JP4293593B2

JP4293593B2 - 防曇性光学体及び光学体への防曇層形成方法

Info

Publication number: JP4293593B2
Application number: JP2003107331A
Authority: JP
Inventors: 昇大谷; 忠則福田; 久保信二; 饗場啓三
Original assignee: Tokai Optical Co Ltd
Current assignee: Tokai Optical Co Ltd
Priority date: 2003-04-11
Filing date: 2003-04-11
Publication date: 2009-07-08
Anticipated expiration: 2023-04-11
Also published as: JP2004317539A

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は各種レンズ、ガラス等の光学体に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
従来から光学体、例えば眼鏡レンズの曇りを防止するための技術がいくつか提案されてきている。曇り防止の作用の点から大きく分けてレンズ表面に吸水性樹脂を被覆することと、いわゆる濡れ現象を利用する２つのタイプが挙げられる。但し、近年では吸水性樹脂による防曇作用は吸水性樹脂を被覆すると表面硬度が低くなってしまうことと、その厚みから反射防止レンズには使用できないことから後者の濡れ現象を利用した防曇レンズの開発が主流である。濡れ現象とは要はレンズに付着する水分の表面張力による水滴化を防止するもので、レンズ表面に界面活性剤を塗布することが最も一般的である。
このような界面活性剤を塗布してレンズの曇り防止を図った技術として特許文献１に掲げるような技術がある。同文献１では基材表面に酸化チタンを含有する無機親水性硬質層を形成する技術が開示されている。そして、この無機親水性硬質層の表面に塗布された界面活性剤を安定化させるというものである。
【０００３】
【特許文献１】
特開２００３−１５０９２号公報
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、光学体で留意しなければならない課題として水ヤケの問題がある。上記文献１のような界面活性剤の安定化を主目的にすると一般的にはレンズ表面を親水化することとなるため水ヤケしやすくなってしまうからである。ここで水ヤケしやすさは界面活性剤層があれば見かけ上軽減されるが、本質的には下地表面の性質によって決まるものであり、特に界面活性剤層が不十分な状態で使用した場合には下地表面の性質がそのまま現れてしまい、レンズ表面に水ヤケが発生してしまうこととなる。
本発明は、このような従来の技術に存在する問題点に着目してなされたものである。その目的は、十分な防曇作用を有するとともに水ヤケしにくい光学体を提供することにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するために請求項１の発明では、基材の酸化物表面に、フッ素原子を含む疎水部と、−（ＣＨ ₂ ＣＨ ₂ Ｏ）ｎ−で示されるポリオキシエチレン基を含む親水部と、基材と反応するカップリング部とを有する水に対する接触角が５０〜９０°である下地処理層を設け、同下地処理層の上に界面活性剤を主成分とする防曇層を形成するようにしたことを要旨とする。
請求項２の発明では基材の酸化物表面に、−（ＣＨ ₂ ＣＨ ₂ Ｏ）ｎ−で示されるポリオキシエチレン基を含む親水部と、基材と反応するカップリング部とを有する水に対する接触角が５０〜９０°である下地処理層を設け、同下地処理層の上に界面活性剤を主成分とする防曇層を形成するようにしたことを要旨とする。
請求項３の発明では請求項１又は２に記載の発明の構成に加え、前記界面活性剤はＨＬＢ値が５〜１５の範囲のノニオン系界面活性剤であることを要旨とする。
請求項４の発明では請求項１〜３のいずれかに記載の発明の構成に加え、前記界面活性剤はフッ素系界面活性剤であることを要旨とする。
請求項５の発明では請求項１〜４のいずれかに記載の発明の構成に加え、前記カップリング部は、アルコキシシラン基、シラノール基及びイソシアネート基から選ばれる少なくとも１つの官能基であることを要旨とする。
【０００６】
ここに光学体としては眼鏡用レンズ、双眼鏡、望遠鏡のレンズ、窓ガラス、ＣＲＴ等の光学ディスプレイ、光学フィルター等およそ曇り防止処理が必要と考えられる物品を広く含む概念である。
素材としては無機ガラス及びプラスチックに適用可能である。無機ガラスとしてはＳｉＯ₂を主成分とするものが使用出来る。また、プラスチックとしては例えばアクリル樹脂、ポリカ−ボネ−ト樹脂、ポリウレタン系樹脂、ポリエステル系樹脂、エピスルフィド樹脂、ポリエ−テルサルホン樹脂ポリ4-メチルペンテン-1樹脂、ジエチレングリコ−ルビスアリルカ−ボネ−ト樹脂等が挙げられる。
【０００７】
基材の酸化物表面とは素材自体が酸化物を含有している場合及び基材の表面に形成された所定の酸化物被膜の表面のいずれをも意味する。
所定の酸化物被膜とは例えばハードコート膜、反射防止膜等が挙げられる。
ハードコート膜はコート用のハードコート液に浸漬し、その後公知の方法にて溶媒を蒸発させて形成される。
ハードコート膜は、特にオルガノシロキサン系樹脂と無機酸化物微粒子から構成されることが好ましい。そのためのハードコート液は水又はアルコール系の溶媒にオルガノシロキサン系樹脂と無機酸化物微粒子ゾルを分散（混合）させて調整される。
オルガノシロキサン系樹脂はアルコキシシランを加水分解し縮合させて得られるものが好ましい。アルコキシシランの具体例としては、γ−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、γ−グリシドキシプロピルトリエトキシシラン、メチルトリメトキシシラン、エチルシリケートなどが挙げられる。これらアルコキシシランの加水分解縮合物は、前述のアルコキシシラン化合物を単独または２種以上組合せ、塩酸等の酸性水溶液で加水分解することによって製造される。
無機酸化物微粒子の具体的な例としては、酸化亜鉛、二酸化ケイ素、酸化アルミニウム、酸化チタン、酸化ジルコニウム、酸化スズ、酸化ベリリウム、酸化アンチモン、酸化タングステン、酸化セリウム等の各ゾルを単独で又は２種以上を混晶化して使用可能である。２種以上を複合化した例としては、例えば、酸化スズと酸化タングステンの複合ゾルが挙げられる。無機酸化物微粒子の大きさはハードコート膜の透明性に関連するので重要である。無機酸化物微粒子径は１００ｎｍ以下であることが必要であり、特に１〜５０ｎｍであることが好ましい。無機酸化物微粒子の配合量はハードコート膜の硬さ、強靭性に大きく影響する。通常はハードコート成分中、４０〜６０重量パーセントが好ましい。
【０００８】
またハードコート液中には必要に応じ、硬化触媒として、アセチルアセトン金属塩、エチレンジアミン四酢酸金属塩などを添加することも可能である。さらに必要に応じ、界面活性剤、着色剤、溶媒などを添加してコーティング剤を調整することも可能である。
ハードコート膜の膜厚は０．５〜４．０μ、特に１．０〜３．０μの範囲が好ましい。このような範囲とした点についてまず膜厚０．５μ以上としたのは、薄過ぎる場合には所望の硬度が得られないためである。一方、膜厚を４．０μ以上にすると硬度は上げ易いが、本レンズのクラックが発生しやすくなり、さらに脆くなりやすいなど物性面への問題が生じるためこのように上限を設定することが好ましい。
【０００９】
反射防止膜は公知の蒸着法やイオンスパッタリング法等により形成されている。反射防止層は、光学理論に基づいた多層構造膜が採用される。膜材料としては、ＳｉＯ、ＳｉＯ₂、Ａｌ₂Ｏ₃、Ｙ₂Ｏ₃、Ｙｂ₂Ｏ₃、ＣｅＯ₂、ＺｒＯ₂、Ｔａ₂Ｏ₃、ＴｉＯ₂、など一般的な無機酸化物を使用することができる。
反射防止膜は特性の異なるこれらを材料とした薄膜を周知の手段（例えば蒸着）により定石に従って１層から順に蒸着して形成される。
【００１０】
下地処理層は下地処理剤を基材又は基材上に形成された所定の酸化物被膜上に塗布（手塗り、ディッピング法、スピンコート法）、蒸着法又はイオンスパッタリング法によって形成される。塗布される場合には下地処理剤には粘度を調整するために溶剤を加えても良い。溶剤としては酢酸エチル、酢酸ブチルなどのエステル類、ベンゼン、トルエン、キシレンなどの芳香族系溶剤が好ましい。下地処理層の水に対する接触角は５０〜９０°の範囲に含まれることが必要である。
下地処理剤としてはフッ素原子を含む疎水部と、−（ＣＨ₂ＣＨ₂Ｏ）ｎ−で示されるポリオキシエチレン基を含む親水部と、基材と反応するカップリング部を有するものを使用することが好ましい（ｎは１以上の整数）。
また、−（ＣＨ₂ＣＨ₂Ｏ）ｎ−で示されるポリオキシエチレン基を含む親水部と、基材と反応するカップリング部を有するものを使用することが好ましい（ｎは１以上の整数）。
ここに、フッ素原子を含む疎水部とは例えば、
【００１１】
【化１】

【００１２】
が挙げられる。このように水素原子がすべてフッ素原子に置換されたパーフルオロ化合物が疎水性から好ましいが、一部だけフッ素原子に置換されているフルオロ化合物であっても構わない。
また、基材と反応するカップリング部としては例えば、
−Ｓｉ（ＯＲ）ｎ
で示されるアルコキシシラン基、
−ＳｉＯＨ
で示されるシラノール基、
−ＮＣＯ
で示されるイソシアネート基、
が挙げられる。
これら３種の官能基は基材側との結合の関係で好適である。すなわち、アルコキシシラン基及びシラノール基は基材側のシラノールと反応して共有結合することで（例えば反射防止膜中の最外層膜に由来するＳｉＯ₂）と反応し、形成される下地層の耐久性が向上すると考えられる。
また、イソシアネート基はシリカ膜上の結合水と反応し、シリカ層（例えば反射防止膜中の最外層膜に由来するＳｉＯ₂層）とイオン結合することで形成される下地層の耐久性が向上すると考えられる。
これらの官能基は単独であるいは２種以上が選択されてもよい。
【００１３】
下地処理剤に含まれる化合物としては具体的には次のようものが例示される。
【００１４】
【化２】

【００１５】
【化３】

【００１６】
【化４】

【００１７】
【化５】

【００１８】
これら下地処理剤に含まれる化合物はカップリング部によって基材（酸化物被膜）上に固定されることとなる。また、分子量としては５００〜２００００の範囲のものが使用可能であり、特に７００〜５０００の範囲が好ましい。
水に対する接触角の大小は疎水部のフッ素量に左右される（フッ素割合が高い場合には接触角は大きくなる）ため、疎水部と親水部とカップリング部の比率はそのフッ素量を考慮して適宜選択される。下地層の厚味は０．５〜２０ｎｍ好ましくは１〜１０ｎｍである。
下地処理剤は上記いずれかの手段でコーティングされ、常温〜１２０℃の温度域で３０分〜２時間加熱される。特に５０〜７０℃の温度域で１〜２時間加熱するのが好ましい。
【００１９】
下地処理層の上に形成される防曇層を構成する界面活性剤としては、ノニオン系、アニオン系及びカチオン系が挙げられ、特にノニオン系が好ましいがノニオン系を主体とし異種のものを複数混合して使用することも可能である。また、フッ素系と非フッ素系があるが、特にフッ素系は濡れ性の向上が期待できる。ノニオン系については出願人の性能評価試験に基づけばＨＬＢ値が５〜１５の範囲がもっとも防曇性能が高く、この範囲から外れるほど防曇性能が低下する傾向となる。防曇層の厚味は反射防止膜の反射色に影響がでない程度であることが望ましい。
防曇層は界面活性剤を塗布することで形成される。界面活性剤は所定の水又はアルコール系の溶媒に溶解させた溶液として調整される。
【００２０】
【実施例】
本発明について、実施例を用いて具体的に説明するが、本発明はこれらに限定されるものではない。
実施例１
Ａ［基材］
ビス（β―エピチオプロピル）スルフィド８５重量部、チオフェノール１５重量部の１００重量部に、触媒として２−ジエタノールアミノエタノール０．５重量部を室温で均一溶液とした。次にこの液をレンズ用モールドに注入し、脱気後に引続きオーブン中で１０℃から１２０まで２２時間をかけてゆっくりと重合硬化させ、屈折率１．６、アッベ数３６の光学特性を有する度数０．００のフラットレンズを形成した。
以下、基材については各実施例及び比較例とも同様である。
Ｂ.ハードコート膜の形成（一層目）
反応容器中に、エタノール２０６ｇ、メタノール分散チタニア系ゾル３００ｇ（触媒化成工業（株）製固形分３０パーセント）、γ―グリシドキシプロピルトリメトキシシラン６０ｇ、γ―グリシドキシプロピルメチルジエトキシシラン３０ｇ、テトラエトキシシラン６０ｇを加え、その混合液中に０．０１Ｎの塩酸水溶液を滴下、攪拌して加水分解を行った。次にフロー調整剤０．５ｇ（Ｌ−７６０４：日本ユニカ社（株）製）および触媒１．０ｇを加え、室温で３時間攪拌してハードコート液を形成した。このハードコート液をディッピング法で塗布し、風乾後、１１０℃×２ｈ加熱硬化させて、膜厚２．０μのハードコート膜を形成した。
以下、ハードコート膜については各実施例及び比較例とも同様である。
【００２１】
Ｃ．反射防止膜（多層膜）の形成（二層目）
上記のハードコート膜が形成されたレンズを真空槽内にセットし、真空蒸着法によって、基板温度６０℃で反射防止膜の形成を行った。膜の構成は、光学膜厚で下から二酸化珪素層がλ/４、酸化ジルコニウム層０．５λ/４、二酸化珪素層０．２λ/４、酸化ジルコニウム層がλ/４、最上層の二酸化珪素層がλ/４の５層膜とした。ここで、λは５００ｎｍに設定した。
以下、反射防止膜については各実施例及び比較例とも同様である。
Ｄ．下地処理層の形成
上記反射防止膜が形成されたレンズを真空槽内にセットし、真空蒸着法によって、基板温度６０℃で下地処理層の形成を行った。蒸着後１時間同温度で保持し、下地処理層を定着させた。下地処理剤としては、
イ）Ｃ₉Ｆ₁₇−Ｏ−（ＣＨ₂ＣＨ₂Ｏ）₄−Ｈ・・・７２重量パーセント
ロ）ＯＣＮ−ＣＨ₂ＣＨ₂ＣＨ₂Ｓｉ−（ＯＣ₂Ｈ₅）₃・・・２８重量パーセント
を触媒下、室温にて６０時間かけて反応させたもの（１ａ）を使用した。水に対する接触角は８４．０°とした。
Ｅ．防曇層の形成
ＨＬＢ１０．７のフッ素系ノニオン界面活性剤（フタ−ジェント222F、（株）ネオス製）を手塗りで塗布した。
［評価結果］
結果を表１及び表２にまとめた。
【００２２】
実施例２
Ａ．〜Ｃ．省略
Ｄ．下地処理層の形成
上記反射防止膜が形成されたレンズに対して手塗りで下地処理剤を塗布し、基板温度６０℃で下地処理層の形成を行った。塗布後１時間同温度で保持し、下地処理層を定着させた。下地処理剤としては、
イ）上記実施例１のイ）において平均の付加モル数を６．４に変更した原料・・・７５重量パーセント
ロ）上記実施例１のロ）と同じ原料・・・２５重量パーセント
これらイ）及びロ）を触媒下、室温にて６０時間かけて反応させたもの（１ｂ）を使用した。水に対する接触角は５２．２°とした。
Ｅ．防曇層の形成
実施例１と同じＨＬＢ１０．７のフッ素系ノニオン界面活性剤を手塗りで塗布した。
［評価結果］
結果を表１及び表２にまとめた。
【００２３】
実施例３
Ａ．〜Ｃ．省略
Ｄ．下地処理層の形成
上記反射防止膜が形成されたレンズを真空槽内にセットし、真空蒸着法によって、基板温度６０℃で下地処理層の形成を行った。蒸着後１時間同温度で保持し、下地処理層を定着させた。下地処理剤としては
イ）
【００２４】
【化６】

【００２５】
ロ）上記実施例１のロ）と同じ原料・・・５１重量パーセント
これらイ）及びロ）を触媒下、室温にて２０時間かけて反応させたもの（２ａ）を使用した。水に対する接触角は６４．６°とした。
Ｅ．防曇層の形成
実施例１と同じＨＬＢ１０．７のフッ素系ノニオン界面活性剤を手塗りで塗布した。
［評価結果］
結果を表１及び表２にまとめた。
【００２６】
実施例４
Ａ．〜Ｃ．省略
Ｄ．下地処理層の形成
上記反射防止膜が形成されたレンズを真空槽内にセットし、真空蒸着法によって、基板温度６０℃で下地処理層の形成を行った。蒸着後１時間同温度で保持し、下地処理層を定着させた。下地処理剤としては
イ）上記実施例３のイ）と同じ原料・・・６６重量パーセント
ロ）上記実施例３のロ）と同じ原料・・・３４重量パーセント
これらイ）及びロ）を触媒下、室温にて２０時間かけて反応させたもの（２ｂ）を使用した。水に対する接触角は６２．３°とした。
Ｅ．防曇層の形成
実施例１と同じＨＬＢ１０．７のフッ素系ノニオン界面活性剤を手塗りで塗布した。
［評価結果］
結果を表１及び表２にまとめた。
【００２７】
実施例５
Ａ．〜Ｃ．省略
Ｄ．下地処理層の形成
上記実施例３と同様の処理で形成した。水に対する接触角は６４．６°とした。
Ｅ．防曇層の形成
ポリオキシエチレンソルビタンモノオレエートからなるＨＬＢ１０．０の非フッ素系ノニオン界面活性剤（レオド−ルTW-0106V、花王（株）製）を手塗りで塗布した。
［評価結果］
結果を表１及び表２にまとめた。
【００２８】
実施例６
Ａ．〜Ｃ．省略
Ｄ．下地処理層の形成
上記実施例３と同様の処理で形成した。水に対する接触角は６４．６°とした。
Ｅ．防曇層の形成
ポリアルキレングリコール誘導体からなるＨＬＢ８．０の非フッ素系ノニオン（プルロニック系）界面活性剤（プロノンB-204、日本油脂（株）製）を手塗りで塗布した。
［評価結果］
結果を表１及び表２にまとめた。
【００２９】
実施例７
Ａ．〜Ｃ．省略
Ｄ．下地処理層の形成
上記実施例４と同様の処理で形成した。水に対する接触角は６２．３°とした。
Ｅ．防曇層の形成
ポリオキシエチレンアルキルエーテル硫酸エステルからなる非フッ素系アニオン界面活性剤（エマ−ルE-27C、花王（株）製）を手塗りで塗布した。
［評価結果］
結果を表１及び表２にまとめた。
【００３０】
実施例８
Ａ．〜Ｃ．省略
Ｄ．下地処理層の形成
上記実施例４と同様の処理で形成した。水に対する接触角は６２．３°とした。
Ｅ．防曇層の形成
ソルビタンモノオレエートからなるＨＬＢ４．３の非フッ素系ノニオン界面活性剤（エマゾ−ルO-10V、花王（株）製）を手塗りで塗布した。
［評価結果］
結果を表１及び表２にまとめた。
【００３１】
実施例９
Ａ．〜Ｃ．省略
Ｄ．下地処理層の形成
上記実施例４と同様の処理で形成した。水に対する接触角は６２．３°とした。
Ｅ．防曇層の形成
ポリオキシエチレンラウリルエーテルからなるＨＬＢ１８．１の非フッ素系ノニオン界面活性剤（エマルゲン130K、花王（株）製）を手塗りで塗布した。
［評価結果］
結果を表１及び表２にまとめた。
【００３２】
実施例１０
Ａ．〜Ｃ．省略
Ｄ．下地処理層の形成
上記実施例２と同様の処理で形成した。水に対する接触角は５３．０°とした。
Ｅ．防曇層の形成
実施例５と同じポリオキシエチレンソルビタンモノオレエートからなるＨＬＢ１０．０の非フッ素系ノニオン界面活性剤（レオド−ルTW-0106V、花王（株）製）を手塗りで塗布した。
［評価結果］
結果を表１及び表２にまとめた。
【００３３】
実施例１１
Ａ．〜Ｃ．省略
Ｄ．下地処理層の形成
上記実施例１の条件において、
イ）上記実施例１のイ）と同じ原料・・・７０重量パーセント
ロ）
【００３４】
【化７】

【００３５】
を触媒下、室温にて６０時間かけて反応させたもの（１ｃ）を使用した。水に対する接触角は５７．４°とした。
Ｅ．防曇層の形成
実施例１と同じＨＬＢ１０．７のフッ素系ノニオン界面活性剤を手塗りで塗布した。
［評価結果］
結果を表１及び表２にまとめた。
【００３６】
【表１】

【００３７】
【表２】

【００３８】
比較例１
Ａ．〜Ｃ．省略
Ｄ．下地処理層の形成
比較例１では下地処理層は形成させなかった。反射防止膜表面での水に対する接触角は３８．４°とした。
Ｅ．防曇層の形成
実施例１と同じＨＬＢ１０．７のフッ素系ノニオン界面活性剤を手塗りで塗布した。
［評価結果］
結果を表３及び４にまとめた。
【００３９】
比較例２
Ａ．〜Ｃ．省略
Ｄ．下地処理層の形成
上記反射防止膜が形成されたレンズを真空槽内にセットし、真空蒸着法によって、基板温度６０℃で下地処理層の形成を行った。蒸着後１時間同温度で保持し、下地処理層を定着させた。下地処理剤としては、ポリオキシエチレン基を含まないパ−フルオロアルキル基を持つシラン化合物を使用した。
反射防止膜表面での水に対する接触角は９７．８°とした。
Ｅ．防曇層の形成
実施例１と同じＨＬＢ１０．７のフッ素系ノニオン界面活性剤を手塗りで塗布した。
［評価結果］
結果を表３及び４にまとめた。
【００４０】
比較例３
Ａ．〜Ｃ．省略
Ｄ．下地処理層の形成
上記反射防止膜が形成されたレンズを真空槽内にセットし、真空蒸着法によって、基板温度６０℃で下地処理層の形成を行った。蒸着後１時間同温度で保持し、下地処理層を定着させた。下地処理剤としては、
イ）ＨＯ−（ＣＨ₂ＣＨ₂Ｏ）₄₅−Ｈ・・・９１．７重量パーセント
ロ）上記実施例１１のロ）と同じ原料・・・８．３重量パーセント
これらイ）及びロ）を触媒下、室温にて２０時間かけて反応させたもの（２ｃ）を使用した。水に対する接触角は３１．２°とした。
Ｅ．防曇層の形成
実施例１と同じＨＬＢ１０．７のフッ素系ノニオン界面活性剤を手塗りで塗布した。
［評価結果］
結果を表３及び４にまとめた。
【００４１】
比較例４
Ａ．〜Ｂ．省略
Ｃ．反射防止膜（多層膜）の形成（二層目）
比較例４では反射防止膜は形成させなかった。
Ｄ．下地処理層の形成
比較例４では下地処理層は形成させなかった。
Ｅ．防曇層の形成
実施例５と同じポリオキシエチレンソルビタンモノオレエートからなるＨＬＢ１０．０の非フッ素系ノニオン界面活性剤を手塗りで塗布した。
［評価結果］
結果を表３及び４にまとめた。
【００４２】
【表３】

【００４３】
【表４】

【００４４】
性能評価方法について
（ａ）初期防曇性
防曇層を形成した後、呼気による曇り具合を目視した。
判定基準
Ａ：均一な水膜を形成し曇らない
Ｂ：斑な水膜を形成する
Ｃ：細かな水滴を形成し曇る
（ｂ）耐久防曇性
水中に1分間浸せきした後すぐにエア−ブロ−乾燥し、呼気による曇り具合を目視した。
判定基準は初期防曇性と同じである。
（ｃ）水ヤケ防止性
防曇層を水洗除去し乾燥した表面に水道水の小さな水滴を付着させ、自然乾燥後ティッシュペ−パ−で拭き取ってレンズ表面に残るヤケを目視した。
判定基準
○：水ヤケはまったくない
△：水ヤケはほとんどないか、めだたない
×：水ヤケがめだつ
【００４５】
評価結果によれば、実施例では比較的水ヤケを防止しつつ防曇性が得られることが分かる。

Claims

基材の酸化物表面に、フッ素原子を含む疎水部と、−（ＣＨ ₂ ＣＨ ₂ Ｏ）ｎ−で示されるポリオキシエチレン基を含む親水部と、基材と反応するカップリング部とを有する水に対する接触角が５０〜９０°である下地処理層を設け、同下地処理層の上に界面活性剤を主成分とする防曇層を形成するようにしたことを特徴とする防曇性光学体。
基材の酸化物表面に、−（ＣＨ ₂ ＣＨ ₂ Ｏ）ｎ−で示されるポリオキシエチレン基を含む親水部と、基材と反応するカップリング部とを有する水に対する接触角が５０〜９０°である下地処理層を設け、同下地処理層の上に界面活性剤を主成分とする防曇層を形成するようにしたことを特徴とする防曇性光学体。
前記界面活性剤はＨＬＢ値が５〜１５の範囲のノニオン系界面活性剤であることを特徴とする請求項１又は２に記載の防曇性光学体。
前記界面活性剤はフッ素系界面活性剤であることを特徴とする請求項１〜３のいずれかに記載の防曇性光学体。
前記カップリング部は、アルコキシシラン基、シラノール基及びイソシアネート基から選ばれる少なくとも１つの官能基であることを特徴とする請求項１〜４のいずれかに記載の防曇性光学体。