JP5012075B2 - プロセス制御装置 - Google Patents
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Description
この発明によると、制御対象に対する設定値と制御対象の測定値とに基づいて制御器が制御対象を制御するための操作量を生成するとともに、制御対象の測定値に基づいて内部モデル原理を用いて設計された付加制御器が外乱の周期成分のうちの主要周期成分に対する減衰係数を個別に設定することにより、他の周期成分の過度な増大が生じないように、主要周期成分を除去し得る操作量を生成し、これらの操作量に基づいて制御対象が制御される。また、制御対象の測定値の主要周期成分の変動に応じて、付加制御器の制御パラメータが制御パラメータ変更器によって変更される。
また、本発明のプロセス制御装置は、前記制御パラメータ変更器が、前記制御対象の測定値の周波数解析を行う解析部(41)と、前記解析部が行った前記周波数解析の解析結果を記憶する記憶部(42)と、前記記憶部に記憶された前回の解析結果と前記解析部の新たな解析結果とを比較し、前記主要周期成分の変動の有無を判定する判定部(43)と、前記判定部で前記主要周期成分の変動有りと判定された場合に、前記解析部の新たな解析結果に応じて前記付加制御器の制御パラメータを変更する変更部(44)とを備えることを特徴としている。
更に、本発明のプロセス制御装置は、前記制御対象が、シート状製品を製造する製造装置(50)であり、前記製造装置で製造された前記シート状製品の測定結果を用いて、前記シート状製品の幅方向のプロファイルが所定のプロファイルとなるように前記製造装置を制御することを特徴としている。
〈第1実施形態〉
図1は、本発明の第1実施形態によるプロセス制御装置の要部構成を示す図である。図1に示す通り、本実施形態のプロセス制御装置1は、制御器11、プラグイン外乱除去制御器12(付加制御器)、及び1次フィルタ13を備えており、制御対象30の制御を行う。
(H1):A(z−1)、B(z−1)、むだ時間dを既知とする
(H2):外乱発生器15は、複素平面の単位円上に極(分母多項式の根)を持つ
(H3):外乱発生器15の分母多項式の次数nDpは既知とする
(H4):B(q−1)及びS(q−1)は、Dp(q−1)の因子を有しない
次に、本発明の第2実施形態によるプロセス制御装置について説明する。周期性外乱の周期(周波数)が一定であれば、前述したプラグイン外乱除去制御器12が設けられた第1実施形態のプロセス制御装置1により、相当の外乱除去効果が期待できる。しかしながら、実際は、周期性外乱の周波数が常に変動することが予想される。本実施形態のプロセス制御装置は、周期性外乱の周期(周波数)が変動する場合であっても効果的に周期性外乱を除去するものである。
次に、以上説明した本発明の実施形態によるプロセス制御装置を、シート状製品を製造する製造装置の一種である抄紙機に適用した例について説明する。図5は本発明の実施形態によるプロセス制御装置で制御される抄紙機本体の概略斜視図であり、図6は同プロセス制御装置が適用される抄紙機の概略構成図である。尚、このプロセス制御装置は、シート状製品の一種である紙の幅方向のプロファイルが所定のプロファイルとなるように抄紙機を制御するものである。
11 制御器
12 プラグイン外乱除去制御器
30 制御対象
40 制御パラメータ変更器
41 周波数解析部
42 記憶部
43 判定部
44 変更部
50 抄紙機
61 スライスボルト操作端
p 外乱
r 設定値
y 測定値
Claims (3)
- 制御対象の制御を行うプロセス制御装置において、
外乱の周期を特定しない環境下において設計され、前記制御対象に対する設定値と前記制御対象の測定値とを用いて前記制御対象のフィードバック制御を行うための操作量を生成して出力する制御器と、
前記制御対象の測定値を用いて生成する操作量が前記制御器から出力される操作量から減算されるように前記制御器が含まれるフィードバックループに付加され、前記制御器が含まれるフィードバックループに加わる外乱の周期成分のうちの主要周期成分に対する減衰係数を個別に設定することにより、他の周期成分の過度な増大が生じないように、前記主要周期成分を、前記制御対象の測定値を用いて除去するように内部モデル原理を用いて設計された付加制御器と、
前記制御対象の測定値の主要周期成分の変動に応じて、前記付加制御器の制御パラメータを変更する制御パラメータ変更器と
を備えることを特徴とするプロセス制御装置。 - 前記制御パラメータ変更器は、前記制御対象の測定値の周波数解析を行う解析部と、
前記解析部が行った前記周波数解析の解析結果を記憶する記憶部と、
前記記憶部に記憶された前回の解析結果と前記解析部の新たな解析結果とを比較し、前記主要周期成分の変動の有無を判定する判定部と、
前記判定部で前記主要周期成分の変動有りと判定された場合に、前記解析部の新たな解析結果に応じて前記付加制御器の制御パラメータを変更する変更部と
を備えることを特徴とする請求項1記載のプロセス制御装置。 - 前記制御対象は、シート状製品を製造する製造装置であり、
前記製造装置で製造された前記シート状製品の測定結果を用いて、前記シート状製品の幅方向のプロファイルが所定のプロファイルとなるように前記製造装置を制御することを特徴とする請求項1又は請求項2記載のプロセス制御装置。
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