JP5022652B2 - 回路モジュールの製造方法及び回路モジュール - Google Patents

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本発明は、基板上に半導体素子やチップ状電子部品を搭載するとともに、搭載された部品を覆う第一層の絶縁層と該絶縁層を覆う第二層のシールド層とを有する平板状の回路モジュールの製造方法に関し、前記平板状の回路モジュールの端面において前記基板と前記シールド層との境界に隙間を生じないようにした回路モジュールの製造方法、及び回路モジュールに関する。
従来、基板上に複数の要素部品を搭載するとともに、搭載された部品を樹脂モールドにより被覆したものや、搭載された部品を被覆するように金属製のキャップを被せたものが存在する。
また、特許文献1に示すように、基板上に搭載された部品を絶縁性樹脂層からなる第一層で被覆し、さらに導電性樹脂からなる第二層で被覆してシールド層を形成し、さらに小型化を可能とした回路モジュールが提案されている。
上記背景技術の回路モジュールは、図5に示されるように、内部及びその表面に回路配線2a,2b,2c,2d,2e,2fを備えた基板1の一方の主面上に半導体素子やチップ状の電子部品等の部品3が搭載されるとともに、導電ワイヤや、ハンダや導電性接着剤等の接合材からなる接続手段4により図示省略した前記基板の表面の回路配線2に接続されている。
上記部品及び上記接続手段を被覆するように絶縁性樹脂からなる第一層の絶縁層5が形成された後、該絶縁層5を分断するとともに先端が前記基板1に至る切り溝6が形成され、少なくとも該切り溝6に充填されるように前記絶縁層5を被覆する導電性樹脂からなる第二層のシールド層7と、が順次形成され、さらに前記切り溝6に充填された導電性樹脂7bを分割するように分割溝9により分割され、回路モジュール8が得られる。
尚、上記背景技術の回路モジュールの製造方法においては、例えば減圧室中にて導電性樹脂の塗料を塗布したのちに常圧に戻すことにより、基板1上に搭載された部品3を被覆する絶縁層5に該絶縁層5を分断するように形成された切り溝6の内部に前記導電性樹脂の塗料が充填される。
特開2004−172176号公報
しかしながら、上記背景技術の回路モジュールの製造方法においても、前記切り溝の内部に導電性樹脂の塗料を充填する際に、該溝の内部に残存する気体をゼロにすることはできず、前記基板1の切り溝6の底面と前記導電性樹脂からなるシールド層7の縁部の先端との間に空気溜まり6cが生じてしまう。
この状態で前記導電性樹脂が硬化され、前記切り溝に沿って分割されると、前記基板のの端面と前記シールド層の端面とが同一平面上に位置するとともに、該平面上において前記絶縁層を覆うシールド層の縁部の下端とこれに対向する前記切り溝の内面との境界に隙間が生じ、前記シールド層の剥がれ落ちが生じて外部からの電磁界や静電気の影響を受け易くなり回路モジュールの電気的特性が変動しやすいという課題があった。
本発明の目的は、上記課題を解決して、平板状の回路モジュールの端面において絶縁層を覆うシールド層の縁部の下端とこれに対向する切り溝の内面との境界に隙間が生じない回路モジュールの製造方法を提供することにある。
また本発明の目的は、前記シールド層の縁部の剥がれ落ちが防止され、電気的特性の変動が生じにくい回路モジュールを提供することにある。
上記目的を達成するため、本発明の回路モジュールの製造方法は、
(1) 基板上に複数の部品を配置する工程と、前記各部品を被覆する絶縁層を形成する工程と、前記絶縁層を被覆する導電性樹脂からなるシールド層を形成する工程と、前記シールド層が形成された基板を分割する工程と、を有する回路モジュールの製造方法であって、前記絶縁層を被覆するシールド層を形成する前に予め深さ方向の基端部の幅W1に比べて先端部の幅W2が小さい切り溝を少なくとも前記絶縁層に形成し、少なくとも前記切り溝内に充填されるように導電性樹脂を塗布してシールド層を形成した後、前記切り溝の先端部に沿って前記先端部の幅W2より大きく前記き基端部の幅W1より小さい幅W3で切削して前記基板を分割するものである。(・・・以下、第1の課題解決手段と称する。)
また、上記回路モジュールの製造方法の主要な形態の一つは、
(2)前記切り溝が段付溝である。(・・・以下、第2の課題解決手段と称する。)
また、上記回路モジュールの製造方法の形態の一つは、
(3)前記段付溝が異なる複数の切削手段で形成されるものである。(・・・以下、第3の課題解決手段と称する。)
また、上記回路モジュールの製造方法の主要な形態の一つは、
(4)前記切り溝がテーパ付溝である。(・・・以下、第4の課題解決手段と称する。)
上記第1の課題解決手段による作用は次の通りである。すなわち、
前記絶縁層を被覆するシールド層を形成する前に予め深さ方向の基端部の幅W1に比べて先端部の幅W2が小さい切り溝を少なくとも前記絶縁層に形成し、少なくとも前記切り溝内に充填されるように導電性樹脂を塗布してシールド層を形成した後、前記切り溝の先端部に沿って前記先端部の幅W2より大きく前記き基端部の幅W1より小さい幅W3で切削して前記基板を分割する。これにより、前記切り溝に導電性樹脂を充填する際に発生する空気溜まりが切り溝の先端付近に寄せ集められ、切削による分割の際に切り代として取り除かれるため、前記回路モジュールの端面において、前記絶縁層を覆うシールド層の縁部の下端とこれに対向する前記切り溝の内面とが密着している。
上記第2の課題解決手段による作用は次の通りである。すなわち、前記切り溝が段付溝であるので、絶縁層の端面を覆うシールド層の縁部の厚みが厚く形成され、シールド層の剥離が生じにくい。
上記第3の課題解決手段による作用は次の通りである。すなわち、前記段付溝が異なる複数の切削手段で形成されるので、発生する空気溜まりの量に応じて、空気溜まりを収容するための溝の深さを任意に設定することができるとともに、切り溝形成時の基板や搭載部品へのダメージの発生を抑制することができる。
上記第4の課題解決手段による作用は次の通りである。すなわち、前記切り溝がテーパ付溝であるので、空気溜まりの量がばらついた場合であっても分割カット時のブレード厚みを選択することにより前記空気溜まりを確実に除去することができる。
本発明の回路モジュールの製造方法は、シールド層の縁部のはがれ落ちが防止され、回路モジュールの電気的特性の変動が抑制される。
以下、本発明の回路モジュールの製造方法の第1の実施形態について、図1を参照して説明する。図1は本実施形態の回路モジュールの製造方法を説明するための図であり、図1(A)〜図1(E)は、本実施形態の回路モジュールの製造方法の各ステップを示す部分拡大断面図である。
本実施形態の回路モジュールの製造方法は、基板11上に複数の部品13を配置する工程と、前記各部品13を被覆する絶縁層15を形成する工程と、該絶縁層15を被覆する導電性樹脂からなるシールド層17を形成する工程と、前記シールド層17が形成された基板を分割する工程と、を有する回路モジュール18の製造方法であって、
前記絶縁層15を被覆するシールド層17を形成する前に予め深さ方向の基端部16bの幅W1に比べて先端部16aの幅W2が小さい切り溝16を少なくとも前記絶縁層15に形成し、少なくとも前記切り溝16内に充填されるように導電性樹脂を塗布してシールド層17を形成した後、前記切り溝16の先端部16aに沿って前記先端部16aの幅W2より大きく前記基端部16bの幅W1より小さい幅W3で切削して前記基板11を分割するものである。
また、本実施形態においては、前記切り溝16が前記基端部16bの幅W1が前記先端部16aの幅W2よりも広くなっている段付溝として形成されている。
具体的には、上記基板11は、(例えば厚み1mmの)セラミック基板からなり、該基板11に内蔵された配線パターン12a,12cと、該基板11の底面に形成された配線パターン12e及び12fと、これら配線パターン間を接続するスルーホール導体12b及び12dとを備えるとともに、該基板の上面側には図示省略した部品搭載用ランドが形成されている。
まず、図1(A)に示すように、上記基板11の上面側の部品搭載ランド上に半導体素子やチップ状電子部品等からなる部品13を搭載するとともに、導電ワイヤや、ハンダや導電性接着剤等の接合剤からなる接続手段14により前記部品13の電極と前記部品搭載ランドとを導電接続する。
次に、図1(B)に示すように、上記基板11上に搭載された部品13及び前記接続手段14を被覆するように真空印刷法を用いて絶縁性樹脂の塗料を塗布し、硬化して絶縁層15を形成する。
次に、図1(C)に示すように、上記絶縁層15から前記基板11に亘って段付の切り溝16を形成する。このとき、該切り溝16は、前記基板11に切り込む深さ方向の先端部16aの幅W2が前記基端部16bの幅W1よりも小さくなるように、先端に段付の切削ブレードを切削手段に用いて形成する。
次に、図1(D)に示すように、上記切り溝16の内部に導電性樹脂17bが充填されるように上記絶縁層と同様に、真空印刷法を用いて導電性樹脂の塗料を塗布し硬化して、前記絶縁層15を覆うシールド層17を形成する。このとき、前記切り溝16の深さ方向の先端部16aには空気溜まり16cが形成されるものの、該先端部16aを除く切り溝16の内面には前記シールド層17を形成する導電性樹脂17bが密着して、隙間が存在しない。
次に、図1(D)に示すように、前記切り溝16の先端部16aに沿って前記切り溝16の先端部16aの幅W2より大きく該切り溝16の基端部16bの幅W1より小さい幅W3で公知のダイシング装置等の切削手段により切削して前記基板を分割し、図1(E)に示すように、シールド層17の端面と基板11の端面とが同一平面上に位置するとともに、該平面上において前記絶縁層15を覆うシールド層17の縁部17bの下端とこれに対向する前記切り溝16の内面とが密着している(例えば厚み4mmの)回路モジュール18を得る。
次に、本実施形態の回路モジュール18の第1の実施形態について説明する。本実施形態の回路モジュール18は、図1(E)に示されるように、基板11上に複数の部品13が搭載され該各部品13が絶縁層15で被覆され該絶縁層15がシールド層17で被覆された回路モジュール18であって、前記基板11の端面と前記シールド層17の端面とが同一平面上に位置するとともに、該平面上において前記絶縁層15を覆うシールド層17の縁部17bの下端とこれと対向する前記切り溝16の内面とが密着しているので、前記シールド層の縁部の剥がれ落ちが防止され、電気的特性の変動が生じにくいというメリットを有する。
上記基板11としては、セラミック基板、樹脂基板等のうちから用途に応じて適宜選択して用いることができる。
セラミック基板としては、アルミナ基板、その他の高温で焼結するもののほか、所謂LTCC基板を用いることもできる。
樹脂基板としては、ガラス・エポキシ樹脂等が用いられる。
上記配線パターンを内蔵する基板としては、上記セラミック基板と同時焼成可能な金属粉末を含有する導電性ペーストをセラミックグリーンシートの表面に印刷し、積層した後、焼成して得られるセラミック多層配線基板や、表面に銅プリント配線が形成された樹脂基板を積層する等により得られる多層プリント配線基板等から用途に応じて適宜選択して用いることができる。
上記基板11上に搭載される部品13としては、ベアチップその他の半導体素子のほか、コンデンサ、抵抗、コイル等のチップ状電子部品があげられる。
上記絶縁層を形成するための絶縁性樹脂としては、エポキシ樹脂その他の熱硬化性樹脂や紫外線硬化性樹脂等が好ましい。前記基板上への絶縁層の形成は、トランスファモールド法やポッティング法或いは真空印刷法等のモールド法を用いることができる。
上記真空印刷法による前記基板上への絶縁層の形成は、真空(減圧)時と真空(減圧)を開放して大気圧に戻したときの差圧を利用して、前記基板と搭載部品との隙間に存在する気体の体積を減少させることで、前記隙間内への前記絶縁性樹脂の充填率を高める。
上記シールド層を形成するための導電性樹脂としては、上記エポキシ樹脂その他の熱硬化性樹脂にAg粉やCu粉等の導電性金属粉末を混合したものが好ましい。上記絶縁層を覆うシールド層の形成は、トランスファモールド法やポッティング法或いは真空印刷法等のモールド法を用いることができる。
上記真空印刷法による前記切り溝への導電性樹脂の充填は、真空(減圧)時と真空(減圧)を開放して大気圧に戻したときの差圧を利用して、溝の内部に存在する気体の体積を減少させることで、前記溝内への前記導電性樹脂の充填率を高める。
次に、本発明の回路モジュールの製造方法の第2の実施形態について、図2を参照して説明する。図2は本実施形態の回路モジュールの製造方法を説明するための図であり、図2(A)〜図2(F)は、本実施形態の回路モジュールの製造方法の各ステップを示す部分拡大断面図である。
本実施形態の回路モジュールの製造方法は、基板21上に複数の部品23を配置する工程と、前記各部品23を被覆する絶縁層25を形成する工程と、該絶縁層25を被覆する導電性樹脂からなるシールド層27を形成する工程と、前記シールド層27が形成された基板を分割する工程と、を有する回路モジュール28の製造方法であって、
前記絶縁層25を被覆するシールド層27を形成する前に予め深さ方向の基端部26bの幅W1に比べて先端部26aの幅W2が小さい切り溝26を前記絶縁層25から前記基板21に亘って形成し、少なくとも前記切り溝26内に充填されるように導電性樹脂を塗布してシールド層27を形成した後、前記切り溝26の先端部26aに沿って前記先端部26aの幅W2より大きく前記基端部26bの幅W1より小さい幅W3で切削して前記基板21を分割するものである。
また、本実施形態においては、前記切り溝26が前記基端部26bの幅W1が前記先端部26aの幅W2よりも広くなっている段付溝として形成されている。
また、本実施形態においては、前記段付溝の幅W1の基端部26bと幅W2の先端部26aとが異なる複数の切削手段(具体的には厚みW1のダイシングブレードと厚みW2のダイシングブレード)で形成されるものである。
本実施形態が先の第1の実施形態と異なる点は、切り溝26の幅W1の基端部26bが基板21に達するまで切り込まれて、前記絶縁層25の側面が前記シールド層27の縁部27bによって完全に被覆されシールド性の優れたものとなっている。また、本実施形態では、上述したように前記段付溝が異なる複数の切削手段で形成される点にあり、その他の構成及び作用効果は先の第1の実施形態と同様であるため説明を省略する。
本実施形態においては、上記第1の実施形態と同様にして図2(B)に示すように、上記基板21上に搭載された部品23及び前記接続手段24を被覆するように絶縁性樹脂の塗料を塗布し、硬化して絶縁層25を形成する。
次に、図2(C)に示すように、上記絶縁層25から前記基板21に亘って幅W1の等幅の切り溝26を形成する。
次に、図2(D)に示すように、前記幅W1の切り溝26を形成したときに用いた切削ブレードよりも肉薄の切削ブレードを用いて上記切り溝26の深さ方向の先端部にさらに前記基端部26bの幅W1よりも小さい幅W2の切り溝26aを形成する。
次に、図2(E)及び図2(F)に示すように、上記第1の実施形態と同様にして回路モジュール28を得る。
次に、本発明の回路モジュールの製造方法の第3の実施形態について、図3を参照して説明する。図3は本実施形態の回路モジュールの製造方法を説明するための図であり、図3(A)〜図3(E)は、本実施形態の回路モジュールの製造方法の各ステップを示す部分拡大断面図である。
本実施形態の回路モジュールの製造方法は、基板31上に複数の部品33を配置する工程と、前記各部品33を被覆する絶縁層35を形成する工程と、該絶縁層35を被覆する導電性樹脂からなるシールド層37を形成する工程と、前記シールド層37が形成された基板を分割する工程と、を有する回路モジュール38の製造方法であって、
前記絶縁層35を被覆するシールド層37を形成する前に予め深さ方向の基端部36bの幅W1に比べて先端部36aの幅W2が小さい切り溝36を前記絶縁層35から前記基板31に亘って形成し、少なくとも前記切り溝36内に充填されるように導電性樹脂を塗布してシールド層37を形成した後、前記切り溝36の先端部36aに沿って前記先端部36aの幅W2より大きく前記基端部36bの幅W1より小さい幅W3で切削して前記基板31を分割するものである。
また、本実施形態においては、前記切り溝36がテーパ付溝であり、前記切り溝36が前記基端部36bの幅W1が前記先端部36aの幅W2よりも広い所謂テーパ付の溝として形成されている。
本実施形態が先の第1の実施形態と異なる点は、上述したように前記切り溝36がテーパ付溝である点にあり、その他の構成及び作用効果は先の第1の実施形態と同様であるため説明を省略する。
次に、本発明の回路モジュールの製造方法の第4の実施形態について、図4を参照して説明する。図4は本実施形態の回路モジュールの製造方法を説明するための図であり、図4(A)〜図4(E)は、本実施形態の回路モジュールの製造方法の各ステップを示す部分拡大断面図である。
本実施形態の回路モジュールの製造方法は、基板41上に複数の部品43を配置する工程と、前記各部品43を被覆する絶縁層45を形成する工程と、該絶縁層45を被覆する導電性樹脂からなるシールド層47を形成する工程と、前記シールド層47が形成された基板を分割する工程と、を有する回路モジュール48の製造方法であって、
前記絶縁層35を被覆するシールド層47を形成する前に予め深さ方向の基端部46bの幅W1に比べて先端部46aの幅W2が小さい切り溝46を前記絶縁層45に形成し、少なくとも前記切り溝46内に充填されるように導電性樹脂を塗布してシールド層47を形成した後、前記切り溝46の先端部46aに沿って前記先端部46aの幅W2より大きく前記基端部46bの幅W1より小さい幅W3で切削して前記基板41を分割するものである。
本実施形態が先の第1の実施形態と異なる点は、上述したように前記切り溝46が前記絶縁層45のみに形成されている点にあり、その他の構成及び作用効果は先の第1の実施形態と同様であるため説明を省略する。
本発明の回路モジュールの製造方法によれば、特に機能の限定はしていないが、種々の電子装置に適用可能である。例えば、高周波パワーアンプ、電子ボリューム、DC/DCコンバータ、FETスイッチ、無線モジュール、その他の小型・薄型の回路モジュールの製造に好適である。
本発明の回路モジュールの製造方法の第1の実施形態を説明するための要部拡大断面図である。 本発明の回路モジュールの製造方法の第2の実施形態を説明するための要部拡大断面図である。 本発明の回路モジュールの製造方法の第3の実施形態を説明するための要部拡大断面図である。 本発明の回路モジュールの製造方法の第4の実施形態を説明するための要部拡大断面図である。 背景技術の一例を示す断面図である。
符号の説明
11:基板
12:配線パターン
13:部品
14:接続手段
15:絶縁層
16:切り溝
16a:先端部
16b:基端部
17:シールド層
17a:導電性樹脂
17b:導電性樹脂
18:回路モジュール
19:分割溝
21:基板
22:配線パターン
23:部品
24:接続手段
25:絶縁層
26:切り溝
26a:先端部(第2の切り溝)
26b:基端部(第1の切り溝)
27:シールド層
27a:導電性樹脂
27b:導電性樹脂
28:回路モジュール
29:分割溝
31:基板
32:配線パターン
33:部品
34:接続手段
35:絶縁層
36:切り溝
36a:先端部
36b:基端部
37:シールド層
37a:導電性樹脂
37b:導電性樹脂
38:回路モジュール
39:分割溝
41:基板
42:配線パターン
43:部品
44:接続手段
45:絶縁層
46:切り溝
46a:先端部
46b:基端部
47:シールド層
47a:導電性樹脂
47b:導電性樹脂
48:回路モジュール
49:分割溝
W1:切り溝の基端部の幅
W2:切り溝の先端部の幅
W3:分割時の切削溝の幅

Claims (4)

  1. 基板上に複数の部品を配置する工程と、前記各部品を被覆する絶縁層を形成する工程と、前記絶縁層を被覆する導電性樹脂からなるシールド層を形成する工程と、前記シールド層が形成された基板を分割する工程と、を有する回路モジュールの製造方法において、
    前記絶縁層を被覆するシールド層を形成する前に予め深さ方向の基端部の幅W1に比べ
    て先端部の幅W2が小さい切り溝を少なくとも前記絶縁層に形成し、少なくとも前記切り
    溝内に充填されるように導電性樹脂を塗布してシールド層を形成した後、前記切り溝の先
    端部に沿って前記先端部の幅W2より大きく前記基端部の幅W1より小さい幅W3で切削
    して前記基板を分割することを特徴とする回路モジュールの製造方法。
  2. 前記切り溝が段付溝であることを特徴とする請求項1記載の回路モジュールの製造方法。
  3. 前記段付溝が異なる複数の切削手段で形成されることを特徴とする請求項2に記載の回路モジュールの製造方法。
  4. 前記切り溝がテーパ付溝であることを特徴とする請求項1記載の回路モジュールの製造方法。
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