JP2001095789A - Ｘ線透視撮影装置 - Google Patents
Ｘ線透視撮影装置Info
- Publication number
- JP2001095789A JP2001095789A JP27947099A JP27947099A JP2001095789A JP 2001095789 A JP2001095789 A JP 2001095789A JP 27947099 A JP27947099 A JP 27947099A JP 27947099 A JP27947099 A JP 27947099A JP 2001095789 A JP2001095789 A JP 2001095789A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ray
- spherical
- ray detector
- distance
- detector
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000002594 fluoroscopy Methods 0.000 title abstract description 6
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims abstract description 30
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims abstract description 5
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 39
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 7
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 3
- 229910001285 shape-memory alloy Inorganic materials 0.000 abstract description 14
- 239000000758 substrate Substances 0.000 abstract description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 10
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 9
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 6
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 5
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 5
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 3
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N lead(0) Chemical compound [Pb] WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000004846 x-ray emission Methods 0.000 description 2
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
- 230000008602 contraction Effects 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 230000005669 field effect Effects 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 210000000056 organ Anatomy 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】 （修正有）
【課題】 Ｘ線管と撮像機構間の距離の変化に関わら
ず、像歪みのない透視撮影画像が得られるＸ線透視撮影
装置を得る。 【解決手段】 Ｘ線管１より放射されるＸ線ビームの放
射方向に突出する凹面状の可撓性の球面状基体１２の凹
面側に形成されてなる球面Ｘ線検出器１１が、記憶合金
球面支持体１３の凹面側に固定されて配置され、球面Ｘ
線検出器１１は、Ｘ線放射軸Ｏ方向（上下方向）に移動
できるようになっており、それの移動によるＸ線焦点Ｆ
と球面Ｘ線検出器１１間の距離Ｄが距離検出器５で検出
される。曲率制御回路３は、Ｘ線焦点Ｆを中心とする曲
率を計算し、記憶合金球面支持体１３に供給する電流を
求めて該球面支持体１３に供給し、球面Ｘ線検出器１１
の曲率を、Ｘ線焦点Ｆを中心としてＸ線焦点Ｆと球面Ｘ
線検出器１１間の距離Ｄを半径とする曲率に変化させ
る。
ず、像歪みのない透視撮影画像が得られるＸ線透視撮影
装置を得る。 【解決手段】 Ｘ線管１より放射されるＸ線ビームの放
射方向に突出する凹面状の可撓性の球面状基体１２の凹
面側に形成されてなる球面Ｘ線検出器１１が、記憶合金
球面支持体１３の凹面側に固定されて配置され、球面Ｘ
線検出器１１は、Ｘ線放射軸Ｏ方向（上下方向）に移動
できるようになっており、それの移動によるＸ線焦点Ｆ
と球面Ｘ線検出器１１間の距離Ｄが距離検出器５で検出
される。曲率制御回路３は、Ｘ線焦点Ｆを中心とする曲
率を計算し、記憶合金球面支持体１３に供給する電流を
求めて該球面支持体１３に供給し、球面Ｘ線検出器１１
の曲率を、Ｘ線焦点Ｆを中心としてＸ線焦点Ｆと球面Ｘ
線検出器１１間の距離Ｄを半径とする曲率に変化させ
る。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、医用診断に用いら
れるＸ線透視撮影装置、特に、被検体透過Ｘ線を受像
し、画像データを得る撮像機構としてＸ線検出素子が２
次元（マトリックス状）に配列された２次元Ｘ線検出器
を使用したＸ線透視撮影装置に関する。
れるＸ線透視撮影装置、特に、被検体透過Ｘ線を受像
し、画像データを得る撮像機構としてＸ線検出素子が２
次元（マトリックス状）に配列された２次元Ｘ線検出器
を使用したＸ線透視撮影装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】この種のＸ線透視撮影装置は、被検体に
Ｘ線を照射するＸ線管と、このＸ線管と対向配置され
た、被検体透過Ｘ線を受像して画像データに変換する撮
像機構とを備えており、撮像機構として一般に、被検体
透過Ｘ線を受像して可視画像に変換するイメージインテ
ンシファイア（Ｉ．Ｉ．）とＩ．Ｉ．の出力像を映像信
号（画像データ）に変換するテレビカメラとを組み合わ
せてなるものが用いられている。
Ｘ線を照射するＸ線管と、このＸ線管と対向配置され
た、被検体透過Ｘ線を受像して画像データに変換する撮
像機構とを備えており、撮像機構として一般に、被検体
透過Ｘ線を受像して可視画像に変換するイメージインテ
ンシファイア（Ｉ．Ｉ．）とＩ．Ｉ．の出力像を映像信
号（画像データ）に変換するテレビカメラとを組み合わ
せてなるものが用いられている。
【０００３】Ｉ．Ｉ．は大型の真空管で、Ｘ線管方向に
突出する凸球面状の入力面の形状、電子レンズ系等の構
成上、像歪みは避けられず、この像歪みは画像の中心よ
りも周辺に至るほど歪みが大きく、この周辺歪みを画像
処理でもって補正することも行われているが、完全では
なく、また、非常に周辺歪みの少ないＩ．Ｉ．も開発さ
れているが、周辺歪みを完全に解消ものではなく、画像
処理による歪み補正や周辺歪みの少ないＩ．Ｉ．の使用
は、装置が高価となる。また、Ｘ線検出素子が縦横にマ
トリックス状に配列された周辺歪みのない平面型Ｘ線検
出器（フラットパネルＸ線検出器）が開発され、実用に
供されるようになってきている。
突出する凸球面状の入力面の形状、電子レンズ系等の構
成上、像歪みは避けられず、この像歪みは画像の中心よ
りも周辺に至るほど歪みが大きく、この周辺歪みを画像
処理でもって補正することも行われているが、完全では
なく、また、非常に周辺歪みの少ないＩ．Ｉ．も開発さ
れているが、周辺歪みを完全に解消ものではなく、画像
処理による歪み補正や周辺歪みの少ないＩ．Ｉ．の使用
は、装置が高価となる。また、Ｘ線検出素子が縦横にマ
トリックス状に配列された周辺歪みのない平面型Ｘ線検
出器（フラットパネルＸ線検出器）が開発され、実用に
供されるようになってきている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、撮像機
構として周辺歪みのないフラットパネルＸ線検出器を使
用しても、像歪みは避けられず、根本的な解決にはなら
ない。すなわち、フラットパネルＸ線検出器は平面であ
るので、Ｘ線が検出器に垂直に入射すれば像歪みは生じ
ない。しかしながら、Ｘ線は、Ｘ線管の焦点より錘状
（コーン状）に照射されるので、このコーンビームをフ
ラットパネルＸ線検出器の平面の撮像面で受けるので、
フラットパネルＸ線検出器の中央と周辺部とでＸ線焦点
までの距離が異なり、周辺に至るほど距離が大きくなる
ことから、周辺部程画像が拡大されるという像歪みは避
けられず、像歪みのない画像データが得られないという
問題がある。
構として周辺歪みのないフラットパネルＸ線検出器を使
用しても、像歪みは避けられず、根本的な解決にはなら
ない。すなわち、フラットパネルＸ線検出器は平面であ
るので、Ｘ線が検出器に垂直に入射すれば像歪みは生じ
ない。しかしながら、Ｘ線は、Ｘ線管の焦点より錘状
（コーン状）に照射されるので、このコーンビームをフ
ラットパネルＸ線検出器の平面の撮像面で受けるので、
フラットパネルＸ線検出器の中央と周辺部とでＸ線焦点
までの距離が異なり、周辺に至るほど距離が大きくなる
ことから、周辺部程画像が拡大されるという像歪みは避
けられず、像歪みのない画像データが得られないという
問題がある。
【０００５】また、この種Ｘ線透視撮影装置では、診断
目的、診断部位等に応じて撮像機構を被検体に密着させ
た密着撮影と、撮像機構を被検体から離した拡大撮影と
が行われ、そのためにＸ線管と撮像機構間の距離が変え
られるように構成されている。したがって、中央部と周
辺部とで拡大率が異なることによる像歪みは、Ｘ線管と
撮像機構間の距離により変わるので、画像上での臓器、
関心部位等の位置関係や物体の大きさ・形状等の把握、
ならびに、画像上での計測が正確に行うことができない
という問題がある。
目的、診断部位等に応じて撮像機構を被検体に密着させ
た密着撮影と、撮像機構を被検体から離した拡大撮影と
が行われ、そのためにＸ線管と撮像機構間の距離が変え
られるように構成されている。したがって、中央部と周
辺部とで拡大率が異なることによる像歪みは、Ｘ線管と
撮像機構間の距離により変わるので、画像上での臓器、
関心部位等の位置関係や物体の大きさ・形状等の把握、
ならびに、画像上での計測が正確に行うことができない
という問題がある。
【０００６】本発明は、このような事情に鑑みてなされ
たものであって、Ｘ線管と撮像機構間の距離の変化に関
わらず、像歪みの著しく軽減され画像、ないし、像歪み
のない画像データが得られるＸ線透視撮影装置を提供す
ることを目的とする。
たものであって、Ｘ線管と撮像機構間の距離の変化に関
わらず、像歪みの著しく軽減され画像、ないし、像歪み
のない画像データが得られるＸ線透視撮影装置を提供す
ることを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、本発明のＸ線透視撮影装置は、撮像機構を撮像面が
Ｘ線放射方向に突出する凹面に多数のＸ線検出素子が２
次元に配列されている球面状の２次元Ｘ線検出器とし、
この球面状の２次元Ｘ線検出器の曲率を、Ｘ線管と該２
次元Ｘ線検出器間の距離に応じて変化させるようにした
ことを特徴としている。
め、本発明のＸ線透視撮影装置は、撮像機構を撮像面が
Ｘ線放射方向に突出する凹面に多数のＸ線検出素子が２
次元に配列されている球面状の２次元Ｘ線検出器とし、
この球面状の２次元Ｘ線検出器の曲率を、Ｘ線管と該２
次元Ｘ線検出器間の距離に応じて変化させるようにした
ことを特徴としている。
【０００８】したがって、このような構成を有する本発
明のＸ線透視撮影台によれば、球面状の２次元Ｘ線検出
器の曲率は、Ｘ線管と球面状の２次元Ｘ線検出器間の距
離に応じて変化し、その曲率は、Ｘ線管（正確にはＸ線
焦点）と球面状の２次元Ｘ線検出器間の距離を半径とす
る曲率となり、Ｘ線管と２次元Ｘ線検出器間の距離に関
係なく、２次元Ｘ線検出器の中央から周辺部に至るまで
撮像面のどに位置でもＸ線焦点までの距離が同一とな
り、像歪みが生じない。
明のＸ線透視撮影台によれば、球面状の２次元Ｘ線検出
器の曲率は、Ｘ線管と球面状の２次元Ｘ線検出器間の距
離に応じて変化し、その曲率は、Ｘ線管（正確にはＸ線
焦点）と球面状の２次元Ｘ線検出器間の距離を半径とす
る曲率となり、Ｘ線管と２次元Ｘ線検出器間の距離に関
係なく、２次元Ｘ線検出器の中央から周辺部に至るまで
撮像面のどに位置でもＸ線焦点までの距離が同一とな
り、像歪みが生じない。
【０００９】
【発明の実施の形態】本発明のＸ線透視撮影台の一実施
例について図面を参照しながら説明する。図１に示すよ
うに被検体（患者）ＭがテーブルＢ上に載置されてお
り、その下方にＸ線管１が、上方にＸ線管１と対向して
撮像機構１１が配置されている。撮像機構１０は、Ｘ線
検出素子が２次元（縦横）に配列された球面状２次元Ｘ
線検出器１０で、この実施例では、Ｘ線検出素子がＸ線
管１より放射されるＸ線ビームの放射方向に突出する凹
面状の可撓性の球面状基体１２の凹面側に形成され球面
状の２次元Ｘ線検出器とされている。
例について図面を参照しながら説明する。図１に示すよ
うに被検体（患者）ＭがテーブルＢ上に載置されてお
り、その下方にＸ線管１が、上方にＸ線管１と対向して
撮像機構１１が配置されている。撮像機構１０は、Ｘ線
検出素子が２次元（縦横）に配列された球面状２次元Ｘ
線検出器１０で、この実施例では、Ｘ線検出素子がＸ線
管１より放射されるＸ線ビームの放射方向に突出する凹
面状の可撓性の球面状基体１２の凹面側に形成され球面
状の２次元Ｘ線検出器とされている。
【００１０】この球面状２次元Ｘ線検出器（以下、球面
Ｘ線検出器と称する）１１は、例えば、銅基形態の形状
記憶合金製で球形状に形成された球面状支持体１３の凹
面側に固定されており、この形状記憶合金製の球面状支
持体（以下、記憶合金球面支持体と称する）１３は、そ
れに供給される電流に応じて球面の曲率半径が変化す
る。
Ｘ線検出器と称する）１１は、例えば、銅基形態の形状
記憶合金製で球形状に形成された球面状支持体１３の凹
面側に固定されており、この形状記憶合金製の球面状支
持体（以下、記憶合金球面支持体と称する）１３は、そ
れに供給される電流に応じて球面の曲率半径が変化す
る。
【００１１】また、記憶合金球面支持体１３は、管状の
支持アーム１４を介してケース１５に保持されており、
そのアーム１４内を、記憶合金球面支持体１３に接続す
るリード線２と、球面Ｘ線検出器１１のＸ線検出素子よ
りの信号線４′が貫通してケース１５外に導出されてお
り、導出された一端が記憶合金球面支持体１３に接続す
るリード線２の他端は曲率制御回路３に、球面Ｘ線検出
器１１の信号線３は画像処理回路４にそれぞれ接続され
ている。
支持アーム１４を介してケース１５に保持されており、
そのアーム１４内を、記憶合金球面支持体１３に接続す
るリード線２と、球面Ｘ線検出器１１のＸ線検出素子よ
りの信号線４′が貫通してケース１５外に導出されてお
り、導出された一端が記憶合金球面支持体１３に接続す
るリード線２の他端は曲率制御回路３に、球面Ｘ線検出
器１１の信号線３は画像処理回路４にそれぞれ接続され
ている。
【００１２】さらに、Ｘ線管１と球面Ｘ線検出器１１よ
りなる撮像機構１０は、図示しないフレームに取り付け
られており、対向配置するＸ線管１と撮像機構１０と
は、テーブルに対して図において、少なくとも紙面に垂
直方向に移動できるようになっていると共に、撮像機構
１０は不図示のフレームに対して図中矢印で示すように
Ｘ線放射軸Ｏ方向（上下方向）に移動できるようになっ
ており、また、フレーム、ないし、撮像機構１０のケー
ス１５には、撮像機構１０が上下移動した際のＸ線管１
の焦点Ｆと、球面Ｘ線検出器１１間の距離Ｄを検出する
距離検出器５が設けられており、この距離検出器５の出
力信号は、曲率制御回路３に供給される。なお、図中、
６はモニタ、７は画像メモリである。
りなる撮像機構１０は、図示しないフレームに取り付け
られており、対向配置するＸ線管１と撮像機構１０と
は、テーブルに対して図において、少なくとも紙面に垂
直方向に移動できるようになっていると共に、撮像機構
１０は不図示のフレームに対して図中矢印で示すように
Ｘ線放射軸Ｏ方向（上下方向）に移動できるようになっ
ており、また、フレーム、ないし、撮像機構１０のケー
ス１５には、撮像機構１０が上下移動した際のＸ線管１
の焦点Ｆと、球面Ｘ線検出器１１間の距離Ｄを検出する
距離検出器５が設けられており、この距離検出器５の出
力信号は、曲率制御回路３に供給される。なお、図中、
６はモニタ、７は画像メモリである。
【００１３】つぎに、球面Ｘ線検出器について説明す
る。図１における球面Ｘ線検出器１１は、基本的構成、
機能は、フラットパネルＸ線検出器と同じであり、この
種の固体操作方式のフラットパネルＸ線検出器は、特開
平４−２１２４５６号公報、特開平４−２１２４５８号
公報で知られているように、Ｘ線、ないし、Ｘ線より変
換された光を感知し電荷に変換する半導体層と、薄膜ト
ランジスタ、電界効果トランジスタ等のスイッチング素
子で構成されたスイッチング素子マトリックスとを一体
化し、スイッチング素子を２次元的に走査して画像信号
を得るようにしたもので、その構成を図2、図3に示す。
る。図１における球面Ｘ線検出器１１は、基本的構成、
機能は、フラットパネルＸ線検出器と同じであり、この
種の固体操作方式のフラットパネルＸ線検出器は、特開
平４−２１２４５６号公報、特開平４−２１２４５８号
公報で知られているように、Ｘ線、ないし、Ｘ線より変
換された光を感知し電荷に変換する半導体層と、薄膜ト
ランジスタ、電界効果トランジスタ等のスイッチング素
子で構成されたスイッチング素子マトリックスとを一体
化し、スイッチング素子を２次元的に走査して画像信号
を得るようにしたもので、その構成を図2、図3に示す。
【００１４】図2において、２０は半導体層で、一方の
面にバイアス電源２１に接続されるバイアス電極２２
が、他方面に検出素子（画素）が２次元（縦横）に配列
するように形成されたマトリックス状の信号電極２３が
形成されている。２４は薄膜トランジスタ（ＴＦＴ）等
のスイッチング素子２５で構成されたスイッチング素子
マトリックスで、各スイッチング素子２５は半導体層２
０のそれぞれの信号電極２３に接続されており、半導体
層２０とスイッチング素子マトリックス２４とは不図示
の基体上に薄膜技術で製造される。なお、図中、２６は
電荷を蓄積するコンデンサで、半導体層２０、スイッチ
ング素子マトリックス２５と同様に薄膜技術で製造され
る。
面にバイアス電源２１に接続されるバイアス電極２２
が、他方面に検出素子（画素）が２次元（縦横）に配列
するように形成されたマトリックス状の信号電極２３が
形成されている。２４は薄膜トランジスタ（ＴＦＴ）等
のスイッチング素子２５で構成されたスイッチング素子
マトリックスで、各スイッチング素子２５は半導体層２
０のそれぞれの信号電極２３に接続されており、半導体
層２０とスイッチング素子マトリックス２４とは不図示
の基体上に薄膜技術で製造される。なお、図中、２６は
電荷を蓄積するコンデンサで、半導体層２０、スイッチ
ング素子マトリックス２５と同様に薄膜技術で製造され
る。
【００１５】この構成において、被検体を透過したＸ線
がバイアス電極２２を透過し半導体層２０に入射する
と、Ｘ線は半導体層２０で吸収され電子−正孔対（電
荷）を生成する。生成された電荷は、バイアス電源２１
よりバイアス電極２２に印加された電圧により電荷シフ
トが起こり、この電荷がコンデンサ２６に蓄積され、こ
のコンデンサ２６に蓄積される電荷の量は、半導体層２
０に入射するＸ線量に依存する。
がバイアス電極２２を透過し半導体層２０に入射する
と、Ｘ線は半導体層２０で吸収され電子−正孔対（電
荷）を生成する。生成された電荷は、バイアス電源２１
よりバイアス電極２２に印加された電圧により電荷シフ
トが起こり、この電荷がコンデンサ２６に蓄積され、こ
のコンデンサ２６に蓄積される電荷の量は、半導体層２
０に入射するＸ線量に依存する。
【００１６】スイッチング素子マトリックス２４を構成
するスイッチング素子２５のスイッチングライン２７
は、図3の等価回路に示すようにスイッチング素子駆動
回路２８に、読み出しライン２９は増幅器３０を介して
マルチプレクサ３１に接続されており、スイッチング素
子駆動回路２８でスイッチング素子２５が駆動される
と、スイッチング素子２５がオンされた１ラインの各検
出素子（画素）のコンデンサ２６に蓄積された電荷が同
時に読み出しライン２９に出力され、スイッチング素子
駆動回路２８がスイッチング素子２５を順次駆動するこ
とにより、画素が２次元的に走査され、読み出しライン
２９に出力された信号は、マルチプレクサ３１で画素ご
との画像信号とされてＡ／Ｄ変換器３２に入力され、Ａ
／Ｄ変換器３２より各画素ごとのデジタル画像信号が得
られ、このデジタル画像信号を処理することによりＸ線
２次元画像が得られる。
するスイッチング素子２５のスイッチングライン２７
は、図3の等価回路に示すようにスイッチング素子駆動
回路２８に、読み出しライン２９は増幅器３０を介して
マルチプレクサ３１に接続されており、スイッチング素
子駆動回路２８でスイッチング素子２５が駆動される
と、スイッチング素子２５がオンされた１ラインの各検
出素子（画素）のコンデンサ２６に蓄積された電荷が同
時に読み出しライン２９に出力され、スイッチング素子
駆動回路２８がスイッチング素子２５を順次駆動するこ
とにより、画素が２次元的に走査され、読み出しライン
２９に出力された信号は、マルチプレクサ３１で画素ご
との画像信号とされてＡ／Ｄ変換器３２に入力され、Ａ
／Ｄ変換器３２より各画素ごとのデジタル画像信号が得
られ、このデジタル画像信号を処理することによりＸ線
２次元画像が得られる。
【００１７】なお、図２、図３に示したものは、入射Ｘ
線を半導体層で直接電荷（電気信号）に変換する直接変
換タイプのフラットパネルＸ線検出器であるが、入射Ｘ
線を光に変換するシンチレータ層と、そのシンチレータ
層の表面に光検出素子としてマトリックス状に形成され
たフォトダイオードアレイと、各フォトダイオードアレ
イに接続されたＴＦＴとで構成され、Ｘ線照射後、各Ｔ
ＦＴスィッチを順次ＯＮすることで、各画素に蓄積され
た信号電荷を読み出して画像信号を得る間接変換タイプ
のフラットパネルＸ線検出器であってもよい。フラット
パネルＸ線検出器では、平板の基体に半導体層２０、ス
イッチング素子マトリックス２４、コンデンサ２６等が
薄膜技術で製造されるが、本願発明において用いられる
球面状２次元Ｘ線検出器１１は、球面状の可撓性の基体
の凹面側に薄膜技術で製造される。
線を半導体層で直接電荷（電気信号）に変換する直接変
換タイプのフラットパネルＸ線検出器であるが、入射Ｘ
線を光に変換するシンチレータ層と、そのシンチレータ
層の表面に光検出素子としてマトリックス状に形成され
たフォトダイオードアレイと、各フォトダイオードアレ
イに接続されたＴＦＴとで構成され、Ｘ線照射後、各Ｔ
ＦＴスィッチを順次ＯＮすることで、各画素に蓄積され
た信号電荷を読み出して画像信号を得る間接変換タイプ
のフラットパネルＸ線検出器であってもよい。フラット
パネルＸ線検出器では、平板の基体に半導体層２０、ス
イッチング素子マトリックス２４、コンデンサ２６等が
薄膜技術で製造されるが、本願発明において用いられる
球面状２次元Ｘ線検出器１１は、球面状の可撓性の基体
の凹面側に薄膜技術で製造される。
【００１８】続いて、上記した構成を有する実施例装置
でＸ線透視撮影を行うには、まず、Ｘ線管１で発生され
たＸ線をベッドＢに載置された被検体Ｍに向けて照射す
る。被検体Ｍを透過した透過Ｘ線は、球面Ｘ線検出器１
１の半導体層２０により電荷に変換され、スイッチング
素子２５にて電気信号に変換されてデジタルビデオ信号
（画像データ）として出力され、画像処理回路４で画像
強調等の画像処理が施されてモニタ６に透視画像が映し
出される。
でＸ線透視撮影を行うには、まず、Ｘ線管１で発生され
たＸ線をベッドＢに載置された被検体Ｍに向けて照射す
る。被検体Ｍを透過した透過Ｘ線は、球面Ｘ線検出器１
１の半導体層２０により電荷に変換され、スイッチング
素子２５にて電気信号に変換されてデジタルビデオ信号
（画像データ）として出力され、画像処理回路４で画像
強調等の画像処理が施されてモニタ６に透視画像が映し
出される。
【００１９】術者は、モニタ６に映し出された透視画像
を観察しながらＸ線管１と撮像機構１０を対向保持する
フレーム、および／または、ベッドＢの移動、ないし、
撮像機構１０を上下に移動（密着撮影の場合には被検体
の体表に撮像機構を密着、拡大撮影に際しては被検体体
表より撮像機構を遠ざける）して目的画像が観察できる
ように位置決めし、適当なタイミングで撮影を行なって
撮影部位を静止画像、ないし、動御画像として画像メモ
リ７に記録する。撮影時の画像メモリ７への記録画像は
モニタ６で確認できる。
を観察しながらＸ線管１と撮像機構１０を対向保持する
フレーム、および／または、ベッドＢの移動、ないし、
撮像機構１０を上下に移動（密着撮影の場合には被検体
の体表に撮像機構を密着、拡大撮影に際しては被検体体
表より撮像機構を遠ざける）して目的画像が観察できる
ように位置決めし、適当なタイミングで撮影を行なって
撮影部位を静止画像、ないし、動御画像として画像メモ
リ７に記録する。撮影時の画像メモリ７への記録画像は
モニタ６で確認できる。
【００２０】位置決め時の撮像機構１０の上下移動によ
るＸ線焦点Ｆと球面Ｘ線検出器１１間の距離Ｄは、距離
検出器５で検出され、その検出信号は曲率制御回路３に
供給される。曲率制御回路３は、距離検出器５で検出さ
れたＸ線管焦点Ｆと球面Ｘ線検出器１１間の距離Ｄに基
づき、それに対応する曲率を計算し、球面Ｘ線検出器１
１の曲率を、計算した曲率にするための記憶合金球面支
持体１３に供給する電流を求めて、その電流を記憶合金
球面支持体１３に供給し、球面Ｘ線検出器１１の曲率
を、Ｘ線焦点Ｆと球面Ｘ線検出器１１間の距離Ｄを半径
とする曲率に変化させる。
るＸ線焦点Ｆと球面Ｘ線検出器１１間の距離Ｄは、距離
検出器５で検出され、その検出信号は曲率制御回路３に
供給される。曲率制御回路３は、距離検出器５で検出さ
れたＸ線管焦点Ｆと球面Ｘ線検出器１１間の距離Ｄに基
づき、それに対応する曲率を計算し、球面Ｘ線検出器１
１の曲率を、計算した曲率にするための記憶合金球面支
持体１３に供給する電流を求めて、その電流を記憶合金
球面支持体１３に供給し、球面Ｘ線検出器１１の曲率
を、Ｘ線焦点Ｆと球面Ｘ線検出器１１間の距離Ｄを半径
とする曲率に変化させる。
【００２１】この状態を模式的に示した図４で説明す
る。図において、Ｘ線焦点Ｆと球面Ｘ線検出器１１間の
距離がＤ１にあるときの球面Ｘ線検出器１１の曲率は、
Ｘ線管焦点Ｆを中心とする距離Ｄ１を半径とする曲率の
球面ＫＩにされているが、球面Ｘ線検出器１１が上方に
移動してＸ線焦点Ｆと球面Ｘ線検出器１１間の距離がＤ
２に変化すると、その距離Ｄ２が距離検出器５で検出さ
れて曲率制御回路３に供給される。曲率制御回路３は、
検出された距離Ｄ２に基づいて、Ｘ線焦点Ｆを中心とす
る距離Ｄ２を半径とする曲率を計算し、球面Ｘ線検出器
１１を計算した曲率に湾曲するための記憶合金球面支持
体１３に供給する電流を求め、その求めた電流を記憶合
金球面状支持体１３に供給して、球面Ｘ線検出器１１の
曲率を、Ｘ線焦点Ｆと球面Ｘ線検出器１１間の距離Ｄ２
を半径とする曲率の球面Ｋ２に変化させる。
る。図において、Ｘ線焦点Ｆと球面Ｘ線検出器１１間の
距離がＤ１にあるときの球面Ｘ線検出器１１の曲率は、
Ｘ線管焦点Ｆを中心とする距離Ｄ１を半径とする曲率の
球面ＫＩにされているが、球面Ｘ線検出器１１が上方に
移動してＸ線焦点Ｆと球面Ｘ線検出器１１間の距離がＤ
２に変化すると、その距離Ｄ２が距離検出器５で検出さ
れて曲率制御回路３に供給される。曲率制御回路３は、
検出された距離Ｄ２に基づいて、Ｘ線焦点Ｆを中心とす
る距離Ｄ２を半径とする曲率を計算し、球面Ｘ線検出器
１１を計算した曲率に湾曲するための記憶合金球面支持
体１３に供給する電流を求め、その求めた電流を記憶合
金球面状支持体１３に供給して、球面Ｘ線検出器１１の
曲率を、Ｘ線焦点Ｆと球面Ｘ線検出器１１間の距離Ｄ２
を半径とする曲率の球面Ｋ２に変化させる。
【００２２】このように、移動によるＸ線焦点Ｆと球面
Ｘ線検出器１１間の距離Ｄに応じて、球面Ｘ線検出器１
１の曲率が、Ｘ線焦点Ｆを中心とする、Ｘ線焦点Ｆと球
面Ｘ線検出器１１間の距離Ｄを半径とする曲率の球面と
されるので、球面Ｘ線検出器１１の中心からそれの周縁
部に至る球面Ｘ線検出器１１の撮像面のどの位置におい
てもＸ線焦点Ｆまでの距離は、撮像面のどの位置でも等
しく、Ｘ線焦点Ｆと球面Ｘ線検出器１１間の距離Ｄとな
り、球面Ｘ線検出器１１の中心部と周縁部の撮像面とＸ
線焦点Ｆとの距離が異なることによる拡大率の相違に起
因する像歪みが生ぜず、像歪みのない透視撮影画像が得
られる。
Ｘ線検出器１１間の距離Ｄに応じて、球面Ｘ線検出器１
１の曲率が、Ｘ線焦点Ｆを中心とする、Ｘ線焦点Ｆと球
面Ｘ線検出器１１間の距離Ｄを半径とする曲率の球面と
されるので、球面Ｘ線検出器１１の中心からそれの周縁
部に至る球面Ｘ線検出器１１の撮像面のどの位置におい
てもＸ線焦点Ｆまでの距離は、撮像面のどの位置でも等
しく、Ｘ線焦点Ｆと球面Ｘ線検出器１１間の距離Ｄとな
り、球面Ｘ線検出器１１の中心部と周縁部の撮像面とＸ
線焦点Ｆとの距離が異なることによる拡大率の相違に起
因する像歪みが生ぜず、像歪みのない透視撮影画像が得
られる。
【００２３】図５は、ケース（図示せず）に固定された
固定部４１と可動部４２からなる複数本の伸縮腕（アク
チュエータ）４０でもって、球面Ｘ線検出器１１の曲率
を調整するよにした他の実施例を示すのもで、この実施
例では、曲率制御回路は、距離検出器で検出されたＸ線
焦点Ｆと球面Ｘ線検出器１１間の距離に基づいて、各伸
縮腕４０の長さ（伸縮量）を調整して、球面Ｘ線検出器
１１の曲率を、Ｘ線焦点Ｆと球面Ｘ線検出器１１間の距
離Ｄを半径とする曲率に変化させる。なお、図中、図１
と同一構成品には同一符号が付されており、また、各伸
縮腕４０の各可動部４２と球面Ｘ線検出器１１の球面状
基体１２との連結は、不図示の自在（ピボット）継ぎ手
を介してなされる。
固定部４１と可動部４２からなる複数本の伸縮腕（アク
チュエータ）４０でもって、球面Ｘ線検出器１１の曲率
を調整するよにした他の実施例を示すのもで、この実施
例では、曲率制御回路は、距離検出器で検出されたＸ線
焦点Ｆと球面Ｘ線検出器１１間の距離に基づいて、各伸
縮腕４０の長さ（伸縮量）を調整して、球面Ｘ線検出器
１１の曲率を、Ｘ線焦点Ｆと球面Ｘ線検出器１１間の距
離Ｄを半径とする曲率に変化させる。なお、図中、図１
と同一構成品には同一符号が付されており、また、各伸
縮腕４０の各可動部４２と球面Ｘ線検出器１１の球面状
基体１２との連結は、不図示の自在（ピボット）継ぎ手
を介してなされる。
【００２４】なお、上記の実施例では、球面状基体にＸ
線検出素子を薄膜技術で形成して球面２次元Ｘ線検出器
としたが、小さな平面上のフラットパネルＸ線検出器を
多数枚使用し、各フラットパネルＸ線検出器の多数の平
面の組み合わせでもって擬似球面の球面Ｘ線検出器（以
下、擬似球面Ｘ線検出器と称する）を形成し、隣接する
各フラットパネルＸ線検出器の傾斜角度の調整でもって
曲率を変えるようにしてもよい。
線検出素子を薄膜技術で形成して球面２次元Ｘ線検出器
としたが、小さな平面上のフラットパネルＸ線検出器を
多数枚使用し、各フラットパネルＸ線検出器の多数の平
面の組み合わせでもって擬似球面の球面Ｘ線検出器（以
下、擬似球面Ｘ線検出器と称する）を形成し、隣接する
各フラットパネルＸ線検出器の傾斜角度の調整でもって
曲率を変えるようにしてもよい。
【００２５】図６はこのように構成した擬似球面Ｘ線検
出器とそれの曲率調整の説明用の模式図で、複数枚の小
さなフラットパネルＸ線検出器１１′が、伸縮性支持体
４３に固定されて大面積の２次元検出器とされ、各フラ
ットパネルＸ線検出器１１′は、例えば、図５に示した
ようなケースに固定された固定部と可動部４２とよりな
る伸縮腕に連結されて、球面を平面で近似した擬似球面
状のＸ線検出器とされている。このような構成において
は、距離検出器で擬似球面Ｘ線検出器とＸ線焦点Ｆ間の
距離Ｄが検出されると、曲率制御回路は、距離検出器で
検出された距離Ｄを半径とする曲率を計算し、各フラッ
トパネルＸ線検出器１１′で計算された曲率の球形面に
外接、または、内接する擬似球面を形成するための、各
隣接検出器との傾斜角度θ１、θ２、θ３…を求め、そ
の角度になるように各伸縮腕の長さを調整することで、
擬似球面Ｘ線検出器の曲率が変えられる。
出器とそれの曲率調整の説明用の模式図で、複数枚の小
さなフラットパネルＸ線検出器１１′が、伸縮性支持体
４３に固定されて大面積の２次元検出器とされ、各フラ
ットパネルＸ線検出器１１′は、例えば、図５に示した
ようなケースに固定された固定部と可動部４２とよりな
る伸縮腕に連結されて、球面を平面で近似した擬似球面
状のＸ線検出器とされている。このような構成において
は、距離検出器で擬似球面Ｘ線検出器とＸ線焦点Ｆ間の
距離Ｄが検出されると、曲率制御回路は、距離検出器で
検出された距離Ｄを半径とする曲率を計算し、各フラッ
トパネルＸ線検出器１１′で計算された曲率の球形面に
外接、または、内接する擬似球面を形成するための、各
隣接検出器との傾斜角度θ１、θ２、θ３…を求め、そ
の角度になるように各伸縮腕の長さを調整することで、
擬似球面Ｘ線検出器の曲率が変えられる。
【００２６】この図６の実施例では、曲率をＸ線焦点と
撮像機構（擬似球面Ｘ線検出器）間の距離を半径とする
曲率の球面を平面で近似するので、図１の実施例のよう
に像歪みを完全になくすことはできないが、大面積のフ
ラットパネルＸ線検出器で撮像するよりも周辺歪みは著
しく改善でき、特に、各フラットパネルＸ線検出器の大
きさを小さくすればする程、曲率を、Ｘ線焦点と撮像機
構間の距離を半径とするの曲率の球面に近づけることが
でき、より像歪みのない透視撮影画像が得られる。
撮像機構（擬似球面Ｘ線検出器）間の距離を半径とする
曲率の球面を平面で近似するので、図１の実施例のよう
に像歪みを完全になくすことはできないが、大面積のフ
ラットパネルＸ線検出器で撮像するよりも周辺歪みは著
しく改善でき、特に、各フラットパネルＸ線検出器の大
きさを小さくすればする程、曲率を、Ｘ線焦点と撮像機
構間の距離を半径とするの曲率の球面に近づけることが
でき、より像歪みのない透視撮影画像が得られる。
【００２７】また、現在の技術では、大面積のフラット
パネルＸ線検出器、特に、球面状２次元Ｘ線検出器の作
成は、歩留まりが悪く、高価であるので、図６のよう
に、小さなフラットパネルＸ線検出器の組み合わせでも
って球面を形成するようにすれば、安価に２次元検出器
が構成できる。なお、図１はアンダーチューブ型Ｘ線透
視撮影装置に本発明を適用した実施例であるが、本発明
は、Ｘ線管を上方に、下方に撮像機構を配置したオーバ
ーチューブ型Ｘ線透視撮影装置、Ｘ線管と撮像機構とを
端部に対向保持するＣアーム形Ｘ線透視撮影装置等にも
適用可能である。
パネルＸ線検出器、特に、球面状２次元Ｘ線検出器の作
成は、歩留まりが悪く、高価であるので、図６のよう
に、小さなフラットパネルＸ線検出器の組み合わせでも
って球面を形成するようにすれば、安価に２次元検出器
が構成できる。なお、図１はアンダーチューブ型Ｘ線透
視撮影装置に本発明を適用した実施例であるが、本発明
は、Ｘ線管を上方に、下方に撮像機構を配置したオーバ
ーチューブ型Ｘ線透視撮影装置、Ｘ線管と撮像機構とを
端部に対向保持するＣアーム形Ｘ線透視撮影装置等にも
適用可能である。
【００２８】
【発明の効果】本発明のＸ線透視撮影装置によれば、球
面状２次元Ｘ線検出器の曲率が可変できるので、Ｘ線管
と撮像機構間の距離の変化に関わらず、像歪みの著しく
軽減された透視撮影画像、ないし、像歪みのない透視撮
影画像が得られる。その結果、画像上での臓器、関心部
位等の位置関係、物体の大きさ・形状の把握や計測が正
確に行うことができ、的確な診断や治療が可能となる。
面状２次元Ｘ線検出器の曲率が可変できるので、Ｘ線管
と撮像機構間の距離の変化に関わらず、像歪みの著しく
軽減された透視撮影画像、ないし、像歪みのない透視撮
影画像が得られる。その結果、画像上での臓器、関心部
位等の位置関係、物体の大きさ・形状の把握や計測が正
確に行うことができ、的確な診断や治療が可能となる。
【図１】 本発明のＸ線透視撮影装置の一実施例を示す
図である。
図である。
【図２】 フラットパネルＸ線検出機の構成を示す模式
図である。
図である。
【図３】 図２の等価回路図である。
【図４】 図１に用いられている球面状２次元Ｘ線検出
器の曲率の変化説明用の模式図である。
器の曲率の変化説明用の模式図である。
【図５】 球面状２次元Ｘ線検出器の曲率の調整機構の
他の実施例を示す図である。
他の実施例を示す図である。
【図６】 他の球面状２次元Ｘ線検出器の構成、ならび
に、曲率調整の説明用の模式略図である。
に、曲率調整の説明用の模式略図である。
１：Ｘ線管 ３：曲率制御回路 ４：画像処理回路 ５：距離検出回路 ６：モニタ ７：画像メモリ １０：撮像機構 １１…球面状２次元Ｘ線検出器（球面Ｘ線検出器） １１′…フラットパネルＸ線検出器 １２…球面状基体 １３…形状記憶合金製球面状支持体（記憶合金球面支持
体） １４…支持アーム １５…ケース ４０：伸縮腕 ４１…固定部 ４２…可動部 Ｆ：Ｘ線焦点 Ｏ：Ｘ線放射軸
体） １４…支持アーム １５…ケース ４０：伸縮腕 ４１…固定部 ４２…可動部 Ｆ：Ｘ線焦点 Ｏ：Ｘ線放射軸
Claims (2)
- 【請求項１】 被検体を挟んで被検体にＸ線を照射する
Ｘ線管と、被検体を透過した透過Ｘ線を受像する撮像機
構とが対向配置されており、前記Ｘ線管と撮像機構間の
距離が可変できるＸ線透視撮影装置であって、前記撮像
機構がＸ線放射方向に突出する凹面に多数のＸ線検出素
子が２次元に配列されている球面状２次元Ｘ線検出器で
あると共に、前記２次元Ｘ線検出器の曲率が、Ｘ線管と
２次元Ｘ線検出器間の距離に応じて変化することを特徴
とするＸ線透視撮影装置。 - 【請求項２】 被検体にＸ線を照射するＸ線管と、被検
体を透過した透過Ｘ線を受像する撮像面がＸ線放射方向
に突出する凹面に多数のＸ線検出素子が２次元に配列さ
れている球面状の２次元Ｘ線検出器と、前記Ｘ線管と球
面状２次元Ｘ線検出器間の距離を検出する距離検出手段
と、前記距離検出手段の検出信号に応じて前記２次元Ｘ
線検出器の曲率を可変する制御手段とを備えていること
を特徴とするＸ線透視撮影装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27947099A JP2001095789A (ja) | 1999-09-30 | 1999-09-30 | Ｘ線透視撮影装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27947099A JP2001095789A (ja) | 1999-09-30 | 1999-09-30 | Ｘ線透視撮影装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001095789A true JP2001095789A (ja) | 2001-04-10 |
Family
ID=17611518
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27947099A Pending JP2001095789A (ja) | 1999-09-30 | 1999-09-30 | Ｘ線透視撮影装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2001095789A (ja) |
Cited By (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003010164A (ja) * | 2001-07-03 | 2003-01-14 | Hitachi Medical Corp | Ｘ線撮影装置 |
| WO2006005246A1 (fr) * | 2004-07-14 | 2006-01-19 | Southwest Technology & Engineering Institute Of China | Dispositif de mesure destine a la diffraction de rayons x a longueur d'onde courte et procede correspondant |
| JP2006105982A (ja) * | 2004-09-30 | 2006-04-20 | General Electric Co <Ge> | リニアアレイ検出器システム及び検査方法 |
| JP2010078551A (ja) * | 2008-09-29 | 2010-04-08 | Fujifilm Corp | 放射線検出装置 |
| JP2010078542A (ja) * | 2008-09-29 | 2010-04-08 | Fujifilm Corp | 放射線検出装置 |
| US8212219B2 (en) | 2008-09-26 | 2012-07-03 | Fujifilm Corporation | Radiation detecting apparatus and radiation image capturing system |
| WO2012115039A1 (ja) * | 2011-02-21 | 2012-08-30 | 富士フイルム株式会社 | 放射線画像検出装置及び放射線撮影装置 |
| JP2012231898A (ja) * | 2011-04-28 | 2012-11-29 | Toshiba Corp | Ｘ線ｃｔ装置 |
| WO2014104763A1 (ko) * | 2012-12-27 | 2014-07-03 | 주식회사 레이언스 | 엑스레이 검출 장치 및 시스템 |
| JP2019015725A (ja) * | 2017-07-05 | 2019-01-31 | 株式会社リガク | Ｘ線検出器及び当該ｘ線検出器の制御方法 |
| WO2019207831A1 (ja) * | 2018-04-26 | 2019-10-31 | 株式会社ジャパンディスプレイ | Ｘ線検査装置 |
| US11112509B2 (en) | 2016-05-26 | 2021-09-07 | Koninklijke Philips N.V. | Multifunctional radiation detector |
| WO2021251397A1 (ja) * | 2020-06-09 | 2021-12-16 | 義弘 岸上 | Ｘ線画像撮影装置 |
-
1999
- 1999-09-30 JP JP27947099A patent/JP2001095789A/ja active Pending
Cited By (17)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003010164A (ja) * | 2001-07-03 | 2003-01-14 | Hitachi Medical Corp | Ｘ線撮影装置 |
| WO2006005246A1 (fr) * | 2004-07-14 | 2006-01-19 | Southwest Technology & Engineering Institute Of China | Dispositif de mesure destine a la diffraction de rayons x a longueur d'onde courte et procede correspondant |
| US7583788B2 (en) | 2004-07-14 | 2009-09-01 | South West Technology & Engineering Institute Of China | Measuring device for the shortwavelength x ray diffraction and a method thereof |
| JP2006105982A (ja) * | 2004-09-30 | 2006-04-20 | General Electric Co <Ge> | リニアアレイ検出器システム及び検査方法 |
| US8212219B2 (en) | 2008-09-26 | 2012-07-03 | Fujifilm Corporation | Radiation detecting apparatus and radiation image capturing system |
| JP2010078551A (ja) * | 2008-09-29 | 2010-04-08 | Fujifilm Corp | 放射線検出装置 |
| JP2010078542A (ja) * | 2008-09-29 | 2010-04-08 | Fujifilm Corp | 放射線検出装置 |
| JP2012173128A (ja) * | 2011-02-21 | 2012-09-10 | Fujifilm Corp | 放射線画像検出装置及び放射線撮影装置 |
| WO2012115039A1 (ja) * | 2011-02-21 | 2012-08-30 | 富士フイルム株式会社 | 放射線画像検出装置及び放射線撮影装置 |
| US8803101B2 (en) | 2011-02-21 | 2014-08-12 | Fujifilm Corporation | Radiological image detection apparatus and radiation imaging apparatus |
| JP2012231898A (ja) * | 2011-04-28 | 2012-11-29 | Toshiba Corp | Ｘ線ｃｔ装置 |
| WO2014104763A1 (ko) * | 2012-12-27 | 2014-07-03 | 주식회사 레이언스 | 엑스레이 검출 장치 및 시스템 |
| US11112509B2 (en) | 2016-05-26 | 2021-09-07 | Koninklijke Philips N.V. | Multifunctional radiation detector |
| JP2019015725A (ja) * | 2017-07-05 | 2019-01-31 | 株式会社リガク | Ｘ線検出器及び当該ｘ線検出器の制御方法 |
| JP7129624B2 (ja) | 2017-07-05 | 2022-09-02 | 株式会社リガク | Ｘ線検出器及び当該ｘ線検出器の制御方法 |
| WO2019207831A1 (ja) * | 2018-04-26 | 2019-10-31 | 株式会社ジャパンディスプレイ | Ｘ線検査装置 |
| WO2021251397A1 (ja) * | 2020-06-09 | 2021-12-16 | 義弘 岸上 | Ｘ線画像撮影装置 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6412978B1 (en) | X-ray diagnostic apparatus | |
| JP3319905B2 (ja) | デジタルｘ線撮影装置 | |
| US6630676B2 (en) | X-ray image taking apparatus with plane type radiation detector unit | |
| US7197109B2 (en) | Real-time digital x-ray imaging apparatus | |
| EP1848985B1 (en) | Multiple mode flat panel x-ray imaging system | |
| US6292534B1 (en) | X-ray examination apparatus | |
| US20110286582A1 (en) | Imaging system and control method therefor | |
| JP2001095789A (ja) | Ｘ線透視撮影装置 | |
| US10499863B2 (en) | Tiled digital radiography detectors for long-length imaging | |
| US10959690B2 (en) | Overlapping stepped standard DR detector for long length imaging | |
| KR20110004839A (ko) | 의료용 ｘ선 촬상 시스템 | |
| WO2006109806A1 (ja) | Ｘ線イメージセンサおよびこれを用いたｘ線撮影装置 | |
| WO1996024047A1 (en) | Digital imaging using a scanning mirror apparatus_xxxxxxx | |
| US6604855B2 (en) | Fluoroscopic radiographing carrier apparatus | |
| JP2001095790A (ja) | Ｘ線透視撮影装置 | |
| JP2000046760A (ja) | Ｘ線断層面検査装置 | |
| JP2006508722A (ja) | マンモグラフィ用のデジタル撮影法および装置 | |
| JP3805107B2 (ja) | Ｘ線を用いた計測装置 | |
| JPH11290307A (ja) | Ｘ線診断装置 | |
| JP2009240467A (ja) | ***用画像撮像装置 | |
| EP0129938A1 (en) | Dental X-ray examination apparatus | |
| WO2013001917A1 (ja) | 放射線出力装置、放射線撮影システム及び放射線撮影方法 | |
| JP3369441B2 (ja) | 多方向ｘ線透視撮影装置 | |
| JPH11188024A (ja) | Ｘ線診断装置 | |
| JP2009183334A (ja) | Ｘ線透視撮影装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20060124 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090106 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20090623 |