JP4568595B2 - 半導体回路 - Google Patents

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Description

本発明は、例えばCMOS回路などで形成された、例えばタイマー回路や発振回路などの半導体回路に関する。
例えば、特許文献1において、タイマー回路及び当該タイマー回路を内蔵した半導体記憶装置が開示されている。当該タイマー回路では、温度の上昇に伴ってタイマー周期が減少する傾向を示し、温度の低下に伴ってタイマー周期が増加する傾向を示すタイマー回路を提供するために、以下の構成を有している。ダイオードは、温度に依存した電流特性を有し、この順方向電流は、カレントミラーの一次側を構成するn型MOSトランジスタN1を流れる。このn型MOSトランジスタN1を流れる電流に応じて、カレントミラーの二次側を構成するp型MOSトランジスタP2及びn型MOSトランジスタN3を流れる電流が定まる。これらp型MOSトランジスタP2及びn型MOSトランジスタN3を流れる電流は、インバータI1乃至I3からなるリングオシレータの動作電流として供給される。従って、このリングオシレータから出力されるクロック信号CLKの周期(タイマー周期)には、ダイオードDの温度特性が反映され、温度の上昇に伴ってタイマー周期が減少する。
特開2002−117671号公報。
しかしながら、従来技術の発振回路では、電源電圧が低下したときは、所定の周期を保持して安定に動作することができないという問題点があった。
本発明の目的は以上の問題点を解決し、より低い電圧から広範囲の電源電圧範囲で安定に動作することができる、振回路である半導体回路を提供することにある。
本発明に係る半導体回路は、電源電圧で駆動され、上記電源電圧に依存した電流を出力するとともに、上記電源電圧から所定の低下電圧だけ低下してなる基準電圧を出力し、互いに所定の時間間隔だけ遅延されて動作が開始される3以上の整数N個の電流源と、
上記N個の電流源からそれぞれ出力される電流により充電されるN個のコンデンサと、
セット信号に応答してセットされ、リセット信号に応答してリセットされ、上記リセットされた後上記セットされるまで出力信号を出力するN個のセットリセット型フリップフロップと、
N個のしきい値素子であって、上記N個のコンデンサから出力される信号電圧が所定のしきい値以上となったときそれぞれ、上記N個のしきい値素子のうち各1対のしきい値素子からのしきい値結果信号が互いに同時に出力されるしきい値結果信号を出力する上記N個のしきい値素子と、
上記N個のしきい値素子のうち、各1対のしきい値素子からのしきい値結果信号が同時に出力されることを示す同時出力信号を、上記N個のセットリセット型フリップフロップのうちの対応する各1対のセットリセット型フリップフロップのセット信号とリセット信号として出力するN個のゲート素子と、
上記N個のセットリセット型フリップフロップから出力される出力信号に応答してそれぞれ上記N個のコンデンサを放電するN個の放電回路とを備え、
上記リセット信号に応答して、上記各コンデンサの電圧が上記各コンデンサの充電により経過時間に実質的に比例して上昇し上記基準電圧に到達した後、上記セット信号に応答して、上記各コンデンサの放電により上記基準電圧から経過時間につれて下降する動作を上記各コンデンサにおいて上記時間間隔だけずれて繰り返すことにより、上記各セットリセット型フリップフロップからの出力信号をそれぞれ、所定の周期を有する発振信号として出力する発振回路を構成し、
上記各しきい値素子はインバータであり、上記各ゲート素子はノアゲートであることを特徴とする。
また、本発明に係る半導体回路は、電源電圧で駆動され、上記電源電圧に依存した電流を出力するとともに、上記電源電圧から所定の低下電圧だけ低下してなる基準電圧を出力し、互いに所定の時間間隔だけ遅延されて動作が開始される3以上の整数N個の電流源と、
上記N個の電流源からそれぞれ出力される電流により充電されるN個のコンデンサと、
セット信号に応答してセットされ、リセット信号に応答してリセットされ、上記リセットされた後上記セットされるまで出力信号を出力するN個のセットリセット型フリップフロップと、
N個のしきい値素子であって、上記N個のコンデンサから出力される信号電圧が所定のしきい値以上となったときそれぞれ、上記N個のしきい値素子のうち各1対のしきい値素子からのしきい値結果信号が互いに同時に出力されるしきい値結果信号を出力する上記N個のしきい値素子と、
上記N個のしきい値素子のうち、各1対のしきい値素子からのしきい値結果信号が同時に出力されることを示す同時出力信号を、上記N個のセットリセット型フリップフロップのうちの対応する各1対のセットリセット型フリップフロップのセット信号とリセット信号として出力するN個のゲート素子と、
上記N個のセットリセット型フリップフロップから出力される出力信号に応答してそれぞれ上記N個のコンデンサを放電するN個の放電回路とを備え、
上記リセット信号に応答して、上記各コンデンサの電圧が上記各コンデンサの充電により経過時間に実質的に比例して上昇し上記基準電圧に到達した後、上記セット信号に応答して、上記各コンデンサの放電により上記基準電圧から経過時間につれて下降する動作を上記各コンデンサにおいて上記時間間隔だけずれて繰り返すことにより、上記各セットリセット型フリップフロップからの出力信号をそれぞれ、所定の周期を有する発振信号として出力する発振回路を構成し、
上記各しきい値素子はしきい値バッファであり、上記各ゲート素子は反転入力端子付きオアゲートであることを特徴とする。
従って、本発明に係る半導体回路によれば、各電流源からの充電電流と、各電流源からの基準電圧を用いて、タイマー回路の動作を含む発振回路の動作を実行しているので、電源電圧が低下しても、電源電圧に依存した充電電流も小さくなる一方、電源電圧から低下電圧だけ低下してなる基準電圧も小さくなる。それ故、各コンデンサの各電圧がそれら充電により経過時間に実質的に比例して上昇し基準電圧に到達するまでの時間はほとんど変化しない。すなわち、電源電圧が低下しても発振回路の発振周期を保持しつつ動作できる。従って、より低い電圧から広範囲の電源電圧範囲で安定に動作することができる発振回路を提供できる。
以下、本発明に係る実施の形態について図面を参照して説明する。なお、同様の構成要素については同一の符号を付している。
実施の形態1.
図1は本発明の実施の形態1に係る半導体回路であるタイマー回路40の構成を示す回路図である。
図1において、タイマー回路40は、電流源12と、電流源12からの電流の供給をオン/オフするスイッチSWと、当該電流により電荷を充電するコンデンサ11と、基準電圧源13と、コンパレータ14とを備えて構成される。ここで、電流源12は、電源電圧Vccで駆動され、電源電圧Vccに依存した電流を出力するとともに、電源電圧Vccから所定の低下電圧だけ低下してなる基準電圧Vrefを出力する。電流源12の一端はスイッチSWを介してコンデンサ11の一端に接続され、電流源12の他端は接地される。また、コンデンサ11の一端はコンパレータ14の反転入力端子に接続され、コンデンサ11の他端は接地される。さらに、電流源12から供給される基準電圧Vrefを有する基準電圧源13の正極はコンパレータ14の非反転入力端子に接続され、基準電圧源13の負極は接地される。コンパレータ14の出力端子は出力端子20に接続される。コンパレータ14において、反転入力端子に入力される電圧が基準電圧源13の基準電圧Vref以上となると、コンパレータ14からの出力信号は、例えば+5Vのハイレベルから、例えば0Vのローレベルに立ち下がる。なお、スイッチSWは、タイマー回路40に電源電圧Vccが供給されたときにオンとなる仮想的なスイッチである。
以上のように構成されたタイマー回路40において、コンデンサ11に電荷が蓄積されていない状態で、タイマー回路40の電源電圧Vccが供給されてスイッチSWがオンされたとき、電流源12から電流がコンデンサ11に流れ、コンデンサ11に電荷が蓄積される。そして、時間経過につれてコンデンサ11の両端電圧が経過時間に実質的に比例して上昇し、その電圧が基準電圧Vref以上となったとき、コンパレータ14からの出力信号はハイレベルからローレベルに立ち下がる。すなわち、電源電圧Vccの供給によるスイッチSWのオン時から所定の時間だけ遅延した時刻でコンパレータ14からの出力信号はハイレベルからローレベルに立ち下がり、タイマー回路40として動作することになる。
すなわち、タイマー回路40においては、電源電圧Vccで駆動され、電源電圧Vccに依存した電流を出力するとともに、電源電圧Vccから所定の低下電圧だけ低下してなる基準電圧Vrefを出力する電流源12を用いてコンデンサ11を充電し、コンデンサ11の電圧を、電流源12から出力される基準電圧Vrefと比較して、基準電圧Vref以上となったとき、出力信号を出力するコンパレータ14を備え、電源電圧Vccの供給開始から、コンデンサ11の電圧がその充電により経過時間に実質的に比例して上昇し基準電圧Vrefに到達するまでの遅延時間後に、出力信号を出力するタイマー回路40を構成している。それ故、電源電圧Vccが低下しても、電源電圧Vccに依存した充電電流も小さくなる一方、電源電圧Vccから低下電圧だけ低下してなる基準電圧Vrefも小さくなるので、コンデンサ11の電圧がその充電により経過時間に実質的に比例して上昇し基準電圧Vrefに到達するまでの遅延時間はほとんど変化しない。すなわち、電源電圧Vccが低下してもタイマー回路40の遅延時間を保持しつつ動作できる。従って、より低い電圧から広範囲の電源電圧範囲で安定に動作することができるタイマー回路40を提供できる。
なお、例えば、電流源12は電源電圧Vccに依存しない一定電流を供給する回路が用いられる場合は、電流源12を半導体回路内に構成するためには最低でも2段のトランジスタ直列回路と抵抗又はダイオードといった能動素子のカスケード接続が必要であり、最低動作電圧を低く設定することはきわめて難しく、より広い電源電圧範囲で動作するタイマー回路を作成することは難しい。この問題点を解決するために、本発明者らは、図1のタイマー回路40の具体例を提案する。
図2は図1のタイマー回路40の具体例を示す回路図である。図2において、タイマー回路40は、3個のカレントミラー回路M1,M2,M3と抵抗Ra,Rbを備えた電流源12と、コンデンサ11と、コンパレータ14とを備えて構成され、電流源12及びコンパレータ14はCMOS回路で形成される。
図2において、電流源12は、スイッチSWと、4個のPチャンネルMOSFETP1乃至P4と、2個のNチャンネルMOSFETN1,N2と、2個の抵抗Ra,Rbとを備えて構成される。ここで、1対のPチャンネルMOSFETP1,P2によりカレントミラー回路M1を構成し、1対のNチャンネルMOSFETN1,N2によりカレントミラー回路M2を構成し、1対のPチャンネルMOSFETP3,P4によりカレントミラー回路M3を構成し、これら3個のカレントミラー回路M1,M2,M3が縦続に接続されている。また、コンパレータ14は、2個のPチャンネルMOSFETP5,P6と、2個のNチャンネルMOSFETN3,N4とを備えて構成される。
電源電圧VccはスイッチSWを介して電源接続点12aに接続される。電源接続点12aは、6個のPチャンネルMOSFETP1乃至P6の各ソースに接続される。また、4個のNチャンネルMOSFETN1乃至N4の各ソースは接地される。PチャンネルMOSFETP1,P2の各ゲートは互いに接続されるとともに、PチャンネルMOSFETP1のドレインに接続され、さらに、抵抗Raを介して接地される。また、PチャンネルMOSFETP2のドレインは、NチャンネルMOSFETN1のドレイン及びゲート、並びにNチャンネルMOSFETN2のゲートに接続される。さらに、3個のPチャンネルMOSFETP3,P4,P6の各ゲートは互いに接続されるとともに、PチャンネルMOSFETP3のドレインに接続され、さらに、NチャンネルMOSFETN2のドレインに接続される。PチャンネルMOSFETP4のドレインは抵抗Rbを介してPチャンネルMOSFETP5のゲートに接続されるとともに、コンデンサ11を介して接地される。また、PチャンネルMOSFETP5のドレインはNチャンネルMOSFETN3のドレインに接続されるとともに、出力端子20に接続される。さらに、PチャンネルMOSFETP6のドレインはNチャンネルMOSFETN4のドレイン及びゲート、並びにNチャンネルMOSFETN3のゲートに接続される。
以上のように構成された図2のタイマー回路40において、2個のPチャンネルMOSFETP1,P2からなるカレントミラー回路M1と、2個のPチャンネルMOSFETP3,P4からなるカレントミラー回路M2と、2個のNチャンネルMOSFETN1,N2からなる第3のカレントミラー回路M3と、2個の抵抗Ra,Rbとにより、電流源12の回路を構成している。また、2個のPチャンネルMOSFETP5,P6と、2個のNチャンネルMOSFETN3,N4とにより、コンパレータ14を構成している。
図2のタイマー回路12において、電源電圧Vccが投入されてスイッチSWがオンされると、電源電圧VccからPチャンネルMOSFETP1と抵抗Raを介して接地に向けて電流が流れる。このとき、抵抗Raの両端に誘起される電圧は、電源電圧Vccから、ダイオード接続しているPチャンネルMOSFETP1のしきい値電圧分だけ減じた電圧値となり、上記抵抗Raに流れる電流は電源電圧Vccに実質的に比例して、すなわち電源電圧Vccに依存した電流となる。この電流を用いて、1対のPチャンネルMOSFETP1,P2で構成されるカレントミラー回路M1と、1対のNチャンネルMOSFETN1,N2で構成されるカレントミラー回路M2と、1対のPチャンネルMOSFETP3,P4で構成されるカレントミラー回路M3とを介して、電源電圧VccからPチャンネルMOSFETP4及び抵抗Rbを介してコンデンサ11に流れる充電電流を得る。従って、充電電流は、電源電圧Vccに依存して、電源電圧Vccに実質的に比例する電流となる。ここで、各カレントミラー回路M1,M2,M3のMOSFETの各ゲート幅を調整することにより、ユーザーが所望する充電電流を得ることができる。
また、基準電圧Vrefは、カレントミラー回路M3における1対のPチャンネルMOSFETP3,P4のゲート電位から得ている。当該基準電圧VrefはPチャンネルMOSFETP3,P4のしきい値電圧分だけ低下してなる電圧値であり、電源電圧Vccの低下により低下する。なお、後述する実施の形態において、上記基準電圧Vrefを第1の基準電圧Vref1として用い、カレントミラー回路M2の1対のNチャンネルMOSFETN1,N2のゲート電位(当該MOSFETのしきい値電圧値である。)を、第1の基準電圧Vref1よりも低い第2の基準電圧Vrefとして用いることができる。
上述のように得られた電源電圧Vccに依存する電流にて、コンデンサ11の充電が進み、コンパレータ14の反転入力端子(PチャンネルMOSFETP5のゲート)の電位が基準電圧Vref以上になると出力端子20の電圧値が、電源電圧レベルであるハイレベルから接地電位であるローレベルまで反転する。
このときの基準電圧Vrefの電位(PチャンネルMOSFETP3,P4のゲート電位)と、PチャンネルMOSFETP1のゲート電位とは、トランジスタのドレイン・ソース間電圧の変化によって実効チャネル長が変化するチャネル長変調効果を無視できるトランジスタ構成とすれば同じ電位となる。従って、この回路構成では、出力端子20における電圧の反転は、電源電圧Vccに依存した充電電流にて充電されたコンデンサ11が、電源電圧VccからPチャンネルMOSFETP1のしきい値電圧を減じた電圧値である基準電圧Vrefに到達することによって発生する。各MOSFETのしきい値電圧が一定であれば、電源電圧Vccが低下しても、電源電圧Vccに依存した充電電流も小さくなる一方、電源電圧Vccから低下電圧だけ低下してなる基準電圧Vrefも小さくなるので、コンデンサ11の電圧がその充電により経過時間に実質的に比例して上昇し基準電圧Vrefに到達するまでの遅延時間はほとんど変化しない。すなわち、電源投入から出力端子20の論理反転が発生するまでの遅延時間は、電源電圧Vccの変動の影響を受けにくく、さらに、充電電流の発生源は、1つのPチャンネルMOSFETP1と1つの抵抗Raで構成されるため、比較的低い電圧での始動が可能となる。すなわち、電源電圧Vccが低下してもタイマー回路40の遅延時間を保持しつつ動作でき、より低い電圧から広範囲の電源電圧範囲で安定に動作することができるタイマー回路40を提供できる。
図3は図2のタイマー回路40の変形例40Aを示す回路図である。図3のタイマー回路40Aは、図2のタイマー回路40に比較して、電流源12においてカレントミラー回路M2,M3を省略したことを特徴としている。図3において、相違点について説明すると、充電電流は、電源電圧VccからPチャンネルMOSFETP2及び抵抗Rbを介してコンデンサ11に流れる。以上のように構成しても、図3のタイマー回路40Aは、図2のタイマー回路40と同様に動作する。
図4は図1のタイマー回路40の別の具体例40Bを示す回路図である。図4のタイマー回路40Bは、図2のタイマー回路40に比較して、2個のPチャンネルMOSFETP1,P2と、1個の抵抗Raからなる回路を、1個の抵抗Rcで構成したことを特徴としている。以上のように構成しても、図4のタイマー回路40Bは、図2のタイマー回路40と同様に動作する。
以上説明したように、本発明の実施の形態1に係る半導体回路によれば、電源電圧Vccが低下しても、電源電圧Vccに依存した充電電流も小さくなる一方、電源電圧Vccから低下電圧だけ低下してなる基準電圧Vrefも小さくなるので、コンデンサ11の電圧がその充電により経過時間に実質的に比例して上昇し基準電圧Vrefに到達するまでの遅延時間はほとんど変化しない。すなわち、電源電圧Vccが低下してもタイマー回路40の遅延時間を保持しつつ動作できる。従って、より低い電圧から広範囲の電源電圧範囲で安定に動作することができるタイマー回路40,40A,40Bを提供できる。
実施の形態2.
図5は本発明の実施の形態2に係る半導体回路である発振回路40Cの構成を示す回路図である。本実施の形態2に係る発振回路40Cは、図1のタイマー回路40を基礎としたCMOS回路で形成された発振回路であって(実施の形態3乃至5も、同様に形成されるCMOS回路の発振回路である。)、図1のタイマー回路40に比較して、基準電圧源13を有するコンパレータ14に代えて、第1の基準電圧Vref1を有する基準電圧源21を有するコンパレータ17と、第2の基準電圧Vref2を有する基準電圧源22を有するコンパレータ18と、セットリセット型フリップフロップ19と、放電回路D1とを備えて構成したことを特徴としている。なお、コンパレータ17,18及びセットリセット型フリップフロップ19は例えばCMOS回路で形成される。また、基準電圧源21,22も、実施の形態1と同様にCMOS回路で形成された電流源12又は12Bで発生され、具体的には、図2及び図4において図示された2個の基準電圧Vref1,Vref2を用いる。
図5において、コンデンサ11の両端電圧を電圧V11とし、その両端にそれぞれ放電回路D1の端子T2,T3が接続される。コンデンサ11の一端は、コンパレータ17の非反転入力端子及びコンパレータ18の反転入力端子に接続される。基準電圧源21からの基準電圧Vref1はコンパレータ17の反転入力端子に印加され、基準電圧源22からの基準電圧Vref2はコンパレータ18の非反転入力端子に印加される。また、コンパレータ17からの出力信号の電圧Vsはセットリセット型フリップフロップ19のセット端子Sに入力され、コンパレータ18からの出力信号の電圧Vrはセットリセット型フリップフロップ19のリセット端子Rに入力される。ここで、セットリセット型フリップフロップ19は、非反転出力端子Qと、反転出力端子/Q(本願明細書及び図面において、/Qのうちの/は上側バーを示し、ローアクティブを示す。)とを有し、セット信号に応答してセットされ、リセット信号に応答してリセットされ、上記セットされた後上記リセットされるまで非反転出力端子Qから出力信号Vqを出力するとともに、その反転信号を反転出力端子/Qから出力する。ここで、セットリセット型フリップフロップ19の非反転出力端子Qからの出力信号の電圧Vqは出力端子30に出力されるとともに、放電回路D1の制御端子T1に対して放電開始信号として印加される。
ここで、コンパレータ17は、非反転入力端子に入力される電圧V11が基準電圧Vref1以上となったとき、ハイレベルのパルス信号を出力し、また、コンパレータ18は、非反転入力端子に入力される電圧V11が基準電圧Vref2以下となったとき、ハイレベルのパルス信号を出力する。
図6は、図5の発振回路40Cの第1の具体例40Caの構成を示す回路図である。図6において、発振回路40Caは、図2の電流源12と、図2のコンパレータ14と同様の構成を有する2個のコンパレータ17,18とを用いて構成したことを特徴としている。
図6において、電流源12の電源接続点12aはコンパレータ17の電源端子に接続されて電源電圧Vccが供給され、また、コンパレータ18の電源端子にも接続されて電源電圧Vccが供給される。電流源12のPチャンネルMOSFETP3,P4の各ゲート電圧は基準電圧Vref1としてコンパレータ17の反転入力端子に印加され、電流源12のNチャンネルMOSFETN1,N2の各ゲート電圧は基準電圧Vref2としてコンパレータ18の非反転入力端子に印加される。さらに、電流源12のPチャンネルMOSFETP4のソースは抵抗Rb及びコンデンサ11を介して接地され、コンデンサ11の両端電圧V11は、コンパレータ17の非反転入力端子に印加され、コンパレータ18の反転入力端子に印加され、放電回路D1の端子T2に印加される。コンパレータ17からの出力信号は、セットリセット型フリップフロップ19のセット端子Sに入力される。また、コンパレータ18からの出力信号は、セットリセット型フリップフロップ19のリセット端子Rに入力される。さらに、セットリセット型フリップフロップ19の非反転出力端子Qからの出力信号は放電回路D1の制御端子T1に入力される。
図7は、図5の発振回路40Cの第2の具体例40Cbの構成を示す回路図である。図7において、発振回路40Cbは、図4の電流源12Bと、図4のコンパレータ14と同様の構成を有する2個のコンパレータ17,18とを用いて構成したことを特徴としている。すなわち、発振回路40Cbは、図6の発振回路40Caに比較して、図2の電流源12に代えて、図4の電流源12Bを備えたことであり、その他の構成は、図6と同様である。
図8は図5乃至図7の放電回路D1の構成を示す回路図である。放電回路D1は、例えば、図8に示すように、CMOS回路のうちの1個のNチャンネルMOSFET23で構成され、そのゲートは制御端子T1に接続され、ドレインは端子T2に接続され、ソースは接地された端子T3に接続される。以上のように構成された放電回路D1において、ハイレベル信号が制御端子T1を介してNチャンネルMOSFET23のゲートに印加されるとき、NチャンネルMOSFET23がオンとなり、端子T2と端子T3間で所定の抵抗値を有する放電回路を構成する。
図9は図5乃至図7の放電回路D1の変形例D1Aの構成を示す回路図である。図9の放電回路D1Aは、図8の放電回路D1に比較して、制御端子T1と、NチャンネルMOSFET23のゲートとの間にカレントミラー回路24を挿入し、制御端子T1に入力される電圧信号に基づいて電流を発生してNチャンネルMOSFET23を電流で駆動するように構成したことを特徴としている。
図10は、図5の発振回路40Cの動作を示すタイミングチャートである。なお、図5の発振回路40Cにおいて、図10に示すように、基準電圧Vref1は、電源電圧VccからPチャンネルMOSFETのしきい値電圧Vthpを減じた電圧に設定され、基準電圧Vref2は、基準電圧Vref1よりも低い電圧に設定される。
図10から明らかなように、スイッチSWがオンされた後、コンデンサ11が充電されて、コンデンサ11の両端電圧V11が基準電圧Vref1以上となったとき、コンパレータ17はハイレベルのパルス信号を出力し、これにより、セットリセット型フリップフロップ19はセットされ、非反転出力端子Qからハイレベル信号Vqが出力される。そのとき、当該ハイレベル信号に応答して、放電回路D1がオンされ、コンデンサ11に蓄積された電荷が、コンデンサ11と放電回路D1のNチャンネルMOSFET23の抵抗分とで決定される時定数で放電される。そして、コンデンサ11の両端電圧が基準電圧Vref2以下となったとき、コンパレータ18はハイレベルのパルス信号をセットリセット型フリップフロップ19のリセット端子Sに出力する。これに応答して、セットリセット型フリップフロップ19はリセットされ、非反転出力端子Qから信号Vqはローレベルとなる。これにより、放電回路D1への信号がローレベルになるので、放電回路D1がオフされ、放電回路D1の放電が終了する。次いで、また、コンデンサ11に対する充電が開始され、上述の動作が繰り返される。従って、図10から明らかなように、出力端子30からは、所定のパルス幅を有するハイレベル信号が所定の周期で出力され、すなわち、所定の発振信号が出力される。
以上のように構成された図5の発振回路40Cにおいては、リセット信号に応答して、コンデンサ11の電圧がその充電により第2の基準電圧Vref2から経過時間に実質的に比例して上昇し第1の基準電圧Vref1に到達した後、セット信号に応答して、コンデンサ11の放電により第1の基準電圧VRef1から経過時間につれて下降して第2の基準電圧Vref2に到達する動作を繰り返すことにより、セットリセット型フリップフロップ19からの出力信号を、所定の周期を有する発振信号として出力することができる。
以上説明したように、本発明の実施の形態2に係る半導体回路の発振回路40Cにおいても、実施の形態1の電流源12又は12Bからの充電電流と、電流源12又は12Bからの基準電圧Vref1を用いて、実施の形態1のタイマー回路の動作を含む発振回路の動作を実行しているので、電源電圧Vccが低下しても、電源電圧Vccに依存した充電電流も小さくなる一方、電源電圧Vccから低下電圧だけ低下してなる基準電圧Vref1も小さくなる。それ故、コンデンサ11の電圧がその充電により基準電圧Vref2から経過時間に実質的に比例して上昇し基準電圧Vref1に到達するまでの時間はほとんど変化しない。すなわち、電源電圧Vccが低下しても発振回路の発振周期を保持しつつ動作できる。従って、より低い電圧から広範囲の電源電圧範囲で安定に動作することができる発振回路を提供できる。
実施の形態3.
図11は本発明の実施の形態3に係る半導体回路である発振回路40Dの構成を示す回路図である。図11の発振回路40Dは、図5の発振回路40Cに比較して、2個の電流源12−1,12−2にそれぞれ対応するコンデンサ11−1,11−2及び放電回路D1,D2を備え、また、上記2個の電流源12−1,12−2の動作をそれぞれオン/オフする2個のスイッチSW1,SW2を備え、これら2個のスイッチSW1,SW2のオン/オフを制御するコントローラ25を備えたことを特徴としている。上述した図5の発振回路40Cでは、図10から明らかなように、基準電圧Vref1と基準電圧Vref2が実質的に同一の電圧に設定されたときは、発振動作が停止されることになるが、図11の発振回路40Dではこの問題点を解決する。なお、基準電圧源21は、実施の形態1と同様にCMOS回路で形成された電流源12,12A又は12Bで発生され、具体的には、図2乃至図4において図示された基準電圧Vrefを用いる。また、放電回路D1,D2もそれぞれ上述の放電回路D1と同様に構成される。
図11において、電流源12−1の一端はスイッチSW1を介して接地され、電流源12−1の他端はコンデンサ11−1を介して接地される。また、電流源12−2の一端はスイッチSW2を介して接地され、電流源12−2の他端はコンデンサ11−2を介して接地される。コンデンサ11−1の両端電圧V11は放電回路D1及びコンパレータ17の非反転入力端子に印加される。また、コンデンサ11−2の両端電圧V12は放電回路D2及びコンパレータ18の非反転入力端子に印加される。さらに、2個のコンパレータ17,18の各反転入力端子には、基準電圧源21からの基準電圧Vrefが印加される。ここで、コンパレータ17,18はそれぞれ、各非反転入力端子に印加される電圧V11,V12が基準電圧Vref以上となったとき、ハイレベルのパルス信号を出力する。コンパレータ17からの出力信号は電圧Vsでセットリセット型フリップフロップ19のセット端子Sに出力され、コンパレータ18からの出力信号は電圧Vrでセットリセット型フリップフロップ19のリセット端子Rに出力される。さらに、セットリセット型フリップフロップ19の非反転出力端子Qから出力される信号は電圧Vqで出力端子30に出力されるとともに、放電回路D1の制御端子T1に出力される。また、セットリセット型フリップフロップ19の反転出力端子/Qから出力される信号は電圧Vqbで出力端子31に出力されるとともに、放電回路D2の制御端子T1に出力される。なお、コントローラ25は、当該発振回路40Dの動作の開始後、スイッチSW1をオンした後、所定の時間間隔だけ遅延してスイッチSW2をオンする。
図12は図11の発振回路40Dの第1の具体例40Daの構成を示す回路図である。図12において、発振回路40Daは、図2の電流源12と同様の構成を有する電流源12−1,12−2と、図2のコンパレータ14と同様の構成を有する2個のコンパレータ17,18とを用いて構成したことを特徴としている。
図12において、電流源12−1はコントローラ25により制御されるスイッチSW1を有し、電流源12−2はコントローラ25により制御されるスイッチSW2を有する。電流源12−1の電源接続点12aはコンパレータ17の電源端子に接続されて電源電圧Vccが供給される。また、電流源12−2の電源接続点12aはコンパレータ18の電源端子にも接続されて電源電圧Vccが供給される。電流源12−1のPチャンネルMOSFETP3,P4の各ゲート電圧は基準電圧Vref1としてコンパレータ17の反転入力端子に印加され、また、電流源12−2のPチャンネルMOSFETP3,P4の各ゲート電圧は基準電圧Vref1としてコンパレータ18の反転入力端子に印加される。さらに、電流源12−1のPチャンネルMOSFETP4のソースは抵抗Rb及びコンデンサ11−1を介して接地され、コンデンサ11−1の両端電圧V11は、コンパレータ17の非反転入力端子に印加され、放電回路D1の端子T2に印加される。電流源12−2のPチャンネルMOSFETP4のソースは抵抗Rb及びコンデンサ11−2を介して接地され、コンデンサ11−2の両端電圧V12は、コンパレータ18の非反転入力端子に印加され、放電回路D2の端子T2に印加される。コンパレータ17からの出力信号は、セットリセット型フリップフロップ19のセット端子Sに入力される。また、コンパレータ18からの出力信号は、セットリセット型フリップフロップ19のリセット端子Rに入力される。さらに、セットリセット型フリップフロップ19の非反転出力端子Qからの出力信号は放電回路D1の制御端子T1に入力され、セットリセット型フリップフロップ19の反転出力端子/Qからの出力信号は放電回路D2の制御端子T1に入力される。
図13は図11の発振回路40Dの第2の具体例40Dbの構成を示す回路図である。図13において、発振回路40Dbは、図3の電流源12Aと同様の構成を有する電流源12A−1,12A−2と、図3のコンパレータ14と同様の構成を有する2個のコンパレータ17,18とを用いて構成したことを特徴としている。すなわち、発振回路40Dbは、図12の発振回路40Daに比較して、図2の電流源12に代えて、図3の電流源12Aを備えたことであり、その他の構成は、以下の点を除いて図12と同様である。電流源12A−1はコントローラ25により制御されるスイッチSW1を有し、電流源12A−2はコントローラ25により制御されるスイッチSW2を有する。また、電流源12A−1のPチャンネルMOSFETP1,P2の各ゲート電圧は基準電圧Vref1としてコンパレータ17の反転入力端子に印加され、また、電流源12A−2のPチャンネルMOSFETP1,P2の各ゲート電圧は基準電圧Vref1としてコンパレータ18の反転入力端子に印加される。
図14は図11の発振回路40Dの第3の具体例40Dcの構成を示す回路図である。図14において、発振回路40Dcは、図4の電流源12Bと同様の構成を有する電流源12B−1,12B−2と、図4のコンパレータ14と同様の構成を有する2個のコンパレータ17,18とを用いて構成したことを特徴としている。すなわち、発振回路40Dcは、図12の発振回路40Daに比較して、図2の電流源12に代えて、図4の電流源12Bを備えたことであり、その他の構成は、以下の点を除いて図12と同様である。電流源12B−1はコントローラ25により制御されるスイッチSW1を有し、電流源12B−2はコントローラ25により制御されるスイッチSW2を有する。
図15は図11の発振回路40Dの動作を示すタイミングチャートである。図15において、コントローラ25は、当該発振回路40Dの動作の開始後、スイッチSW1をオンした後、所定の時間間隔だけ遅延してスイッチSW2をオンする。これにより、まず、コンデンサ11−1が充電し、その両端電圧V11が基準電圧Vref以上となったとき、コンパレータ17はハイレベルのパルス信号をセットリセット型フリップフロップ19のセット端子Sに出力し、これにより、セットリセット型フリップフロップ19はセットされ、その非反転出力端子Qから所定のハイレベル信号Vqが出力端子30及び放電回路D1の制御端子T1に出力されるとともに、その反転出力端子/Qから所定のローレベル信号Vqbが出力端子31及び放電回路D2の制御端子T1に出力される。このとき、放電回路D1はオンとされ、コンデンサ11−1に蓄積された電荷は放電される一方、放電回路D2はオフとされ、コンデンサ11−2に電流源12−2からの電流が流れ、電荷の蓄積が行われる。
そして、コンデンサ11−2が充電し、その両端電圧V12が基準電圧Vref以上となったとき、コンパレータ18はハイレベルのパルス信号をセットリセット型フリップフロップ19のリセット端子Rに出力し、これにより、セットリセット型フリップフロップ19はリセットされ、その非反転出力端子Qから所定のローレベル信号Vqが出力端子30及び放電回路D1の制御端子T1に出力されるとともに、その反転出力端子/Qから所定のハイレベル信号Vqbが出力端子31及び放電回路D2の制御端子T1に出力される。このとき、放電回路D1はオフとされて充電が再び開始される一方、放電回路D2はオンとされ、コンデンサ11−2に蓄積された電荷が放電される。以上の動作が繰り返され、出力端子30から出力される信号Vqとして、所定のパルス幅を有するハイレベル信号が所定の周期で出力され、すなわち、所定の発振信号が出力される。
以上のように構成された発振回路においては、リセット信号に応答して、コンデンサ11−1の電圧がその充電により経過時間に実質的に比例して上昇し基準電圧Vrefに到達した後、セット信号に応答して、コンデンサ11−1の放電により基準電圧Vrefから経過時間につれて下降するとともに、セット信号に応答して、コンデンサ11−2の電圧がその充電により経過時間に実質的に比例して上昇し基準電圧Vrefに到達した後、リセット信号に応答して、コンデンサ11−2の放電により基準電圧Vrefから経過時間につれて下降する動作を繰り返すことにより、セットリセット型フリップフロップ19からの2個の出力信号Vq,Vqbをそれぞれ、所定の周期を有する発振信号として出力することができる。
以上説明したように、本発明の実施の形態3に係る半導体回路の発振回路においても、実施の形態1の電流源12,12又は12Bからの充電電流と、電流源12,12又は12Bからの基準電圧Vrefを用いて、実施の形態1のタイマー回路の動作を含む発振回路の動作を実行しているので、電源電圧Vccが低下しても、電源電圧Vccに依存した充電電流も小さくなる一方、電源電圧Vccから低下電圧だけ低下してなる基準電圧Vrefも小さくなる。それ故、コンデンサ11−1,11−2の各電圧がその充電により経過時間に実質的に比例して上昇し基準電圧Vrefに到達するまでの時間はほとんど変化しない。すなわち、電源電圧Vccが低下しても発振回路の発振周期を保持しつつ動作できる。従って、より低い電圧から広範囲の電源電圧範囲で安定に動作することができる発振回路を提供できる。
実施の形態4.
図16は本発明の実施の形態4に係る半導体回路である発振回路40Eの構成を示す回路図である。図16の発振回路40Eは、図11の発振回路40Dに比較して、3個の電流源12−1,12−2,12−3と、3個のインバータNOT1,NOT2,NOT3と、3個のセットリセット型フリップフロップFF1,FF2,FF3と、3個の放電回路D1,D2,D3とを備えて構成したことを特徴としている。なお、電流源12−1,12−2,12−3は、上述の電流源12と同様にCMOS回路で構成され、放電回路D1,D2,D3もそれぞれ上述の放電回路D1と同様に構成される。
図16において、電流源12−1の一端はスイッチSW1を介して接地され、電流源12−1の他端はコンデンサC1を介して接地される。また、電流源12−2の一端はスイッチSW2を介して接地され、電流源12−2の他端はコンデンサC2を介して接地される。さらに、電流源12−3の一端はスイッチSW3を介して接地され、電流源12−3の他端はコンデンサC3を介して接地される。コンデンサC1の両端電圧V1は放電回路D3に印加されるとともに、インバータNOT1を介して電圧VaとしてノアゲートNOR1の第1の入力端子及びノアゲートNOR2の第1の入力端子に入力される。また、コンデンサC2の両端電圧V2は放電回路D2に印加されるとともに、インバータNOT2を介して電圧VbとしてノアゲートNOR2の第2の入力端子及びノアゲートNOR3の第2の入力端子に出力される。さらに、コンデンサC3の両端電圧V3は放電回路D1に印加されるとともに、インバータNOT3を介して電圧VcとしてノアゲートNOR1の第2の入力端子及びノアゲートNOR3の第1の入力端子に入力される。なお、各インバータNOT1,NOT2,NOT3はそれぞれ、入力信号が所定のしきい値電圧以上となったとき、反転されたローレベル信号を出力する。ここで、各インバータNOT1,NOT2,NOT3のしきい値電圧は、好ましくは、上述の実施の形態と同様に、電源電圧VccからPチャンネルMOSFETのしきい値電圧Vthpだけ減じた値に設定される。
ノアゲートNOR1からの出力信号は電圧Vdとしてセットリセット型フリップフロップFF1のセット端子S及びセットリセット型フリップフロップFF2のリセット端子Rに出力される。また、ノアゲートNOR2からの出力信号は電圧Veとしてセットリセット型フリップフロップFF1のリセット端子R及びセットリセット型フリップフロップFF3のセット端子Sに出力される。さらに、ノアゲートNOR3からの出力信号は電圧Vfとしてセットリセット型フリップフロップFF2のセット端子S及びセットリセット型フリップフロップFF3のリセット端子Rに出力される。セットリセット型フリップフロップFF1の非反転出力端子Qからの出力信号は電圧Vq1として出力端子30に出力されるとともに、放電回路D1の制御端子T1に出力される。また、セットリセット型フリップフロップFF2の非反転出力端子Qからの出力信号は電圧Vq2として放電回路D2の制御端子T1に出力される。さらに、セットリセット型フリップフロップFF3の非反転出力端子Qからの出力信号は電圧Vq3として放電回路D3の制御端子T1に出力される。なお、コントローラ26は、当該発振回路40Eの動作の開始後、スイッチSW1をオンした後、所定の時間間隔だけ遅延してスイッチSW2をオンし、さらに、上記同じ時間間隔だけ遅延してスイッチSW3をオンする。
図17は図16の発振回路40Eの第1の具体例40Eaの構成を示す回路図である。なお、図17は、発振回路40Eのコントローラ26からインバータNOT1,NOT2,NOT3及び放電回路D1,D2,D3までの回路のみを示している。図17の発振回路40Eaは、図2の電流源12と同様の構成を有する3個の電流源12−1,12−2,12−3を用いて構成したことを特徴としている。
図17において、電流源12−1はコントローラ26により制御されるスイッチSW1を有し、電流源12−2はコントローラ26により制御されるスイッチSW2を有し、電流源12−3はコントローラ26により制御されるスイッチSW3を有する。電流源12−1のPチャンネルMOSFETP4のソースは抵抗Rb及びコンデンサC1を介して接地され、コンデンサC1の両端電圧V1はインバータNOT1及び放電回路D3の端子T2に印加される。また、電流源12−2のPチャンネルMOSFETP4のソースは抵抗Rb及びコンデンサC2を介して接地され、コンデンサC2の両端電圧V2はインバータNOT2及び放電回路D2の端子T2に印加される。さらに、電流源12−3のPチャンネルMOSFETP4のソースは抵抗Rb及びコンデンサC3を介して接地され、コンデンサC3の両端電圧V3はインバータNOT3及び放電回路D1の端子T2に印加される。
図18は図16の発振回路40Eの第2の具体例40Ebの構成を示す回路図である。なお、図18は、発振回路40Eのコントローラ26からインバータNOT1,NOT2,NOT3及び放電回路D1,D2,D3までの回路のみを示している。図18の発振回路40Ebは、図3の電流源12Aと同様の構成を有する3個の電流源12A−1,12A−2,12A−3を用いて構成したことを特徴としている。図18において、電流源12A−1はコントローラ26により制御されるスイッチSW1を有し、電流源12A−2はコントローラ26により制御されるスイッチSW2を有し、電流源12A−3はコントローラ26により制御されるスイッチSW3を有する。その他の構成は、図17と同様である。
図19は図16の発振回路40Eの第3の具体例40Ecの構成を示す回路図である。なお、図19は、発振回路40Eのコントローラ26からインバータNOT1,NOT2,NOT3及び放電回路D1,D2,D3までの回路のみを示している。図19の発振回路40Ecは、図4の電流源12Bと同様の構成を有する3個の電流源12B−1,12B−2,12B−3を用いて構成したことを特徴としている。図19において、電流源12B−1はコントローラ26により制御されるスイッチSW1を有し、電流源12B−2はコントローラ26により制御されるスイッチSW2を有し、電流源12B−3はコントローラ26により制御されるスイッチSW3を有する。その他の構成は、図17及び図18と同様である。
図20は図16の発振回路40Eの動作を示すタイミングチャートである。図20において、コントローラ26は、当該発振回路40Eの動作の開始後、スイッチSW1をオンした後、所定の時間間隔だけ遅延してスイッチSW2をオンし、さらに、上記同じ時間間隔だけ遅延してスイッチSW3をオンする。これにより、まず、コンデンサC1が充電し、その両端電圧V1がインバータNOT1のしきい値電圧以上となったとき、ローレベル信号VaがインバータNOT1から出力される。次いで、コンデンサC2が充電し、その両端電圧V2がインバータNOT2のしきい値電圧以上となったとき、ローレベル信号VbがインバータNOT2から出力される。そして、コンデンサC3が充電し、その両端電圧V3がインバータNOT3のしきい値電圧以上となったとき、ローレベル信号VcがインバータNOT3から出力される。ここで、ローレベル信号Vaとローレベル信号Vbとが所定の時間期間で重なるように、また、ローレベル信号Vbとローレベル信号Vcとが所定の時間期間で重なるように、ローレベル信号Vcと、次のサイクルのローレベル信号Vaが所定の時間期間で重なるように、コントローラ26による起動時(電源投入時)の制御が実行される。なお、図20において、ローレベル信号Va,Vb,Vcについては、図示の簡単化のために、ローアクティブ信号の形式/Va,/Vb,/Vcで図示している。
以上説明したように、ローレベル信号Va,Vb,Vcが順次互いに重なるように出力されるので、ノアゲートNOR2,NOR3,NOR1の順序で、順次同一の周期でハイパルス信号Ve,Vf,Vdが順次出力され、これに応答して、セットリセット型フリップフロップFF3からのハイレベル出力信号Vq3と、セットリセット型フリップフロップFF2からのハイレベル出力信号Vq2と、セットリセット型フリップフロップFF1からのハイレベル出力信号Vq1とが順次出力される。ここで、放電回路D3,D2,D1も順次、放電のオフ/オンが繰り返される。従って、図20に示すように、以上の動作が繰り返され、出力端子30から出力される信号Vq1として、所定のパルス幅を有するハイレベル信号が所定の周期で出力され、すなわち、所定の発振信号が出力される。
以上の実施の形態4に係る図16の発振回路40Eでは、3個の電流源12−1,12−2,12−3を用いる例を示しているが、4個以上の電流源とそれに対応した素子回路を用いて同様の発振回路を構成してもよい。
当該発振回路においては、リセット信号に応答して、各コンデンサC1,C2,C3の電圧がそれぞれそれらの充電により経過時間に実質的に比例して上昇し基準電圧Vrefに到達した後、セット信号に応答して、各コンデンサC1,C2,C3の放電により基準電圧Vrefから経過時間につれて下降する動作を各コンデンサC1,C2,C3において時間間隔だけずれて繰り返すことにより、各セットリセット型フリップフロップFF1,FF2,FF3からの出力信号をそれぞれ、所定の周期を有する発振信号として出力することができる。
以上説明したように、本発明の実施の形態4に係る半導体回路の発振回路においても、実施の形態1の電流源12、12又は12Bからの充電電流と、電流源12、12又は12Bからの基準電圧Vrefを用いて、実施の形態1のタイマー回路の動作を含む発振回路の動作を実行しているので、電源電圧Vccが低下しても、電源電圧Vccに依存した充電電流も小さくなる一方、電源電圧Vccから低下電圧だけ低下してなる基準電圧Vrefも小さくなる。それ故、コンデンサC1,C2,C3の各電圧がそれら充電により経過時間に実質的に比例して上昇し基準電圧Vrefに到達するまでの時間はほとんど変化しない。すなわち、電源電圧Vccが低下しても発振回路の発振周期を保持しつつ動作できる。従って、より低い電圧から広範囲の電源電圧範囲で安定に動作することができる発振回路を提供できる。
実施の形態5.
図21は本発明の実施の形態5に係る半導体回路である発振回路40Fの構成を示す回路図である。図21の発振回路40Fは、図16の発振回路40Eと比較して、インバータNOT1,NOT2,NOT3に代えて、しきい値バッファTHB1,THB2,THB3を備え、また、ノアゲートNOR1,NOR2,NOR3に代えて、2つの反転入力端子付きオアゲートOR1,OR2,OR3を備えたことを特徴としている。以上のように構成された発振回路40Fにおいては、出力信号Va,Vb,Vcが図16の発振回路40Eに比較して反転されることを除いて、発振回路40Eと同様に動作する。
以上の実施の形態5に係る図21の発振回路40Fでは、3個の電流源12−1,12−2,12−3を用いる例を示しているが、4個以上の電流源とそれに対応した素子回路を用いて同様の発振回路を構成してもよい。
図22は図21の発振回路40Fの第1の具体例40Faの構成を示す回路図である。なお、図22は、発振回路40Fのコントローラ26からしきい値バッファTHB1,THB2,THB3及び放電回路D1,D2,D3までの回路のみを示している。図22の発振回路40Faは、図2の電流源12と同様の構成を有する3個の電流源12−1,12−2,12−3を用いて構成したことを特徴としている。ここで、図22の発振回路40Faは、図17の発振回路40Eaに比較して、インバータNOT1,NOT2,NO3に代えてそれぞれ、しきい値バッファTHB1,THB2,THB3を備えたことのみが異なる。
図23は図21の発振回路40Fの第2の具体例40Fbの構成を示す回路図である。なお、図23は、発振回路40Fのコントローラ26からしきい値バッファTHB1,THB2,THB3及び放電回路D1,D2,D3までの回路のみを示している。図23の発振回路40Fbは、図3の電流源12Aと同様の構成を有する3個の電流源12A−1,12A−2,12A−3を用いて構成したことを特徴としている。ここで、図23の発振回路40Fbは、図18の発振回路40Ebに比較して、インバータNOT1,NOT2,NO3に代えてそれぞれ、しきい値バッファTHB1,THB2,THB3を備えたことのみが異なる。
図24は図21の発振回路40Fの第3の具体例40Fcの構成を示す回路図である。図24は、発振回路40Fのコントローラ26からしきい値バッファTHB1,THB2,THB3及び放電回路D1,D2,D3までの回路のみを示している。図24の発振回路40Fcは、図4の電流源12Bと同様の構成を有する3個の電流源12B−1,12B−2,12B−3を用いて構成したことを特徴としている。ここで、図24の発振回路40Fcは、図19の発振回路40Ecに比較して、インバータNOT1,NOT2,NO3に代えてそれぞれ、しきい値バッファTHB1,THB2,THB3を備えたことのみが異なる。
以上説明したように、本発明の実施の形態5に係る半導体回路の発振回路において、実施の形態4と同様の作用効果を有し、電源電圧Vccが低下しても発振回路の発振周期を保持しつつ動作でき、より低い電圧から広範囲の電源電圧範囲で安定に動作することができる発振回路を提供できる。
以上詳述したように、本発明に係る半導体回路によれば、各電流源からの充電電流と、各電流源からの基準電圧を用いて、タイマー回路の動作を含む発振回路の動作を実行しているので、電源電圧が低下しても、電源電圧に依存した充電電流も小さくなる一方、電源電圧から低下電圧だけ低下してなる基準電圧も小さくなる。それ故、各コンデンサの各電圧がそれら充電により経過時間に実質的に比例して上昇し基準電圧に到達するまでの時間はほとんど変化しない。すなわち、電源電圧が低下しても発振回路の発振周期を保持しつつ動作できる。従って、より低い電圧から広範囲の電源電圧範囲で安定に動作することができる発振回路を提供できる。
本発明の実施の形態1に係る半導体回路であるタイマー回路40の構成を示す回路図である。 図1のタイマー回路40の具体例を示す回路図である。 図2のタイマー回路40の変形例40Aを示す回路図である。 図1のタイマー回路40の別の具体例40Bを示す回路図である。 本発明の実施の形態2に係る半導体回路である発振回路40Cの構成を示す回路図である。 図5の発振回路40Cの第1の具体例40Caの構成を示す回路図である。 図5の発振回路40Cの第2の具体例40Cbの構成を示す回路図である。 図5乃至図7の放電回路D1の構成を示す回路図である。 図5乃至図7の放電回路D1の変形例D1Aの構成を示す回路図である。 図5の発振回路40Cの動作を示すタイミングチャートである。 本発明の実施の形態3に係る半導体回路である発振回路40Dの構成を示す回路図である。 図11の発振回路40Dの第1の具体例40Daの構成を示す回路図である。 図11の発振回路40Dの第2の具体例40Dbの構成を示す回路図である。 図11の発振回路40Dの第3の具体例40Dcの構成を示す回路図である。 図11の発振回路40Dの動作を示すタイミングチャートである。 本発明の実施の形態4に係る半導体回路である発振回路40Eの構成を示す回路図である。 図16の発振回路40Eの第1の具体例40Eaの構成を示す回路図である。 図16の発振回路40Eの第2の具体例40Ebの構成を示す回路図である。 図16の発振回路40Eの第3の具体例40Ecの構成を示す回路図である。 図16の発振回路40Eの動作を示すタイミングチャートである。 本発明の実施の形態5に係る半導体回路である発振回路40Fの構成を示す回路図である。 図21の発振回路40Fの第1の具体例40Faの構成を示す回路図である。 図21の発振回路40Fの第2の具体例40Fbの構成を示す回路図である。 図21の発振回路40Fの第3の具体例40Fcの構成を示す回路図である。
符号の説明
11,11−1,11−2 コンデンサ、12,12A,12B,12−1,12−2,12−3,12A−1,12A−2,12A−3,12B−1,12B−2,12B−3 電流源、13 基準電圧源、14,17,18 コンパレータ、19,FF1,FF2,FF3 セットリセット型フリップフロップ、20,30,31 出力端子、21,22 基準電圧源、23 NチャンネルMOSFET、24 カレントミラー回路、25,26 コントローラ、40,40A,40B タイマー回路、40C,40Ca,40Cb,40D,40Da,40Db,40Dc,40E,40Ea,40Eb,40Ec,40F,40Fa,40Fb,40Fc 発振回路、C1,C2,C3 コンデンサ、D1,D2,D3 放電回路、P1乃至P6 PチャンネルMOSFET、N1乃至N4 NチャンネルMOSFET、NOR1,NOR2,NOR3 ノアゲート、NOT1,NOT2,NOT3 インバータ、M1,M2,M3 カレントミラー回路、Ra,Rb,Rc 抵抗、T1 制御端子,T2,T3 端子、SW,SW1,SW2,SW3 スイッチ、Vref,Vref1,Vref2 基準電圧。

Claims (6)

  1. 電源電圧で駆動され、上記電源電圧に依存した電流を出力するとともに、上記電源電圧から所定の低下電圧だけ低下してなる基準電圧を出力し、互いに所定の時間間隔だけ遅延されて動作が開始される3以上の整数N個の電流源と、
    上記N個の電流源からそれぞれ出力される電流により充電されるN個のコンデンサと、
    セット信号に応答してセットされ、リセット信号に応答してリセットされ、上記リセットされた後上記セットされるまで出力信号を出力するN個のセットリセット型フリップフロップと、
    N個のしきい値素子であって、上記N個のコンデンサから出力される信号電圧が所定のしきい値以上となったときそれぞれ、上記N個のしきい値素子のうち各1対のしきい値素子からのしきい値結果信号が互いに同時に出力されるしきい値結果信号を出力する上記N個のしきい値素子と、
    上記N個のしきい値素子のうち、各1対のしきい値素子からのしきい値結果信号が互いに同時に出力されることを示す同時出力信号を、上記N個のセットリセット型フリップフロップのうちの対応する各1対のセットリセット型フリップフロップのセット信号とリセット信号として出力するN個のゲート素子と、
    上記N個のセットリセット型フリップフロップから出力される出力信号に応答してそれぞれ上記N個のコンデンサを放電するN個の放電回路とを備え、
    上記リセット信号に応答して、上記各コンデンサの電圧が上記各コンデンサの充電により経過時間に実質的に比例して上昇し上記基準電圧に到達した後、上記セット信号に応答して、上記各コンデンサの放電により上記基準電圧から経過時間につれて下降する動作を上記各コンデンサにおいて上記時間間隔だけずれて繰り返すことにより、上記各セットリセット型フリップフロップからの出力信号をそれぞれ、所定の周期を有する発振信号として出力する発振回路を構成し、
    上記各しきい値素子はインバータであり、上記各ゲート素子はノアゲートであることを特徴とする半導体回路。
  2. 電源電圧で駆動され、上記電源電圧に依存した電流を出力するとともに、上記電源電圧から所定の低下電圧だけ低下してなる基準電圧を出力し、互いに所定の時間間隔だけ遅延されて動作が開始される3以上の整数N個の電流源と、
    上記N個の電流源からそれぞれ出力される電流により充電されるN個のコンデンサと、
    セット信号に応答してセットされ、リセット信号に応答してリセットされ、上記リセットされた後上記セットされるまで出力信号を出力するN個のセットリセット型フリップフロップと、
    N個のしきい値素子であって、上記N個のコンデンサから出力される信号電圧が所定のしきい値以上となったときそれぞれ、上記N個のしきい値素子のうち各1対のしきい値素子からのしきい値結果信号が互いに同時に出力されるしきい値結果信号を出力する上記N個のしきい値素子と、
    上記N個のしきい値素子のうち、各1対のしきい値素子からのしきい値結果信号が互いに同時に出力されることを示す同時出力信号を、上記N個のセットリセット型フリップフロップのうちの対応する各1対のセットリセット型フリップフロップのセット信号とリセット信号として出力するN個のゲート素子と、
    上記N個のセットリセット型フリップフロップから出力される出力信号に応答してそれぞれ上記N個のコンデンサを放電するN個の放電回路とを備え、
    上記リセット信号に応答して、上記各コンデンサの電圧が上記各コンデンサの充電により経過時間に実質的に比例して上昇し上記基準電圧に到達した後、上記セット信号に応答して、上記各コンデンサの放電により上記基準電圧から経過時間につれて下降する動作を上記各コンデンサにおいて上記時間間隔だけずれて繰り返すことにより、上記各セットリセット型フリップフロップからの出力信号をそれぞれ、所定の周期を有する発振信号として出力する発振回路を構成し、
    上記各しきい値素子はしきい値バッファであり、上記各ゲート素子は反転入力端子付きオアゲートであることを特徴とする半導体回路。
  3. 上記各電流源は、
    第1と第2のPチャンネルMOSFETを含むカレントミラー回路と、
    第1の抵抗と、
    第2の抵抗とを備え、
    上記電源電圧と接地との間に、上記第1のPチャンネルMOSFETと上記第1の抵抗が挿入され、
    上記各電流源は上記電源電圧から上記第1のPチャンネルMOSFETのしきい値電圧だけ低下した電圧値である上記第1の抵抗の両端の電圧を基準電圧として出力し、
    上記各電流源は、上記電源電圧から上記第2のPチャンネルMOSFET及び上記第2の抵抗を介して電流を上記コンデンサに出力することを特徴とする請求項1又は2記載の半導体回路。
  4. 上記各電流源は、
    第1と第2のNチャンネルMOSFETを含む第1のカレントミラー回路と、
    第1と第2のPチャンネルMOSFETを含む第2のカレントミラー回路と、
    第1の抵抗と、
    第2の抵抗とを備え、
    上記第1のカレントミラー回路と、上記第2のカレントミラー回路とが縦続に接続され、
    上記電源電圧と接地との間に、上記第1の抵抗と上記第1のNチャンネルMOSFETが挿入され、
    上記各電流源は、上記電源電圧から上記第1の抵抗を介して低下した電圧値である上記第1のNチャンネルMOSFETの両端の電圧を、上記第2のNチャンネルMOSFETを介して出力した電圧を基準電圧として出力し、
    上記各電流源は、上記電源電圧から上記第2のPチャンネルMOSFET及び上記第2の抵抗を介して電流を上記コンデンサに出力することを特徴とする請求項1又は2記載の半導体回路。
  5. 上記各電流源は、
    第1と第2のPチャンネルMOSFETを含む第1のカレントミラー回路と、
    第1と第2のNチャンネルMOSFETを含む第2のカレントミラー回路と、
    第3と第4のPチャンネルMOSFETを含む第3のカレントミラー回路と、
    第1の抵抗と、
    第2の抵抗とを備え、
    上記第1のカレントミラー回路と、上記第2のカレントミラー回路と、上記第3のカレントミラー回路とが縦続に接続され、
    上記電源電圧と接地との間に、上記第1のPチャンネルMOSFETと上記第1の抵抗が挿入され、
    上記各電流源は、上記電源電圧から上記第1のPチャンネルMOSFETのしきい値電圧だけ低下した値である上記第1の抵抗の両端の電圧を、上記第2のPチャンネルMOSFET及び上記第2のカレントミラー回路を介して出力した電圧を基準電圧として出力し、
    上記各電流源は、上記電源電圧から上記第4のPチャンネルMOSFET及び上記第2の抵抗を介して電流を上記コンデンサに出力することを特徴とする請求項1又は2記載の半導体回路。
  6. 上記各放電回路は、NチャンネルMOSFETで構成されたことを特徴とする請求項1乃至のうちいずれか1つに記載の半導体回路。
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Families Citing this family (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4253720B2 (ja) * 2006-11-20 2009-04-15 Okiセミコンダクタ株式会社 パワーオンリセット回路
US7603096B2 (en) * 2007-02-16 2009-10-13 Mediatek Inc. Mixer with self-calibrating carrier leakage mechanism
JP5535766B2 (ja) * 2010-05-27 2014-07-02 ラピスセミコンダクタ株式会社 タイマー回路
JP5375753B2 (ja) * 2010-06-17 2013-12-25 ミツミ電機株式会社 発振回路及びその動作電流制御方法
US8742858B2 (en) * 2011-01-28 2014-06-03 Infineon Technologies Ag Relaxation oscillator having a supply voltage independent output frequency
CN103297028B (zh) * 2012-03-01 2016-01-20 瑞昱半导体股份有限公司 支持自动翻转功能的以太网络通信电路
JP6352042B2 (ja) * 2013-06-28 2018-07-04 エイブリック株式会社 遅延回路、発振回路及び半導体装置
US9111750B2 (en) 2013-06-28 2015-08-18 General Electric Company Over-voltage protection of gallium nitride semiconductor devices
US9997507B2 (en) 2013-07-25 2018-06-12 General Electric Company Semiconductor assembly and method of manufacture
US9203390B1 (en) * 2014-08-15 2015-12-01 Himax Analogic, Inc. Functional device and test mode activation circuit of the same
JP6552908B2 (ja) * 2015-08-07 2019-07-31 株式会社東芝 発振器
US10171032B2 (en) * 2015-09-02 2019-01-01 Micron Technology, Inc. Apparatuses and methods for temperature independent oscillators
KR20180091269A (ko) * 2017-02-06 2018-08-16 에스케이하이닉스 주식회사 데이터 저장 장치 및 그것의 동작 방법
US10720885B2 (en) * 2017-08-04 2020-07-21 Dialog Semiconductor (Uk) Limited Low power oscillator using flipped-gate MOS
CN110471320A (zh) * 2019-09-23 2019-11-19 重庆工商大学 机器人急停控制电路
US11796606B2 (en) 2021-04-20 2023-10-24 Texas Instruments Incorporated Pin-leakage compensation scheme for external resistor-based oscillators
US11848645B2 (en) * 2021-04-22 2023-12-19 Texas Instruments Incorporated Enabling an external resistor for an oscillator
US11437955B1 (en) 2021-08-05 2022-09-06 Texas Instruments Incorporated Switchover schemes for transition of oscillator from internal-resistor to external-resistor mode

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4868525A (en) * 1988-09-23 1989-09-19 Dallas Semiconductor Corporation Temperature-stabilized oscillator
JP2003332893A (ja) * 2002-05-16 2003-11-21 Mitsutoyo Corp クロック発生回路

Family Cites Families (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5545250A (en) * 1978-09-26 1980-03-29 Toshiba Corp Timer circuit
JPS5925493B2 (ja) 1978-12-21 1984-06-18 株式会社東芝 タイマ回路
DE3345852A1 (de) * 1983-12-19 1985-06-27 Philips Patentverwaltung Gmbh, 2000 Hamburg Monolithisch integrierter rc-oszillator
JPS6139718A (ja) * 1984-07-31 1986-02-25 Toshiba Corp 電圧検出回路
JPS61164471A (ja) 1985-01-14 1986-07-25 Matsushita Electric Works Ltd 集積回路の出力回路
JPS62152217A (ja) * 1985-12-26 1987-07-07 Matsushita Electric Ind Co Ltd 電子装置
JP3186267B2 (ja) * 1992-12-07 2001-07-11 日本電気株式会社 クロック発生回路
JPH08204527A (ja) * 1995-01-31 1996-08-09 Mitsumi Electric Co Ltd 遅延リセット回路
US5579356A (en) 1995-07-28 1996-11-26 Micron Quantum Devices, Inc. Timer circuit with programmable decode circuitry
KR0153866B1 (ko) * 1995-12-28 1998-12-15 김광호 타이머
US5990753A (en) * 1996-01-29 1999-11-23 Stmicroelectronics, Inc. Precision oscillator circuit having a controllable duty cycle and related methods
KR980012836A (ko) * 1996-07-25 1998-04-30 이형도 발진장치
JPH11120782A (ja) * 1997-10-09 1999-04-30 Hitachi Ltd 半導体集積回路装置
JPH11145808A (ja) * 1997-11-10 1999-05-28 Hitachi Ltd パワーオンリセット回路及びそれを用いた半導体集積回路装置
US6020792A (en) * 1998-03-19 2000-02-01 Microchip Technology Inc. Precision relaxation oscillator integrated circuit with temperature compensation
EP1053596A1 (en) * 1998-12-04 2000-11-22 Microchip Technology Incorporated A precision relaxation oscillator with temperature compensation and various operating modes
GB2351619A (en) * 1999-07-01 2001-01-03 Ericsson Telefon Ab L M A frequency trimmable oscillator with insensitivity to power supply variations and parasitic capacitance
JP4607291B2 (ja) 2000-06-29 2011-01-05 三菱電機株式会社 半導体装置
KR20030028560A (ko) 2000-08-04 2003-04-08 닛뽄덴끼 가부시끼가이샤 타이머 회로 및 상기 타이머 회로를 내장한 반도체 메모리
JP3866545B2 (ja) 2000-08-04 2007-01-10 Necエレクトロニクス株式会社 タイマー回路および該タイマー回路を内蔵した半導体記憶装置
EP1576731B1 (en) * 2002-12-17 2012-03-21 Eliposki Remote Ltd., L.L.C. Temperature compensated r-c oscillator

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4868525A (en) * 1988-09-23 1989-09-19 Dallas Semiconductor Corporation Temperature-stabilized oscillator
JP2003332893A (ja) * 2002-05-16 2003-11-21 Mitsutoyo Corp クロック発生回路

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