JP3279315B2 - 測距装置 - Google Patents

測距装置

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JP3279315B2
JP3279315B2 JP17839890A JP17839890A JP3279315B2 JP 3279315 B2 JP3279315 B2 JP 3279315B2 JP 17839890 A JP17839890 A JP 17839890A JP 17839890 A JP17839890 A JP 17839890A JP 3279315 B2 JP3279315 B2 JP 3279315B2
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    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B7/00Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
    • G02B7/28Systems for automatic generation of focusing signals
    • G02B7/30Systems for automatic generation of focusing signals using parallactic triangle with a base line
    • G02B7/32Systems for automatic generation of focusing signals using parallactic triangle with a base line using active means, e.g. light emitter

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  • Measurement Of Optical Distance (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、測距装置、詳しくは、撮影画面内の複数の
ポイントに対応する被写体距離を測距可能な測距装置に
関する。
【0002】
【従来の技術】
被写体に光束を照射し、被写体からの反射光を受光手
段にて受光して距離情報を得る測距装置を有するカメラ
は一般に普及しているが、従来、この種のカメラでは画
面内の1つのポイント、主として中央部でしか測距する
ことができない。そのため、主要被写体がこのポイント
から外れると、所謂、“中抜け”と呼称される状態にな
って主要被写体にピントが合わないピンボケ写真が撮れ
てしまうことになる。
【0003】 そこで、画面内の複数のポイントに複数のスポット光
を照射し、これらの反射光から被写体距離を求めて中抜
けを防止するようにした多点測距装置が、例えば特開昭
58−9013号公報や、特開昭58−76715号公報等に提案さ
れている。この種多点測距装置においては、測距された
複数のポイントの距離情報の内、最も近い距離のポイン
トに被写体がいる可能性が高いことから、その最も近い
距離に撮影レンズを駆動制御するようになっている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、複数の測距ポイントに対して測距する
際に測距エリア内に他の距離の被写体が混入し、測距に
誤差を生じる場合がある。例えば、被写体にスポット光
を照射する測距装置では、有限な拡がりを有するスポッ
ト光の全てが被写体に照射されれば正確に測距できる
が、被写体のエッヂにスポット光が当たるとスポット光
の一部しか反射されないので、誤測距が生じることにな
ってしまう。そこで、図9A〜図11Bに基づいてこの後測
距の問題を説明する。
【0005】 図9Aは被写体11上のスポット光21の様子を、図9Bは受
光素子(PSD)4上の反射光21aの様子をそれぞれ示して
いる。
【0006】 図9Aのように、スポット光が被写体11の中に完全に入
ってしまう場合には、反射光21aはPSD4上に理想的に入
射し、PSD4はその重心位置から正しい測距出力をする。
そして重心位置は、被写体距離に応じてPSD4上の無限遠
に相当する位置から至近に相当する位置まで移動する。
【0007】 しかし、図10A,図11Aのように、被写体11がスポット
光21の位置から少しだけ横にずれて、スポット光が完全
に反射しない場合、その反射した光だけの重心位置から
測距出力をするため、図9Aと同じ距離にいる被写体11に
対しても、図10Aの場合は重心位置が図10Bに示すように
PSD上で近距離側に移り、図9A、図9Bよりも近距離側に
寄った測距出力をする。反対に図11Aの場合には、図11B
に示すように遠距離側に寄った測距出力をしてしまう。
【0008】 1つのPSDで1つのスポット光を受光する場合には、
この誤測距の量は比較的少なくてすむが、1つのPSDで
複数のスポット光を受光する多点測距装置の場合には、
1つのスポット光に対する無限遠から至近までのPSD上
の移動量が小さいことから、前記の“スポット光はず
れ”による誤測距は大きなものとなる。
【0009】 さらに、このスポット光外れによる誤測距は、各スポ
ット光について生じる危険性があり、多点測距装置は1
点測距装置に比べて危険性は、多点の数だけ増すことに
なり、しかも近距離側に寄った測距出力を測距結果とし
てしまうため、ピントがずれた写真を撮影してしまうこ
とがあった。
【0010】 本発明は係る問題点に鑑みてなされたものであり、複
数のポイントについて測距可能な測距装置において、測
距エリア内に異なる距離の被写体が混入している場合で
も誤測距することのない測距装置を提供することを目的
とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】
上記の目的を達成するために本発明の第1の測距装置
は、撮影画面内の複数の測距点に対応した測距用光を被
写体に向けて投射する投光手段と、上記被写体からの上
記測距用光の反射光を受光することにより、被写体距離
に応じた信号を出力する受光手段と、上記受光手段の出
力に基づき、上記撮影画面内の複数の測距点に対応する
測距演算を行う演算手段と、中央測距点の測距値が所定
距離よりも近距離であり且つ隣接測距点の測距値が上記
所定距離よりも近距離である場合には上記中央測距点の
測距値を採用し、上記中央測距点の測距値が上記所定距
離よりも近距離であり且つ上記隣接測距点の測距値が上
記所定距離よりも遠距離である場合には上記隣接測距点
の測距値を採用する判定手段と、上記判定手段の判定結
果に基づき撮影光学系を駆動する駆動手段と、を具備す
ることを特徴とする。
【0012】 本発明の第2の測距装置は、撮影画面内の複数の測距
点に対応した測距用光を被写体に向けて投射する投光手
段と、上記被写体からの上記測距用光の反射光を受光す
ることにより、被写体距離に応じた信号を出力する受光
手段と、上記受光手段の出力に基づき、上記撮影画面内
の複数の測距点に対応する測距演算を行う演算手段と、
中央測距点の測距値が第1の所定距離よりも遠距離であ
り且つ上記第1の所定距離より遠い第2の所定距離より
も近距離である場合には、上記中央測距点の測距値を採
用する第1の判定手段と、上記中央測距点の測距値が上
記第1の所定距離よりも近距離であり且つ隣接測距点の
測距値が上記第1の所定距離よりも近距離である場合に
は上記中央測距点の測距値を採用し、上記中央測距点の
測距値が上記第1の所定距離よりも近距離であり且つ上
記隣接測距点の測距値が上記第1の所定距離よりも遠距
離である場合には上記隣接測距点の測距値を採用する第
2の判定手段と、上記中央測距点の測距値が上記第1の
所定距離よりも遠距離であり且つ上記第2の所定距離よ
りも遠距離である場合には、上記隣接測距点の測距値を
採用する第3の判定手段と、上記第1乃至第3の判定手
段の判定結果に基づき撮像光学系を駆動する駆動手段
と、を具備することを特徴とする。
【0013】 本発明の第3の測距装置は、上記第2の測距装置にお
いて、上記第3の判定手段は、上記隣接測距点の測距値
のうち最至近測距値を採用することを特徴とする。
【0015】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して本発明の実施の形態を説明す
る。
【0016】 まず、この実施形態の動作を説明する前に、図2A〜図
2Dを用いて本発明の測距装置の基本的な考え方を、また
図3を用いてPSDによる公知の一実用測距装置を、それ
ぞれ説明する。
【0017】 図2Aは図1に示した測距装置を用いて直径約200mmの
人間の顔をチャート測距したときの測距結果を示す線図
で、図2Bがその実験方法である。図において、被写体距
離l0は2m付近とし、上記チャートをl0に略直角なx方向
にシフトしながら測距を行なうと、図2Aに示したよう
に、スポット外れによる誤差が大きく近距離側に出るポ
イントx1,x2,x4と、遠距離側に測距誤差が出るポイント
x3,x5,x6とが明らかとなる。
【0018】 本発明は、このうち、x2,x4付近で生じる測距誤差を
隣接する測距データを使用することによって改善しよう
とするもので、x2,x4で至近距離相当のデータが出力さ
れた場合、これを無視する。
【0019】 ここで、実際に至近距離のものを測距した場合と、ス
ポット外れによって至近距離相当の測距出力が出力され
た場合との判別は、隣接する2点が共に、近距離比較値
lNより至近寄りのデータとなるか否かで行なうことにす
る。例えば、1m未満の距離に在る被写体を撮影するよう
なマクロ撮影においては、IREDスポットの間隔d1(図2B
参照)が d1=l tanθ より比較的短いので、図2Cに示すように隣接する投光ス
ポットL,C,Rのうちの2点共、同様に、近距離比較測距
値lNより至近寄りのデータを出力すると考えられるから
である。
【0020】 一方、投光スポットCが図2Dに示すようにスポット外
れによって至近相当の結果が出力されるときは、かなり
高い確率で他の点は至近以外のの結果を出力するものと
考えられる。そして、これらの判定,繰り出し距離の決
定は後述するCPU7で行なうようにしている。以上が、本
発明の測距装置の基本的な考え方の説明である。
【0021】 次に、図3を用いて本発明の基本となるPSD4を使用し
た公知の一点用測距装置を説明する。
【0022】 IRED3′が投光レンズ1を介して被写体11に測距用光
を投射すると、受光レンズ2は被写体上での測距用光の
反射光を集光し、PSD4上に被写体像を結像する。このと
き、反射光の入射位置xは三角測距の原理より、次式の
ように被写体距離lの関数となる。
【0023】 x=S・f/l ……(1) ここで、Sは投受光レンズの主点間距離(基線長)であ
り、fは受光レンズ2の焦点距離で、この位置にPSD4が
配置される。PSD4は、この測距用信号光の入射位置xの
関数である2つの光電流信号I1,I2を出力する。今、IRE
D3′の発光中心と投光用レンズ1の主点を結んだ線と平
行な線を、受光用レンズ2の主点から延ばしたとき、PS
D4とクロスする点を、PSD4のIRED側の端部からの長さa
の点にとり、全信号光電流をIpO、PSD4の全長をtとす
ると、 I1={(a+x)/t}IpO ……(2) I2=[{t−(a+x)}/t]IpO ……(3) となるから、上記(2),(3)式より光電流比I1/(I
1+I2)を演算によって求めることができる。
【0024】 I1/(I1+I2)=(a+x)/t =(1/t){a+(S・f/l)} ……(4) ところで、上記(4)式において、PSD4の全長t、PS
D4のIRED側端子からの長さa,基線長A、および受光レン
ズの焦点距離fはそれぞれ定数なので、光電流比I1/(I
1+I2)が求まれば、被写体距離lの逆数1/lを求めるこ
とができる。以上がPSDによる公知の一点用測距装置の
説明である。
【0025】 次に、本発明の一実施態様を示す測距装置を説明す
る。 図1は、本発明の一実施形態を示す測距装置を用いた
カメラの構成ブロック図である。このカメラは、投光用
レンズ1と複数の発光素子(IRED)3とIRED用ドライバ
6とからなる発光部と、受光用レンズ2とPSD4とアナロ
グ演算用IC(AFIC)5とから成る受光部と、AFIC5の出
力結果を補正演算して撮影距離を決定すると共に、モー
タドライバ8を介して撮影レンズ駆動用モータ9を制御
する、ワンチップマイコン等で構成される演算制御回路
(CPU)7とから成っている。なお、上記IRED3は、その
中央に配置された第1投光手段としてのIRED3Cと、その
両側に配置された第2投光手段としてのIRED3R,3Lとか
らなる。また、符号10はレリーズ用スイッチ、11は被写
体である。
【0026】 図1に示したレリーズ用スイッチ10の閉成によってCP
U7は、AFIC5に対し、測距開始信号を送出する。このと
き、IRED発光用ドライバ6は、同じくCPU7によって第1
投光手段としての中央のIRED3cが発光するように、これ
をイネーブル状態にしている。そして、実際の発光タイ
ミングはAFIC5によって決定される。このAFIC5について
は、本出願人が先に提案した特開昭63−132110号公報や
特開平1−114707号公報に詳述されているが、ここで
は、図4に示すような、特開平1−114707号公報に開示
されたものと同じ動作原理によるAF回路を簡単に説明す
る。
【0027】 図において、符号4は、前記図1と同じPSDで、12a,1
2bは、PSD4からDC状態で出力される光電流を除去し、パ
ルス状にPSD4に入射するIRED信号光電流のみを増幅する
プリアンプである。
【0028】 このプリアンプ出力Ix,Iyは、各々圧縮ダイオード13,
14に電流信号として注入され、圧縮電圧信号に変換され
る。15,16はバッファで、その出力である圧縮電圧信号
VA,VBがトランジスタ17,18、定電流源19および電流−
電圧変換回路20等から構成された伸張演算回路に入力さ
れる。
【0029】 ここで、サーマルボルテージをVT、ダイオード13,14
及びトランジスタ17,18の逆方向飽和電流をIsとする
と、図4中に示す記号VO,VZを用いて VA=VT ln(Ia/Is)+VZ =VO+VT ln(Iy/Is) ……(5) VB=VT ln(Ib/Is)+VZ =VO+VT ln(Iy/Is) ……(6) なる関係式が成立する。上記(5),(6)式より Ib=(Ia/Ix)・Iy ……(7) という関係式が導かれるが、 Ia+Ib=IO ……(8) より Ia={Ix/(Ix+Iy)}IO ……(9) Ix,Iyは、それぞれ前記図2中のI1,I2に比例しているの
で、上記(4),(9)式より Ia=(IO/t){a+(S・f)/l} ……(10) となり、 Ia ∝1/l および Ia ∝a が成立する。
【0030】 このコレクタ電流Iaは、電流−電圧変換回路20でAFIC
5より出力され、CPU7に内蔵されたA/D変換回路で、CPU7
にディジタル値として取り込まれ、被写体距離の逆数1/
lが 1/l={t・(Ia/IO)−a}・1/S・f ……(11) によって演算される。但し、この1/l演算において図1,
図3に示すように、左,右を測距する場合には、投受光
レンズ1,2の焦点距離が等しいとき、(11)式における
aを各々a−α,a+αに変える必要がある。
【0031】 このようにして得られた距離情報lによって、CPU7は
合焦用レンズの繰り出し距離を決定するが、このための
アルゴリズムを図5以下のフローチャートに従って以下
に説明する。
【0032】 まず、中央の投光スポットCにより第1距離情報lcを
測距し、この測距結果lcが近距離比較値lNより近いか否
かを判定する(ステップS1,S2)。この近距離比較値lN
は、1mとし、常焦点距離2m付近より近距離側とする。こ
の結果がlNより近ければ、スポット外れによる誤測距
か、本当にその被写体が近いか、2通りが考えられる。
そこで、図における左列に配置されたステップS7〜S11
からなる第2判定部で、右側または、左側の第2投光手
段による第2距離情報を参考にして、何れかに判定す
る。
【0033】 まず右側(R)の第2投光手段から測距用光を投射し
て第2距離情報lRを測距し(ステップS7)、この測距結
果lRも同様に近距離比較値lNより近距離であれば(ステ
ップS8)、中央の測距結果は正しいものとし、中央の投
光スポットCによる測距結果lcに従ってレンズの繰出し
を行なう(ステップS12)。また、右側の投光スポット
Rによる第2距離情報lRが近距離比較値lNより遠くて
も、左側の投光スポットLによる第2距離情報lLを測距
し(ステップS9)、この測距結果lLが、近距離比較値lN
より近い値を示すなら(ステップS10)、やはり中央の
投光スポットCによる測距結果は正しいものとし、中央
の測距結果に従って、合焦制御を行なう(ステップS1
2)。
【0034】 これらのレンズ制御は、既に前記図1で述べたよう
に、CPU7がモータドライバ8を介してモータ9によって
行ない、また、右(R),左(L)へのIRED光投光の切
り換えは、やはりCPU7がIREDドライバ6を制御して行な
うものとする。
【0035】 このように、中央と左、または中央と右のそれぞれの
投光スポットが同様にして、近距離比較値lN以近のデー
タを出力するときは、このアルゴリズムではスポット外
れではないと判定し、中央の投光スポットによる第1距
離情報lc重視のピント合わせを行なう。しかし、中央の
投光スポットCによる第1距離情報lcのみがlN以近のデ
ータを出力するときは、中央の投光スポットCが、スポ
ット外れを起こして誤測距していると考えられる。そこ
で、図2Aのちょうどx2点に被写体がいると判断して、上
記ステップS9で求めた投光スポットLの測距結果lLに従
ってピント合わせを行なう(ステップS11)。次に、中
央の投光スポットCによる第1距離情報lcが遠距離比較
値lFより遠い結果を出力(ステップS3)した場合につい
て考える。
【0036】 この場合、1点しか測距のできない従来のオートフォ
ーカスで、しばしば問題となった中抜け現象が起きてい
ると考えられる。これは図6Aのように二人が並んだよう
な被写体に対し、測距用光が二人の間を抜けてしまい、
背景にピントが合ってしまうという現象である。この場
合、本発明では、左(L),右(R)の測距点を図6Bに
示すように測距し、このうち近い測距結果を出力する方
にピント合わせを行なう。これは従来の多点測距装置が
行なってきている一般的な方法である。この場合には、
図における中央列に配置されたステップS4〜S6からなる
第3判定部で、上記ステップS7と同じ内容のR点測距
(ステップS4)を、および上記ステップS9と同じ内容の
L点測距(ステップS5)を、それぞれ行なった後、上記
各測距から得られた第2距離情報lRとlLのうちの近い方
の測距データに基づいてレンズの繰出しを行うことにな
る(ステップS6)。
【0037】 最後に中央の投光スポットCによる第1距離情報lcが
近距離比較値lNから遠距離比較値lFの間に入っていると
き、これは、スポット外れでもなく、中抜けでもないと
判定し、図における左列に配置されたステップS12から
なる第1判定部により、第1距離情報lcにピント合わせ
を行なう(ステップS12)。このように中央に存在する
被写体が、常焦点付近に存在する場合は、左,右は測距
せず、第1距離情報lcにピント合わせを行なうので、タ
イムラグを短かく抑えることができる。
【0038】 図7は、上記図5に示すフローの変形例で、このフロ
ーが上記図5と大きく異なる点は、マクロ撮影か右側ス
ポット外れかを判定する第2判定部での判断において、
投光スポットRによる第2測距情報lRの測距を止め、投
光スポットCとLのみによるフローにしたことである。
そこで、この図7においては、上記図5と同じルーチン
には同じステップ番号を付して、その説明を省略し、異
なるルーチンについてのみ説明する。
【0039】 図7においてステップS3aはその内容において上記図
5のステップS3と同じだが、不等号の向きが異なるの
で、図7の右側の列つまりステップS5〜S22が第3判定
部に、中央の列つまりステップS12が第1判定部にな
る。一方、左側の列つまりステップS9〜S11が上記図5
と同じように、第2判定部となる。ステップS2にて第1
距離情報lcが近距離比較値lNより小、つまり所定の距離
範囲lN〜lFよりも近距離にあれば、上記図5におけるス
テップS7,S8を介することなく、直ちにステップS9,S10,
S11を実行する。この理由は、第1距離情報lcが所定の
距離範囲lN〜lFよりも近距離である理由がスポット外れ
のためであったとしても、このスポット外れは、前記図
10A,図10Bで説明したように至近寄りに誤測距する右側
スポット外れなので、第1投光手段による投光スポット
Cより更に右側に投光する第2投光手段中のIRED3R(図
1参照)から投光する必要がないからである。
【0040】 ステップS3aで、第1距離情報lcが遠距離比較値lFを
超える場合は、第3判定部に進んでステップS5,S4を実
行するが、図5におけるステップS6をこの図7では2つ
のルーチンS21,S22に分割している。なお、第1判定部
は図5と全く同じである。この図7に示す変形例によれ
ば、右側スポット外れかマクロ撮影かを判定する第2判
定部で投光スポットRによる測距を行なわないので、マ
クロ撮影時のタイムラグを抑えることができる。
【0041】 図8Aは、IREDを増やして、第1投光手段、第2投光手
段の外側に第3投光手段を設けた測距装置におけるCPU
のレンズ繰り出し距離決定用のフローチャートで、被写
体上における投光スポットは図8Bのように形成される。
この図8Aに示すフローでは、ステップS12からなる第1
判定部は、上記図5,図7と同じである。またステップS7
a〜S11aからなる第2判定部も、第2投光手段による測
距用光の被写体上における投光スポットをR,LからR1,L1
に置換すれば、上記図5,図7のフローと全く同じであ
る。そこで、第1,2判定部についてはその説明を省略
し、ステップ番号でS31以降の第3判定部について以下
に説明する。なお、この図8Aのフローは、図8Bに示す相
隣接する投光スポット、例えばR1,R2による第2,3距離情
報が近距離比較値・Nより近いとき、スポット外れでは
なくマクロ撮影であるとし、中央の投光スポットCに近
い投光スポットR1による第2距離情報・R1を選ぶように
した例である。
【0042】 図8Aにおいて、第1投光手段からの中央の投光スポッ
トCによる第1距離情報lcが近距離比較値lNより大きい
と(ステップS1,S2)、この状態は測距は正常に行なわ
れた場合の他、投光スポットCが中抜けあるいはマクロ
撮影時における左側スポット外れ(図11A,図11B参照)
している等が考えられる。そこで、ステップS3に進んで
第1距離情報lcを遠距離比較値lFと比較し、同比較値lF
より大きければ、中抜けかマクロ撮影における左側スポ
ット外れなので、ステップS31以下の第3判定部に進
む。このステップS31以下、第3判定部は、第2距離情
報lR1,lL1を第1距離情報とし、また、第3距離情報lR
2,lL2を第2距離情報とそれぞれみなし、撮影距離を決
定するようにしている。
【0043】 先ず、第2投光手段からの右側投光スポットR1を測距
し(ステップS31)、結果として得られた右側の第2距
離情報lR1を近距離比較値lNと比較する(ステップS3
2)。もし、右側の第2距離情報lR1が近距離比較値lNよ
り小さいつまり至近寄りなら、同2投光手段からの右側
投光スポットR1が右側スポット外れ(図10A,図10B参
照)かマクロ撮影かなので、第3投光手段からの右側投
光スポットR2を測距し(ステップS33)、結果として得
られた右側の第3距離情報lR2を近距離比較値lNと比較
する(ステップS34)。そして、右側の第3距離情報lR2
が近距離比較値lNより小さければ、右側の第2距離情報
lR1も近距離比較値lNより小さかったので(上記ステッ
プS32)、投光スポットR1,R2によるマクロ撮影と判断
し、中央の投光スポットCに近い投光スポットR1による
第2距離情報・R1の位置に撮影レンズを繰り出して(ス
テップS35)、このフローを終了する。
【0044】 上記ステップS34に戻って、右側の第3距離情報lR2が
近距離比較値lNより大きいと、この状態は投光スポット
R1が右側スポット外れか、投光スポットR2が正常,左側
スポット外れ,中抜けの何れかなので、ステップS37に
進んで右側の第3距離情報lR2を遠距離比較値lFと比較
する。そして、同比較値lFを超えなければ、投光スポッ
トR1が右側スポット外れ、投光スポットR2が中抜け,左
側スポット外れかなので、ステップS38に進んで右側の
第3距離情報・R2の位置にレンズ繰り出しを行なってこ
のフローを終了する。一方、右側の第3距離情報lR2が
遠距離比較値lFより大きければ、投光スポットR1が右側
スポット外れか、投光スポットR2が正常かなので、後述
するステップS37に進む。
【0045】 前記ステップS32に戻って、右側の第2距離情報lR1が
近距離比較値lNより大きければ、投光スポットlR1が正
常,左側スポット外れ,中抜けの何れかなので、上記右
側の第2距離情報lR1を遠距離比較値lFと比較し(ステ
ップS36)、同比較値lFより小さければ、投光スポットR
1が正常なので、前記ステップS35に進むし、同比較値lF
より大きければ、投光スポットR1が左側スポット外れ,
中抜けの何れかなので、ステップS31Aの“L1測距”に進
む。このステップS31A〜S38Aは、上記ステップS31〜S38
における投光スポットR1,R2を投光スポットL1DL2に置換
したに過ぎないので、同じステップ番号の後にAを付
し、その説明を省略する。
【0046】 ステップS36Aで左側の第2距離情報lL1が遠距離比較
値lFより大きければ、投光スポットL1が左側スポット外
れか中抜けなので、“L2測距”を行ない(ステップS3
9)、結果として得られた左側の第3距離情報lL2を遠距
離比較値lFと比較する(ステップS40)。そして、左側
の第3距離情報lL2が遠距離比較値lFより大きければ、
第1距離情報lcで決められる位置に、また遠距離比較値
lFより小さければ左側の第3距離情報lL2で決められる
位置に、それぞれレンズ駆動してこのフローを終了す
る。
【0047】 上記図8Aのフローによれば、5個のIREDを使用して5
個の測距用光を被写体に投射しているので、スポット外
れとか中抜けが略完全に防止され、これにより測距精度
を向上することができる。
【0048】
【発明の効果】
以上説明したように本発明によれば、測距エリア内に
異なる距離の被写体が混入している場合でも誤測距する
ことのない測距装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の一実施形態を示す測距装置を用いたカメラの構
成ブロック図である。
【図2】 上記実施形態の測距装置を用いたカメラに係り、(A)
は、チャート測距したときの測距結果を示す線図、
(B)はその実験方法を示す図、(C),(D)は、被
写体に照射される投光スポットの説明図である。
【図3】 上記実施形態の測距装置を用いたカメラに係り、PSDを
用いた公知の一点用測距装置の光学配置を示した図であ
る。
【図4】 上記実施形態の測距装置を用いたカメラに係り、図1に
おけるAFICの要部を示した回路図である。
【図5】 上記実施形態の測距装置を用いたカメラに係り、図1に
おけるCPUのレンズ繰り出し距離決定用のフローチャー
トである。
【図6】 上記実施形態の測距装置を用いたカメラに係り、
(A)、(B)は、共に中抜け現象を説明する図であ
る。
【図7】 上記実施形態の測距装置を用いたカメラに係り、図5に
おける第2判定部を簡略化したフローチャートである。
【図8】 上記実施形態の測距装置を用いたカメラに係り、(A)
は本実施形態に係るCPUのレンズ繰り出し距離決定用の
フローチャートであり、(B)は投光スポットの配置図
である。
【図9】 従来の測距装置において、(A)は投光スポットの被写
体上における関係位置を示す図であり、(B)は反射光
スポットのPSD上における関係位置を示す図である。
【図10】 従来の測距装置において、(A)は投光スポットの被写
体上における関係位置を示す図であり、(B)は反射光
スポットのPSD上における関係位置を示す図である。
【図11】 従来の測距装置において、(A)は投光スポットの被写
体上における関係位置を示す図であり、(B)は反射光
スポットのPSD上における関係位置を示す図である。
【符号の説明】
3C……IRED(第1投光手段) 3L,3R……IRED(第2投光手段) 5……AFIC(第1〜3測距演算手段) 7……CPU(撮影距離決定手段)
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平1−288716(JP,A) 特開 平2−282234(JP,A) 特開 平1−276106(JP,A) 特開 昭62−14017(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G02B 7/28 - 7/40

Claims (3)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】撮影画面内の複数の測距点に対応した測距
    用光を被写体に向けて投射する投光手段と、 上記被写体からの上記測距用光の反射光を受光すること
    により、被写体距離に応じた信号を出力する受光手段
    と、 上記受光手段の出力に基づき、上記撮影画面内の複数の
    測距点に対応する測距演算を行う演算手段と、 中央測距点の測距値が所定距離よりも近距離であり且つ
    隣接測距点の測距値が上記所定距離よりも近距離である
    場合には上記中央測距点の測距値を採用し、上記中央測
    距点の測距値が上記所定距離よりも近距離であり且つ上
    記隣接測距点の測距値が上記所定距離よりも遠距離であ
    る場合には上記隣接測距点の測距値を採用する判定手段
    と、 上記判定手段の判定結果に基づき撮影光学系を駆動する
    駆動手段と、 を具備することを特徴とする測距装置。
  2. 【請求項2】撮影画面内の複数の測距点に対応した測距
    用光を被写体に向けて投射する投光手段と、 上記被写体からの上記測距用光の反射光を受光すること
    により、被写体距離に応じた信号を出力する受光手段
    と、 上記受光手段の出力に基づき、上記撮影画面内の複数の
    測距点に対応する測距演算を行う演算手段と、 中央測距点の測距値が第1の所定距離よりも遠距離であ
    り且つ上記第1の所定距離より遠い第2の所定距離より
    も近距離である場合には、上記中央測距点の測距値を採
    用する第1の判定手段と、 上記中央測距点の測距値が上記第1の所定距離よりも近
    距離であり且つ隣接測距点の測距値が上記第1の所定距
    離よりも近距離である場合には上記中央測距点の測距値
    を採用し、上記中央測距点の測距値が上記第1の所定距
    離よりも近距離であり且つ上記隣接測距点の測距値が上
    記第1の所定距離よりも遠距離である場合には上記隣接
    測距点の測距値を採用する第2の判定手段と、 上記中央測距点の測距値が上記第1の所定距離よりも遠
    距離であり且つ上記第2の所定距離よりも遠距離である
    場合には、上記隣接測距点の測距値を採用する第3の判
    定手段と、 上記第1乃至第3の判定手段の判定結果に基づき撮像光
    学系を駆動する駆動手段と、 を具備することを特徴とする測距装置。
  3. 【請求項3】上記第3の判定手段は、上記隣接測距点の
    測距値のうち最至近測距値を採用することを特徴とする
    請求項2に記載の測距装置。
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