JP4737392B2 - 基板検査装置 - Google Patents
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Description
反りがあるウエハの受け渡しの際ウエハが無いと判断された場合、受け渡しのリトライを所定回数(1回又は複数回)だけ行う。このとき、真空圧のしきい値や真空圧等の条件を変更してもよい。
搬送アーム2Bに同心円状の吸着エリア(隣り合うリング状突起部3b間に形成されるのリング状溝)3cが設けられている場合(図2参照)、ウエハの反りが凸状であるときには中央部の吸着エリア3cの真空圧を高くし、その反りが凹状であるときには外側の吸着エリア3cの真空圧を高くする。
図3はこの発明の第2実施形態に係る基板検査装置のブロック図であり、第1実施形態と共通する部分には同一符号を付してその説明を省略する。
Claims (3)
- 検査対象の基板を収納する基板収納部と、
前記基板を真空吸着して前記基板収納部から検査ステージに搬送する搬送手段と、
前記基板を吸着する部分の真空度と所定のしきい値とに基づいて前記基板の有無を判定する判定手段と、
前記基板の反りに関わる情報を登録する登録手段と、
前記登録手段に登録された反りに関わる情報に基づいて前記基板を吸着する部分と前記基板との離れ具合が大きいときには前記しきい値を下げて前記基板の有無を確認する制御を行う制御手段と
を備えていることを特徴とする基板検査装置。 - 前記制御手段は、反りに関わる情報に基づいて前記基板を吸着する部分と前記基板との離れ具合が大きいときには前記基板を前記搬送する速度を下げることを特徴とする請求項1記載の基板検査装置。
- 前記制御手段からの指示に基づいて前記搬送手段の基板吸着部の中心部の吸着真空圧とその外周部の吸着真空圧とが独立に制御され、
前記基板の搬送条件は前記真空圧の分布であり前記反りにより前記基板を吸着する部分と前記基板との離れ具合が大きいところの前記真空圧を上げることを特徴とする請求項1又は2記載の基板検査装置。
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Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02116142A (ja) * | 1988-10-26 | 1990-04-27 | Kazuo Kimata | シリコンウエハーの吸着方法 |
JPH06151563A (ja) * | 1992-11-06 | 1994-05-31 | Kokusai Electric Co Ltd | ウエーハ移載方式 |
JPH06236910A (ja) * | 1993-02-08 | 1994-08-23 | Tokyo Electron Yamanashi Kk | 検査装置 |
JPH07169819A (ja) * | 1993-12-13 | 1995-07-04 | Kokusai Electric Co Ltd | 基板移載方法 |
JPH09246348A (ja) * | 1996-03-06 | 1997-09-19 | Nikon Corp | 基板搬送装置 |
JPH09260261A (ja) * | 1996-03-27 | 1997-10-03 | Nikon Corp | リソグラフィー装置 |
JPH09306973A (ja) * | 1996-05-20 | 1997-11-28 | Nikon Corp | 基板吸着装置 |
JPH11124231A (ja) * | 1997-10-22 | 1999-05-11 | Nikon Corp | 基板搬送装置及び位置決め装置 |
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Patent Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02116142A (ja) * | 1988-10-26 | 1990-04-27 | Kazuo Kimata | シリコンウエハーの吸着方法 |
JPH06151563A (ja) * | 1992-11-06 | 1994-05-31 | Kokusai Electric Co Ltd | ウエーハ移載方式 |
JPH06236910A (ja) * | 1993-02-08 | 1994-08-23 | Tokyo Electron Yamanashi Kk | 検査装置 |
JPH07169819A (ja) * | 1993-12-13 | 1995-07-04 | Kokusai Electric Co Ltd | 基板移載方法 |
JPH09246348A (ja) * | 1996-03-06 | 1997-09-19 | Nikon Corp | 基板搬送装置 |
JPH09260261A (ja) * | 1996-03-27 | 1997-10-03 | Nikon Corp | リソグラフィー装置 |
JPH09306973A (ja) * | 1996-05-20 | 1997-11-28 | Nikon Corp | 基板吸着装置 |
JPH11124231A (ja) * | 1997-10-22 | 1999-05-11 | Nikon Corp | 基板搬送装置及び位置決め装置 |
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