JP4691391B2 - 電子顕微鏡 - Google Patents
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Description
(1)回転機構の回転中心座標(x0,y0)の検出:上述したように、回転機構の回転中心3の座標(x0,y0)は荷電粒子線の光学系の光軸と一致している保証は無い。したがって、試料ホルダー10の試料保持部2に試料を載置した後、試料保持部2に対して適当に回転操作を行って回転機構の回転中心3の座標(x0,y0)を求める。例えば、試料4がセットされたときの試料の画像内に任意に2点A,Bを定め、θだけ回転させたときの試料の画像内の同じ2点をA’,B’とするとき、線分AA’と線分BB’の垂直二等分線の交差する位置を見つければ、この点が回転中心3の座標(x0,y0)となるので、操作者は試料4がセットされたときの試料の画像内の任意の2点A,Bをカーソルを移動させるなどして指定して画面に表示し、この点の座標をコンピュータに読み込ませる。次いで、試料保持部2をθだけ回転させた後、先に指定した試料の画像内の任意の2点A,Bの回転後の位置点A’,B’を指定して画面に表示し、これの座標をコンピュータに読み込ませる。このようにして得られた4点の座標データからコンピュータは回転中心3の座標(x0,y0)を計算できる。表示した各点や線分AA’などの補助線は必要があれば画面上に図示すればよいし、不要となれば消去すればよい。
(2)光軸(荷電粒子線の透過点)に一致している観察もしくは加工点(x1,y1)の検出:表示されたモニター上の試料像が研究もしくは作業目的に応じて、観察・加工を行ないたい場所であるとき、位置検出器7’,8’が与える位置信号が観察もしくは加工点(x1,y1)となる。
(3)回転角θの入力、もしくは、実際に回転した後の回転角θの検出:駆動装置9に意図する試料保持部2の回転角θを与える。または、回転角検出器9’の信号を利用して動作後の回転角θを検出すればよい。
(4)上記、式(1)、式(2)による補正移動量をコンピュータにより演算する。
(5)上記(4)に基づいた結果によりコンピュータから駆動装置7,8に信号を送って補正のための移動を行なう。この結果、回転後の位置(x2,y2)が当初の光軸の位置(x1,y1)に一致する。
(6)上記回転・補正移動後の点(x2,y2)を新たな光軸の位置(x1,y1)とみなす。
図5は試料ホルダーの回転中心の決定のためのフローを示す図である。図5において、ステップ501,503および505は、上述した手順(1)から(3)を実行する処理である。ここでは、試料ホルダーの回転中心を求める処理であるが、全てのホルダーについて回転中心位置(x0,y0)を求めることが必要である。そのため、リンクを設定して連動させる場合には、事前に全てのホルダーについて回転中心を求める処理を纏めて実行する。この場合、ホルダーごとに、試料像と同様に、モニター画面420に現れる各ホルダーの像に着目した2点を画面に表示してコンピュータに入力、回転操作、回転後の像に着目した2点を画面に表示してコンピュータに入力することを繰り返すことになる。なお、この段階では、連動は解除しておくことが必要である。
所定の電子回折波を狙って結像を行なう場合、通常は対物絞りのみを回転させればよいが、例えば、観察面60に置く検出器(フィルムなど)側に方向依存性がある場合には、試料形状をそれに合わせなければならないため、試料、絞りの双方を連動させなければならない可能性が生じる。
試料、対物絞り、制限視野絞りが、光軸上に挿入済みであるとともに、上述したように、試料ホルダー10の回転中心(x0,y0)、対物絞りホルダー20の回転中心(x0,y0)および制限視野絞りホルダー30の回転中心(x0,y0)が求められているとする。ここで、回転中心(x0,y0)の表現は図1、図2で試料ホルダー10について説明しただけであるが、その他のホルダーについても、同じ座標表現が適用できるので、同じ表現とする。他の座標についても同様である。以下、図6を参照しながら説明する。連動に関係しない、例えば電子線バイプリズム等は、以下の作業を妨げない適切な位置に配されているものとする。
(1)操作者は画像モニター420の画像を見ながら、試料ホルダー10をXY平面で移動させて観察したい場所、すなわち、観察に供する試料の位置(x1,y1)を定め、例えば、エンターキーを押して、試料の位置(x1,y1)をコンピュータに入力する(ステップ601)。
(2)操作者は観察記録する倍率を定め、入力手段320を介して制御用コンピュータ300に入力する(ステップ603)。これにて光学系各レンズの使用条件(倍率、焦点距離等)が定まる。
(3)用いる電子線の波長と対物レンズの焦点距離により、対物絞りホルダー20の回転による位置ずれ補正等の移動距離が定まる(ステップ605)。
(4)ステップ603にて対物レンズの倍率が定まっているので、試料ホルダーの水平移動距離に対する、制限視野絞りホルダーの移動距離の比が定まる(ステップ607)。なお、ステップ607と同じ結果はレンズの倍率からではなく、機械的に求めることも可能である。すなわち、操作者が画像モニター320を見ながら、試料像内のある1点を視野中の定まった距離を動かすのに要した試料ホルダー10の機械的な移動量と、操作者が画像モニター320を見ながら、制限視野絞りの像上に定めた任意の1点が、視野内の同一距離を移動するのに要した制限視野絞りホルダー30の機械的な移動量より、制御用コンピュータ300が各座標系の相対的な倍率を求める。但し、この場合、各ホルダーの微動機構は等価であると仮定している。
(5)操作者が画像モニター320を見ながら、試料形状を確認し、適切な形状(方向)の制限視野絞りを選定(ステップ608)の上、制限視野絞りを回転および水平移動させ、試料形状に合わせこむ(ステップ609)。これにて、制限視野絞りの水平位置(x1,y1)が定まる。
(6)操作者は回折像観察に切り替え(ステップ614)、画像モニター420を見ながら、電子回折像にて方位を確認し、適切な形状(方向)の対物絞りを選定(ステップ610)の上、電子回折像方位に合わせて対物絞りを回転および、水平移動させ、電子回折像に合わせ込む(ステップ611)。これにて、対物絞りの水平位置(x1,y1)が定まる。
モニター画面420を見ながら、操作者は新しい観察場所を求めて、試料ホルダー10をX,Y平面で移動させて、新しい観察に供する試料の位置(x1,y1)を定める(ステップ601)。よほど大きく観察倍率を変更しない限り、対物レンズの倍率は変更する必要がない(ステップ607は不要)。試料の形状に合わせて、制限視野絞りのサイズおよび/あるいは形状を変更(ステップ608)し、回転・移動により合わせ込み(ステップ609)をやり直す。単結晶試料の場合、試料の結晶方位は観察場所によらないので、観察場所が変わっても対物絞りの変更は不要(上記[I]単結晶試料の場合の手順(6)の操作(ステップ610,611))は不要である。以降ステップ613,615を行なって作業を完了する。
上述した単結晶試料に代えて、多結晶試料を観察する場合の手順は、図6を参照しながら説明したのと同様である。ここでは、観察している多結晶試料が、上述した手順で観察された後、観察場所を変更する場合について述べる。
3段電子線バイプリズム干渉計の場合に関して、図7を参照して説明する。試料は、あらかじめ挿入してあり、モニター画面420には、電子顕微鏡の観察画面としてのおよその観察位置の試料像が表示されていて、倍率は確定している状態から始めるものとする。また、各々の電子線バイプリズムの回転補正は、回転中心が求まれば、実行可能な状態にあるとする。なお、説明しない対物絞り等が以下の作業を妨げない位置に配されているのは、上述の(リンク1)の場合と同様である。
3つの電子線バイプリズムは同等の状態(triplicate)で、電子線への偏向特性、フィラメント電極の太さ、微動機構の初期設定などはすべて同じとする。
操作者は、フィラメント電極の太さが既知である場合は、ステップ707の前の段階で、これをコンピュータに入力する。コンピュータは、ステップ709の処理で、各々の太さが異なるが、各々のフィラメントの影の像のサイズ(径)より、上中下3段の電子線バイプリズム各々の水平移動距離の相対比を求める。ステップ711以下の処理は図7の通りである。
フィラメント電極の太さが未知で各々の太さが異なる場合には、使用する電子線バイプリズムホルダーの微動機構の初期設定がすべて同じと仮定し、操作者は、ステップ707の前の段階で、モニター画面420を見ながら、各々の電子線バイプリズムホルダーを移動させ、視野中の一定距離を移動するのに要した電子線バイプリズムホルダーの機械的な移動量(操作量)をコンピュータに入力する。コンピュータは、ステップ709の処理で、この機械的な移動量(操作量)より上中下3段の電子線バイプリズム各々の水平移動距離の相対比を求める。基本的に制限視野絞りに行なった処理(手順[I]単結晶試料の場合の(4))と同じ方法である。ステップ711以下の処理は図7の通りである。
試料に対して回転操作を行ないながら、3段電子線バイプリズム干渉計による観察を行なう場合には、上述のリンク1、およびリンク2の両方を立ち上げ、それぞれを用いなければならない。もしくは両方を1つのリンクとしてまとめて取り扱わねばならない。すなわち、操作者は図6および図7に示す処理を実行して観察箇所を定め、干渉計の条件を定めた後に、ステップ613およびステップ721のリンクの設定を1つのリンクとしてコンピュータに入力する。
Claims (9)
- 電子顕微鏡であって、
電子線源、
該電子線源から放出される電子線が照射光学系を介して形成する光源、
試料を保持し該試料へ該光源から電子線を照射するための試料ホルダー、
該試料ホルダーの後段に設けられる対物レンズ、
該対物レンズの後段に設けられる対物絞り、
該対物絞りの後段に設けられる第1の電子線バイプリズム、
該第1の電子線バイプリズムの後段に設けられる拡大レンズ、
該拡大レンズの後段に設けられる第2の電子線バイプリズム、
該第2の電子線バイプリズムの後段に配される拡大レンズ系、
該拡大レンズ系の最終段に設けられる観察面、
該観察面を観察もしくは記録するための機構、
前記第1、第2の電子線バイプリズムそれぞれが前記電子顕微鏡の光学系の光軸に垂直なXY平面内で移動可能に保持されるとともに、前記XY平面内もしくは傾いた平面内に於いて回転可能に保持され、前記第1、第2の電子線バイプリズムそれぞれの位置する前記XY平面内でX方向、Y方向に独立して移動させる駆動装置、
前記XY平面内でX方向、Y方向の位置を検出する位置検出器、及び
前記第1、第2の前記電子線バイプリズムそれぞれを独立して回転させる回転機構を備え、
前記第1、第2の電子線バイプリズムそれぞれにおいて、前記回転機構により電子線バイプリズムを回転させた角度θに応じて、前記駆動装置により当該電子線バイプリズムを前記XY平面内でX方向、Y方向に独立して移動させることにより、当該電子線バイプリズムの回転に伴う、当該電子線バイプリズムに対する前記光学系の光軸位置のずれの補正をそれぞれ行うと共に、
前記第1、第2の電子線バイプリズムのいずれか一方の、前記角度θの回転に伴う前記光学系の光軸位置からのずれの補正と連動して、他方の前記電子線バイプリズムが前記角度θだけ回転し、当該回転に伴う前記光学系の光軸位置からのずれの補正を行うことを特徴とする電子顕微鏡。 - 前記第1、第2の電子線バイプリズムは、前記回転角θを検出する回転検出器をそれぞれ別個に備える、
ことを特徴とする請求項1に記載の電子顕微鏡。 - 前記第1、第2の電子線バイプリズムのいずれか一方の、前記角度θの回転に伴う前記光学系の光軸位置からのずれの補正が、
当該電子線バイプリズムの前記回転機構の回転中心座標の検出、当該電子線バイプリズムに対する前記光学系の光軸位置の検出、及び
当該電子線バイプリズムの回転角度の入力およびそれによる回転動作、もしくは回転した後の当該電子線バイプリズムの回転角度に基づき実行される、
ことを特徴とする請求項1または2に記載の電子顕微鏡。 - 前記試料ホルダーが、前記光学系の光軸に垂直なXY平面内で移動可能に保持されるとともに、前記XY平面内もしくは傾いた平面内に於いて回転可能に保持され、前記試料ホルダーの位置する前記XY平面内でX方向、Y方向に独立して移動させる試料ホルダー駆動装置、
前記XY平面内でX方向、Y方向の位置を検出する試料ホルダー位置検出器、及び
前記試料ホルダーを回転させる試料ホルダー回転機構を更に備える、
ことを特徴とする請求項1に記載の電子顕微鏡。 - 前記試料ホルダーにおいて、前記試料ホルダー回転機構により前記試料ホルダーを回転させた角度に応じて、前記試料ホルダー駆動装置により前記試料ホルダーを前記XY平面内でX方向、Y方向に独立して移動させることにより、前記試料ホルダーの回転に伴う、前記試料ホルダーに対する前記光学系の光軸位置のずれの補正を行う、
ことを特徴とする請求項4に記載の電子顕微鏡。 - 前記試料ホルダーは、前記試料ホルダーの回転角度を検出する回転検出器を備える、
ことを特徴とする請求項5に記載の電子顕微鏡。 - 前記試料ホルダーの回転に伴う、前記試料ホルダーに対する前記光学系の光軸位置のずれの補正が、
前記試料ホルダーの前記試料ホルダー回転機構の回転中心座標の検出、前記試料ホルダーに対する前記光学系の光軸位置の検出、及び
前記試料ホルダーの回転角度の入力およびそれによる回転動作、もしくは回転した後の前記試料ホルダーの回転角度に基づき実行される、
ことを特徴とする請求項5または6に記載の電子顕微鏡。 - 前記第1、第2の電子線バイプリズムのいずれか一方の、前記角度θの回転に伴う前記光学系の光軸位置からのずれの補正と連動して、前記試料ホルダー回転機構により前記試料ホルダーが前記角度θだけ回転し、当該回転に伴う前記光学系の光軸位置からのずれの補正を前記試料ホルダー駆動装置により行う、
ことを特徴とする請求項5に記載の電子顕微鏡。 - 前記試料ホルダーの前記角度θの回転に伴う前記光学系の光軸位置からのずれの補正と連動して、前記第1、第2の電子線バイプリズムが前記角度θだけ回転し、当該回転に伴う前記光学系の光軸位置からのずれの補正を行う、
ことを特徴とする請求項5に記載の電子顕微鏡。
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