JP5259107B2 - 積層セラミック電子部品およびその製造方法 - Google Patents

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Description

本願発明は、積層セラミック電子部品及びその製造方法に関し、詳しくは、セラミック積層体中に、複数の導体層がセラミック層を介して積層され、かつ、複数の導体層が交互に、セラミック積層体の側面の一対の領域に配設された一対の外部電極のいずれか一方に、電気的に接続された構造を有する積層セラミック電子部品およびその製造方法に関する。
近年、積層セラミックコンデンサは種々の用途に広く用いられており、電子機器の小型、高性能化にともない、積層セラミックコンデンサの小型大容量化への要求も大きくなっている。
このような状況下、小型大容量化のため、内部電極を薄膜形成法により形成して、意図する所定のパターンの内部電極を有する積層セラミックコンデンサを製造する方法が提案されている(特許文献1)。
また、内部電極層をパターン化せず、セラミックグリーンシートの表面に全面電極として形成し、この内部電極層を備えたセラミックグリーンシート(誘電体層)を積層した後、全面電極の不要部分を除去してパターン化し、その後、内部電極と導通するように外部電極を形成するようにした積層セラミックコンデンサの製造方法が提案されている(特許文献2)。
しかしながら、上記特許文献1の方法の場合、規格寸法に合わせて積層セラミック電子部品を製造しようとすると、内部電極の重なり面積(積層セラミックコンデンサの場合における容量取得に寄与する面積)を十分に確保することが困難になり、大容量化が妨げられるという問題点がある。これは、内部電極の印刷精度、積層時の変形、マザー積層体を切断する際の直線性などを考慮して加工マージンを決定する必要があり、セラミック積層体の平面面積よりも内部電極の寸法を小さくしなければならないことによる。
また、上記特許文献2の方法の場合、内部電極層を全面電極としているので、特許文献1のように内部電極の周囲にマージンを確保するために内部電極をパターン化することに伴う、製品寸法に対して内部電極の平面面積が小さくなるという問題点は低減できるが、積層後に内部電極の不要部分を除去して絶縁性を確保するようにしているので、十分な絶縁性を確保できる程度にまで内部電極層を除去するのに時間がかかり、生産性が低いという問題点がある。
特開2000−243650号公報 特開2003−109841号公報
本願発明は、上記課題を解決するものであり、製品寸法に対して、内部電極の面積を大きくとることが可能で、例えば積層セラミックコンデンサの場合、小型大容量化を図ることができ、しかも、内部電極の不要部を除去する必要がなく、効率よく小型高特性の積層セラミック電子部品を製造することが可能な積層セラミック電子部品の製造方法および該製造方法により製造することが可能な小型高特性の積層セラミック電子部品を提供することを目的とする。
上記課題を解決するために、本願発明の積層セラミック電子部品の製造方法は、
セラミック積層体中に、複数の導体層がセラミック層を介して積層され、かつ、前記複数の導体層が交互に、セラミック積層体の側面の一対の領域に配設された一対の外部電極のいずれか一方に、電気的に接続された構造を有する積層セラミック電子部品の製造方法であって、
前記複数の導体層がセラミック層を介して積層され、かつ、前記一対の領域に引き出された構造を有するセラミック積層体を形成する工程と、
前記一対の領域のうちの一方の領域に露出した前記導体層に、1層おきに撥水性を付与しためっき膜である引出電極を形成する工程と、
前記一対の領域の他方の領域に露出した前記導体層のうち、前記一方の領域で一層おきに撥水性を付与しためっき膜である引出電極が形成された導体層とは異なる導体層のそれぞれに撥水性を付与しためっき膜である引出電極を形成する工程と、
前記引出電極にはじかれる材料からなる被覆層により前記セラミック積層体を被覆して、前記引出電極が前記被覆層から露出するとともに、他の所定の領域が前記被覆層により被覆された被覆セラミック積層体を形成する工程と、
前記被覆セラミック積層体の前記一対の領域に、前記引出電極と電気的に接続する外部電極を形成する工程と
を具備することを特徴としている。
また、請求項2の積層セラミック電子部品の製造方法は、
セラミック積層体中に、複数の導体層がセラミック層を介して積層され、かつ、前記複数の導体層が交互に、セラミック積層体の側面の一対の領域に配設された一対の外部電極のいずれか一方に、電気的に接続された構造を有する積層セラミック電子部品の製造方法であって、
複数の導体層がセラミック層を介して積層されたマザーセラミック積層体を形成する工程と、
前記マザーセラミック積層体の所定の領域に、互いに平行な複数の溝を形成して、(a)隣り合う一対の溝に挟まれた領域の互いに対向する一対の側面が、個々の積層セラミック電子部品を構成するセラミック積層体の一対の側面となり、(b)前記側面に前記複数の導体層が露出し、(c)前記複数の導体層のそれぞれは、同一平面において、溝が形成されていない領域で導通した構造を有する溝付きマザーセラミック積層体を形成する工程と、
前記溝付きマザーセラミック積層体の前記一対の側面のうちの一方の側面に露出した前記導体層に、1層おきに撥水性を付与しためっき膜である引出電極を形成する工程と、
前記一対の側面の他方の側面に露出した前記導体層のうち、前記一方の側面で一層おきに撥水性を付与しためっき膜である引出電極が形成された導体層とは異なる導体層のそれぞれに撥水性を付与しためっき膜である引出電極を形成する工程と、
前記溝付きマザーセラミック積層体を所定の位置で切断して、個々のセラミック積層体に分割する工程と、
前記引出電極にはじかれる材料からなる被覆層により前記セラミック積層体を被覆して、前記引出電極が前記被覆層から露出するとともに、他の所定の領域が前記被覆層により被覆された被覆セラミック積層体を形成する工程と、
前記被覆セラミック積層体の、前記一対の側面に、前記引出電極と電気的に接続する外部電極を形成する工程と
を具備することを特徴としている。
また、請求項3の積層セラミック電子部品の製造方法は、撥水性を付与した前記めっき膜が、撥水めっき膜、または金めっき膜の表面にフッ素変性チオールを塗布して形成したものであることを特徴としている。
また、請求項4の積層セラミック電子部品の製造方法は、導電性ペーストを塗布し、焼き付けることにより、前記外部電極を形成することを特徴としている。
また、請求項5の積層セラミック電子部品は、
セラミック積層体中に、複数の導体層がセラミック層を介して積層され、かつ、前記複数の導体層が交互に、セラミック積層体の側面の一対の領域に配設された一対の外部電極のいずれか一方に、電気的に接続された構造を有する積層セラミック電子部品であって、
セラミック積層体の、前記外部電極が配設されていない領域のうち、少なくとも前記導体層が露出した部分が被覆層により被覆されており、かつ、
前記内部電極と前記外部電極の接続部分には、撥水性を付与しためっき膜が存在していること
を特徴としている。
本願発明の積層セラミック電子部品の製造方法は、セラミック積層体の側面に露出した導体層に撥水性を付与しためっき膜である引出電極を形成し、セラミック積層体を、引出電極にはじかれる材料からなる被覆層により被覆して、引出電極が被覆層から露出し、他の所定の領域が被覆層により被覆された被覆セラミック積層体を形成した後、被覆セラミック積層体に引出電極と電気的に接続する外部電極を形成するようにしているので、導体層(内部電極)の形成時にパターン化したり、セラミック積層体の形成後に導体層(内部電極)を除去したりすることを必要とせずに、製品寸法に対する導体層(内部電極)の面積の割合の大きい、小型高特性の積層セラミック電子部品を効率よく製造することが可能になる。
すなわち、本願発明によれば、セラミック積層体を、引出電極を露出させつつ、確実に被覆層で被覆することが可能になり、外部と導体層(内部電極)がショートすることを防止しつつ、セラミック積層体の平面面積と導体層(内部電極)の大きさを同じにすることが可能になるため、例えば、積層セラミックコンデンサにおける取得容量の増大など、特性の向上を図ることが可能になる。
なお、本願発明によれば、引出電極に撥水性を持たせることにより、例えば、セラミック積層体を被覆層を構成する材料に浸漬して、引出電極を露出させた状態で、セラミック積層体の全面あるいは所定の領域に、例えば30μm以下というような薄い被覆層を形成することができる。さらに、被覆層の構成材料を調整することにより10μm程度の均一な被覆層を形成することもできる。
また、本願発明は、引出電極に被覆材をはじく作用を果たさせること意図するものであり、本願発明において、撥水性を有しているとは、被覆材をはじく作用を果たす性質を有していることを意味するものであり、本願発明でいう撥水性とは、文字どおりの、水をはじくという意味での撥水性に限らず、例えば油性の被覆材をはじくことができるような撥油性などの意味をも含む概念である。
また、請求項2の積層セラミック電子部品の製造方法のように、マザーセラミック積層体の所定の領域に、互いに平行な複数の溝を形成して、(a)隣り合う一対の溝に挟まれた領域の互いに対向する一対の側面が、個々の積層セラミック電子部品を構成するセラミック積層体の一対の側面となり、(b)側面に前記複数の導体層が露出し、(c)導体層のそれぞれは、同一平面において、溝が形成されていない領域で導通した構造を有する溝付きマザーセラミック積層体を形成し、一対の側面のうち一方の側面に露出した導体層に、1層おきに撥水性を付与しためっき膜である引出電極を形成するとともに、他方の側面において、一方の側面で引出電極が形成された導体層とは異なる導体層に撥水性を付与しためっき膜である引出電極を形成した後、個々のセラミック積層体に分割し、被覆層により被覆して、引出電極が被覆層から露出し、他の所定の領域が被覆層により被覆された被覆セラミック積層体を形成した後、被覆セラミック積層体に引出電極と電気的に接続する外部電極を形成するようにした場合、いわゆる多数個取りの方法で、小型高特性の積層セラミック電子部品を効率よく製造することが可能になる。
また、請求項3の積層セラミック電子部品の製造方法のように、撥水性を付与した前記めっき膜が、撥水めっき膜、または金めっき膜の表面にフッ素変性チオールを塗布して形成したものである場合には、効率よく撥水性を有する引出電極を形成することが可能になり、本願発明をより実効あらしめることができる。
また、本発明の積層セラミック電子部品の製造方法においては、導電性ペーストを塗布し、焼き付けることにより、前記外部電極を形成することができる。
また、本発明の積層セラミック電子部品は、セラミック積層体の、外部電極が配設されていない領域のうち、少なくとも導体層が露出した部分が被覆層により被覆されており、かつ、内部電極と外部電極の接続部分には、撥水性を付与しためっき膜が存在していることを構成上の特徴としており、本願発明の請求項1〜4のいずれかの方法により効率よく製造することができる。
以下に本願発明の実施例を示して、本願発明の特徴とするところをさらに詳しく説明する。
図1は、本願発明の一実施例にかかる積層セラミック電子部品(積層セラミックコンデンサ)の構成を示す図である。
この積層セラミックコンデンサにおいては、図1に示すように、セラミック積層体1中に、複数の内部電極(導体層)2がセラミック層3を介して積層されている。また、この複数の内部電極2(2a,2b)はセラミック積層体1の、互いに対向する一対の側面4a,4bに引き出されている。
また、複数の内部電極2(2a,2b)は交互に、引出電極12(12a,12b)を介して、一対の側面4a,4bに配設された外部電極5a,5bのいずれか一方に電気的に接続されている。また、セラミック積層体1の、外部電極5a,5bが配設されていない領域は、絶縁性の樹脂からなる被覆層6により被覆されており、内部電極2(2a,2b)をセラミック積層体1の平面面積と同じ大きさにしているにもかかわらず、内部電極2(2a,2b)が外部と短絡したりすることがないように構成されている。
そして、この実施例の積層セラミックコンデンサにおいては、引出電極12(12a,12b)は、内部電極2a,2bの端部に撥水めっきを施して撥水めっき膜10を設けることにより形成されている。
次に、この積層セラミックコンデンサの製造方法について説明する。
(1)一方主面に導体層が配設されたセラミックグリーンシートと、導体層(内部電極)が形成されていないセラミックグリーンシートを所定の順序で積層し、図2に示すように、複数の導体層2がセラミック層3を介して積層され、かつ、複数の導体層2が一対の側面4a,4bに引き出された構造を有する焼結済みのセラミック積層体1を用意する。
なお、このようなセラミック積層体は、通常の積層セラミック電子部品の製造工程で用いられる種々の方法、例えば、上述のようにセラミックグリーンシートを積層する工程を備えたいわゆるシート積層工法や、セラミックスラリーおよび電極ペーストを、図2に示すようなセラミック積層体1が形成されるように印刷してゆく、いわゆる逐次印刷工法などの方法により製造することが可能である。さらにその他の方法を適用することも可能である。
(2)それから、図3に示すように、セラミック積層体1の一対の側面4a,4bのうち、一方の側面4aに露出した導体層2(2a)に、1層おきに撥水性を有する引出電極12(12a)を形成するとともに、他方の側面4bに露出した導体層2のうち、一方の領域で一層おきに撥水性を有する引出電極12(12a)が形成された導体層2aとは異なる導体層2(2b)のそれぞれに撥水性を有する引出電極12(12b)を形成する。
この実施例では、所定の導体層(内部電極)に引出電極を形成するにあたっては、一層おきに導体層(引出電極を形成しない方の導体層)の端部をシールしておき、シールされていない方の導体層に撥水めっきを行うことにより、引出電極を形成した。
撥水めっきを行うにあたっては、フッ素系高分子のエマルジョンとNiを含むめっき浴にセラミック積層体を積層して、Ni金属とともに、フッ素系高分子を共析させることにより撥水性を付与する方法を適用して、撥水性を有する引出電極(撥水めっき膜)を形成した。なお、引出電極を形成する方法については、下記の実施例2でも詳しく説明する。
フッ素系高分子としては、ポリテトラフルオロエチレン(PTFE)、ポリパーフルオロアルコキシブタジエン(PFA)、ポリフルオロビニリデンなどを単独で、あるいは、これらを組み合わせて用いることができる。撥水めっき膜の厚さは、1μm〜5μm程度であれば、本願発明において必要とされる撥水性を十分に確保することができる。
なお、撥水めっき膜の厚さが1μm未満になると、撥水性が不十分になり、引出電極が被覆層により被覆されてしまう場合が生じるため好ましくない。また、撥水めっき膜が5μmを超えると、撥水性としては十分であるが、厚みが1μm以下の導体層(内部電極)に適用することが困難になるため好ましくない。
(3)次に、セラミック積層体1を、撥水めっき膜にはじかれる材料からなる被覆層により被覆して、図4に示すように、引出電極12(12a,12b)が露出し、他の領域が被覆層6により被覆された構造を有する被覆セラミック積層体11を形成する。
なお、セラミック積層体1を、撥水めっき膜にはじかれる材料からなる被覆層6により被覆する方法としては、例えば、絶縁樹脂原料の溶剤溶液などに浸漬した後、絶縁樹脂を硬化させる方法などを適用することができる。
また、後述のように、絶縁性のセラミック層を被覆層とする被覆セラミック積層体11を形成することも可能である。
(4)それから、引出電極12(12a,12b)が露出した被覆セラミック積層体11の両側面4a,4bに、引出電極12a,12bと導通するように外部電極形成用の導電ペーストを塗布し、焼き付けることにより、外部電極5a,5bを形成する。これにより、図1に示すような構造を有する積層セラミックコンデンサが得られる。
上記の方法により、例えば、内部電極2の厚みが2μm、引出電極12(12a,12b)を構成する撥水めっき膜10の膜厚が3μm、セラミック層3の厚みが5μmというような条件の積層セラミックコンデンサを効率よく製造することができる。
なお、この実施例1では、絶縁樹脂からなる被覆層6によりセラミック積層体1を被覆する場合を例にとって説明したが、耐熱性などの耐環境性を考慮すると、セラミックからなる被覆層によりセラミック積層体が被覆された構造とすることが望ましい場合がある。
その場合、例えば、未焼成の状態のセラミック積層体1に、撥水性を有する引出電極12(12a,12b)を形成した後、セラミックスラリーに浸漬して、図5に示すように、引出電極12(12a,12b)が露出し、他の領域がセラミック層からなる被覆層6(6a)により被覆された被覆セラミック積層体11を形成し、これを一体的に焼成した後、図6に示すように、外部電極5a,5bを形成することにより、セラミック積層体1がセラミック層からなる被覆層6(6a)により被覆された構造を有する積層セラミックコンデンサを得ることができる。
なお、セラミック積層体1を被覆層6(6a)であるセラミック層で被覆するにあたっては、例えば、以下の方法が例示される。
例えば、セラミック積層体を構成するセラミックがチタン酸バリウム系セラミックである場合、同じくチタン酸バリウム系のセラミック原料を用い、これに有機ビヒクル、添加剤、および、溶剤を添加して混合し、粘度1〜10Pa・s(せん断速度100s−1での測定値)、セラミック固形分濃度10vol%のセラミックスラリーを準備する。
それから、所定の内部電極(導体層)に撥水めっきを施して引出電極(撥水めっき膜)を形成する、
また、例えば、内部電極の厚み2μm、撥水メッキ厚3μm、セラミック層の厚み5μmの、積層数10層のセラミック積層体を用意し、所定の内部電極(導体層)に撥水めっきを施して引出電極(撥水めっき膜)を形成する。
それから、このセラミック積層体を、上述のセラミックスラリーに浸漬した後、引き上げて、被覆層が固着しないようにフッ素樹脂コーティングしたポットに取り出し、30分間、回転させながら十分に乾燥させて、20μm厚の被覆層により被覆された、未焼成の被覆セラミック積層体11(図5参照)を得る。
そして、通常の方法で、1200℃の温度条件下にて焼成を行い、引出電極を除いて、全体が厚み15μmのセラミック層からなる被覆層により被覆された被覆セラミック積層体(焼結体)11を得る。
その後、この被覆セラミック積層体11に外部電極5a,5bを形成することにより、図6に示すような構造を有する、セラミック積層体1がセラミック層からなる被覆層6(6a)により被覆された積層セラミックコンデンサが得られる。
なお、セラミック積層体をセラミックスラリーにより被覆するにあたっては、例えば、セラミックスラリーを入れたバレルに、セラミック積層体を投入し、バレルを回転させる方法など種々の方法を採用することができるが、その方法に特別の制約はない。
<撥水性を有する引出電極の形成方法の変形例>
上記実施例1では、導体層の露出端部に撥水めっき膜を形成することにより引出電極を形成するようにしているが、導体層の露出端部に金めっきを施し、形成された金めっき膜の表面にフッ素変性チオールを塗布することによっても撥水性を有する引出電極を形成することができる。
すなわち、図7に示すように、セラミック積層体1の側面4a,4bのうちの一方の側面4aに露出した導体層2(2a)に、1層おきに金めっきを施して金めっき膜20(20a)を形成するとともに、他方の側面4bに露出した導体層2のうち、一方の側面4aで金めっき膜20(20a)が形成された導体層2aとは異なる導体層2(2b)のそれぞれに金めっきを施し、金めっき膜20(20b)を形成する。
それから、図8に示すように、金めっき膜20(20a,20b)の表面にフッ素変性チオール21を塗布することにより、自己組織化膜を金めっき膜の表面に形成する。これにより、効率よく撥水性を有する引出電極12(12a,12b)を形成することができる。
その後は、上記実施例1の場合と同様の方法で、被覆層による被覆、外部電極の形成の工程を経て、図1に示す積層セラミックコンデンサに準じる構成を有する積層セラミックコンデンサを製造することができる。
この実施例2では、マザー積層体を形成し、そこから複数の積層セラミックコンデンサを分割して多数個の積層セラミックコンデンサを同時に製造する、いわゆる多数個取りの方法により図1に示すような構造を有する積層セラミックコンデンサを製造する方法について説明する。
(1)まず、図9に示すように、複数の導体層22がセラミック層(セラミックグリーンシート)23を介して積層された構造を有する未焼成のマザーセラミック積層体31を形成する。
(2)それから、図10に示すように、マザーセラミック積層体の所定の領域に、互いに平行な複数の溝30を形成することにより、以下の(a)〜(c)の要件を備えた溝付きマザーセラミック積層体31aを形成する。
(a)隣り合う一対の溝30に挟まれた領域の互いに対向する一対の側面24(24a,24b),が、図1に示す個々の積層セラミック電子部品を構成するセラミック積層体1の一対の側面4(4a,4b)となる、
(b)この一対の側面24(24a,24b)に複数の導体層22が露出している。
(c)複数の導体層22のそれぞれは、同一平面において、溝が形成されていない領域(基部)33(図10)で導通している。
(3)そして、この溝付きマザーセラミック積層体31aの複数の溝30に、図11に示すように、一列おきにめっき液の浸入を阻止するためのマスク32aを施して、一列おきに溝30を密閉し、溝付きマザーセラミック積層体31aの一方側の端面34bに引き出された導体層22(22a)に電極36を接続して通電することにより撥水めっきを行い、図12に示すように、側面24a,24bに露出した導体層22(22a)に撥水めっき膜12(12a)を形成する。
(4)それから、上記(3)の工程でマスク32aを施さなかった方の溝30に、図13に示すように、マスク32bを施して、(3)の工程で先に撥水めっき膜12(12a)を形成した溝30を密閉し、一層おきに、溝付きマザーセラミック積層体31aの一方側の端面34aに引き出された導体層22(22b)に電極36を接続して通電することにより撥水めっきを行い、図14に示すように、側面24a,24bに露出した導体層22(22b)に撥水めっき膜12(12b)を形成する。
(5)次に、溝付きマザーセラミック積層体31aを切断して、個々のセラミック積層体1に分割する。これにより、図3に示すような構造を有する、引出電極12(12a,12b)を備えた個々のセラミック積層体1が得られる。
(6)その後は、実施例1の場合と同様に、セラミック積層体1を、引出電極12(12a,12b)にはじかれる材料からなる被覆層により被覆して、図4あるいは図5に示すように、引出電極12(12a,12b)が露出し、他の領域が被覆層6により被覆された構造を有する被覆セラミック積層体11を形成する。
(7)それから、引出電極12(12a,12b)が露出した被覆セラミック積層体11の両側面4a,4bに、引出電極12a,12bと導通するように外部電極形成用の導電ペーストを塗布し、焼き付けることにより、外部電極5a,5bを形成する。これにより、図1に示すような積層セラミックコンデンサに準じる構造を有する積層セラミックコンデンサが得られる。
また、この実施例2においても、導体層の露出端部に撥水めっき膜を形成することにより引出電極を形成するようにしているが、導体層の露出端部に金めっきを施し、形成された金めっき膜の表面にフッ素変性チオールを塗布することによっても撥水性を有する引出電極を形成することができる。
この実施例2の方法によれば、いわゆる多数個取りの方法により、製品寸法の平面面積と内部電極の面積が実質的に同一で、小型大容量の積層セラミックコンデンサを、内部電極のパターニングなどの工程を必要とすることなく、効率よく製造することができる。
また、この実施例2の本願発明の方法によれば、特に位置決めなどの工程を必要とせず、多数のセラミック積層体を一括して処理することが可能であり、生産性を大幅に向上させることができるため、工業的な意義が大きい。
なお、上記実施例では、積層セラミックコンデンサを例にとって説明したが、本願発明は、LC複合部品など、積層セラミックコンデンサ以外の積層セラミック電子部品にも適用することが可能である。
本願発明は、その他の点においても上記実施例に限定されるものではなく、内部電極の積層数、引出電極の具体的な形成方法などに関し、発明の範囲内において、種々の応用、変形を加えることが可能である。
上述のように、本願発明によれば、内部電極の面積を製品寸法の平面面積と実質的に同一とすることが可能で、内部電極のパターニング工程などを必要とすることなく、小型高特性の積層セラミック電子部品を効率よく製造することが可能になり、例えば、積層セラミックコンデンサの場合には、小型大容量化を実現することができる。
したがって、本願発明は、積層セラミックコンデンサや積層LC複合部品などの積層セラミック電子部品、その製造に関する技術分野に広く利用することが可能である。
本願発明の一実施例(実施例1)にかかる積層セラミック電子部品(積層セラミックコンデンサ)の構成を示す断面図である。 本願発明の実施例1にかかる積層セラミックコンデンサの製造工程において形成されたセラミック積層体の構成を示す図である。 本願発明の実施例1にかかる積層セラミックコンデンサの製造工程においてセラミック積層体に引出電極を形成した状態を示す図である。 本願発明の実施例1にかかる積層セラミックコンデンサの製造工程においてセラミック積層体を被覆層で被覆した状態を示す図である。 本願発明の実施例1にかかる積層セラミックコンデンサの製造方法において、被覆層をセラミック層とした場合の被覆セラミック積層体を示す図である。 図5の被覆セラミック積層体を焼成した後、外部電極を形成することにより製造された積層セラミックコンデンサを示す図である。 実施例1の積層セラミックコンデンサの製造方法の変形例を説明する図である。 実施例1の積層セラミックコンデンサの製造方法の変形例にかかる方法で製造した積層セラミックコンデンサを示す図である。 本願発明の他の実施例(実施例2)にかかる積層セラミックコンデンサの製造方法の一工程で作製したマザーセラミック積層体を示す図である。 本願発明の実施例2にかかる積層セラミックコンデンサの製造方法の一工程でマザーセラミック積層体に溝を形成した状態を示す図である。 本願発明の実施例2にかかる積層セラミックコンデンサの製造方法の一工程でマザーセラミック積層体に所定の溝にマスクを施した状態を示す図である。 本願発明の実施例2にかかる積層セラミックコンデンサの製造方法の一工程で所定の溝に引出電極を形成する方法を説明する図である。 本願発明の実施例2にかかる積層セラミックコンデンサの製造方法の一工程でマザーセラミック積層体の所定の他の溝にマスクを施した状態を示す図である。 本願発明の実施例2にかかる積層セラミックコンデンサの製造方法の一工程で所定の他の溝に引出電極を形成する方法を説明する図である。
1 セラミック積層体
2(2a,2b) 内部電極(導体層)
3 セラミック層
4a,4b セラミック積層体の側面
5a,5b 外部電極
6,6a 被覆層
10 撥水めっき膜
11 被覆セラミック積層体
12(12a,12b) 引出電極
20(20a,20b) 金めっき膜
21 フッ素変性チオール
22 導体層
23 セラミック層(セラミックグリーンシート)
24(24a,24b) 溝の側面
30 溝
31 未焼成のマザーセラミック積層体
31a 溝付きマザーセラミック積層体
32a,32b マスク
33 マザーセラミック積層体の溝が形成されていない領域(基部)
34a,34b 溝付きマザーセラミック積層体の端面
36 電極

Claims (5)

  1. セラミック積層体中に、複数の導体層がセラミック層を介して積層され、かつ、前記複数の導体層が交互に、セラミック積層体の側面の一対の領域に配設された一対の外部電極のいずれか一方に、電気的に接続された構造を有する積層セラミック電子部品の製造方法であって、
    前記複数の導体層がセラミック層を介して積層され、かつ、前記一対の領域に引き出された構造を有するセラミック積層体を形成する工程と、
    前記一対の領域のうちの一方の領域に露出した前記導体層に、1層おきに撥水性を付与しためっき膜である引出電極を形成する工程と、
    前記一対の領域の他方の領域に露出した前記導体層のうち、前記一方の領域で一層おきに撥水性を付与しためっき膜である引出電極が形成された導体層とは異なる導体層のそれぞれに撥水性を付与しためっき膜である引出電極を形成する工程と、
    前記引出電極に弾かれる材料からなる被覆層により前記セラミック積層体を被覆して、前記引出電極が前記被覆層から露出するとともに、他の所定の領域が前記被覆層により被覆された被覆セラミック積層体を形成する工程と、
    前記被覆セラミック積層体の前記一対の領域に、前記引出電極と電気的に接続する外部電極を形成する工程と
    を具備することを特徴とする積層セラミック電子部品の製造方法。
  2. セラミック積層体中に、複数の導体層がセラミック層を介して積層され、かつ、前記複数の導体層が交互に、セラミック積層体の側面の一対の領域に配設された一対の外部電極のいずれか一方に、電気的に接続された構造を有する積層セラミック電子部品の製造方法であって、
    複数の導体層がセラミック層を介して積層されたマザーセラミック積層体を形成する工程と、
    前記マザーセラミック積層体の所定の領域に、互いに平行な複数の溝を形成して、(a)隣り合う一対の溝に挟まれた領域の互いに対向する一対の側面が、個々の積層セラミック電子部品を構成するセラミック積層体の一対の側面となり、(b)前記側面に前記複数の導体層が露出し、(c)前記複数の導体層のそれぞれは、同一平面において、溝が形成されていない領域で導通した構造を有する溝付きマザーセラミック積層体を形成する工程と、
    前記溝付きマザーセラミック積層体の前記一対の側面のうちの一方の側面に露出した前記導体層に、1層おきに撥水性を付与しためっき膜である引出電極を形成する工程と、
    前記一対の側面の他方の側面に露出した前記導体層のうち、前記一方の側面で一層おきに撥水性を付与しためっき膜である引出電極が形成された導体層とは異なる導体層のそれぞれに撥水性を付与しためっき膜である引出電極を形成する工程と、
    前記溝付きマザーセラミック積層体を所定の位置で切断して、個々のセラミック積層体に分割する工程と、
    前記引出電極にはじかれる材料からなる被覆層により前記セラミック積層体を被覆して、前記引出電極が前記被覆層から露出するとともに、他の所定の領域が前記被覆層により被覆された被覆セラミック積層体を形成する工程と、
    前記被覆セラミック積層体の、前記一対の側面に、前記引出電極と電気的に接続する外部電極を形成する工程と
    を具備することを特徴とする積層セラミック電子部品の製造方法。
  3. 撥水性を付与した前記めっき膜が、撥水めっき膜、または金めっき膜の表面にフッ素変性チオールを塗布して形成したものであることを特徴とする請求項1または2記載の積層セラミック電子部品の製造方法。
  4. 導電性ペーストを塗布し、焼き付けることにより、前記外部電極を形成することを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の積層セラミック電子部品の製造方法。
  5. セラミック積層体中に、複数の導体層がセラミック層を介して積層され、かつ、前記複数の導体層が交互に、セラミック積層体の側面の一対の領域に配設された一対の外部電極のいずれか一方に、電気的に接続された構造を有する積層セラミック電子部品であって、
    セラミック積層体の、前記外部電極が配設されていない領域のうち、少なくとも前記導体層が露出した部分が被覆層により被覆されており、かつ、
    前記内部電極と前記外部電極の接続部分には、撥水性を付与しためっき膜が存在していること
    を特徴とする積層セラミック電子部品。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5768471B2 (ja) * 2010-05-19 2015-08-26 株式会社村田製作所 セラミック電子部品の製造方法
DE102012101351A1 (de) * 2012-02-20 2013-08-22 Epcos Ag Vielschichtbauelement und Verfahren zum Herstellen eines Vielschichtbauelements
JP6015781B2 (ja) * 2015-01-06 2016-10-26 Tdk株式会社 圧電素子
KR20190116134A (ko) 2019-07-17 2019-10-14 삼성전기주식회사 적층 세라믹 전자 부품

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60196981A (ja) * 1984-03-21 1985-10-05 Nec Corp 電歪効果素子の製造方法
JPS61234580A (ja) * 1985-04-11 1986-10-18 Jgc Corp 積層型電歪あるいは圧電素子
JP3292009B2 (ja) * 1995-10-20 2002-06-17 株式会社村田製作所 電極一体型グリーンシート及び積層セラミック電子部品の製造方法
JP3067698B2 (ja) * 1997-06-27 2000-07-17 松下電器産業株式会社 積層セラミック電子部品の製造方法
JP2002005174A (ja) * 2000-06-19 2002-01-09 Nippon Densan Corp 流体動圧軸受部品及びその製造方法、並びにそれを用いたモータ及びディスク装置
JP4573956B2 (ja) * 2000-06-30 2010-11-04 京セラ株式会社 積層型電子部品およびその製法
JP2003109841A (ja) * 2001-10-01 2003-04-11 Murata Mfg Co Ltd 積層型電子部品の製造方法
JP2006093532A (ja) * 2004-09-27 2006-04-06 Matsushita Electric Ind Co Ltd 電子部品

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