻かれていることで、検査側端部１０が小径孔１７の開口縁部１７Ａに引っ掛かってしまうことを防止できる。

電極保持体７を収容体４に取り付ける際には、収容体４の上面から一部が突出している治具側端部５を、大径孔１６内に圧縮して収容させる。したがって、治具側端部５が大径孔１６の開口縁部１６Ａに引っ掛かると、電極保持体７と収容体４との合わせ部に治具側端部５の一部が挟み込まれることになり、治具側端部５と電極６との接続が不良になる虞がある。しかしながら、接触子２は、治具側端部５も、先端に向かって巻き径が小さくなるように線材１３が巻かれている。そのため、電極保持体７を収容体４に取り付ける際、治具側端部５が、大径孔１６の開口縁部１６Ａに引っ掛かってしまうことを防止できる。

また、接触子２の本体部１２には、ばね巻き部２２と検査側端部１０との間に、密着巻き部２１が形成されている。ばね巻き部２２が伸縮し、接触子２が小径孔１７内を上下方向に移動する際に、密着巻き部２１が小径１７の内周面にガイドされる。密着巻き部２１は、線材１３が互いに密着しているため縮み方向に変化し難く、また、巻き軸Ｌと直交する方向についても、剛性が高く変形し難い構成となっている。そのため、密着巻き部２１が、小径孔１７の内周面に対して確実にガイドされ、検査側端部１０の左右前後方向へのぶれを抑えることができる。したがって、たとえば、検査側端部１０が左右前後方向にぶれることによる、回路電極Ｐ１との接触不良を防止することができる。

なお、密着巻き部２１の長さを長くとることで、接触子２は、小径１７に対してより安定的にガイドされることになるが、密着巻き部２１を長くすると、ばね巻き部２２の長さが短くなる。ばね巻き部２２の長さが短くなると、ばね巻き部２２が伸縮する際において、ばね巻き部２２の単位長さ当たりの伸縮量（変位量）が多くなり、ばね巻き部２２の劣化（へたり）の進行が早くなる。したがって、接触子２の小径孔１７によるガイドの安定面とばね巻き部２２の劣化面とから、密着巻き部２１およびばね巻き部２２の長さを適切に設定する必要がある。たとえば、本実施の形態における検査治具１における接触子２においては、検査側端部１０の先端部１５の上下方向の変位量に対して、密着巻き部２１の長さを概ね４倍程度とし、また、ばね巻き部２２の長さを概ね６倍とすることで、接触子２が収容孔３により安定してガイドされると共に、ばね巻き部２２の劣化を良好に抑えることができる。また、密着巻き部２１にこの程度の長さを持たせることで、接触子２を収容孔３に挿入する作業等を行う際に、ピンセットで密着巻き部２１を摘むことができ、接触子２の取り扱いを容易なものとすることができる。

また、接触子２は、本体部１２のばね巻き部２２の上部には、収容孔３の大径孔１６内に圧入することができるように巻き径が設定された大径部２３が形成されている。そのため、収容体４から電極保持体７が取り外された状態で、収容体４の電極保持体７が取り付けられる面が下方に向いている場合にであっても、収容孔３から、接触子２が抜け落ちてしまうことがない。

検査治具１は、回路基板Ｐの下面に配置される回路電極Ｐ１に対して接触子２を接触することができるように、回路基板Ｐの下側に配置されることがある。この場合には、検査側端部１０が上方に位置し、治具側端部５が下方に位置する。したがって、収容体４から電極保持体７を取り外すことで、接触子２を下方に取り出すことが可能となるが、大径部２３が大径孔１６に圧入されていることで、接触子２が不用意に収容孔３から抜け落ちてしまうことを防ぐことができる。

接触子２の治具側端部５の先端部分１９および検査側端部１０の先端部分２６は、巻き軸Ｌを通るように形成されている。そのため、接触子２が巻き軸Ｌを中心に自転しても、先端部分１９、先端部分２６は、巻き軸Ｌ上に配置されている。つまり、接触子２が収容孔３の中に収容されたときに、接触子２が巻き軸Ｌの周り対してどのように配置されても、先端部分１９および先端部分２６は、巻き軸Ｌ上を通るように配置されている。したがって、接触子２と、電極６および回路電極Ｐとの接触を確実なものとすることができる。

（接触子の第２の実施の形態）
接触子は、図１１および図１２に示す接触子３０として構成することができる。図１１は、検査治具１の拡大断面図であり、接触子３０の正面図が示されている。また、図１２は、図１１に示す接触子３０を下方から見た接触子２の底面図である。図１１および図１２において、上述の第１の実施の形態と同様の構成部分については、同一の符号を付し、その説明を省略する。

接触子３０は、図１１および図１２に示すように、接触子３０の検査側端部１０の先端部１５に、柱状部３１が設けられている。この柱状部３１は、先端部１５に巻かれる線材１３の先端部分３２を下方に向けて巻き軸Ｌに沿わせることで形成することができる。先端部１５に柱状部３１を設けることで、接触子３０と回路基板Ｐの回路電極Ｐ１との接触をより確実なものとすることができる。

また、接触子３０の治具側端部５の先端部１４に、先端部１５と同様の柱状部を設けてもよい。先端部１４に柱状部を設けることで、接触子３０と電極６との接触をより確実なものとすることができる。

（接触子の第３の実施の形態）
また、接触子は、図１３に示す接触子４０として構成することができる。図１３は、検査治具１の拡大断面図であり、接触子４０の正面図が示されている。図１３において、上述の第１の実施の形態と同様の構成部分については、同一の符号を付し、その説明を省略する。

接触子４０は、図１３に示すように、接触子４０の検査側端部１０の先端部１５に、球状部４１が設けられている。先端部１５に球状部４１を設けることで、接触子４０と回路基板Ｐの回路電極Ｐ１との接触をより確実なものとすることができる。接触子４０の回路電極Ｐ１への接触は、接触子４０の巻き軸Ｌが回路電極Ｐ１（凹部Ｐ３）の中心に位置するように、検査治具１と回路基板Ｐとの相対位置を位置合わせされた状態で行うことが好ましい。しかしながら、検査治具１と回路基板Ｐとの相対位置の位置合わせができていない場合には、図１４に示すように、球状部４１がレジストＰ２に当接してしまう場合がある。このような場合であっても、球状部４１が、レジストＰ２の凹部Ｐ３側の縁部Ｐ４に当接する場合には、図１５に示すように、球状部４１が縁部Ｐ４を滑って、凹部Ｐ３内に入り、回路電極Ｐ１に接触することができる。このように、先端部１５に球状部４１を設けることで、接触子４０と回路基板Ｐの回路電極Ｐ１との接触をより確実なものとすることができる。

また、接触子４０の治具側端部５の先端部１４に、先端部１５と同様の球状部を設けてもよい。先端部１４に球状部を形成することで、電極６と電極保持体７との間に段部がある場合に、この段部に、先端部１４に設けられる球状部が当接したとしても、接触子４０と電極６との接触を確実に行うことができる。

検査側端部１０の先端部１５に設けられる球状部４１は、例えば、次のようにして形成することができる。球状部４１の形成に当たっては、先ず、図１６に示すように、先端部１５に巻かれる線材１３の先端部分４３を、巻き軸Ｌに沿って延設しておく。そして、この延設された先端部分４３にレーザーを照射し加熱することで、先端部分４３を熔解する。そうすると、熔解部分が表面張力により球状になり、球状となった熔解部分が冷却されることで球状部４１が形成される。

なお、加熱は、レーザー照射の他に、バーナーや加熱された小手等を用いて行うことができる。また、治具側端部５の先端部１４に設けられる球状部についても、先端部１４に巻かれる線材１３の先端部分を、巻き軸Ｌに沿って延設しておき、上述した、球状部４１と同様の手段により形成することができる。

（接触子の第４の実施の形態）
さらに、接触子は、図１７に示す接触子５０として構成することができる。図１７は、検査治具１の拡大断面図であり、接触子５０の正面図が示されている。図１７において、上述の第１の実施の形態と同様の構成部分については、同一の符号を付し、その説明を省略する。接触子５０は、図１７に示すように、接触子５０を形成する線材１３の回路基板Ｐ側の先端部分を、接触子５０の先端側から本体部１２の側にフック状に折り返した折り返し部５１を検査側端部として構成したものである。折り返し部５１は、巻き軸Ｌを挟んで配置される側部５２，５３、および側部５２と側部５３とを繋ぐ円弧部５４等を有する。

回路電極Ｐ１に対しては円弧部５４が接触する。折り返し部５１の先端部分を円弧部５４にて形成することで、接触子５０と回路基板Ｐの回路電極Ｐ１との接触をより確実なものとすることができる。接触子５０の回路電極Ｐ１への接触は、接触子５０の巻き軸Ｌが回路電極Ｐ１（凹部Ｐ３）の中心に位置するように、検査治具１と回路基板Ｐとの相対位置を位置合わせされた状態で行うことが好ましい。しかしながら、検査治具１と回路基板Ｐとの相対位置の位置合わせができていない場合には、図１８に示すように、円弧部５４がレジストＰ２に当接してしまう場合がある。このような場合であっても、円弧部５４が、レジストＰ２の凹部Ｐ３側の縁部Ｐ４に当接する場合には、図１９に示すように、円弧部５４が縁部Ｐ４を滑って、凹部Ｐ３内に入り、回路電極Ｐ１に接触することができる。このように、折り返し部５１に円弧部５４を設けることで、接触子２と回路基板Ｐの回路電極Ｐ１との接触をより確実なものとすることができる。

なお、側部５２と側部５３の巻き軸Ｌを挟む方向の最大幅Ｗ１（図１７参照）は、小径孔１７の内径Ｍ１（図７参照）よりも狭く設定されている。折り返し部５１を回路電極Ｐ１に接触させた状態で検査治具１を回路基板Ｐ側に移動した場合には、ばね巻き部２２が圧縮され折り返し部５１が上方に変位する。上述のように、側部５２と側部５３の巻き軸Ｌを挟む方向の最大幅Ｗ１が、小径孔１７の内径Ｍ２よりも狭く設定されているため、折り返し部５１は収容孔３の中に入り込むことができる。そのため、折り返し部５１の上方への変位が妨げられることはない。

また、接触子５０は、図１７に示すように、接触子５０を形成する線材１３の電極６側の先端部分を接触子５０の先端側から本体部１２の側にフック状に折り返した折り返し部５５が治具側端部として構成されている。折り返し部５５は、巻き軸Ｌを挟んで配置される側部５６，５７、および側部５６と側部５７とを繋ぐ円弧部５８、そして側部５７の先端に形成される曲げ部５９等を有する。

電極６に対しては円弧部５８が接触する。折り返し部５５の先端部分を円弧部５８にて形成することで、接触子２と回路基板Ｐの回路電極Ｐ１との接触をより確実なものとすることができる。つまり、たとえば、電極６と電極保持体７との間に段部があり、折り返し部５５の円弧部５８がこの段部に当接する場合であっても、接触子２と電極６との接触を確実に行うことができる。

側部５７の巻き軸Ｌからの最大幅Ｗ２は、折り返し部５５を大径孔１６内に配置する前の状態において、大径孔１６の内径Ｍ２（図７参照）の１／２と同一かそれよりやや広く設定されている。そのため、折り返し部５０を大径孔１６に挿入する際には、折り返し部５０を大径孔１６に押し込む力を僅かにかけて、折り返し部５０を大径孔に圧入することになる。そのため、収容体４から電極保持体７が取り外された状態で、収容体４の電極保持体７が取り付けられる面が下方に向いている場合であっても、収容孔３から、接触子５０が抜け落ちてしまうことがない。

なお、曲げ部５９が段部２５に当接した状態において、本体部１２の密着巻き部２１の一部および折り返し部５１が、収容体４の下面から下方に突出し、また、折り返し部５５の円弧部５８の一部が、収容体４の上面から上方に突出するように、折り返し部５１、折り返し部５５等の上下方向の長さが設定されている。円弧部５８の一部が収容体４の上面から上方に突出することで、収容体４に電極保持体７が装着されたときに、円弧部５８が電極６に対して接触することができる。

折り返し部５５を大径孔１６に収容した状態で、曲げ部５９の先端部６０が、段部２５よりも巻き軸Ｌ側に位置するように、曲げ部５９は、巻き軸Ｌの側に折り曲げられている。したがって、接触子５０を折り返し部５１側に引っ張ると、曲げ部５９の斜面６１が段部２５を乗り越えることができ、接触子５０を、小径孔１７の側から取り出すことができる。

また、側部５７は、線材１３の有するばね性により巻き軸Ｌと直交する方向に弾性的に変位することができ、側部５６と側部５７との間の間隔Ｄを変えることができる。そのため、図２０に示すように、接触子５０を、折り返し部５５の側から、小径孔１７内に挿入することができる。つまり、折り返し部５５を小径孔１７内に挿入すると、側部５７が巻き軸Ｌ側に変位し、側部５６と側部５７との間の間隔Ｄが狭まる。そのため、接触子５０を小径孔１７の側から挿入することができる。そして、折り返し部５５が、小径孔１７を通って大径孔１６に至ると、側部５６と側部５７との間の間隔Ｄが広がり、曲げ部５９が段部２５に当接した状態となり、接触子５０の上下方向の位置決めが行われる。

このように、小径孔１７の側から、接触子５０を取り出したり、また、挿入することもできる。したがって、電極保持体７を収容体４から取り外すことなく、接触子５０の収容孔３への取り外し、取り付けを行うことができる。

上述した接触子２，３０，４０，５０は、金メッキが施されることが好ましい。金メッキが施されることで、接触子２，３０，４０，５０の電気抵抗を低減させることができる。また、金メッキを施すことで、各接触子２，３０，４０，５０の密着巻き部２１において接触し合う線材１３同士が、金メッキで互いに固定され、密着巻き部２１を変形し難くすることができる。そのため、密着巻き部２１の収容孔３（小径孔１７）の内周面によるガイドがより確実に行われ、検査側端部１０の左右前後へのぶれを抑えることができる。したがって、たとえば、検査側端部１０が左右前後にぶれることによる、回路電極Ｐ１との接触不良を防止することができる。

１ … 検査治具
２，３０，４０，５０ … 電気接触子
３ … 収容孔
４ … 収容体
５ … 治具側端部
１０ … 検査側端部
１２ … 本体部
１３ … 線材
１６ … 大径孔（大径収容部）
１７ … 小径孔（小径収容部）
２１ … 密着巻き部
２２ … ばね巻き部（ばね部）
２３ … 大径部
２５ … 段部
３１ … 柱状部
４１ … 球状部
５１ … 折り返し部
Ｐ … 回路基板（検査対象物）

Claims (11)

1. 検査対象物の電気的特性を検査する検査治具に用いられ、上記検査治具の収容孔の内部に配置される電気接触子であって、
   上記電気接触子は、線材から構成されると共に、
   上記電気接触子の長さ方向の一端側に配置され上記検査対象物に接触する検査側端部と、
   上記一端側に対して他端側に配置され上記検査治具の接点に接触する治具側端部と、
   上記検査側端部と上記治具側端部とを繋ぎ、上記収容孔に収容される本体部とを有し、
   上記本体部は、上記線材が螺旋状にばね性を有するように巻かれたばね部を有する、
   ことを特徴とする電気接触子。
2. 請求項１に記載の電気接触子において、
   前記検査側端部または前記治具側端部の少なくとも一方は、前記線材が巻かればね状に構成されている、
   ことを特徴とする電気接触子。
3. 請求項２に記載の電気接触子において、
   前記検査側端部または前記治具側端部の少なくとも一方は、先端に向かって巻き径が小さくなるように前記線材が巻かれている、
   ことを特徴とする電気接触子。
4. 請求項２または３のいずれか１項に記載の電気接触子において、
   前記検査側端部または前記治具側端部の少なくとも一方の先端部には、前記巻かれている線材の巻軸に沿って伸びる柱状部が形成されている、
   ことを特徴とする電気接触子。
5. 請求項２または３のいずれか１項に記載の電気接触子において、
   前記検査側端部または前記治具側端部の少なくとも一方の先端部には、球状部が設けられている、
   ことを特徴とする電気接触子。
6. 請求項１に記載の電気接触子において、
   前記検査側端部または前記治具側端部の少なくとも一方は、前記電気接触子の端部側から前記本体部側に折り返される折り返し部にて形成されている、
   ことを特徴とする電気接触子。
7. 請求項１に記載の電気接触子において、
   前記本体部には、前記ばね部と前記検査側端部との間に、前記線材同士が密着するように巻かれた密着巻き部を有する、
   ことを特徴とする電気接触子。
8. 請求項１に記載の電気接触子において、
   前記本体部の前記ばね部の一部は、前記収容部に対して圧入されるように、前記ばね部の他の部分の巻き径よりも大きな巻き径の大径部を有する、
   ことを特徴とする電気接触子。
9. 請求項１から８のいずれか１項に記載の電気接触子において、
   前記電気接触子は、金メッキが被覆されている、
   ことを特徴とする電気接触子。
10. 検査対象物に電気接触子を接触させて、上記検査対象物の電気的特性を検査する検査治具において、
    上記電気接触子を収容する収容部を有する収容体を備え、
    上記電気接触子は、請求項１から９のいずれか１項に記載の電気接触子である、
    ことを特徴とする検査治具。
11. 検査対象物に電気接触子を接触させて、上記検査対象物の電気的特性を検査する検査治具において、
    上記電気接触子を収容する収容部を有する収容体を備え、
    上記電気接触子は、請求項８に記載の電気接触子であり、
    上記収容部は、上記電気接触子の大径部が収容される大径収容部と前記ばね部の前記大径部以外の部分である小径部が収容される小径収容部とを有し、大径収容部と小径収容部との境部には、前記大径部が当接する段部が形成されている、
    ことを特徴とする検査治具。

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