JP5087178B2 - 顕微鏡用物体の検査及び操作のための装置及び方法 - Google Patents
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Description
顕微鏡は、共焦点走査型顕微鏡であり、
第一光線偏向装置が、照明光線路に配され、第二光線偏向装置が、操作光線路に配されているとともに、照明光線路における光の偏向は、操作光線路における光の偏向と独立に行われること、及び
前記操作光線路と前記検出/照明光線路は、一方の光線偏向装置のスキャニングミラーを介して結合(光路の共通化)が可能であり、該スキャニングミラーは、前記2つの光線路の一方に対して透過性でありかつ他方に対してミラーとして作動することを特徴とする(形態1・第1基本構成)。
更に、上記課題は、方法の観点においては、請求項6の特徴により解決される。即ち、本発明の第二の視点において、(a)顕微鏡;(b)物体を照明するための第一光源;(c)照明光線路;(d)物体からの戻り光を検出するための検出器;(e)検出光線路;(f)物体を操作するための第二光源;(g)操作光線路を用いる顕微鏡用物体の検査及び操作方法において、
顕微鏡は、共焦点走査型顕微鏡であり、
第一光線偏向装置が、照明光線路に配され、第二光線偏向装置が、操作光線路に配されているとともに、照明光線路における光の偏向は、操作光線路における光の偏向と独立に行われること、及び
前記操作光線路と前記検出/照明光線路は、一方の光線偏向装置のスキャニングミラーを介して結合(光路の共通化)が可能であり、該スキャニングミラーは、前記2つの光線路の一方に対して透過性でありかつ他方に対してミラーとして作動することを特徴とする(形態6・第2基本構成)。
各従属請求項により、更に付加的な効果が、前述の通りそれぞれ達成される。
(形態1) 上掲。
(形態2) 上記の装置において、操作光線路と検出/照明光線路が、互いに大きく離隔しているとともに、検出/照明光線路が、顕微鏡対物レンズを通過し、操作光線路が、顕微鏡対物レンズの焦平面に関し顕微鏡対物レンズと対向配置される光学系を通過することが好ましい。
(形態3) 上記の装置において、操作光線の合焦位置が、その光軸に沿って変更可能であるとともに、合焦位置の変更は、光源と物体との間で摺動可能に配される合焦手段により行われることが好ましい。
(形態4) 上記の装置において、操作光線は、光学ピンセットとして及び/又は超微細メス(ナノメータオーダのメス)として利用されること、及び操作光線の合焦形態を変更するために、ズーム光学系が、操作光線路に配されていることが好ましい。
(形態5) 上記の装置において、顕微鏡に、一又は複数の光線偏向装置に結合可能な顕微鏡インターフェースが配されていることが好ましい。
(形態6) 上掲。
(形態7) 上記の方法において、物体の操作が、共焦点的(コンフォカールな)物体検出と同時に行われることが好ましい。
(形態8) 上記の方法において、物体が、操作中において三次元的に検出されることが好ましい。
(形態9) 上記の方法において、物体の操作が、三次元的に、(とりわけ顕微鏡対物レンズの焦平面に平行な面内ないし面間で)行われることが好ましい。
(形態10) 上記の方法において、操作光線が、蛍光着色物質の消光及び/又ケージ化化合物−結合(Caged-Compound-Verbindung)を誘導することが好ましい。
(形態11) 上記の方法において、検出される物体が、操作部位と一緒に(好ましくはモニタに)表示されるとともに、表示は二次元及び/又は三次元で行われ、及び三次元の表示の遠近法的観察点が任意に選択されることが好ましい。
(形態12) 上記の方法において、物体は、複数の照明光焦点又は1つの線状の照明パターンで走査されることが好ましい。これは迅速な撮像を行うことに資する。
2 顕微鏡(対物レンズ)
3 第一光源
4 第一光源
5 照明光線路
6 検出器
7 検出光線路
8 第二光源
9 操作光線路
10 ビームスプリッタ
11 ダイクロイックビームスプリッタ
12 第一光線偏向装置
13 スキャニングミラー
14 照明用ピンホール
15 検出器用ピンホール
16 第二光線偏向装置
18 制御用コンピュータ
20 第二の顕微鏡対物レンズ
21 ビームスプリッタ
22 画像部分図
23 画像部分図
26 筋肉細胞
27 光学ピンセット
28 光学ピンセット
29 操作部位
30 操作部位
31 アクチン結合
Claims (12)
- (a)顕微鏡(2);(b)照明光線路(5)を規定し、物体(1)を照明するための少なくとも1つの第一光源(3、4);(c)検出光線路(7)を規定し、物体(1)からの戻り光を検出するための検出器(6);(d)操作光線路(9)を規定する、物体(1)を操作するための第二光源(8)
を有する顕微鏡用物体の検査及び操作用の装置において、
前記顕微鏡(2)は、共焦点走査型顕微鏡であり、
第一光線偏向装置(12)が、前記照明光線路(5)に配され、第二光線偏向装置(16)が、前記操作光線路(9)に配されているとともに、該照明光線路(5)における光の偏向は、該操作光線路(9)における光の偏向と独立に行われること、及び
前記操作光線路(9)と前記検出/照明光線路(7、5)は、一方の光線偏向装置(12)のスキャニングミラー(13)を介して結合が可能であり、該スキャニングミラー(13)は、前記2つの光線路の一方に対して透過性でありかつ他方に対してミラーとして作動すること
を特徴とする装置。 - 前記操作光線路(9)と前記検出/照明光線路(7、5)は、互いに大きく離隔しているとともに、該検出/照明光線路(7、5)は、顕微鏡対物レンズ(2)を通過し、該操作光線路(9)は、該顕微鏡対物レンズ(2)の焦平面に関し該顕微鏡対物レンズ(2)と対向配置される光学系(20)を通過すること
を特徴とする請求項1に記載の装置。 - 操作光線の合焦位置は、その光軸に沿って変更可能であるとともに、該合焦位置の変更は、光源(8)と物体(1)との間で摺動可能に配される合焦手段により行われること
を特徴とする請求項1又は2に記載の装置。 - 前記操作光線は、光学ピンセット(27、28)として及び/又は超微細メスとして機能すること、及び該操作光線の合焦形態を変更するために、ズーム光学系が、前記操作光線路(9)に配されていること
を特徴とする請求項1〜3の一に記載の装置。 - 前記顕微鏡には、前記一又は複数の光線偏向装置(12、16)に結合可能な顕微鏡インターフェースが配されていること
を特徴とする請求項1〜4の一に記載の装置。 - (a)顕微鏡(2);(b)物体(1)を照明するための第一光源(3、4);(c)照明光線路(5);(d)物体(1)からの戻り光を検出するための検出器(6);(e)検出光線路(7);(f)物体(1)を操作するための第二光源(8);(g)操作光線路(9)を用いる
顕微鏡用物体の検査及び操作方法において、
前記顕微鏡は、共焦点走査型顕微鏡であり、
第一光線偏向装置(12)が、前記照明光線路(5)に配され、第二光線偏向装置(16)が、前記操作光線路(9)に配されているとともに、該照明光線路(5)における光の偏向は、該操作光線路(9)における光の偏向と独立に行われること、及び
前記操作光線路(9)と前記検出/照明光線路(7、5)は、一方の光線偏向装置(12)のスキャニングミラー(13)を介して結合が可能であり、該スキャニングミラー(13)は、前記2つの光線路の一方に対して透過性でありかつ他方に対してミラーとして作動すること
を特徴とする方法。 - 物体の操作は、共焦点的な物体検出と同時に行われること
を特徴とする請求項6に記載の方法。 - 物体は、前記操作中において三次元的に検出されること
を特徴とする請求項6又は7に記載の方法。 - 前記物体の操作は、三次元的に行われること
を特徴とする請求項6〜8の一に記載の方法。 - 操作光線は、蛍光着色物質の消光及び/又はケージ化化合物−結合(Caged-Compound-Verbindung)を誘導すること
を特徴とする請求項6〜9の一に記載の方法。 - 検出される物体(26)は、操作部位(29、30)と一緒に表示されるとともに、該表示は二次元及び/又は三次元で行われ、かつ三次元の表示の遠近法的観察点が任意に選択されること
を特徴とする請求項10に記載の方法。 - 物体は、複数の照明光焦点又は1つの線状の照明パターンで走査されること
を特徴とする請求項6〜11の一に記載の方法。
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