JP2951020B2 - 光検出器のアレイから画像データを読み出す方法及び画像検出器システム - Google Patents
光検出器のアレイから画像データを読み出す方法及び画像検出器システムInfo
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Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、画像作成用の固体多重
素子X線検出器を用いたX線システムに関し、更に詳し
くは、検出素子から信号を読み出して、これらの信号を
処理するための技術に関する。
素子X線検出器を用いたX線システムに関し、更に詳し
くは、検出素子から信号を読み出して、これらの信号を
処理するための技術に関する。
【0002】
【従来の技術】従来のX線蛍光透視装置では、X線源か
ら医療患者のような被分析対象を通してX線ビームを投
射する。ビームが患者を通過した後、画像増倍管が通
常、X線放射を可視光像に変換し、ビデオカメラが可視
像からアナログビデオ信号を発生し、モニタに表示す
る。アナログビデオ信号を発生するので、自動輝度調節
及び画像強調のための画像処理がアナログ領域で行われ
る。
ら医療患者のような被分析対象を通してX線ビームを投
射する。ビームが患者を通過した後、画像増倍管が通
常、X線放射を可視光像に変換し、ビデオカメラが可視
像からアナログビデオ信号を発生し、モニタに表示す
る。アナログビデオ信号を発生するので、自動輝度調節
及び画像強調のための画像処理がアナログ領域で行われ
る。
【0003】最近、高分解能の固体X線検出器が提案さ
れ、この検出器は、各次元に3000個から4000個
のホトダイオード検出素子の2次元アレイで構成されて
いる。各素子は検出器に投射されるX線像の画素輝度に
対応する電気信号を発生する。各検出素子からの信号は
個別に読み出されてディジタル化され、その後に画像処
理、記憶及び表示される。
れ、この検出器は、各次元に3000個から4000個
のホトダイオード検出素子の2次元アレイで構成されて
いる。各素子は検出器に投射されるX線像の画素輝度に
対応する電気信号を発生する。各検出素子からの信号は
個別に読み出されてディジタル化され、その後に画像処
理、記憶及び表示される。
【0004】このような検出素子の大型アレイによって
得られる高分解能は多くの場合、患者の分析に有益であ
る。しかしながら、高度の分解能が必要でない場合に
は、義務として課されるアレイからの大量のデータの処
理によって、画像処理時間が妥当な所要時間よりも著し
く長くなる。更に、X線システムによっては、このよう
な高度の分解能を備えた検出器を必要としない。この場
合、より小型のマトリクス検出器で十分である。しかし
ながら、この場合、所要分解能が異なるX線装置ごとに
大きさの異なる検出器を作成するのではなくて、より大
きいマトリクス検出器を用いる方がコスト効率が良いこ
とがあり得る。このいずれの場合も検出器が必要以上の
高分解能の画像を発生するときには、データ量を削減す
るための技術が望ましくなる。
得られる高分解能は多くの場合、患者の分析に有益であ
る。しかしながら、高度の分解能が必要でない場合に
は、義務として課されるアレイからの大量のデータの処
理によって、画像処理時間が妥当な所要時間よりも著し
く長くなる。更に、X線システムによっては、このよう
な高度の分解能を備えた検出器を必要としない。この場
合、より小型のマトリクス検出器で十分である。しかし
ながら、この場合、所要分解能が異なるX線装置ごとに
大きさの異なる検出器を作成するのではなくて、より大
きいマトリクス検出器を用いる方がコスト効率が良いこ
とがあり得る。このいずれの場合も検出器が必要以上の
高分解能の画像を発生するときには、データ量を削減す
るための技術が望ましくなる。
【0005】従来のホトダイオード検出アレイ固有の問
題は、ホトダイオードに配置されたバイアス電荷がトラ
ンジスタ電流漏洩によって、又、一般に「暗電流」とし
て知られている機構によって部分的に放電されることが
ある。暗電流及び電流漏洩の影響による電荷空乏は画像
信号のオフセットを生じる。これらの電流によって除去
される電荷の量は一定でないので、信号オフセットが変
動し、検出器出力に不確定要素が加わる。
題は、ホトダイオードに配置されたバイアス電荷がトラ
ンジスタ電流漏洩によって、又、一般に「暗電流」とし
て知られている機構によって部分的に放電されることが
ある。暗電流及び電流漏洩の影響による電荷空乏は画像
信号のオフセットを生じる。これらの電流によって除去
される電荷の量は一定でないので、信号オフセットが変
動し、検出器出力に不確定要素が加わる。
【0006】これらの電流によって幾分ホトダイオード
から除去される電荷の量は、ホトダイオードのバイアス
から検出素子の電荷検知までの時間の長さの関数であ
る。従って、これらの電流の影響を最小限にするために
は、検出器アレイの素子の読み出しに必要な時間を最小
限にすることが望ましい。これにより、画像信号処理回
路の帯域幅を小さくし、回路により検出器信号に加わる
電気雑音を小さくするために、読み出し時間を大きくす
ることも望ましいという点とのかね合いが生じる。
から除去される電荷の量は、ホトダイオードのバイアス
から検出素子の電荷検知までの時間の長さの関数であ
る。従って、これらの電流の影響を最小限にするために
は、検出器アレイの素子の読み出しに必要な時間を最小
限にすることが望ましい。これにより、画像信号処理回
路の帯域幅を小さくし、回路により検出器信号に加わる
電気雑音を小さくするために、読み出し時間を大きくす
ることも望ましいという点とのかね合いが生じる。
【0007】
【発明の概要】固体画像センサは、m列n行に設けられ
た光検出器の2次元アレイで形成されている。ここで、
m及びnは整数である。高分解能画像検知の場合、アレ
イの各列及び各行に約4000個もの光検出器が配列さ
れていることがある。各列の光検出器は、個別のスイッ
チ手段によって共通の列出力線に接続されている。各行
の光検出器に対するスイッチ手段は、共通の行選択線の
信号によって駆動される。
た光検出器の2次元アレイで形成されている。ここで、
m及びnは整数である。高分解能画像検知の場合、アレ
イの各列及び各行に約4000個もの光検出器が配列さ
れていることがある。各列の光検出器は、個別のスイッ
チ手段によって共通の列出力線に接続されている。各行
の光検出器に対するスイッチ手段は、共通の行選択線の
信号によって駆動される。
【0008】各光検出器によって検知される画像データ
は、所与のシーケンスで行選択線を駆動することによっ
て読み出される。最初に、アレイの中央付近の1群の1
つ以上の行選択線が駆動されることにより、対応する光
検出器からの信号が列出力線に与えられる。次に中央の
群の一方の側にある同様の1群の行選択線が駆動される
ことにより、その対応する光検出器からの信号が列出力
線に結合される。アレイの中央の群の他方の側にある他
の1つの同様な群の1つ以上の行選択線が駆動されるこ
とにより、その対応する光検出器からの信号が列出力線
に印加される。実施例では、アレイの中央の群の両側に
ある行群を交互に駆動することにより、残りの行の光検
出器からの信号が読み出される。
は、所与のシーケンスで行選択線を駆動することによっ
て読み出される。最初に、アレイの中央付近の1群の1
つ以上の行選択線が駆動されることにより、対応する光
検出器からの信号が列出力線に与えられる。次に中央の
群の一方の側にある同様の1群の行選択線が駆動される
ことにより、その対応する光検出器からの信号が列出力
線に結合される。アレイの中央の群の他方の側にある他
の1つの同様な群の1つ以上の行選択線が駆動されるこ
とにより、その対応する光検出器からの信号が列出力線
に印加される。実施例では、アレイの中央の群の両側に
ある行群を交互に駆動することにより、残りの行の光検
出器からの信号が読み出される。
【0009】各群が複数の行で構成されているとき、各
列に沿った数行の光検出器からの信号が組み合わされ
て、その列出力線の信号となる。これにより、アレイ及
び被検知画像の1つの次元に沿ってデータの低減が行わ
れる。データの低減を対称に行って画像歪みを回避する
ために、イメージセンサの外部の回路が複数の列出力線
からの信号を組み合わせる。理想的には、組み合わせる
べきこのような出力線信号の数は、データ低減後の画像
がデータ低減前の画像と同じ横縦(aspect)比を有する
ように選択されている。
列に沿った数行の光検出器からの信号が組み合わされ
て、その列出力線の信号となる。これにより、アレイ及
び被検知画像の1つの次元に沿ってデータの低減が行わ
れる。データの低減を対称に行って画像歪みを回避する
ために、イメージセンサの外部の回路が複数の列出力線
からの信号を組み合わせる。理想的には、組み合わせる
べきこのような出力線信号の数は、データ低減後の画像
がデータ低減前の画像と同じ横縦(aspect)比を有する
ように選択されている。
【0010】本発明の1つの目的は、画像内の画素量を
減少させるための技術を提供することである。
減少させるための技術を提供することである。
【0011】もう1つの目的は、アレイの中心部分から
画像データを読み取った後、アレイの中心から外側に画
像データを漸次読み出す方法を提供することである。こ
のような外向きの走査は、画像照射と読み出しとの間の
経過時間の関数である影響による中心画像部分の劣化を
低減させる。
画像データを読み取った後、アレイの中心から外側に画
像データを漸次読み出す方法を提供することである。こ
のような外向きの走査は、画像照射と読み出しとの間の
経過時間の関数である影響による中心画像部分の劣化を
低減させる。
【0012】更にもう1つの目的は、結果として得られ
る画像に必要とされる画像分解能の程度によって左右さ
れる画像データ低減度を変化させるための技術及び装置
を提供することである。
る画像に必要とされる画像分解能の程度によって左右さ
れる画像データ低減度を変化させるための技術及び装置
を提供することである。
【0013】
【実施例】先ず図1を参照して説明すると、X線装置1
4にはX線管15が含まれており、X線管15は電源1
6によって駆動されると、X線ビーム17を放射する。
図示するように、X線ビームはX線透過性のテーブル2
0の上に横たわった患者18に向けられる。ビームのう
ちテーブル及び患者を透過した部分は、X線検出器22
に当たる。X線検出器22に含まれているシンチレータ
24は、X線光子を可視スペクトルの低エネルギ光子に
変換する。シンチレータ24に隣接して光検出器アレイ
26が設けられており、光検出器アレイ26は光子を電
気信号に変換する。検出器アレイを動作させて画像を取
得し、各光検出素子から信号を読み出すための電子回路
が検出器制御器27に含まれている。
4にはX線管15が含まれており、X線管15は電源1
6によって駆動されると、X線ビーム17を放射する。
図示するように、X線ビームはX線透過性のテーブル2
0の上に横たわった患者18に向けられる。ビームのう
ちテーブル及び患者を透過した部分は、X線検出器22
に当たる。X線検出器22に含まれているシンチレータ
24は、X線光子を可視スペクトルの低エネルギ光子に
変換する。シンチレータ24に隣接して光検出器アレイ
26が設けられており、光検出器アレイ26は光子を電
気信号に変換する。検出器アレイを動作させて画像を取
得し、各光検出素子から信号を読み出すための電子回路
が検出器制御器27に含まれている。
【0014】光検出アレイ26の出力信号は画像処理器
28に結合されている。画像処理器28には、X線画像
信号を処理し、強調するための回路が含まれている。処
理された画像は次にビデオモニタ32に表示される。処
理された画像は画像記憶装置30に保管してもよい。画
像処理器28は更に輝度調節信号を発生する。この輝度
調節信号は照射制御回路34に印加され、電源16を調
節することによりX線照射を調節する。
28に結合されている。画像処理器28には、X線画像
信号を処理し、強調するための回路が含まれている。処
理された画像は次にビデオモニタ32に表示される。処
理された画像は画像記憶装置30に保管してもよい。画
像処理器28は更に輝度調節信号を発生する。この輝度
調節信号は照射制御回路34に印加され、電源16を調
節することによりX線照射を調節する。
【0015】X線装置14の全体的な動作は、システム
制御器36によって支配される。システム制御器36は
操作者インタフェース38を介してX線技術者からの指
示を受け取る。
制御器36によって支配される。システム制御器36は
操作者インタフェース38を介してX線技術者からの指
示を受け取る。
【0016】図2は光検出器アレイ26の回路を示す。
この回路は、検出素子40のマトリクスで構成されてい
る。検出素子40はm列n行の通常の2次元アレイとし
て、非晶質シリコンウェーハ上に配設されている。ここ
で、m及びnは整数である。例えば、代表的な高分解能
X線検出器は3000から4000の行及び列の素子か
ら成る正方形のアレイである。
この回路は、検出素子40のマトリクスで構成されてい
る。検出素子40はm列n行の通常の2次元アレイとし
て、非晶質シリコンウェーハ上に配設されている。ここ
で、m及びnは整数である。例えば、代表的な高分解能
X線検出器は3000から4000の行及び列の素子か
ら成る正方形のアレイである。
【0017】各検出素子40には、ホトダイオード42
と、薄膜抵抗44とが含まれている。ホトダイオード4
2は大きなウェーハ領域から作成されているので、ホト
ダイオードはシンチレータ24の発生する光のかなり大
きい部分を遮る。各ホトダイオードは又、比較的大きな
容量を備えているので、光子の励起によって生ずる電荷
を蓄積することができる。
と、薄膜抵抗44とが含まれている。ホトダイオード4
2は大きなウェーハ領域から作成されているので、ホト
ダイオードはシンチレータ24の発生する光のかなり大
きい部分を遮る。各ホトダイオードは又、比較的大きな
容量を備えているので、光子の励起によって生ずる電荷
を蓄積することができる。
【0018】アレイの各列のホトダイオード42のカソ
ードは、対応するトランジスタ44のソース・ドレーン
導電路によって、その列に対する共通の列信号線[48
-1〜48-m]に接続されている。例えば、列1のホトダ
イオード42は第1の信号線48-1に接続されている。
各行のダイオードのアノードは負バイアス電圧[−V]
源に共通に接続されている。各行のトランジスタ44の
ゲート電極は共通の行選択線[46-1〜46-n]に接続
されている。例えば、行1は線46-1に接続されてい
る。行選択線及び列信号線は検出器制御器27に接続さ
れており、列信号線は画像処理器28にも接続されてい
る。
ードは、対応するトランジスタ44のソース・ドレーン
導電路によって、その列に対する共通の列信号線[48
-1〜48-m]に接続されている。例えば、列1のホトダ
イオード42は第1の信号線48-1に接続されている。
各行のダイオードのアノードは負バイアス電圧[−V]
源に共通に接続されている。各行のトランジスタ44の
ゲート電極は共通の行選択線[46-1〜46-n]に接続
されている。例えば、行1は線46-1に接続されてい
る。行選択線及び列信号線は検出器制御器27に接続さ
れており、列信号線は画像処理器28にも接続されてい
る。
【0019】図2に示す検出器を用いてX線画像を取得
するために、装置14は次の動作シーケンスを遂行す
る。先ず、検出器制御器27はすべての列信号線48-1
〜48-mをアースに接続し、すべての行選択線46-1〜
46-nに正電圧[Von]を印加する。行選択線に印加さ
れた正電圧は、各検出素子40のトランジスタ44をタ
ーンオンして、逆バイアスされたホトダイオード42に
正電荷を加える。ホトダイオードが十分に充電されたと
きに、検出器制御器27は負電源電圧[−V]よりも負
の負電圧[−Voff ]を行選択線46-1〜46-nに印加
する。行選択線のこの負バイアスにより、各検出素子4
0のトランジスタ44はターンオフされる。
するために、装置14は次の動作シーケンスを遂行す
る。先ず、検出器制御器27はすべての列信号線48-1
〜48-mをアースに接続し、すべての行選択線46-1〜
46-nに正電圧[Von]を印加する。行選択線に印加さ
れた正電圧は、各検出素子40のトランジスタ44をタ
ーンオンして、逆バイアスされたホトダイオード42に
正電荷を加える。ホトダイオードが十分に充電されたと
きに、検出器制御器27は負電源電圧[−V]よりも負
の負電圧[−Voff ]を行選択線46-1〜46-nに印加
する。行選択線のこの負バイアスにより、各検出素子4
0のトランジスタ44はターンオフされる。
【0020】次に検出器22には、X線光子のビーム1
7を発生するようにX線管15によって従来の方法で発
生されたX線光子のパルスが当てられる。X線光子はシ
ンチレータ24によって低エネルギ光子に変換される。
これらの低エネルギ光子が検出器26のホトダイオード
42に当たると、ダイオードは導電状態となり、正電荷
の一部を放電する。ホトダイオード42から除去される
正電荷の量は、ホトダイオード42に当たる低エネルギ
光子の量によって左右される。ホトダイオード42に当
たる低エネルギ光子の量は、ホトダイオードに隣接して
いるシンチレータ24の領域に当たるX線エネルギの強
さによって左右される。従って、各検出素子40のホト
ダイオード42から除去される電荷の量は、X線検出器
22の対応する領域に当たるX線の強さの関数である。
7を発生するようにX線管15によって従来の方法で発
生されたX線光子のパルスが当てられる。X線光子はシ
ンチレータ24によって低エネルギ光子に変換される。
これらの低エネルギ光子が検出器26のホトダイオード
42に当たると、ダイオードは導電状態となり、正電荷
の一部を放電する。ホトダイオード42から除去される
正電荷の量は、ホトダイオード42に当たる低エネルギ
光子の量によって左右される。ホトダイオード42に当
たる低エネルギ光子の量は、ホトダイオードに隣接して
いるシンチレータ24の領域に当たるX線エネルギの強
さによって左右される。従って、各検出素子40のホト
ダイオード42から除去される電荷の量は、X線検出器
22の対応する領域に当たるX線の強さの関数である。
【0021】X線照射の終了後、各ホトダイオード42
の残留電荷が検知される。これを行うため、検出器アレ
イの各列に対する列信号線48-1〜48-mが、画像処理
器28の個別の検知回路に同時に接続される。数種類の
検知回路のどれでも画像処理器28に組み込むことがで
きる。例えば、検知回路はホトダイオードの両端間の電
圧、従って、ホトダイオードに残っている電荷の量を測
定することができるものが用いられている。代替案とし
て、検知回路は、対応する列信号線48-1〜48-mをア
ース電位に接続し、X線照射によって除去される電荷を
補充するために必要とされる電荷の量を測定するもので
あってもよい。
の残留電荷が検知される。これを行うため、検出器アレ
イの各列に対する列信号線48-1〜48-mが、画像処理
器28の個別の検知回路に同時に接続される。数種類の
検知回路のどれでも画像処理器28に組み込むことがで
きる。例えば、検知回路はホトダイオードの両端間の電
圧、従って、ホトダイオードに残っている電荷の量を測
定することができるものが用いられている。代替案とし
て、検知回路は、対応する列信号線48-1〜48-mをア
ース電位に接続し、X線照射によって除去される電荷を
補充するために必要とされる電荷の量を測定するもので
あってもよい。
【0022】画像分解能を最大限にするために、行選択
線46-1〜46-nの各々に正電圧Vonを順次印加して、
検出器制御器27によってホトダイオード電荷が一度に
1行ずつ検知される。行選択線が正バイアスされたと
き、その行選択線に接続された検出器アレイのトランジ
スタ44がターンオンされることにより、選択された行
の対応するホトダイオード42がそれらの列信号線48
-1〜48-mに接続される。
線46-1〜46-nの各々に正電圧Vonを順次印加して、
検出器制御器27によってホトダイオード電荷が一度に
1行ずつ検知される。行選択線が正バイアスされたと
き、その行選択線に接続された検出器アレイのトランジ
スタ44がターンオンされることにより、選択された行
の対応するホトダイオード42がそれらの列信号線48
-1〜48-mに接続される。
【0023】アレイの各検出素子から信号を読み出すた
めに必要な時間の長さを短くするために、検出素子列は
図3に示すように、2群に分けることができる。n行の
検出器アレイ26のこの例では、行1から行n/2まで
の検出素子40′が第1群の共通の信号線47に接続さ
れている。同時に、行(n/2)+1から行nまでの検
出素子40″が第2群の共通の信号線49に接続されて
いる。この例では、アレイの上半分の検出素子40′を
アレイの下半分の検出素子40″と同時に読み出すこと
ができる。注意しなければならないのは、検出器アレイ
26のこの代替実施例では、必要な信号検知回路の数が
2倍になることである。しかしながら、検出素子で電荷
を検知するために必要な時間は半分となる。又はその代
わりに、検知時間を前の実施例と同じにして検知回路の
帯域幅を狭くすることも可能である。更に、検出器アレ
イを細分することにより、検知回路から見た電気雑音と
容量とが小さくなる。
めに必要な時間の長さを短くするために、検出素子列は
図3に示すように、2群に分けることができる。n行の
検出器アレイ26のこの例では、行1から行n/2まで
の検出素子40′が第1群の共通の信号線47に接続さ
れている。同時に、行(n/2)+1から行nまでの検
出素子40″が第2群の共通の信号線49に接続されて
いる。この例では、アレイの上半分の検出素子40′を
アレイの下半分の検出素子40″と同時に読み出すこと
ができる。注意しなければならないのは、検出器アレイ
26のこの代替実施例では、必要な信号検知回路の数が
2倍になることである。しかしながら、検出素子で電荷
を検知するために必要な時間は半分となる。又はその代
わりに、検知時間を前の実施例と同じにして検知回路の
帯域幅を狭くすることも可能である。更に、検出器アレ
イを細分することにより、検知回路から見た電気雑音と
容量とが小さくなる。
【0024】前述の通り、検出器アレイ26の最大の分
解能が必要でない用途では、画像データ量を減少させる
ことが有利である。X線検出器22では、画素数を減少
させるため、検出素子を行及び列に沿って組み合わせる
ことができる。2次元画像の場合、結果として得られる
画像の歪みを回避するために、データ低減は両次元で等
しく行わなければならない。様々の視野、画像マトリク
スのサイズ、及び画像取得速度を生ずるために、本発明
では、画像を細分してq×p個の検出素子の2次元群と
することができる。ここで、p及びqは整数である。q
×p群はアレイ全体と同じ横縦比を有している。典型的
な正方形アレイの場合には、pとqとは等しく、例え
ば、1から4までの範囲内の共通の値を有している。そ
の結果、細分された群は、1、4、9又は16個の検出
素子を有している。
解能が必要でない用途では、画像データ量を減少させる
ことが有利である。X線検出器22では、画素数を減少
させるため、検出素子を行及び列に沿って組み合わせる
ことができる。2次元画像の場合、結果として得られる
画像の歪みを回避するために、データ低減は両次元で等
しく行わなければならない。様々の視野、画像マトリク
スのサイズ、及び画像取得速度を生ずるために、本発明
では、画像を細分してq×p個の検出素子の2次元群と
することができる。ここで、p及びqは整数である。q
×p群はアレイ全体と同じ横縦比を有している。典型的
な正方形アレイの場合には、pとqとは等しく、例え
ば、1から4までの範囲内の共通の値を有している。そ
の結果、細分された群は、1、4、9又は16個の検出
素子を有している。
【0025】本概念の一変形では、検出アレイに検出素
子の正方形マトリクスが含まれていない。例えば、NT
SC規格のビデオカメラ用の画像発生器のように、アレ
イ内の検出素子の列が行よりも多い場合がある。非正方
形の検出器アレイが用いられているが、画像処理には画
像データの正方形アレイを必要とすることがある。この
ような場合、余分な列の検出素子からの信号は用いられ
ないか、又は組み合わされて、画像素子の正方形マトリ
クスとする。これを行ったとき、本概念に関する限り、
非正方形検出器アレイは、正方形検出器アレイと同等と
なる。この変形の場合、変数m及びnは実際の検出器ア
レイの検出素子の列及び行の数を表さず、m及びnは同
等な正方形アレイの列及び行の数に対応する。
子の正方形マトリクスが含まれていない。例えば、NT
SC規格のビデオカメラ用の画像発生器のように、アレ
イ内の検出素子の列が行よりも多い場合がある。非正方
形の検出器アレイが用いられているが、画像処理には画
像データの正方形アレイを必要とすることがある。この
ような場合、余分な列の検出素子からの信号は用いられ
ないか、又は組み合わされて、画像素子の正方形マトリ
クスとする。これを行ったとき、本概念に関する限り、
非正方形検出器アレイは、正方形検出器アレイと同等と
なる。この変形の場合、変数m及びnは実際の検出器ア
レイの検出素子の列及び行の数を表さず、m及びnは同
等な正方形アレイの列及び行の数に対応する。
【0026】再び図2を参照して説明すると、1群の行
選択線46-1〜46-nに正電圧Vonを同時に印加するこ
とにより、隣接した検出素子40からの電荷信号を列に
沿って容易に組み合わせることができる。この場合、検
知回路が列信号線48-1〜48-mのホトダイオード42
からの電圧を測定すれば、各検知回路の出力は対応する
列の選択された群の検出素子からの信号の平均に対応す
る。他方、検知回路がホトダイオード42から除去され
た電荷を補充するために必要な電流を測定すれば、各検
知回路の出力は列内の選択された群の検出素子からの信
号の和に対応する。
選択線46-1〜46-nに正電圧Vonを同時に印加するこ
とにより、隣接した検出素子40からの電荷信号を列に
沿って容易に組み合わせることができる。この場合、検
知回路が列信号線48-1〜48-mのホトダイオード42
からの電圧を測定すれば、各検知回路の出力は対応する
列の選択された群の検出素子からの信号の平均に対応す
る。他方、検知回路がホトダイオード42から除去され
た電荷を補充するために必要な電流を測定すれば、各検
知回路の出力は列内の選択された群の検出素子からの信
号の和に対応する。
【0027】アレイ内の数行を同時に選択することによ
り、数行の検出素子40からの信号を組み合わせること
ができるが、隣接した列の(即ち、アレイの他方の次元
に沿った)検出素子からの信号の組み合わせは外部回路
によって行わなければならない。図4では、検知回路5
0が画像処理器28に組み込まれており、多数の列から
の信号を組み合わせる。回路50によって検出素子を個
別に検出するか、又は2、3若しくは4列に組み合わせ
ることができる。最初の12行の検出素子40に対する
検知回路50の部分が図4に示されている。アレイの隣
接した12列の群ごとに、この回路部分と同じものが設
けられている。
り、数行の検出素子40からの信号を組み合わせること
ができるが、隣接した列の(即ち、アレイの他方の次元
に沿った)検出素子からの信号の組み合わせは外部回路
によって行わなければならない。図4では、検知回路5
0が画像処理器28に組み込まれており、多数の列から
の信号を組み合わせる。回路50によって検出素子を個
別に検出するか、又は2、3若しくは4列に組み合わせ
ることができる。最初の12行の検出素子40に対する
検知回路50の部分が図4に示されている。アレイの隣
接した12列の群ごとに、この回路部分と同じものが設
けられている。
【0028】検知回路は一連のモジュール51、52、
53及び54を含んでいる。各モジュールはアレイの3
列の出力信号を処理する。第1のモジュール51は検出
器アレイ26の列1、5及び9に対する列信号線4
8-1、48-5及び48-9に接続されている。第2のモジ
ュール52は列2、6及び10に対する列信号線4
8-2、48-6及び48-10 に接続されている。同様に、
第3のモジュール53は列3、7及び11に対する検出
器アレイの列信号線48-3、48-7及び48-11 に接続
されている。図示された第4のモジュール54は検出器
アレイの列4、8及び12に対する列信号線48-4、4
8-8及び48-12 に接続されている。
53及び54を含んでいる。各モジュールはアレイの3
列の出力信号を処理する。第1のモジュール51は検出
器アレイ26の列1、5及び9に対する列信号線4
8-1、48-5及び48-9に接続されている。第2のモジ
ュール52は列2、6及び10に対する列信号線4
8-2、48-6及び48-10 に接続されている。同様に、
第3のモジュール53は列3、7及び11に対する検出
器アレイの列信号線48-3、48-7及び48-11 に接続
されている。図示された第4のモジュール54は検出器
アレイの列4、8及び12に対する列信号線48-4、4
8-8及び48-12 に接続されている。
【0029】各モジュール51〜54の内部回路は同一
であるので、第1のモジュール51に対する回路を詳し
く説明する。列1、5及び9に対する列信号線48-1、
48-5及び48-9はそれぞれ、個別の積分器56の入力
に接続されている。各積分器56の出力は、アナログ−
ディジタル変換器(ADC)58内のサンプルホールド
回路に接続されている。アナログ−ディジタル変換器5
8は積分器の出力をサンプリングし、出力をディジタル
形式に変換する。ディジタル化された個別出力は、3組
のデータバッファ60に記憶される。モジュール51内
の各組のデータバッファ60のディジタル出力は、4入
力1出力のマルチプレクサ62(MUXA)の個別の入
力に接続されている。マルチプレクサ62の4番目の入
力に対するデータ線は、すべてアース電位に結合されて
おり、数字0を表す入力が与えられる。
であるので、第1のモジュール51に対する回路を詳し
く説明する。列1、5及び9に対する列信号線48-1、
48-5及び48-9はそれぞれ、個別の積分器56の入力
に接続されている。各積分器56の出力は、アナログ−
ディジタル変換器(ADC)58内のサンプルホールド
回路に接続されている。アナログ−ディジタル変換器5
8は積分器の出力をサンプリングし、出力をディジタル
形式に変換する。ディジタル化された個別出力は、3組
のデータバッファ60に記憶される。モジュール51内
の各組のデータバッファ60のディジタル出力は、4入
力1出力のマルチプレクサ62(MUXA)の個別の入
力に接続されている。マルチプレクサ62の4番目の入
力に対するデータ線は、すべてアース電位に結合されて
おり、数字0を表す入力が与えられる。
【0030】図示された4つのモジュール51、52、
53及び54の各々に対するマルチプレクサ62は、M
UX A、MUX B、MUX C及びMUX Dとし
てそれぞれ表されている。モジュール51〜54の4つ
のマルチプレクサ62の出力は、加算回路64の入力に
接続されており、加算器ブロック内の計算式A+B+C
+Dで表されるように、マルチプレクサ出力の和を生ず
る。従って、加算回路64の出力はモジュールマルチプ
レクサ62からの信号の和、そして1群の検出器アレイ
の列からの画像信号の組み合わせを表す。
53及び54の各々に対するマルチプレクサ62は、M
UX A、MUX B、MUX C及びMUX Dとし
てそれぞれ表されている。モジュール51〜54の4つ
のマルチプレクサ62の出力は、加算回路64の入力に
接続されており、加算器ブロック内の計算式A+B+C
+Dで表されるように、マルチプレクサ出力の和を生ず
る。従って、加算回路64の出力はモジュールマルチプ
レクサ62からの信号の和、そして1群の検出器アレイ
の列からの画像信号の組み合わせを表す。
【0031】図4には示されていないが、検知回路50
内のマルチプレクサ62は、その入力線の1つをその出
力線に接続するように各マルチプレクサに指示する検出
器制御器27からの制御信号を受け取る。1群の4つの
モジュール51〜54のそれぞれの4つのマルチプレク
サA、B、C及びDに印加される制御信号に応じて、検
出素子40の1、2、3又は4列の出力信号を組み合わ
せて、その群のモジュールに対する加算器64からの出
力とすることができる。
内のマルチプレクサ62は、その入力線の1つをその出
力線に接続するように各マルチプレクサに指示する検出
器制御器27からの制御信号を受け取る。1群の4つの
モジュール51〜54のそれぞれの4つのマルチプレク
サA、B、C及びDに印加される制御信号に応じて、検
出素子40の1、2、3又は4列の出力信号を組み合わ
せて、その群のモジュールに対する加算器64からの出
力とすることができる。
【0032】単一の列を選択するために、対応するマル
チプレクサ62が対応する入力線をその出力線に接続す
るように指示され、4つのモジュール51〜54の群に
対する他のマルチプレクサは、それぞれアースされた第
4の入力をそれらのそれぞれの出力線に接続するように
指示される。この動作により加算器64では、選択され
た列信号と他のマルチプレクサ62からの零信号との和
が得られる。例えば第2の列のみを選択するために、マ
ルチプレクサBはその第1の入力をその出力に接続する
ように指示され、マルチプレクサA、C及びDはそれら
の第4の入力をそれらの出力に接続するように指示され
る。その後、他の指示の組をマルチプレクサ62に送っ
て、検出器アレイからの他の列信号線の各々からの信号
に順次アクセスすることができる。この技術では、各列
が個別にアドレッシングされているので、画像データの
低減は行われない。
チプレクサ62が対応する入力線をその出力線に接続す
るように指示され、4つのモジュール51〜54の群に
対する他のマルチプレクサは、それぞれアースされた第
4の入力をそれらのそれぞれの出力線に接続するように
指示される。この動作により加算器64では、選択され
た列信号と他のマルチプレクサ62からの零信号との和
が得られる。例えば第2の列のみを選択するために、マ
ルチプレクサBはその第1の入力をその出力に接続する
ように指示され、マルチプレクサA、C及びDはそれら
の第4の入力をそれらの出力に接続するように指示され
る。その後、他の指示の組をマルチプレクサ62に送っ
て、検出器アレイからの他の列信号線の各々からの信号
に順次アクセスすることができる。この技術では、各列
が個別にアドレッシングされているので、画像データの
低減は行われない。
【0033】この回路で可能な最大量のデータ低減を行
うために、検出器アレイ26の4つの信号線の画像デー
タが検知回路50によって組み合わされる。例えば、列
1〜4の信号を組み合わせるときは、4つのマルチプレ
クサ62はすべて、それらの第1の入力をそれらの出力
に接続するように指示される。この動作により、列信号
線1、2、3及び4からの信号が加算器64の入力に印
加され、加算器64で加算されて加算器出力に送出され
る。次に、他のモジュールバッファ60からの信号を加
算器64が順次組み合わせるようにマルチプレクサに送
出される方向を変えることによって、検出器アレイ26
の4列の各隣接群を順次処理することができる。
うために、検出器アレイ26の4つの信号線の画像デー
タが検知回路50によって組み合わされる。例えば、列
1〜4の信号を組み合わせるときは、4つのマルチプレ
クサ62はすべて、それらの第1の入力をそれらの出力
に接続するように指示される。この動作により、列信号
線1、2、3及び4からの信号が加算器64の入力に印
加され、加算器64で加算されて加算器出力に送出され
る。次に、他のモジュールバッファ60からの信号を加
算器64が順次組み合わせるようにマルチプレクサに送
出される方向を変えることによって、検出器アレイ26
の4列の各隣接群を順次処理することができる。
【0034】上述の説明から、当業者はどのように検知
回路50を用い、又、マルチプレクサ62に指示してア
レイの隣接する対又は3つの列ずつの検出素子を組み合
わせることにより、データ低減を行えることも容易に理
解することができよう。
回路50を用い、又、マルチプレクサ62に指示してア
レイの隣接する対又は3つの列ずつの検出素子を組み合
わせることにより、データ低減を行えることも容易に理
解することができよう。
【0035】図4に開示された回路では、検出器アレイ
26からの列信号線48-1〜48-mの各々に対して、個
別のアナログ−ディジタル変換器58が用いられてい
る。この場合、比較的遅いディジタル化速度の変換器を
用いることができるという利点はあるが、比較的多数の
変換器を必要とする。代替案として、ディジタル化の前
にデータを組み合わせてアナログ−ディジタル変換器の
数を減少させることもできる。しかしながら、この代替
案では、より高速の変換器を用いなければならなくな
り、アナログ組み合わせ回路への電子雑音の導入の可能
性が増大する。
26からの列信号線48-1〜48-mの各々に対して、個
別のアナログ−ディジタル変換器58が用いられてい
る。この場合、比較的遅いディジタル化速度の変換器を
用いることができるという利点はあるが、比較的多数の
変換器を必要とする。代替案として、ディジタル化の前
にデータを組み合わせてアナログ−ディジタル変換器の
数を減少させることもできる。しかしながら、この代替
案では、より高速の変換器を用いなければならなくな
り、アナログ組み合わせ回路への電子雑音の導入の可能
性が増大する。
【0036】このような代替案の検知回路70の例が図
5に示されている。図4の検知回路50のもとの実施例
と同様に、代替回路70は検出器アレイの12列に対し
て示されており、アレイの隣接した12列の各群に対し
て、この回路部分と同じものが設けられている。信号検
知回路70のこの部分は、図の破線で示すように、4つ
のモジュール71、72、73及び74によって形成さ
れている。モジュール72〜74は、個別の積分器76
に接続されている3つの列信号線に接続されている。各
モジュール内の3つの積分器76の出力は、アナログの
4入力1出力マルチプレクサ77の個別の入力に接続さ
れている。アナログマルチプレクサ77の第4の入力
は、零電位入力を供給するためにアース電位に結合され
ている。各マルチプレクサ77は、その出力を検出器ア
レイからの3つの入力信号のいずれかに、又はアースさ
れた入力に設定することができる。4つのマルチプレク
サMUX A、MUX B、MUX C及びMUX D
からの出力が、次に加算増幅器78で組み合わされる。
4つのモジュール71〜74の出力信号の和は、アナロ
グ−ディジタル変換器(ADC)80でディジタル化さ
れ、その結果はディジタルバッファ82に記憶される。
図5には検出器制御器27も示されており、検出器制御
器27は、図に示すように検知回路70に制御信号を供
給する。
5に示されている。図4の検知回路50のもとの実施例
と同様に、代替回路70は検出器アレイの12列に対し
て示されており、アレイの隣接した12列の各群に対し
て、この回路部分と同じものが設けられている。信号検
知回路70のこの部分は、図の破線で示すように、4つ
のモジュール71、72、73及び74によって形成さ
れている。モジュール72〜74は、個別の積分器76
に接続されている3つの列信号線に接続されている。各
モジュール内の3つの積分器76の出力は、アナログの
4入力1出力マルチプレクサ77の個別の入力に接続さ
れている。アナログマルチプレクサ77の第4の入力
は、零電位入力を供給するためにアース電位に結合され
ている。各マルチプレクサ77は、その出力を検出器ア
レイからの3つの入力信号のいずれかに、又はアースさ
れた入力に設定することができる。4つのマルチプレク
サMUX A、MUX B、MUX C及びMUX D
からの出力が、次に加算増幅器78で組み合わされる。
4つのモジュール71〜74の出力信号の和は、アナロ
グ−ディジタル変換器(ADC)80でディジタル化さ
れ、その結果はディジタルバッファ82に記憶される。
図5には検出器制御器27も示されており、検出器制御
器27は、図に示すように検知回路70に制御信号を供
給する。
【0037】図4で検知回路50の動作について述べた
のと同様にして、各モジュール71〜74内のマルチプ
レクサ77は、指示されて各列信号線に個別にアクセス
するか、又は列信号線を2つずつ、3つずつ、若しくは
4つずつ組み合わせることにより所望の程度までデータ
低減を行う。
のと同様にして、各モジュール71〜74内のマルチプ
レクサ77は、指示されて各列信号線に個別にアクセス
するか、又は列信号線を2つずつ、3つずつ、若しくは
4つずつ組み合わせることにより所望の程度までデータ
低減を行う。
【0038】X線システムに患者を位置決めするとき、
主に関心のある患者の身体の領域が通常、X線システム
の視野の中心に配置される。従って、X線画像の中心の
画素がそのシステムを使用する医療従事者にとって最も
重要なものとなる。画像の中心の画質を最高にするため
に、本発明は、ホトダイオードの予備充電から、検出器
アレイ26の中心の画素の行が電荷読み出しのために走
査されるまでの経過時間を最小限にする。これは、先ず
中心行を検知し、アレイの中心から次第に離れる向きに
中心の両側の列を交互に順次選択することにより行われ
る。これは中心の画素に対する経過時間を最小限にす
る。
主に関心のある患者の身体の領域が通常、X線システム
の視野の中心に配置される。従って、X線画像の中心の
画素がそのシステムを使用する医療従事者にとって最も
重要なものとなる。画像の中心の画質を最高にするため
に、本発明は、ホトダイオードの予備充電から、検出器
アレイ26の中心の画素の行が電荷読み出しのために走
査されるまでの経過時間を最小限にする。これは、先ず
中心行を検知し、アレイの中心から次第に離れる向きに
中心の両側の列を交互に順次選択することにより行われ
る。これは中心の画素に対する経過時間を最小限にす
る。
【0039】図2及び図3に示す検出器アレイの2つの
実施例の各々に対して、又、異なるデータ低減の程度に
対して検出素子の行を選択するシーケンスが、後記の表
に記載してある。
実施例の各々に対して、又、異なるデータ低減の程度に
対して検出素子の行を選択するシーケンスが、後記の表
に記載してある。
【0040】例えば図2に示す光検出器アレイに対し
て、表1は、検出器制御器27が行選択線46-1〜46
-nの各々を駆動することにより、個々のホトダイオード
42の電荷を読み出すシーケンスを示している。表に示
すように、第1の読み出し周期の間に、検出器制御器2
7は検出器アレイの中心のn/2と表された行選択線に
正電圧(Von)を印加する。これにより、この中心行の
それぞれのホトダイオードの電荷を対応する列信号線4
8-1〜48-mで読み出すことができる。この例では、デ
ータ低減は行われないので、検出器制御器27によって
一度に1行のみが選択される。画像処理器28内の検知
回路が各ダイオードの残留電荷を測定するために十分な
時間が経過した後、検出器制御器27は中心行選択線n
/2に負電圧からVoff を差し引いた電圧を印加する。
て、表1は、検出器制御器27が行選択線46-1〜46
-nの各々を駆動することにより、個々のホトダイオード
42の電荷を読み出すシーケンスを示している。表に示
すように、第1の読み出し周期の間に、検出器制御器2
7は検出器アレイの中心のn/2と表された行選択線に
正電圧(Von)を印加する。これにより、この中心行の
それぞれのホトダイオードの電荷を対応する列信号線4
8-1〜48-mで読み出すことができる。この例では、デ
ータ低減は行われないので、検出器制御器27によって
一度に1行のみが選択される。画像処理器28内の検知
回路が各ダイオードの残留電荷を測定するために十分な
時間が経過した後、検出器制御器27は中心行選択線n
/2に負電圧からVoff を差し引いた電圧を印加する。
【0041】次に検出器制御器は、次の行選択線に正電
圧Vonを印加することにより、行(n/2)+1と表さ
れる中心行のすぐ隣りの1つの行選択線を選択する。そ
の行のホトダイオードの電荷が検知されれば、検出器制
御器は(n/2)+1の行選択線に−Voff 電圧を印加
する。次に、検出器制御器27は(n/2)−1と表さ
れる中心行の他方の側の行選択線を選択し、同様にして
その線に電圧を印加することにより、行のホトダイオー
ドの電荷を検知する。
圧Vonを印加することにより、行(n/2)+1と表さ
れる中心行のすぐ隣りの1つの行選択線を選択する。そ
の行のホトダイオードの電荷が検知されれば、検出器制
御器は(n/2)+1の行選択線に−Voff 電圧を印加
する。次に、検出器制御器27は(n/2)−1と表さ
れる中心行の他方の側の行選択線を選択し、同様にして
その線に電圧を印加することにより、行のホトダイオー
ドの電荷を検知する。
【0042】表1に示すように、(n/2)+2及び
(n/2)−2と表される選択された次の2行は、アレ
イの中心から更に離れた2行である。最終的に第1及び
最後の行が電荷検知のため選択されるまで、この行選択
のシーケンスが継続する。
(n/2)−2と表される選択された次の2行は、アレ
イの中心から更に離れた2行である。最終的に第1及び
最後の行が電荷検知のため選択されるまで、この行選択
のシーケンスが継続する。
【0043】光検出器電荷の読み出しの際にデータ低減
手法を適用しなければならないときは、所望のデータ低
減の程度に応じて、複数の行選択線を同時にターンオン
する。
手法を適用しなければならないときは、所望のデータ低
減の程度に応じて、複数の行選択線を同時にターンオン
する。
【0044】表2に示すように、各読み出し周期の間に
検出器アレイ26の2行を選択することによってデータ
を低減する。第1の読み出し周期の間に、検出器制御器
27は検出器アレイ26の中心行(n/2)と、1つの
隣接行(n/2)−1とを選択する。2行が選択された
ときに、アレイの各列の2つのホトダイオードの電荷が
対応する信号線48に印加されるので、これらの線48
の各々の線の信号は、2つの光検出器位置42の電荷を
表す。各行対を読み出しているときに、図4の検知回路
が動作して、前に述べたように検出器アレイ26の隣接
列対からの信号を組み合わせる。これらの組み合わされ
た信号を更に処理してモニタ32に表示し、装置30に
記憶する(図1を参照)。
検出器アレイ26の2行を選択することによってデータ
を低減する。第1の読み出し周期の間に、検出器制御器
27は検出器アレイ26の中心行(n/2)と、1つの
隣接行(n/2)−1とを選択する。2行が選択された
ときに、アレイの各列の2つのホトダイオードの電荷が
対応する信号線48に印加されるので、これらの線48
の各々の線の信号は、2つの光検出器位置42の電荷を
表す。各行対を読み出しているときに、図4の検知回路
が動作して、前に述べたように検出器アレイ26の隣接
列対からの信号を組み合わせる。これらの組み合わされ
た信号を更に処理してモニタ32に表示し、装置30に
記憶する(図1を参照)。
【0045】表2に示すデータ低減手法の第1の読み出
し周期の完了時に、光検出器アレイ26の中央の一方の
側のもう1つの隣接行対が選択され、それらの電荷が組
み合わさるように同時に読み出される。第3の読み出し
周期では、光検出器アレイ26の中央の反対側の次の行
対が検出器制御器27によって選択され、それらの行選
択線が駆動される。読み出し過程は継続され、検出器制
御器27はアレイの中央の両側に交互に、且つ中央から
順次離れてゆく光検出器アレイの隣接行対を選択する。
最後に、第1及び第2の行が選択され、それらの電荷が
読み出され、その後、最終読み出し周期で最後の行及び
終わりから2番目の行が選択されて読み出される。表1
と表2とを比較すると明らかなように、行対を同時に読
み出す後者の例のデータ低減手法では、光検出器アレイ
の各位置を個別に読み出す表1の例と比較して、読み出
し周期数が半分となる。
し周期の完了時に、光検出器アレイ26の中央の一方の
側のもう1つの隣接行対が選択され、それらの電荷が組
み合わさるように同時に読み出される。第3の読み出し
周期では、光検出器アレイ26の中央の反対側の次の行
対が検出器制御器27によって選択され、それらの行選
択線が駆動される。読み出し過程は継続され、検出器制
御器27はアレイの中央の両側に交互に、且つ中央から
順次離れてゆく光検出器アレイの隣接行対を選択する。
最後に、第1及び第2の行が選択され、それらの電荷が
読み出され、その後、最終読み出し周期で最後の行及び
終わりから2番目の行が選択されて読み出される。表1
と表2とを比較すると明らかなように、行対を同時に読
み出す後者の例のデータ低減手法では、光検出器アレイ
の各位置を個別に読み出す表1の例と比較して、読み出
し周期数が半分となる。
【0046】同様なデータ低減手法が表3及び表4に示
されている。表3は3つずつの行の同時読み出しによ
り、又、図4に示す検知回路50で3つずつ列を同様に
組み合わせることによりデータを低減する読み出し方式
に関するものである。表4に示す手法でデータを更に低
減することもできる。表4では各読み出し周期の間に4
つずつ行選択線46を同時に駆動することにより、4つ
ずつ行が同時に読み出される。
されている。表3は3つずつの行の同時読み出しによ
り、又、図4に示す検知回路50で3つずつ列を同様に
組み合わせることによりデータを低減する読み出し方式
に関するものである。表4に示す手法でデータを更に低
減することもできる。表4では各読み出し周期の間に4
つずつ行選択線46を同時に駆動することにより、4つ
ずつ行が同時に読み出される。
【0047】表5〜表8は図3に示す光検出器アレイと
共に使用される読み出し手法を示す。図3では、光検出
素子40の各列が半分に分割されており、上側の光素子
群が下側の検出素子群からの個別列信号線に接続されて
いる。この光検出器アレイの構造では、検出素子を個別
に読み出さなければならないとき、アレイの上半分の行
と、下半分の行とが同時に読み出される。表5に示すよ
うに第1の読み出し周期の間に、アレイの中心にある2
つの行(n/2)及び(n/2)+1が検出器制御器2
7によって選択される。次の読み出し周期の間に、アレ
イの中心の両側の次の隣接した行(n/2)−1及び
(n/2)+2が選択される。最後の読み出し周期で第
1の行及び最後の行が選択されるまで、この選択は継続
する。
共に使用される読み出し手法を示す。図3では、光検出
素子40の各列が半分に分割されており、上側の光素子
群が下側の検出素子群からの個別列信号線に接続されて
いる。この光検出器アレイの構造では、検出素子を個別
に読み出さなければならないとき、アレイの上半分の行
と、下半分の行とが同時に読み出される。表5に示すよ
うに第1の読み出し周期の間に、アレイの中心にある2
つの行(n/2)及び(n/2)+1が検出器制御器2
7によって選択される。次の読み出し周期の間に、アレ
イの中心の両側の次の隣接した行(n/2)−1及び
(n/2)+2が選択される。最後の読み出し周期で第
1の行及び最後の行が選択されるまで、この選択は継続
する。
【0048】図3の検出器アレイから読み出されるデー
タを低減しなければならないとき、各読み出し周期の間
にアレイの上部及び下部の双方の2行を読むことができ
る。このデータ低減手法に対する行読み出しが表6に示
されている。同様に、この検出器アレイのデータを更に
低減しなければならないときには、検出器アレイ26の
上部及び下部の双方の3行が検出器アレイ27によって
同時に読み出され、表7に示すように、各読み出し周期
の間に6つずつ行選択線が駆動される。表8は図3の検
出器アレイからのデータを更に低減しなければならない
ときの読み出し方式を示す。この場合、検出器制御器2
7によって8行が同時に駆動される。これらの行のうち
の4行が検出器アレイ26の上半分にあり、他の4行が
下半分にある。
タを低減しなければならないとき、各読み出し周期の間
にアレイの上部及び下部の双方の2行を読むことができ
る。このデータ低減手法に対する行読み出しが表6に示
されている。同様に、この検出器アレイのデータを更に
低減しなければならないときには、検出器アレイ26の
上部及び下部の双方の3行が検出器アレイ27によって
同時に読み出され、表7に示すように、各読み出し周期
の間に6つずつ行選択線が駆動される。表8は図3の検
出器アレイからのデータを更に低減しなければならない
ときの読み出し方式を示す。この場合、検出器制御器2
7によって8行が同時に駆動される。これらの行のうち
の4行が検出器アレイ26の上半分にあり、他の4行が
下半分にある。
【0049】
【表1】表1 図2の実施例において個別のX線検知素子を検知するた
めの行選択シーケンス。
めの行選択シーケンス。
【0050】
【0051】
【表2】表2 図2の実施例において行対ずつまとめられたX線検出素
子を検知するための行選択シーケンス。
子を検知するための行選択シーケンス。
【0052】
【0053】
【表3】表3 図2の実施例において3行ずつまとめられたX線検出素
子を検知するための行選択シーケンス。
子を検知するための行選択シーケンス。
【0054】 読み出し周期 選択される行 1 (n/2),(n/2)-1,(n/2)-2 2 (n/2)+1,(n/2)+2,(n/2)+3 3 (n/2)-3,(n/2)-4,(n/2)-5 4 (n/2)+4,(n/2)+5,(n/2)+6 ・ ・ ・ ・ ・ ・ (n/3)-1 3,2,1 (n/3) n-2,n-1,n
【0055】
【表4】表4 図2の実施例において4行ずつまとめられたX線検出素
子を検知するための行選択シーケンス。 読み出し周期 選択される行 1 (n/2),(n/2)-1,(n/2)-2,(n/2)-3 2 (n/2)+1,(n/2)+2,(n/2)+3,(n/2)+4 3 (n/2)-4,(n/2)-5,(n/2)-6,(n/2)-7 4 (n/2)+5,(n/2)+6,(n/2)+7,(n/2)+8 ・ ・ ・ ・ ・ ・ (n/4)-1 4,3,2,1 (n/4) n-3,n-2,n-1,n
子を検知するための行選択シーケンス。 読み出し周期 選択される行 1 (n/2),(n/2)-1,(n/2)-2,(n/2)-3 2 (n/2)+1,(n/2)+2,(n/2)+3,(n/2)+4 3 (n/2)-4,(n/2)-5,(n/2)-6,(n/2)-7 4 (n/2)+5,(n/2)+6,(n/2)+7,(n/2)+8 ・ ・ ・ ・ ・ ・ (n/4)-1 4,3,2,1 (n/4) n-3,n-2,n-1,n
【0056】
【表5】表5 図3の実施例においてX線検出素子を個別に検知するた
めの行選択シーケンス。
めの行選択シーケンス。
【0057】
【表6】表6 図3の実施例において行対ずつまとめられたX線検出素
子を検知するための行選択シーケンス。 読み出し周期 選択される行 1 (n/2),(n/2)-1,(n/2)+1,(n/2)+2 2 (n/2)-2,(n/2)-3,(n/2)+3,(n/2)+4 3 (n/2)-4,(n/2)-5,(n/2)+5,(n/2)+6 4 (n/2)-6,(n/2)-7,(n/2)+7,(n/2)+8 ・ ・ ・ ・ ・ ・ (n/4)-1 4,3,n-3,n-2 (n/4) 2,1,n-1,n
子を検知するための行選択シーケンス。 読み出し周期 選択される行 1 (n/2),(n/2)-1,(n/2)+1,(n/2)+2 2 (n/2)-2,(n/2)-3,(n/2)+3,(n/2)+4 3 (n/2)-4,(n/2)-5,(n/2)+5,(n/2)+6 4 (n/2)-6,(n/2)-7,(n/2)+7,(n/2)+8 ・ ・ ・ ・ ・ ・ (n/4)-1 4,3,n-3,n-2 (n/4) 2,1,n-1,n
【0058】
【表7】表7 図3の実施例において3行ずつまとめられたX線検出素
子を検知するための行選択シーケンス。 読み出し周期 選択される行 1 (n/2),(n/2)-1,(n/2)-2,(n/2)+1,(n/2)+2,(n/2)+3 2 (n/2)-3,(n/2)-4,(n/2)-5,(n/2)+4,(n/2)+5,(n/2)+6 3 (n/2)-6,(n/2)-7,(n/2)-8,(n/2)+7,(n/2)+8,(n/2)+9 4 (n/2)-9,(n/2)-10,(n/2)-11,(n/2)+10,(n/2)+11,(n/2)+12 ・ ・ ・ ・ ・ ・ (n/6)-1 6,5,4,n-5,n-4,n-3 (n/6) 3,2,1,n-2,n-1,n
子を検知するための行選択シーケンス。 読み出し周期 選択される行 1 (n/2),(n/2)-1,(n/2)-2,(n/2)+1,(n/2)+2,(n/2)+3 2 (n/2)-3,(n/2)-4,(n/2)-5,(n/2)+4,(n/2)+5,(n/2)+6 3 (n/2)-6,(n/2)-7,(n/2)-8,(n/2)+7,(n/2)+8,(n/2)+9 4 (n/2)-9,(n/2)-10,(n/2)-11,(n/2)+10,(n/2)+11,(n/2)+12 ・ ・ ・ ・ ・ ・ (n/6)-1 6,5,4,n-5,n-4,n-3 (n/6) 3,2,1,n-2,n-1,n
【0059】
【表8】表8 図3の実施例において4行ずつまとめられたX線検出素
子を検知するための行選択シーケンス。この表の各行
は、異なる読み出し周期を表す。 読み出し周期 選択される行 1 (n/2),(n/2)-1,(n/2)-2,(n/2)-3,(n/2)+1,(n/2)+2, (n/2)+3,(n/2)+4 2 (n/2)-4,(n/2)-5,(n/2)-6,(n/2)-7,(n/2)+5,(n/2)+6, (n/2)+7,(n/2)+8 ・ ・ ・ ・ ・ ・ (n/8)-1 8,7,6,5,n-7,n-6,n-5,n-4 (n/8) 4,3,2,1,n-3,n-2,n-1,n
子を検知するための行選択シーケンス。この表の各行
は、異なる読み出し周期を表す。 読み出し周期 選択される行 1 (n/2),(n/2)-1,(n/2)-2,(n/2)-3,(n/2)+1,(n/2)+2, (n/2)+3,(n/2)+4 2 (n/2)-4,(n/2)-5,(n/2)-6,(n/2)-7,(n/2)+5,(n/2)+6, (n/2)+7,(n/2)+8 ・ ・ ・ ・ ・ ・ (n/8)-1 8,7,6,5,n-7,n-6,n-5,n-4 (n/8) 4,3,2,1,n-3,n-2,n-1,n
【図1】本発明を用いたX線蛍光透視システムのブロッ
ク図である。
ク図である。
【図2】図1のシステムの画像検出器アレイの概略回路
図である。
図である。
【図3】図1のシステムに対する代替の画像検出器アレ
イの概略回路図である。
イの概略回路図である。
【図4】検出器アレイからの画素信号を処理するための
ディジタルデータ低減回路を示すブロック図である。
ディジタルデータ低減回路を示すブロック図である。
【図5】代替のアナログデータ低減回路を示すブロック
図である。
図である。
26 光検出器アレイ 27 検出器制御器 42 ホトダイオード 44 トランジスタ 46 行選択線 47 第1群の共通の信号線 48 列信号線 49 第2群の共通の信号線 56、76 積分器 58、80 アナログ−ディジタル変換器 62、77 マルチプレクサ 64 加算器 78 加算増幅器
フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭61−41440(JP,A) 特開 昭63−127657(JP,A) 特開 昭63−20952(JP,A)
Claims (19)
- 【請求項1】 行列形式で設けられた光検出器のアレイ
から画像データを読み出す方法であって、 (a) 前記アレイの実質的に中心にある少なくとも1
行の前記光検出器からの信号を検知する工程と、 (b) 工程(a)で信号が検知された行の一方の側に
ある少なくとも1行の前記光検出器からの信号を検知す
る工程と、 (c) 工程(a)で信号が検知された行の他方の側に
ある少なくとも1行の前記光検出器からの信号を検知す
る工程と、 (d) すべての行の前記光検出器からの信号が検知さ
れるまで工程(b)及び(c)を反復する工程とを備え
た行列形式で設けられた光検出器のアレイから画像デー
タを読み出す方法。 - 【請求項2】 工程(a)、(b)及び(c)において
単一の行の光検出器からの信号が検知され、工程(b)
及び(c)において信号が検知される各行が、前に検知
された光検出器の行に隣接している請求項1に記載の方
法。 - 【請求項3】 互いに隣接している第1の複数の行の前
記光検出器からの信号が、工程(a)、(b)及び
(c)において同時に検知される請求項1に記載の方
法。 - 【請求項4】 工程(b)及び(c)において信号が検
知される第1の複数の行の各々が、前に信号が検知され
た光検出器の行に隣接している請求項3に記載の方法。 - 【請求項5】 前記光検出器からの信号を検知している
ときはいつでも、第2の複数の隣接した列の前記光検出
器から検知される信号を組み合わせる工程を更に含んで
いる請求項3に記載の方法。 - 【請求項6】 前記第1の複数と前記第2の複数との比
は、前記アレイの行数と列数との比と実質的に同じであ
る請求項5に記載の方法。 - 【請求項7】 工程(b)及び(c)は、同時に実行さ
れる請求項1に記載の方法。 - 【請求項8】 m及びnを整数としてn行m列に設けら
れた個別の光検出器を有しており、各列の前記光検出器
の少なくとも一部がスイッチ手段により共通の列出力線
に接続されている検出器アレイから画像データを読み出
す方法であって、 (a) 前記検出器アレイの中心にある最初の行群の前
記光検出器からの信号を前記列出力線に印加する工程
と、 (b) 前記最初の行群の一方の側にある行群の前記光
検出器からの信号を前記列出力線に印加する工程と、 (c) 前記最初の行群の他方の側にある行群の前記光
検出器からの信号を前記列出力線に印加する工程と、 (d) すべての行の前記光検出器からの信号が前記列
出力線に印加されるまで工程(b)及び(c)を反復す
る工程とを備えた検出器アレイから画像データを読み出
す方法。 - 【請求項9】 工程(b)及び(c)においてそれらか
ら信号を印加する前記光検出器の行群は、前にそれから
信号を印加した行群に隣接している請求項8に記載の方
法。 - 【請求項10】 q個の列出力線の群からの信号をm/
q個の組み合わせ出力信号に組み合わせる工程を更に含
んでいる請求項8に記載の方法。 - 【請求項11】 pを整数として、各群がp行の光検出
器で構成されており、p個の列出力線の群からの信号を
m/p個の組み合わせ出力信号に組み合わせる工程を更
に含んでいる請求項8に記載の方法。 - 【請求項12】 n行m列に設けられた光検出器のアレ
イであって、各列の少なくとも一部の前記光検出器が選
択手段によりその列に対する個別の出力線に接続されて
いる光検出器のアレイから画像データを読み出す方法で
あって、 (a) 前記選択手段を駆動して、p行の群の前記光検
出器からの信号を前記出力線に同時に印加する工程と、 (b) q個の出力線の群からの信号を加算して組み合
わせることによりそれぞれが発生される複数の組み合わ
せ出力信号を発生する工程と、 (c) 前記検出器アレイの他の行群に対して工程
(a)及び(b)を反復する工程とを備えており、 m、n、p及びqは、整数であり、p及びqはいずれ
も、1よりも大きい光検出器のアレイから画像データを
読み出す方法。 - 【請求項13】 mはnに等しく、pはqに等しい請求
項12に記載の方法。 - 【請求項14】 工程(a)が初めて実行されるとき
に、前記行群は前記アレイの中心に最も近く、その後工
程(a)が実行されるたびごとに、前記行群は前記アレ
イの中心から順次離れてゆく請求項12に記載の方法。 - 【請求項15】 工程(a)が初めて実行されるとき
に、前記行群は前記アレイの中心に最も近く、その後工
程(a)が実行されるたびごとに、前記群内の行は前記
アレイの中心の両側から交互に選択される請求項12に
記載の方法。 - 【請求項16】 n行m列に設けられた光検出器のアレ
イであって、各列の光検出器は、スイッチ手段によりそ
の列に対する個別の出力線に接続されており、m、n、
p及びqが整数、p及びqがいずれも1よりも大きいと
して、前記n行はp行の群に分割されており、前記列出
力線はq個の出力線の群に分割されている、光検出器の
アレイと、 1つの行群の前記光検出器からの信号を一度に前記出力
線に同時に印加するように、前記スイッチ手段を順次駆
動する手段と、 各群の出力線からの信号を組み合わせ出力信号に組み合
わせる手段とを備えた画像検出器システム。 - 【請求項17】 前記組み合わせる手段は、 各々の列出力線の信号を積分する個別の手段と、 各群の列出力線の数qを選択的に画定する手段と、 該画定手段に応答して、前記組み合わせ出力信号を発生
するように、隣接したq個の出力線の各群に関連した前
記積分する手段からの信号を加算する手段とを含んでい
る請求項16に記載の画像検出器システム。 - 【請求項18】 前記組み合わせる手段は、前記組み合
わせ出力信号の各々をディジタル化する手段を含んでい
る請求項17に記載の画像検出器システム。 - 【請求項19】 前記組み合わせる手段は、 各々の列出力線の信号を積分する個別の手段と、 該積分する手段の各々からの積分信号をディジタル化す
る手段と、 各群の列出力線の数qを選択的に画定する手段と、 該画定手段に応答して、前記組み合わせ出力信号を発生
するように、隣接したq個の出力線の各群に関連した前
記ディジタル化手段からの信号を加算する手段とを含ん
でいる請求項16に記載の画像検出器システム。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US07/485,661 US4996413A (en) | 1990-02-27 | 1990-02-27 | Apparatus and method for reading data from an image detector |
US485,661 | 1990-02-27 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04220239A JPH04220239A (ja) | 1992-08-11 |
JP2951020B2 true JP2951020B2 (ja) | 1999-09-20 |
Family
ID=23928984
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3053527A Expired - Fee Related JP2951020B2 (ja) | 1990-02-27 | 1991-02-27 | 光検出器のアレイから画像データを読み出す方法及び画像検出器システム |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4996413A (ja) |
EP (1) | EP0444869B1 (ja) |
JP (1) | JP2951020B2 (ja) |
CA (1) | CA2034471C (ja) |
DE (1) | DE69110925T2 (ja) |
IL (1) | IL97199A0 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001112746A (ja) * | 1999-10-14 | 2001-04-24 | Ge Medical Syst Sa | 蛍光透視画像の画質改善方法 |
KR101141449B1 (ko) | 2004-02-23 | 2012-05-04 | 소니 주식회사 | 고체 촬상 장치 및 고체 촬상 장치의 구동 방법 |
Families Citing this family (109)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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