JP4838990B2 - Method for producing carbon nanotube - Google Patents
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本発明は、カーボンナノチューブの作製方法に関し、特に、基板に対して垂直方向に揃った配向性を有する良質のカーボンナノチューブを高速成長せしめるカーボンナノチューブの作製方法に関する。 The present invention relates to a method for producing carbon nanotubes, and more particularly, to a method for producing carbon nanotubes that allows high-quality carbon nanotubes having orientation aligned in a direction perpendicular to a substrate to grow at high speed.
近年、カーボンナノチューブは、電子放出電圧が低くて化学的安全性を有することから、例えば、このカーボンナノチューブを電界電子放出型表示装置(FED:Field Emission Display)の電子放出源に利用することが考えられている。 In recent years, carbon nanotubes have low electron emission voltage and chemical safety. For example, it is considered to use carbon nanotubes as an electron emission source of a field emission display (FED). It has been.
カーボンナノチューブの作製方法としては、例えば、カーボンナノチューブを成長せしめる際に触媒として作用するFeやNiなどの遷移金属を成長面に形成したガラスやシリコン製の基板を用い、反応室に炭素含有の原料ガスを導入し、熱CVD法によってカーボンナノチューブを基板表面に気相成長せしめることが知られている(特許文献1)。このカーボンナノチューブの作製方法では、カーボンナノチューブの成長速度が遅く、生産性を向上させることができないという問題がある。 As a method for producing the carbon nanotube, for example, a glass or silicon substrate on which a transition metal such as Fe or Ni that acts as a catalyst when growing the carbon nanotube is formed on the growth surface is used, and a carbon-containing raw material is used in the reaction chamber. It is known that gas is introduced and carbon nanotubes are vapor-phase grown on the substrate surface by a thermal CVD method (Patent Document 1). This method for producing carbon nanotubes has a problem that the growth rate of carbon nanotubes is slow and productivity cannot be improved.
このような問題を解決するために、シリコン基板表面に所定の膜厚でFeを成膜した基板を用い、この基板を電気炉内に設置し、大気圧であってヘリウムガス雰囲気中で基板を所定温度まで加熱した後、ヘリウムガスの供給量を低下させると同時に、原料ガスであるアセチレンガスを供給することで、カーボンナノチューブを高速成長せしめることが提案されている(非特許文献1)。
しかしながら、上記のようなカーボンナノチューブを高速成長せしめる方法では、カーボンナノチューブの成長初期における成長速度がガスの供給方法に強く依存している。つまり、原料ガスの供給開始やヘリウムガスの供給停止のタイミングが変わると、成長させたカーボンナノチューブの長さや直径などが変化する。この場合、長さや直径が揃ったカーボンナノチューブを再現性よく成長せしめることは困難である。 However, in the method for growing carbon nanotubes at a high speed as described above, the growth rate at the initial growth stage of the carbon nanotubes strongly depends on the gas supply method. That is, when the timing of starting the supply of the source gas or stopping the supply of the helium gas changes, the length and diameter of the grown carbon nanotubes change. In this case, it is difficult to grow carbon nanotubes with uniform length and diameter with good reproducibility.
そこで、上記点に鑑み、本発明の課題は、長さや直径が揃ったカーボンナノチューブを再現性よく高速成長せしめることができるようにしたカーボンナノチューブの作製方法を提供することにある。 Therefore, in view of the above points, an object of the present invention is to provide a method for producing carbon nanotubes, which enables high-speed growth of carbon nanotubes having a uniform length and diameter with high reproducibility.
上記課題を解決するために、請求項1記載のカーボンナノチューブの作製方法は、反応室に炭素含有の原料ガスを導入し、熱CVD法によってカーボンナノチューブを基板表面に気相成長させる際に、この原料ガスの存在下で、カーボンナノチューブが成長し得る成長温度まで赤外線イメージ炉を用いて5℃/sec以上の基板昇温速度で基板を加熱して保持することで、基板表面にカーボンナノチューブを成長せしめることを特徴とする。
In order to solve the above-mentioned problem, the carbon nanotube manufacturing method according to
本発明によれば、反応室内に基板を設置した後、この反応室に原料ガスを導入しつつ、赤外線イメージ炉を用いて5℃/sec以上の基板昇温速度で基板を加熱する。基板がカーボンナノチューブが成長し得る成長温度に到達するとその状態で保持する。これにより、基板表面に、この基板に対して垂直方向に揃った配向性を有する良質のカーボンナノチューブが、例えば5μm/sec以上の速度で高速成長する。この場合、原料ガスの存在下で加熱することとしたため、原料ガスなどの供給方法に依存せず、再現性よくカーボンナノチューブを高速成長せしめることができる。基板昇温速度を5℃/sec以上とすることで、基板表面にアモルファスカーボンが堆積するのを防ぐことができる。 According to the present invention, after the substrate was placed in a reaction chamber, while introducing a material gas into the reaction chamber, the pressurized heat the substrate at 5 ° C. / sec or more substrate heating rate using an infrared image furnace. When the substrate reaches a growth temperature at which carbon nanotubes can grow, the substrate is held in that state. As a result, high-quality carbon nanotubes having an orientation aligned in the direction perpendicular to the substrate are grown on the substrate surface at a speed of, for example, 5 μm / sec or more. In this case, since it was decided to pressurized heat in the presence of a raw material gas, not depending on the supply method such as the material gas, a good reproducibility of carbon nanotubes can be allowed to fast growth. By setting the substrate heating rate to 5 ° C./sec or more, it is possible to prevent amorphous carbon from being deposited on the substrate surface.
また、請求項2記載のカーボンナノチューブの作製方法は、反応室に炭素含有の原料ガスを導入し、熱CVD法によってカーボンナノチューブを基板表面に気相成長させる際に、この原料ガスの存在下で、前記原料ガスが分解しない温度まで基板を加熱した後、カーボンナノチューブが成長し得る成長温度まで赤外線イメージ炉を用いて5℃/sec以上の基板昇温速度で基板を加熱して所定時間保持することで、基板表面にカーボンナノチューブを成長せしめることを特徴とする。これにより、基板を加熱する装置の能力上、カーボンナノチューブが成長し得る成長温度まで基板を急速に加熱できない場合であっても、二段階で昇温することで再現性よくカーボンナノチューブを高速成長せしめることができる。 According to a second aspect of the present invention, there is provided a carbon nanotube production method in which a carbon-containing source gas is introduced into a reaction chamber, and when carbon nanotubes are vapor-phase grown on a substrate surface by a thermal CVD method, , after said raw material gas and the substrate was heated to a temperature that does not decompose, for a predetermined time a substrate heated pressurized at 5 ° C. / sec or more substrate heating rate using an infrared image furnace to the growth temperature of carbon nanotubes can grow Thus, carbon nanotubes are grown on the substrate surface. As a result, even if the substrate cannot be rapidly heated to the growth temperature at which the carbon nanotubes can grow due to the ability of the apparatus to heat the substrate, the carbon nanotubes can be grown at high speed with high reproducibility by raising the temperature in two steps. be able to.
前記原料ガスとして、炭化水素またはアルコールを用いればよい。 A hydrocarbon or alcohol may be used as the source gas.
また、前記原料ガスに、H2、N2若しくは希ガスまたはこれらの混合ガスを混合し、原料ガスを希釈するようにすれば、カーボンナノチューブの成長の際にアモルファスカーボンが析出すること、また、反応管内にすすが付くことが防止できてよい。 Further, if H 2 , N 2 or a rare gas or a mixed gas thereof is mixed with the raw material gas to dilute the raw material gas, amorphous carbon is precipitated during the growth of the carbon nanotubes, It may be possible to prevent soot from sticking into the reaction tube.
前記基板として、カーボンナノチューブの成長面に触媒として作用するFeを積層したシリコン基板、または、カーボンナノチューブの成長面に熱酸化SiO2膜及び触媒として作用するFeを順次積層したシリコン基板を用いることが好ましい。 As the substrate, a silicon substrate in which Fe acting as a catalyst is laminated on a carbon nanotube growth surface, or a silicon substrate in which a thermally oxidized SiO 2 film and Fe acting as a catalyst are sequentially laminated on a carbon nanotube growth surface is used. preferable.
反応室内の圧力が380〜760Torrの範囲に保持されるようにするのがよい。圧力が低すぎると、カーボンナノチューブの成長速度が遅く、また、圧力が高すぎると、アモルファスカーボンが析出し易くなる。 The pressure in the reaction chamber is preferably maintained in the range of 380 to 760 Torr. If the pressure is too low, the growth rate of the carbon nanotubes is slow, and if the pressure is too high, amorphous carbon tends to precipitate.
また、基板を急速に加熱するために、前記反応室として、赤外線イメージ炉を用いればよい。 In order to heat the substrate rapidly, an infrared image furnace may be used as the reaction chamber.
カーボンナノチューブの成長速度が5μm/sec以上であることが好ましい。 The growth rate of the carbon nanotube is preferably 5 μm / sec or more.
以上説明したように、本発明のカーボンナノチューブの作製方法は、長さや直径が揃ったカーボンナノチューブを再現性よく高速成長せしめることができるという効果を奏する。 As described above, the method for producing carbon nanotubes of the present invention has an effect that carbon nanotubes having uniform lengths and diameters can be grown at high speed with good reproducibility.
図1及び図2を参照して説明すれば、1は、本発明のカーボンナノチューブの作製方法を実施する赤外線イメージ炉である。赤外線イメージ炉1は、ロータリーポンプなどの真空排気手段(図示せず)が接続された金属製の炉体11を有し、この炉体11は、冷却手段をそれぞれ有する上下一対の上炉体11aと下炉体11bとから構成されている。上炉体11a及び下炉体11bの相互に向かい合う面には、相互に重ね合わせたときに略円筒形状の空間が形成されるように断面略楕円形状のくぼみ部12a、12bがそれぞれ形成されている。
Referring to FIGS. 1 and 2,
各くぼみ部12a、12bの曲率は、後述する赤外線ランプからの光が基板に集光するように設定され、その外表面には、光反射率を高めるために、例えば金の反射層Rが形成されている。各くぼみ部12a、12bによって区画された空間内には、反応室である例えば透明な石英製の反応管13が配置され、反応管13内には、基板Sの載置を可能とする基板ホルダー14が設けられている。
The curvature of each
くぼみ部12aと反応管13との間には、反応管13の外周に沿って発熱体である複数本の赤外線ランプ15が設けられている。この赤外線ランプ15は、例えば透明な石英管にタングステンフィラメントを封入した棒状のものであり、放射波長は約1.15μmにピークを有する。この赤外線イメージ炉1によって、基板ホルダー14に載置された基板Sを高速高温加熱及び高速冷却することができる。
A plurality of
また、熱CVD法によってカーボンナノチューブを基板S表面に気相成長させる際に、反応管13に炭素含有の原料ガスやこの原料ガスを希釈する希釈ガスが導入できるように、例えばマスフローコントローラを設けたガス導入手段(図示せず)が炉体11に設けられている。炭素含有の原料ガスとしては、炭化水素またはアルコールが用いられる。原料ガスに混合される希釈ガスとしては、H2、N2ガス若しくはHe、Arなどの希ガスまたはこれらの混合ガスが用いられる。希釈ガスを用いるのは、原料ガスの濃度が高いと、成長の際にアモルファスカーボンが析出し、また、反応管13内にすすが付くため、これらを防止するためである。
Also, for example, a mass flow controller is provided so that a carbon-containing source gas or a dilution gas for diluting the source gas can be introduced into the
基板ホルダー14に載置される基板Sとしては、カーボンナノチューブの成長面に触媒として作用するFeを、例えばEB蒸着法によって成膜したシリコン基板、または、カーボンナノチューブの成長面に熱酸化SiO2膜及び触媒として作用するFeを順次積層したシリコン基板を用いる。
As the substrate S placed on the
そして、本発明のカーボンナノチューブの作製方法では、先ず、反応管13内の基板ホルダー14に上記基板Sを載置した後、真空排気手段を作動して所定圧力まで一旦真空排気する。次いで、原料ガスと希釈ガスとをそれぞれ導入し、原料ガスの存在下で赤外線ランプ15を作動させて基板Sを急速加熱する。この場合、原料ガス及び希釈ガスの流量は、反応管の容積や断面形状により異なるが、マスフローコントローラの作動を制御して基板Sの周辺に各ガスが滞留しない程度、好ましくは、100〜1000cc/minの範囲になるように設定する。
In the carbon nanotube production method of the present invention, first, the substrate S is placed on the
その際、反応管13内の圧力は、真空排気手段の作動を制御して380〜760Torrの範囲になるように設定することが好ましい。圧力が低すぎると、カーボンナノチューブの成長速度が遅く、また、圧力が高すぎると、アモルファスカーボンが析出し易くなる。
At that time, the pressure in the
カーボンナノチューブが成長し得る成長温度は、分解温度の低いアルコールを原料ガスとした場合、400〜600℃の範囲であり、分解温度の高い炭化水素を原料ガスとした場合、600〜850℃とする。温度が低いと、カーボンナノチューブの成長速度が遅く、また、温度が高いと、アモルファスカーボンが多く析出して反応管にすすが付着してしまう。そして、これらの成長温度まで、5℃/sec以上の基板昇温速度で基板Sを急速加熱し、所定時間保持する。5℃/secより遅い速度では、基板表面にアモルファスカーボンが堆積してしまう。 The growth temperature at which carbon nanotubes can grow is in the range of 400 to 600 ° C. when an alcohol having a low decomposition temperature is used as a raw material gas, and 600 to 850 ° C. when a hydrocarbon having a high decomposition temperature is used as a raw material gas. . When the temperature is low, the growth rate of the carbon nanotubes is slow, and when the temperature is high, a large amount of amorphous carbon precipitates and soot adheres to the reaction tube. Then, the substrate S is rapidly heated to these growth temperatures at a substrate heating rate of 5 ° C./sec or more, and held for a predetermined time. At a rate slower than 5 ° C./sec, amorphous carbon is deposited on the substrate surface.
これにより、基板S表面に、この基板Sに対して垂直方向に揃った配向性を有する良質のカーボンナノチューブが、例えば5μm/sec以上の速度で高速成長する。この場合、原料ガスの存在下で急速加熱することとしたため、原料ガスなどの供給方法に依存せず、再現性よくカーボンナノチューブを高速成長せしめることができる。 As a result, high-quality carbon nanotubes having orientation aligned in the direction perpendicular to the substrate S are grown on the surface of the substrate S at a speed of, for example, 5 μm / sec or more. In this case, since the rapid heating is performed in the presence of the source gas, the carbon nanotubes can be grown at high speed with high reproducibility without depending on the supply method of the source gas.
尚、本実施の形態では、赤外線イメージ炉1を用いたものについて説明したが、これに限定されるものではなく、基板Sを急速に加熱し得るものであればよい。
In the present embodiment, the
また、本実施の形態では、基板Sを常温からカーボンナノチューブが成長し得る成長温度まで急速加熱するものついて説明したが、基板を加熱する装置の能力上、カーボンナノチューブが成長し得る成長温度まで基板Sを急速に加熱できない場合、原料ガスが分解しない温度まで基板Sを加熱した後、カーボンナノチューブが成長し得る成長温度まで、所定の基板昇温速度で基板Sを急速に加熱して保持するようにしてもよい。 In this embodiment, the substrate S is rapidly heated from room temperature to a growth temperature at which carbon nanotubes can be grown. However, the substrate is heated to a growth temperature at which carbon nanotubes can be grown due to the ability of the apparatus for heating the substrate. When S cannot be heated rapidly, the substrate S is heated to a temperature at which the source gas is not decomposed, and then heated to a growth temperature at which the carbon nanotubes can grow to be rapidly heated and held at a predetermined substrate heating rate. It may be.
本実施例では、基板Sとして、基板S表面にEB蒸着法により5nmの膜厚でFeを成膜したSi(100)を用い、図1及び図2に示す赤外線イメージ炉1を用いてカーボンナノチューブを触媒として作用するFe膜上に成長せしめた。
In this embodiment, Si (100) in which Fe is deposited on the surface of the substrate S by an EB vapor deposition method to a thickness of 5 nm is used as the substrate S, and the carbon nanotube is used by using the
上記基板Sを基板ホルダー14に載置した後、真空排気手段を作動して反応管13内の圧力が8×10−2Torrに到達するまで真空排気した。次いで、上記圧力に到達すると、ガス導入手段を介して原料ガス及び希釈ガスを反応管内に導入した。この場合、原料ガスとしてアセチレンを用い、100cc/minの流量に設定すると共に、希釈ガスとしてN2を用い、900cc/minの流量に設定し、反応管13内の圧力が760Torrに保持されるようにした。
After placing the substrate S on the
この原料ガスの存在下で、赤外線ランプ15を作動して、上記基板Sを20℃から700℃まで60secで昇温させた。次いで、基板S温度が700℃に到達すると、この状態で1sec間保持した。その後、真空排気しつつ基板S温度を降温させた。
(比較例1)
In the presence of this source gas, the
(Comparative Example 1)
本比較例1では、上記実施例1と同じ基板Sを用い、同条件で同一の原料ガス及び希釈ガスを反応管13内に導入した。この原料ガスの存在下で、赤外線ランプ15を作動して、上記基板Sを20℃から700℃まで600secで昇温させた。次いで、基板S温度が700℃に到達すると、この状態で1sec間保持した。その後、真空排気しつつ基板S温度を降温させた。
In this Comparative Example 1, the same substrate S as in Example 1 was used, and the same source gas and dilution gas were introduced into the
図3は、上記実施例1の条件でカーボンナノチューブを成長せしめた場合の断面に対するSEM写真である。図4は、上記比較例1の条件でカーボンナノチューブを成長せしめた場合の断面に対するSEM写真である。これらによれば、比較例1では、基板昇温時間を長くしたことで、基板S表面にアモルファスカーボンが堆積してしまい、カーボンナノチューブは成長しなかった。それに対して、基板Sに対して垂直方向に揃った配向性を有する良質のカーボンナノチューブが20μm程度成長している。これにより、10μm/sec以上の高速でカーボンナノチューブを成長させることができたことが判る。 FIG. 3 is a SEM photograph of a cross section when carbon nanotubes are grown under the conditions of Example 1 above. FIG. 4 is an SEM photograph of a cross section when carbon nanotubes are grown under the conditions of Comparative Example 1 described above. According to these, in Comparative Example 1, by increasing the substrate heating time, amorphous carbon was deposited on the surface of the substrate S, and carbon nanotubes did not grow. On the other hand, high-quality carbon nanotubes having an alignment aligned in the vertical direction with respect to the substrate S are grown by about 20 μm. This shows that the carbon nanotubes could be grown at a high speed of 10 μm / sec or higher.
本実施例では、基板Sとして、基板S表面にEB蒸着法により5nmの膜厚でFeを成膜したSi(100)を用い、図1及び図2に示す赤外線イメージ炉1を用いてカーボンナノチューブを触媒として作用するFe膜上に成長せしめた。
In this embodiment, Si (100) in which Fe is deposited on the surface of the substrate S by an EB vapor deposition method to a thickness of 5 nm is used as the substrate S, and the carbon nanotube is used by using the
先ず、上記基板Sを基板ホルダー14に載置した後、真空排気手段を作動して反応管13内の圧力が8×10−2Torrに到達するまで真空排気した。次いで、上記圧力に到達すると、ガス導入手段を介して原料ガス及び希釈ガスを反応管13内に導入した。この場合、原料ガスとしてアセチレンを用い、100cc/minの流量に設定すると共に、希釈ガスとしてN2を用い、900cc/minの流量に設定し、反応管内の圧力が760Torrに保持されるようにした。
First, after placing the substrate S on the
この原料ガスの存在下で、赤外線ランプ15を作動して、上記基板Sを20℃からアセチレンが分解しない400℃まで30secで一旦昇温させた。次いで、赤外線ランプ15の作動を制御して基板昇温速度を変更して400℃から750℃まで10secで昇温させた。次いで、基板S温度が750℃に到達すると、この状態で10sec間保持した。その後、真空排気しつつ基板S温度を降温させた。
In the presence of this source gas, the
図5は、上記実施例1の条件でカーボンナノチューブを成長せしめた場合の断面に対するSEM写真である。これによれば、基板Sに対して垂直方向に揃った配向性を有する良質のカーボンナノチューブが100μm程度成長している。これにより、10μm/sec程度の高速でカーボンナノチューブを成長させることができたことが判る。 FIG. 5 is an SEM photograph of a cross section when carbon nanotubes are grown under the conditions of Example 1 above. According to this, good-quality carbon nanotubes having an orientation aligned in the vertical direction with respect to the substrate S are grown by about 100 μm. This shows that the carbon nanotubes could be grown at a high speed of about 10 μm / sec.
1 赤外線イメージ炉
11a、11b 炉体
12a、12b くぼみ部
13 反応管
14 基板ホルダー
15 赤外線ランプ
S 基板
R 反射膜
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Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004243755A JP4838990B2 (en) | 2004-08-24 | 2004-08-24 | Method for producing carbon nanotube |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2004243755A JP4838990B2 (en) | 2004-08-24 | 2004-08-24 | Method for producing carbon nanotube |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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ID=36109684
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
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Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4838990B2 (en) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5085901B2 (en) * | 2006-08-22 | 2012-11-28 | 株式会社アルバック | Carbon nanotube production equipment |
JP5141944B2 (en) * | 2007-03-02 | 2013-02-13 | 株式会社アルバック | Thermal CVD apparatus and film forming method |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001208295A (en) * | 2000-01-28 | 2001-08-03 | Shimadzu Corp | Hydrogen storage unit |
JP4703844B2 (en) * | 2000-12-14 | 2011-06-15 | 株式会社アルバック | Thermal CVD equipment for forming graphite nanofiber thin films |
JP2006021957A (en) * | 2004-07-08 | 2006-01-26 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Manufacturing method of carbon nanotube |
-
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- 2004-08-24 JP JP2004243755A patent/JP4838990B2/en active Active
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP2006062882A (en) | 2006-03-09 |
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