JP3319905B2 - デジタルx線撮影装置 - Google Patents

デジタルx線撮影装置

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JP3319905B2
JP3319905B2 JP06660295A JP6660295A JP3319905B2 JP 3319905 B2 JP3319905 B2 JP 3319905B2 JP 06660295 A JP06660295 A JP 06660295A JP 6660295 A JP6660295 A JP 6660295A JP 3319905 B2 JP3319905 B2 JP 3319905B2
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恵介 森
正和 鈴木
一成 的場
晃永 山本
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J Morita Manufaturing Corp
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Hamamatsu Photonics KK
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    • A61BDIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/50Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment specially adapted for specific body parts; specially adapted for specific clinical applications
    • A61B6/51Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment specially adapted for specific body parts; specially adapted for specific clinical applications for dentistry
    • HELECTRICITY
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    • H04N23/30Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof for generating image signals from X-rays

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  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、人体の頭部、胴、四肢
などの被写体を所望の断層面に沿ってパノラマ断層撮影
またはリニア断層撮影を行うデジタルX線撮影装置に関
する。
【0002】
【従来の技術】先行技術として、特開昭61−2284
1号公報および実公平4−48169号公報があり、C
CDセンサ上に動きを伴って形成されるX線像に対し、
その動きに合わせて電荷転送クロックの周波数を変化さ
せることによって、画像信号の時間遅延積分(TDI:
Time Delay Integration)を行うX線撮影装置が開示さ
れている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、特開昭
61−22841号公報および実公平4−48169の
装置では、CCDセンサを用いてTDI動作を行ってい
るため、特定の断層面に関する画像信号しか得られな
い。したがって、別の断層画像を見たい場合には、再度
X線撮影を行う必要があり、被爆線量の増加が避けられ
ない。
【0004】本発明の目的は、1回のX線撮影で任意の
断層面に沿った断層画像を得ることが可能であって、し
かも撮像感度が高いパノラマ断層撮影またはリニア断層
撮影を行うデジタルX線撮影装置を提供することであ
る。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明は、被写体に向け
てX線を発生するX線発生器と、被写体を通過したX線
像を検出するX線撮像器と、X線発生器およびX線撮像
器を対向させ、被写体に対して相対移動させるための移
動手段と、X線撮像器からの画像信号に基づいて断層画
像を生成するための信号処理手段と、信号処理手段で生
成された断層画像を表示する表示手段とを備え、前記X
線撮像器は、多段接続された2次元配列した複数の受光
画素を有するMOSセンサと、各MOSセンサの読出し
画素を選択する画素選択回路と、各MOSセンサ毎に配
置され、選択された各受光画素からの画像信号を取込ん
で時系列に転送する複数のシフトレジスタとを含み、前
記信号処理手段は、前記シフトレジスタからの撮像した
複数の画像データを格納したフレームメモリ内の画像デ
ータをシフトするシフト処理と同一画素毎に加算する加
算処理を多数繰返して断層画像を生成し、前記表示手段
によって表示することを特徴とするデジタルX線撮像装
置である。また本発明は、パノラマ断層撮影またはリニ
ア断層撮影を選択する撮影選択手段を備え、選択された
撮影モードに応じて、MOSセンサの読出し画素の範囲
を切換えることを特徴とする。また本発明は、被写体の
X線照射野を制限する1次スリット板と、X線撮像器に
入射するX線入射領域を制限する2次スリット板とを備
え、撮影選択手段によって選択された撮影モードに応じ
て、1次スリット板および2次スリット板の開口範囲を
切換えることを特徴とする。また本発明は、パノラマ断
層撮影において、撮影中に2次スリット板の開口幅を調
整することを特徴とする。
【0006】
【作用】本発明に従えば、2次元配列した複数の受光画
素を有するMOS(metal-oxidesemiconductor )センサ
を用いることによって、高感度の撮像が実現する。たと
えば、従来のCCDセンサと比較して、量子効率で約
1.75倍向上し、受光画素の開口率で80%に低下す
ることを見込んでも、総合的には約1.4倍の感度向上
を実現できる。
【0007】また、被写体に対して所定分解能でX線発
生器およびX線撮像器を移動させながら被写体のX線像
を取り込んだ後、信号処理手段によって任意の断層面に
沿った断層画像を生成することが可能になるため、1回
のX線撮影から得られる画像データから多数の断層画像
を再生することができる。
【0008】また、複数のMOSセンサを多段接続し
て、各MOSセンサ毎に配置された複数のシフトレジス
タから並列的にデータ転送することによって、全体のデ
ータ転送速度が格段に向上する。また、製造歩留まりの
点から大面積のMOSセンサが得られない場合であって
も、複数のMOSセンサを多段接続することによって、
受光面積の大型化を図ることができる。移動手段によっ
てX線発生器およびX線撮像器を対向させた状態で被写
体に対して相対移動して、撮影角度が少しずつずれた画
像データをフレームメモリに格納し、このフレームメモ
リの画像データを用いて、同一画素毎に加算する動作を
繰返して、断層画像を生成し、したがって断層画像が、
加算処理によって明瞭化され、断層面以外の部分は、バ
ックグランドに埋もれてしまう。こうして表示手段に
は、前述のように明瞭な断層画像が表示される。
【0009】また本発明に従えば、パノラマ断層撮影ま
たはリニア断層撮影の選択に応じてMOSセンサの読出
し画素の範囲を切換えることによって、両方の撮影モー
ドを1つのMOSセンサで兼用できる。
【0010】また本発明に従えば、撮影モードに応じて
1次スリット板および2次スリット板の開口範囲を切換
えることによって、撮影条件の設定を簡単に行うことが
できる。
【0011】また本発明に従えば、パノラマ断層撮影に
おいて撮影領域に応じて2次スリット板の開口幅を変化
させることによって断層幅を制御できるため、不要断層
像が少なく診断し易いパノラマ画像が得られる。
【0012】
【実施例】図1は、本発明の一実施例の全体斜視図であ
る。基台1の上には、患者用の椅子8と支柱1aが設け
られ、この支柱1aに対して昇降自在に昇降フレーム1
bが設けられる。昇降フレーム1bには、患者頭部を位
置付けするための位置付け部材5が取付けられ、さらに
昇降フレーム1bの上端から水平アーム2が延出してお
り、その先端付近にXYテーブルおよび回転テーブルを
内蔵した平面移動機構3が取り付けられる。平面移動機
構3の可動部には旋回アーム4が取付けられ、水平面内
の任意位置を中心として回転可能となる。旋回アーム4
の一端にはX線源6が設けられ、他端にはX線撮像器7
が設けられる。X線源6は、回動用モータ6aによって
所望の角度で首振り可能であり、さらにX線源6の前方
にはX線照射野を制限する1次スリット板6bが設けら
れ、その開口範囲を調整する駆動モータ6cが取り付け
られる。
【0013】図2は、本発明の一実施例の全体構成図で
ある。X線源6は被写体に向けてX線を発生し、1次ス
リット板6bによってX線照射野が制御される。X線源
6にはX線管(不図示)が内蔵され、管電圧、管電流、
通電時間などの撮影条件を調整することによって、被写
体へのX線照射量が制御される。
【0014】X線撮像器7は、2次元配列した複数の受
光画素を有するMOSイメージセンサを内蔵し、被写体
を通過したX線像を検出する。X線撮像器7の前方に
は、X線入射領域を制限する2次スリット板7aが設け
られる。
【0015】MOSイメージセンサ30の背面およびM
OSイメージセンサ30の内蔵されるX線撮像器7の箱
体内部はX線の散乱線の悪影響を防ぐため鉛等でX線遮
蔽されている。
【0016】旋回アーム4は、X線源6およびX線撮像
器7を対向させるように保持し、パノラマ断層撮影の際
に被写体の周りを旋回する。また、リニア断層撮影の際
には、X線撮像器7が被写体に対して直線変位するため
のスライド機構13が設けられる。旋回アーム4は、回
転テーブルを構成するアームモータ10によって駆動さ
れ、その回転角度は角度センサ12によって検出され
る。またアームモータ10はXYテーブル14の可動部
に搭載され、回転中心が水平面内で任意に調整される。
【0017】X線撮像器7から出力される画像信号は、
AD変換器20によってたとえば10ビット(=102
4レベル)のデジタルデータに変換され、CPU(中央
処理装置)21にいったん取り込まれた後、フレームメ
モリ22に格納される。フレームメモリ22に格納され
た画像データから、所定の演算処理によって任意の断層
面に沿った断層画像が再生される。再生された断層画像
は、ビデオメモリ24に出力され、DA変換器25によ
ってアナログ信号に変換された後、CRT(陰極線管)
などの画像表示部26によって表示され、各種診断に供
される。
【0018】CPU21には、信号処理に必要なワーク
メモリ23が接続され、さらにパネルスイッチやX線照
射スイッチ等を備えた操作パネル19が接続されてい
る。またCPU21は、アームモータ10を駆動するモ
ータ駆動回路11、1次スリット板6bおよび2次スリ
ット板7aの開口範囲を制御するスリット制御回路1
5、16、X線源6を制御するX線制御回路18にそれ
ぞれ接続され、さらにX線撮像器7のMOSイメージセ
ンサを駆動するためのクロック信号を出力する。
【0019】X線制御回路18は、X線撮像器7のMO
Sイメージセンサで撮像された信号に基づいて、被写体
へのX線照射量を帰還制御することが可能である。
【0020】図3(a)はMOSイメージセンサの動作
原理を示す回路図であり、図3(b)はそのタイミング
図である。受光画素を構成するフォトダイオードPDは
入射した光を電気信号に変換する。フォトダイオードP
Dには、MOSFETから成るスイッチSWが直列接続
されており、さらに演算増幅器Q1の反転端子に接続さ
れる。演算増幅器Q1は帰還抵抗R1が接続されて電流
電圧変換回路を構成しており、入力電流が電圧信号とし
て出力される。また演算増幅器Q1の非反転端子にはグ
ランド(GND)に対して電圧V1が印加されている。
【0021】図3(b)において、正の読出しパルスR
DがスイッチSWのゲートに入ると、スイッチSWが開
いて、フォトダイオードPDが逆バイアス状態になり、
接合容量C1に一定の電荷が充電される。次にスイッチ
SWが閉じて、蓄積期間中に光が入射すると、充電され
ていた電荷は光入射による電荷によって放電し、フォト
ダイオードPDのカソード電位はグランド電位に近づい
ていく。この放電電荷量は入射光量に比例して増加す
る。次に読出しパルスRDがスイッチSWのゲートに入
ってスイッチSWが開くと、蓄積時間内に放電した電荷
に相当する電荷が帰還抵抗R1を介して供給されるとと
もに、フォトダイオードPDは再び逆バイアス状態にな
って初期化される。このとき帰還抵抗R1の両端には充
電電流による電位差が生じ、演算増幅器Q1から電圧信
号として出力される。この充電電流は光入射による放電
電流に相当するため、この出力電圧により入射光量が検
知される。
【0022】図3(c)は信号読出し回路の他の例であ
る。この回路では、演算増幅器Q1の反転端子と出力端
子の間に積分容量C2およびスイッチSWaが接続され
ており、全体として電流積分回路を構成している。読出
し用のスイッチSWが開く直前に、積分回路の積分容量
C2を外部のリセットパルスによって放電させる。次に
スイッチSWが開くと、蓄積期間中の光出力に相当する
電荷が電源からフォトダイオードPDの接合容量C1に
充電され、フォトダイオードPDの電位は正電位V1に
初期化され、その充電電流によって積分容量C2も充電
される。そのため、積分回路の出力端子には方形波の積
分波形が得られ、わざわざサンプリングホールド回路等
の特殊な回路構成を設ける必要が無いため、後段の信号
処理が容易になる。
【0023】図4は、X線イメージセンサの構造を示す
断面図である。受光画素となるフォトダイオードPDが
2次元配列したMOSイメージセンサ30の上に、光学
像を伝送する光ファイバ素子(FOP)31が設置さ
れ、さらにその上にX線を可視光に変換するシンチレー
タ層32が形成される。被写体を通過したX線像は、シ
ンチレータ層32によって可視光像に変換され、さらに
光ファイバ素子31によって伝送され、そのままMOS
イメージセンサ30で光電変換される。
【0024】図5は、MOSイメージセンサ30の駆動
回路である。受光画素となるフォトダイオードPDがm
行×n列のマトリクス状に配列しており、各フォトダイ
オードPDに接合容量C1が並列接続され、読出し用の
スイッチSWが直列接続されている。スイッチSWのゲ
ートはアドレス選択回路SLが接続され、CPU21か
らの信号に基づいて読出すべきフォトダイオードPDが
選択される。
【0025】スイッチSWの出力側は列単位で共通接続
され、電流電圧変換回路を構成する演算増幅器Q1に入
力される。演算増幅器Q1の出力は、サンプルホールド
(S/H)回路によってサンプリングされる。各サンプ
ルホールド回路はm段のシフトレジスタSRによって開
閉するスイッチSWbに接続されている。各スイッチS
Wbが順番に開閉することによって、サンプリングされ
た信号は時系列信号としてビデオライン上に転送され、
外部バッファBFに出力される。
【0026】図6は、図5の駆動回路の動作を示すタイ
ミング図である。ここではアドレス選択回路SLとして
シフトレジスタを用いる例を説明する。アドレス選択回
路SLは、CPU21からのスタートパルスによって起
動され、CPU21からの読出しクロックに同期して、
第1列の読出しパルスRD1、第2列の読出しパルスR
D2、…、第n列の読出しパルスRDnを順番に出力す
る。
【0027】たとえば第1列の読出しパルスRD1が第
1列の各スイッチSWのゲートに入力されると、第1列
の各フォトダイオードPDへの入射光量に相当する電荷
が読出され、演算増幅器Q1から電圧信号が出力され
る。次に演算増幅器Q1の出力がピークになる時点をサ
ンプリングするように、サンプリングパルスSPが各サ
ンプルホールド回路に入力される。サンプリングされた
信号はシフトレジスタSRに入力され、次のサンプリン
グパルスSPが入るまでにm個のパルスから成るシフト
クロックCKによって転送され、1走査線分の画像信号
として外部に出力される。第2列以降についても同様
に、1つの読出しパルスによってm行分の信号が並列的
に読出され、シフトレジスタSRによって1走査線分の
時系列信号が構成される。
【0028】図7は、MOSイメージセンサを多段接続
した回路例である。m行n列の受光画素を有する2つの
MOSイメージセンサ30a、30bが列方向に連んで
配置され、アドレス選択回路SLであるシフトレジスタ
SLaからの各読出しパルスRD1〜RDnが同一列で
駆動されるように接続されている。1つの読出しパルス
によって2m個のフォトダイオードから信号が並列的に
読出されて、各列に対応した2m個の演算増幅器Q1お
よびサンプルホールド回路に入力される。2つのシフト
レジスタSRa、SRbが2つのMOSイメージセンサ
30a、30bに対応して配置され、2m個のスイッチ
SWbを順番に開閉することによって各サンプルホール
ド回路からの出力をビデオラインへ時系列信号として転
送する。ビデオライン上の出力信号は2つのAD変換器
20a、20bにそれぞれ入力されてデジタルデータに
変換され、CPU21に取込まれる。こうして撮像領域
の拡大が実現し、全体のデータ転送を高速に行うことが
できる。またここでは2つのMOSイメージセンサを多
段接続する例を説明したが、3つ以上であっても構わな
い。
【0029】図8はリニア断層撮影の手順を示すフロー
チャートであり、図9はリニア断層撮影の説明図であ
る。まずリニア断層撮影の原理について説明する。図1
に示すように、先ず被写体である患者Pが椅子8に腰掛
けて、位置付け部材5によって頭部を固定した後、旋回
アーム4の長手方向と図9の中心線A−Aとが一致する
ように平面移動機構3を制御する。次にX線撮像器7を
図面下方に移動させると同時に、X線源6を図面上方に
移動させる。この移動に応じて、X線源6から照射され
るX線束の中心が常に平面断層面Lの中心点Cを通り、
かつX線撮像器7の同一箇所に入射するようにX線源6
を回動させる。
【0030】このときX線撮像器7の撮像領域において
平面断層面Lの同じ部分の像が常に同じ位置に入射する
のに対して、平面断層面L以外の部分は像が流れてボケ
像となる。こうして平面断層面Lの部分だけが鮮明に撮
像されることになる。なお、図9の2次スリット板7a
はモータ7bによって移動する。また、X線撮像器7
は、スライド機構13を構成するモータ13aによって
移動する。
【0031】なお、上述の説明では、平面断層面Lの中
心点Cを中心にX線源6およびX線撮像器7を直線移動
させる例を示したが、中心点Cを中心にX線源6および
X線撮像器7を回転移動させても同様なリニア断層画像
が得られる。
【0032】本発明のデジタルX線撮影装置でリニア断
層撮影を行う場合、X線源6およびX線撮像器7を一定
速度で移動させ、所定の移動量ごとにMOSイメージセ
ンサで被写体のX線像を撮像して、撮影角度が少しずつ
ずれた画像データを多数のフレームメモリ22に格納し
た後、演算処理によって断層画像を再生する。
【0033】図8において、ステップs1においてパラ
メータkを1に初期化して、ステップs2において撮影
を開始して、X線源6およびX線撮像器7が所定位置に
あるときの1画面分の画像データを読み取って、ステッ
プs3でk番目のフレームメモリに画像データを保存す
る。次にパラメータkを1つ増加させ、ステップ5でK
枚目の撮像が完了したか否かを判定する。こうしてステ
ップs2〜s5を繰り返すことによって、撮影角度が少
しずつずれたK枚分の画像データをフレームメモリ22
に格納する。
【0034】撮影を終えると、ステップs6で各フレー
ムメモリに格納された画像データを同一画素ごとに加算
平均する。こうして平面断層面Lの像が加算処理によっ
て明瞭化され、平面断層面L以外の部分はバックグラン
ドに埋もれてしまう。次にステップs7において、再生
された断層画像データがビデオメモリ24に転送され、
画像表示部26によって表示される。
【0035】図10〜図12はパノラマ断層撮影の説明
図である。図10において、2次スリット板7aの開口
が細長くなるように制御され、MOSイメージセンサ3
0の撮像領域がたとえば幅6mm×長さ150mm程度
になるように部分的に制限され、さらに図5のアドレス
選択回路SLによってMOSイメージセンサ30の読出
し画素の範囲を切換えられる。また、2次スリット板7
aはリニア撮影用に広く開口させたままで開口制御は行
わずにMOSイメージセンサ30の受光領域のみをパノ
ラマ撮像領域とリニア撮影用とに制御することも当然可
能である。
【0036】本発明のデジタルX線撮影装置でパノラマ
断層撮影を行う場合、旋回アーム4がX線源6およびX
線撮像器7を対向させて被写体の周りを旋回するととも
に、所定の旋回角度ごとにMOSイメージセンサ30で
被写体のX線像を撮像して、撮影角度が少しずつずれた
画像データを多数のフレームメモリ22に格納した後、
演算処理によって断層画像を再生する。
【0037】図11において、断層面Vに物体イ、ロ、
ハ、ニ、ホが並んでおり、断層面Wに物体a、b、c、
dが並んでいる。ある撮影角度における画像情報J1
は、物体イと物体aの像が重なり、物体ロと物体bの像
が重なり、物体ハと物体cの像が重なったものとなる。
撮影角度が角度θ変化したときには、画像情報J2は、
物体ハと物体bの像が重なり、物体ニと物体cの像が重
なり、物体ホと物体dの像が重なったものとなる。
【0038】図12(a)は、得られた画像情報J1、
J2をそのまま加算した結果であり、各断層面V、Wで
の物体像が同じレベルで1単位ずつ加算されている。図
12(b)では、画像情報J1を1段ずつシフトしてシ
フト画像情報J1sを新たに生成している。図12
(c)ではシフト画像情報J1sと画像情報J2を加算
しており、その結果、各段において物体b、c、dの像
が2単位となり、物体ロ、ハ、ニ、ホの像が1単位のま
まである。したがって、このようなシフト処理と加算処
理を多数繰り返すことによって、所望の断層面Wにおけ
る物体a、b、c、dの像が次々と加算され、断層面W
以外の物体像はバックグランドに埋もれてしまう。こう
して所望の断層面に沿ったパノラマ断層画像が再生され
る。
【0039】図13〜図15は、1次スリット板6bお
よび2次スリット板7aの各例を示す構成図である。図
13において、ねじ山の向きが反対に形成された2つの
雄ねじ部を有するねじ53に1対のX線遮蔽板51が螺
合しており、ねじ53がモータ52によって回転する
と、X線遮蔽板51の縦方向の開口幅が調整される。同
様に、ねじ山の向きが反対に形成された2つの雄ねじ部
を有するねじ55がねじ53と直交方向に配置され、1
対のX線遮蔽板51が螺合しており、ねじ55がモータ
54によって回転すると、X線遮蔽板51の横方向の開
口幅が調整される。こうして開口部XAの寸法が任意に
調整可能になる。
【0040】図14において、矩形状のX線遮蔽板51
はロール56によって支持され、ねじ53に取付けられ
る。ねじ53がモータ52によって回転すると、X線遮
蔽板51は水平方向に直線移動する。X線遮蔽板51に
は、寸法の異なる複数の開口部XA〜XEが穿設されて
おり、移動位置によって選択的に使用される。
【0041】図15において、円板状のX線遮蔽板51
は、軸57によって軸支され、円周に形成されたねじ部
とウォームねじ53とが螺合している。ねじ53がモー
タ52によって回転すると、X線遮蔽板51は回転す
る。X線遮蔽板51には、寸法の異なる複数の開口部X
A〜XEが穿設されており、回転位置によって選択的に
使用される。
【0042】こうして撮影条件に応じて1次スリット板
6bおよび2次スリット板7aの開口範囲を簡単に切換
えることができる。
【0043】図16は、パノラマ断層撮影における旋回
中心軌道および断層面を示す説明図である。X線源6か
らのX線が断層面Wに対してほぼ垂直に入射するように
旋回アーム4が移動して、旋回中心から断層面までの距
離、すなわち実効旋回半径は、撮影する断層面Wの曲率
半径によって変化する。したがって、旋回アーム4の旋
回中心は、中央で屈曲し滑らかな曲線で示される軌道Z
上を移動する。
【0044】前歯領域Gを撮影する場合、実効旋回半径
が小さくなるため、断層画像として再生される範囲を示
す断層幅が臼歯領域Hの断層幅よりも狭くなるおそれが
ある。その対策として、MOSセンサの読出し画素の範
囲を狭く調整することによって、前歯部の断層幅が拡大
されるため、患者の位置付けが容易になる効果がある。
少なくともMOSセンサの読出し画素の範囲を制御する
ことによって断層画像の幅が調整できるわけであるが、
MOSセンサの読出し画素の範囲の制御および/もしく
は2次スリット板7aの開口幅をX線撮影中に制御する
ことによっても断層画像の幅調整が可能である。
【0045】
【発明の効果】以上詳説したように本発明によれば、高
感度の断層撮影が実現するとともに、撮影終了後に任意
の断層面に沿った断層画像を生成することが可能にな
る。したがって、X線撮影回数の低減化が可能になり、
被爆線量を大幅に減らすことができる。
【0046】また、MOSセンサの多段接続によって撮
像面積の大型化が容易になり、しかも全体のデータ転送
速度を格段に向上させることができる。また、移動手段
によってX線発生器およびX線撮像器を対向させた状態
で被写体に対して相対移動して、撮影角度が少しずつず
れた画像データをフレームメモリに格納し、このフレー
ムメモリの画像データを用いて、同一画素毎に加算する
動作を繰返して、断層画像を生成し、したがって断層画
像が、加算処理によって明瞭化され、断層面以外の部分
は、バックグランドに埋もれてしまう。こうして表示手
段には、前述のように明瞭な断層画像が表示される。
【0047】また、パノラマ断層撮影またはリニア断層
撮影の切替えに応じて、最適な撮影条件を迅速かつ確実
に設定でき、各撮影モードに応じた高画質の断層画像を
得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例の全体斜視図である。
【図2】本発明の一実施例の全体構成図である。
【図3】図3(a)はMOSイメージセンサの動作原理
を示す回路図、図3(b)はそのタイミング図、 図3
(c)は他の回路例である。
【図4】X線イメージセンサの構造を示す断面図であ
る。
【図5】MOSイメージセンサ30の駆動回路である。
【図6】図5の駆動回路の動作を示すタイミング図であ
る。
【図7】MOSイメージセンサを多段接続した回路例で
ある。
【図8】リニア断層撮影の手順を示すフローチャートで
ある。
【図9】リニア断層撮影の説明図である。
【図10】パノラマ断層撮影の説明図である。
【図11】パノラマ断層撮影の説明図である。
【図12】パノラマ断層撮影の説明図である。
【図13】1次スリット板6bおよび2次スリット板7
aの例を示す構成図である。
【図14】1次スリット板6bおよび2次スリット板7
aの例を示す構成図である。
【図15】1次スリット板6bおよび2次スリット板7
aの例を示す構成図である。
【図16】パノラマ断層撮影における旋回中心軌道およ
び断層面を示す説明図である。
【符号の説明】
1 基台 2 水平アーム 3 平面移動機構 4 旋回アーム 5 位置付け部材 6 X線源 6b 1次スリット板 7 X線撮像器 7a 2次スリット板 20、20a、20b AD変換器 21 CPU 22 フレームメモリ 26 画像表示部 30、30a、30b MOSイメージセンサ 31 光ファイバ素子 32 シンチレータ層
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 鈴木 正和 京都府京都市伏見区東浜南町680番地 株式会社モリタ製作所内 (72)発明者 的場 一成 京都府京都市伏見区東浜南町680番地 株式会社モリタ製作所内 (72)発明者 山本 晃永 静岡県浜松市市野町1126番地の1 浜松 ホトニクス株式会社内 (72)発明者 水野 誠一郎 静岡県浜松市市野町1126番地の1 浜松 ホトニクス株式会社内 (56)参考文献 特開 平2−84942(JP,A) 特開 平6−277213(JP,A) 特開 平6−113215(JP,A) 特開 平6−181(JP,A) 特開 平4−144549(JP,A) 特開 昭57−166144(JP,A) 特開 平3−202051(JP,A) 特開 平5−48460(JP,A) 特開 平4−277984(JP,A) 特開 昭60−230078(JP,A) ***国特許出願公開3242663(DE, A1) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) A61B 6/00 - 6/14

Claims (4)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被写体に向けてX線を発生するX線発生
    器と、 被写体を通過したX線像を検出するX線撮像器と、 X線発生器およびX線撮像器を対向させ、被写体に対し
    て相対移動させるための移動手段と、 X線撮像器からの画像信号に基づいて断層画像を生成す
    るための信号処理手段と、 信号処理手段で生成された断層画像を表示する表示手段
    とを備え、 前記X線撮像器は、 多段接続された2次元配列した複数の受光画素を有する
    MOSセンサと、 各MOSセンサの読出し画素を選択する画素選択回路
    と、 各MOSセンサ毎に配置され、選択された各受光画素か
    らの画像信号を取込んで時系列に転送する複数のシフト
    レジスタとを含み、 前記信号処理手段は、 前記シフトレジスタからの撮像した複数の画像データを
    格納したフレームメモリ内の画像データをシフトするシ
    フト処理と同一画素毎に加算する加算処理を多数繰返し
    て断層画像を生成し、前記表示手段によって表示するこ
    とを特徴とするデジタルX線撮像装置。
  2. 【請求項2】 パノラマ断層撮影またはリニア断層撮影
    を選択する撮影選択手段を備え、 選択された撮影モードに応じて、MOSセンサの読出し
    画素の範囲を切換えることを特徴とする請求項1記載の
    デジタルX線撮影装置。
  3. 【請求項3】 被写体のX線照射野を制限する1次スリ
    ット板と、 X線撮像器に入射するX線入射領域を制限する2次スリ
    ット板とを備え、 撮影選択手段によって選択された撮影モードに応じて、
    1次スリット板および2次スリット板の開口範囲を切換
    えることを特徴とする請求項2記載のデジタルX線撮影
    装置。
  4. 【請求項4】 パノラマ断層撮影において、撮影中に2
    次スリット板の開口幅を調整することを特徴とする請求
    項2または3記載のデジタルX線撮影装置。
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