JP2784503B2 - ガイド付光導波路およびその製造方法 - Google Patents

ガイド付光導波路およびその製造方法

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JP2784503B2 JP63311909A JP31190988A JP2784503B2 JP 2784503 B2 JP2784503 B2 JP 2784503B2 JP 63311909 A JP63311909 A JP 63311909A JP 31190988 A JP31190988 A JP 31190988A JP 2784503 B2 JP2784503 B2 JP 2784503B2
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    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B6/00Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
    • G02B6/24Coupling light guides
    • G02B6/26Optical coupling means
    • G02B6/30Optical coupling means for use between fibre and thin-film device

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Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、光導波路と光ファイバ間の接続を簡便にか
つ高い信頼性をもって行い得るガイド付光導波路および
その製造方法に関するものである。
[従来の技術] 光導波回路の製作にあたっては、光導波路への光ファ
イバの接続が必要であり、このため、簡便で、かつ信頼
性の高い光ファイバ接続技術の開発が求められている。
石英ガラス系光導波路基板上に、光回路のパターン化
と同時に光ファイバ位置合わせ用のガイドを形成し、こ
のガイドを利用して接続を行う方法(特開昭60-17406号
公報)は、簡便で信頼性の高い光ファイバ接続技術とし
て期待されている。第9図は、この接続方法を説明する
図である。同図において、1は光回路基板、2はリッジ
状光導波路であり、2aはコア層,2bはそのバッファ層,2c
はクラッド層である。3はファイバガイドであり、4は
光ファイバ、4aはそのコア層である。ガイド3に囲まれ
たガイド溝部の幅および深さは適切に設定されているの
で、光ファイバ4をガイド中に挿入するだけで光ファイ
バと光導波路との位置合わせが実現できる。しかも、光
ファイバ4はガイド3により、その位置が機械的に決定
されているので、光ファイバの固定後において、使用環
境の温度変動が生じたとしても位置ずれが発生せず、し
たがって、極めて信頼性の高いファイバ接続が実現でき
る。
このように、従来のガイドはガイド上面の高さと、光
導波路表面の高さとが等しく製作されており、かつ、単
一構造のガイドがファイバ位置決め機能と、ファイバ固
定機能とを兼ね備える構造となっている。
しかしながら、この方法は、従来はリッジ状光導波路
に適用されてきたが、クラッド層を厚く形成して、コア
を埋め込む埋め込み構造光導波路への適用は難しかっ
た。この理由は、このような埋め込み形の光導波路を製
作する場合、従来はガイドと光導波路とを1枚のフォト
マスクを用いて製造することができず、例えば第10図に
示す工程に基き製造していたからであった。まず第10図
(a)に示すように基板1に形成した光導波路2′にフ
ォトマスクパターン22aを用いたフォトリソグラフィ技
術により光導波路コア部マスクパターンを形成する。な
お、10はマスク材である。
次に、ドライエッチングにより、光導波路コア部2aを
形成し(第10図(b))、その上に埋め込みクラッド層
2cを形成するとともに(第10図(c))、埋め込みクラ
ッド層2cで埋め込まれた光導波路2上に、再びマスク材
11を形成し、フォトマスクパターン23bにより、ガイド
マスクをパターン化する(第10図(d))。
さらに、前記クラッド層2cをドライエッチングするこ
とによって光導波路2へのファイバ接続用ガイド3を形
成する(第10図(e))。
[発明が解決しようとする課題] このような従来の工程において、第10図(e)に示さ
れた工程では、ガイドパターン23bを、既に形成された
光導波路2の位置に対して、誤差1μm以内の精度で設
けてパターン化する必要がある。しかしながら、下層に
形成された位置合わせをすべき光導波路は、コア層、ク
ラッド層共に透明であるので、目視で精密位置合わせを
実現することは極めて困難であった。
本発明の第1の目的は、従来の構造のガイドでは埋め
込み光導波路への精密位置決めを行ってのガイド形成が
困難であるという問題点を解決し、埋め込み導波路に適
した構造のガイドを有する光導波路を提供することにあ
る。
本発明の第2の目的は、埋め込み導波路に適した構造
のガイドを有する光導波路の製造方法を提供することに
ある。
[課題を解決するめの手段] 本発明によるガイド付き光導波路は、光導波路の端部
近傍に、光ファイバと光導波路との位置合わせ用のガイ
ド部を有するガイド付き光導波路において、ガイド部は
光導波路を加工して形成された側壁および底部で構成さ
れたガイド溝を有し、かつガイド部は幅が互いに異なる
光ファイバ位置決め用第1ガイドおよび光ファイバ固定
用第2ガイドが高さ方向に積層されて設けられており、
第1ガイドは、その上面の高さが光導波路のコア部上面
の高さと同等以下であり、かつ第1ガイドの幅方向の中
心軸はコア部の中心軸と一致しており、さらに光ファイ
バを第1ガイド中に挿入する際の光ファイバと第1ガイ
ドとの接触点から光導波路コア部中心までの距離が、光
ファイバの半径と等しく、第2ガイドは、第1ガイドの
上部に設けられており、かつその上面の底部からの高さ
が光ファイバの半径より大きく、幅が光ファイバの直径
より大きいことを特徴とする。
本発明によるガイド付き光導波路の製造方法は、光導
波路の表面に、光導波路コア部形成用マスクパターン
と、光ファイバ位置決めのための第1ガイド用マスクパ
ターンとを形成する第1工程と、光導波路コア部と第1
ガイド用パターンを形成する第2工程と、コアパターン
上のマスクを除去し、第1ガイド上のマスクを残したま
ま光導波路表面上に埋め込みクラッド層を形成する第3
工程と、光ファイバ固定のための第2ガイド用マスクパ
ターンを埋め込みクラッド層表面に形成する第4工程
と、埋め込みクラッド層表面に形成した第2ガイド用マ
スクパターンと埋め込みクラッド層内部に埋め込んだ第
1ガイド用マスクパターンをマスクとして、光導波路の
不要部分を所望の深さエッチングする第5工程とを備え
たことを特徴とする。
さらに、本発明によるガイド付き光導波路の製造方法
は、光導波路の表面に、光導波路コア部形成用マスクパ
ターンと、光ファイバ位置決めのための第1ガイド用マ
スクパターンとを形成する第1工程と、光導波路コア部
と第1ガイド用パターンを形成する第2工程と、コアパ
ターン上のマスクおよび第1ガイド上のマスクを除去
し、光導波路表面上に埋め込みクラッド層を形成する第
3工程と、光ファイバ固定のための第2ガイド用マスク
パターンを埋め込みクラッド層表面に形成する第4工程
と、埋め込みクラッド層表面に形成した第2ガイド用マ
スクパターンと埋め込みクラッド層内部に埋め込んだ第
1ガイド用パターンをマスクとして、光導波路の不要部
分を所望の深さエッチングする第5工程とを備えたこと
を特徴とする。
[作用] 本発明は、埋め込み形光導波路に適した構造のガイド
として、光ファイバと導波路の位置合わせを行うための
第1ガイドと、光ファイバ固定機能を有する第2ガイド
との2つの構成要素からなるガイドを用いている。位置
決め用の第1ガイドは、ガイド上面の高さが、光導波路
のコア上面と同等または、それより低くなっている。第
1ガイドの溝幅の中心位置は、光導波路コア中心と一致
しており、これにより水平方向のファイバ導波路の位置
合わせが実現できる。また、第1ガイドと光ファイバと
の接触点から、光導波路コア中心までの距離を光ファイ
バ半径と概ね等しくなるように設定しており、これによ
り垂直方向のファイバ導波路間の位置合わせが実現でき
る。光ファイバ固定機能を有する第2ガイドは、第1ガ
イド上面より上部に形成してあり、基板とファイバ下面
の接触点から第2ガイド上面までの高さは、光ファイバ
の半径より十分に大きく設定する。実用性を考慮すると
半径より10μm以上大きくすることが好ましい。溝幅
は、第1ガイドの溝幅より広く、光ファイバ直径より若
干大きい寸法に設定してある。
第2ガイドの目的は、上記のように固定機能をもたせ
ることにある。もし、ファイバガイドの高さが光ファイ
バの半径と比べて低い場合(すなわち、第2ガイドがな
い場合)、接着剤を光ファイバのまわりに塗布すると、
その分布に大きな不均一さが生じ易い。接着剤分布に大
きな不均一性があると、接着剤が硬化する際に、光ファ
イバに非対称応力が働き、光ファイバが動き易くなる。
しかも、非対称応力の大きさは、接着剤の量が多い程大
きくなる。
この結果、ファイバガイドの高さが光ファイバ半径と
比較して低い場合には、ファイバ固定時に、軸ずれが発
生する確率が極めて高くなる。本発明の第2ガイドは、
上記の問題点を解決するためのものである。すなわち、
光ファイバの固定にあたり、接着剤等の固定剤を滴下す
ると、固定剤は光ファイバと第2ガイド間との界面張力
により流動を開始し、第1および第2ガイド中にいきわ
たる。この時、固定剤の量と分布は、光ファイバの半径
より十分に大きい高さを有する第2ガイドを用いること
により容易に制御可能となり、この結果、固定剤塗布お
よび硬化に伴う光ファイバの軸ずれを防止できる。
上述したガイド付光導波路を製造するために、本発明
においては、第1および第2ガイドの2重構造からなる
ガイドを形成するにあたり、第1ガイドと光導波路とを
1枚のフォトマスクを用いたプロセスで同時に形成し、
引き続いて第2ガイドを埋め込みクラッド層形成後の別
種のフォトマスクを用いたプロセスで形成する。
[実施例] 以下に、図面を参照して本発明の実施例を詳細に説明
する。
実施例1 第1図は本発明の第1の実施例を説明する斜視図であ
る。1は基板、2は光導波路コア部2a、光導波路埋め込
みクラッド層2cからなる光導波路、2a′はコア部2aを形
成するために設けられたコア層、3はガイドであり、第
1ガイド3aおよび第2ガイド3bとで構成される。第1ガ
イドの上面31は、この実施例では、コア部2aの上面とほ
ぼ同一の高さに形成されている。第2ガイド3bの上面
は、埋め込みクラッド層2cの表面と同一の高さになって
いる。なお、本実施例においては、基板1はSi基板、光
導波路2aおよび2cは石英系光導波路である。
第2図は第1図のガイドの位置合わせ機能を説明する
断面図である。同図において、4は光ファイバであり、
4aはそのコア層である。第1ガイド3aの上面31の高さ
は、上述のように、光導波路コア部2aの上面の高さとほ
ぼ同一に設定してある。したがって、第1ガイド3aの溝
部の幅Wを光ファイバ4の直径Dとおおむね等しく(W
D)設定し、かつ、ガイド底部から光導波路コア部2a
の中心まで高さHを、光ファイバ4の半径D/2とおおむ
ね等しく(HD/2)設定することにより、光ファイバ
4をガイド3中に挿入することにより、光ファイバを光
導波路間の位置合わせが実現する。この時、光ファイバ
と第1ガイドとの接点は、第2図に示したA,B,Cの3点
であり、これらと光導波路コア部2aの中心0との距離は
A0B0C0D/2の関係になっている。したがって、光
ファイバ4をガイド3中に挿入するだけで、光ファイバ
と導波路間の位置合わせを行うことができる。
第3図はガイドの固定機能を説明する斜視図である。
例えば、同図(a)のように、固定剤がファイバと光導
波路の接続面に回り込まないように、ガイド3のファイ
バ端面より遠い側の端部付近に固定剤5を滴下すると、
固定剤5は光ファイバ4と第2ガイド3bとの界面張力に
より、溝中をファイバ導波路接続部に向かって流動す
る。固定剤が所望の場所まで流動し終わった時点で固定
剤を硬化する。硬化のためには、例えば、固定剤が紫外
線硬化接着剤であれば、紫外線照射を行い、また固定剤
が半田であれば、基板温度を下げればよい。
このように、固定剤をガイドとファイバとの界面張力
を利用して塗布することにより、使用できる固定剤の選
択の自由度が大きくなるという利点が生じる。すなわ
ち、この方法によれば、光導波路と光ファイバとの接続
端面に固定剤を塗布しないことが可能となるので、上記
のように、半田,あるいは光吸収の大きな接着剤を用い
ることが可能となる。
固定剤が流動した場所での断面図を第3図(b)に示
す。同図で示したように、固定剤の量は第2ガイドおよ
び第1ガイドの寸法および固定剤の界面張力で決定され
る。この結果、固定剤の量および分布が制御され、光フ
ァイバが安定に固定できる。
第4図は本実施例のガイド付光導波路の製造方法の例
を説明する図である。同図(a)はSi基板1上に形成し
た石英系光導波路のコア層2a′の上面に光導波路コア部
マスクパターン12aおよび第1ガイド膜厚13aを形成する
工程である。このためには第5図に示すように、石英系
光導波路コア層2a′上面にマスク材10を形成した後、こ
の基板に光導波路パターン22aおよび第1ガイドパター
ン23aが描かれた1枚のフォトマスク20を用いたフォト
リソグラフィ技術およびエッチング技術を適用すればよ
い。本実施例ではマスク材としてアモルファスSi(a−
Si)を用いた。第4図(a)において光導波路マスクパ
ターン12aと第1ガイドマスクパターン13aは1枚のフォ
トマスクを用いて一括して形成できるので、両者の位置
合わせ精度は極めて高く、誤差を0.1〜0.2μm以内とす
ることができる。第4図(b)は不要部分の石英系光導
波路コア層をエッチングし、光導波路コア部2aおよび第
1ガイド3aを形成する工程である。このためには例えば
反応性イオンエッチングを適用すればよい。なお、この
例では第1ガイド3aもエッチングしてあるが、第1ガイ
ド部はエッチングしないでおくことも可能である。第4
図(c)は第1ガイドのマスクパターン13aを残して光
導波路2a上のマスク材を除去する工程である。第4図
(d)は、石英系光導波路クラッド層2cを形成し、光導
波路コア部2a、第1ガイド3aおよび第1ガイドマスクパ
ターン13aを埋め込む工程である。第4図(e)は、埋
め込みクラッド層2cの上面に、第2ガイドマスクパター
ン13b等を形成する工程である。ここでは第6図に示す
ように埋め込みクラッド層2cの上面に、第2マスク材11
を形成した後、第2ガイドパターン23b等が描かれた第
2のフォトマスクを用いたフォトリソグラフィ技術を用
いている。この工程においては、埋め込まれた光導波路
コア部2aおよび第1ガイド3aに対して、第2ガイドマス
クパターンを位置合わせして形成する必要がある。この
場合、上述のように、第2ガイドの幅は第1ガイドと比
較して大きく、また、第2ガイドの機能がファイバ位置
合わせではなく、固定にあるので、第2ガイドの下層パ
ターンに対する位置ずれ許容量は十分大きい。従って、
この工程における第2ガイドマスクの下層パターンに対
する位置合わせは容易に実行できる。
第4図(f)は第2ガイドマスクパターン13bおよび
クラッド層2c中に埋め込まれた第1ガイドマスクパター
ン13aをマスクとして、石英系光導波路を所望の深さエ
ッチングし、ガイド付光導波路を形成する工程である。
本実施例においては、石英系光導波路をエッチングし、
Si基板表面を露出させた後、さらにSi基板をエッチング
することにより、ガイドの深さを所望の値に設定した。
なお、光導波路バッファ層が十分に厚ければ、Si基板エ
ッチングは不要となる。
以上述べたように、本実施例では、第1ガイドのマス
クパターンを光導波路のマスクパターンと同時に形成す
るようにしたので、光導波路に対する第1ガイドの位置
を精密に合わせて製作することが可能となった。
また、第2ガイドの高さが、光ファイバ半径より十分
に高いので、光ファイバをガイド中に挿入した後、接着
剤等で安定に固定できる。従って、これにより埋め込み
光導波路へのセルフ・アライメントファイバ接続が実現
できる。
実施例2 本発明にかかるガイドを用いれば、位置決め機能を有
する第1ガイドの高さが、光導波路コア部の高さより大
幅に低い場合であっても、固定用の第2ガイドを設けて
あるために、光ファイバを安定に固定することが可能と
なる。
第7図はこのような第1ガイドの高さが低い場合の、
ガイド構造の例を示したものである。第7図(a)は第
1ガイドの溝形状が凹形をしており、第1ガイドと光フ
ァイバとが、ガイドのエッジA点,C点および溝底部B点
とで接触する構造の例である。この場合、第1ガイドの
寸法は、0A0B0CD/2(Oは光導波路コア中心、D
はファイバ直径)となるように設定した。第7図(b)
は、第1ガイドの溝形状がV溝形状をしており、第1ガ
イドと光ファイバとは、V溝面A点およびB点で接触す
る例である。ガイドの寸法は0A0BD/2に設定する。
第7図(a)の構造のガイドは、基本的には第4図に
示したのとほぼ同様の寸法で製作できる。すなわち、第
1ガイド3aと光導波路2aとを1枚のフォトマスクを用い
て、マスク材10をパターン化し、このマスクパターンに
より両者を形成する。第2ガイド3bについては、クラッ
ド層埋め込み後、クラッド層2c表面にマスク材11を形成
し、これに、第2のフォトマスクを用いてパターン化し
たマスクパターンにより、ガイド3bを形成すればよい。
本実施例のガイドは、第1ガイド3aの高さが第1図の実
施例と比較して低く設定してある。従って、本実施例の
場合、第1ガイドマスクパターン13aとして埋め込むべ
きマスク厚が薄くてよい。マスク材の埋め込みはマスク
厚が薄いほど容易であるので、本実施例の構造は第1図
のガイド構造より製作が容易である。
第7図(b)の構造のガイドも、先に述べたのと同様
の方法で石英系光導波路をエッチングした後、Si基板を
異方性エッチングすればよい。これとともに、第8図の
ように、第1ガイドを埋め込みマスクを用いないで形成
することも可能である。すなわち、はじめに、第1ガイ
ド3aと光導波路2aとを1枚のフォトマスクを用いて同時
に形成する(第8図(a))。次に残マスク材をすべて
除去した後、第1ガイド3aおよび光導波路2aをともにク
ラッド層2cに埋め込み(第8図(b))、しかる後、ク
ラッド表面に形成した第2ガイドマスクパターン13bを
用いて石英系光導波路をエッチングし、Si基板表面を露
出させる(第8図(c))。この際、コア層のエッチン
グ速度がクラッド層のエッチング速度よりわずかに遅い
ので、石英系光導波路のエッチング終点検出を慎重に行
うと、第1ガイド部3aの石英系光導波路を若干量残した
まま、ガイド底部のSi基板を露出させることができる。
最後にSi基板の異方性エッチングを行えば、第1ガイド
部に残った石英系光導波路をマスクとして、Si基板にV
溝が形成できる(第8図(d))。
以上のように、本発明では、第1ガイド上面の高さ
が、光ファイバの半径と比較して、かなり低い場合であ
っても、第2ガイドを設けたために、ガイドを用いた安
定で信頼性の高い光ファイバ接続が可能となる。このた
め、第1ガイドの構造の設計の自由度が大きくなるとい
う効果がある。
なお、以上述べてきた実施例は、Si基板上に形成した
石英系光導波路に関するものであったが、本発明の光導
波路は他の材料系に対しても有効であることは言うまで
もない。第1ガイドおよび第2ガイドを形成するため
に、エッチングにより不要部分を除去することのできる
材料を用いた光導波路に対しては、すべて適用可能であ
る。また、さらに述べれば、光導波路コア部の形成にあ
たり、本実施例では、エッチングにより不要部分を除去
する例を示したが、本発明の効果はこの構造に限定され
るものでもない。例えば、不要部分をマスクでかくし、
コア部分のみにドーパントを拡散する拡散形の光導波路
に対しても適用することができる。
[発明の効果] 以上説明したように、本発明では、ファイバ接続用の
ガイドを、その機能に従って2つの構成要素、すなわち
光導波路と光ファイバとの位置決めを行う第1ガイド
と、光ファイバの固定を行う第2ガイドとに分割した。
そして、第1ガイドについては第1ガイド用のマスクパ
ターンを光導波路コア部用のマスクパターンと同時に形
成し、このマスクを用いたエッチングにより第1ガイド
を形成するようにしたので、光導波路と第1ガイドとの
精密位置合わせが実現できた。第2ガイドについては、
光導波路に対する位置ずれ許容度が大きいので、埋め込
みクラッド形成後に、クラッド層表面に形成したマスク
パターンを用いたエッチングにより形成することが可能
となった。この結果、第2ガイドは光ファイバを安定に
固定するのに十分な高さを有することが可能となった。
従って、本発明により、埋め込み構造の光導波路への
セルフアライメントファイバ接続が可能となった。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の第1の実施例の斜視図、 第2図は実施例1の第1ガイドの位置合わせ機能を説明
する断面図、 第3図は実施例1の第2ガイドのファイバ固定機能の説
明図、 第4図は実施例1のガイド付光導波路の製造方法の一例
の説明図、 第5図は第4図の方法において、第1ガイドと光導波路
コア部のマスクパターンを形成する工程の説明図、 第6図は第4図の方法において、第2ガイドのマスクパ
ターンを形成する工程の説明図、 第7図は本発明のガイド付光導波路のガイド構造の他の
実施例の説明図、 第8図は第7図(b)の構造のガイド付光導波路の製造
方法の一例の説明図、 第9図は従来のガイド付光導波路の構造の説明図、 第10図は従来の方法で埋め込み形光導波路にガイドを形
成する工程の説明図である。 1……基板、2……光導波路、2a……コア部、2b……バ
ッファ層、2c……クラッド層、3……ガイド、3a……第
1ガイド、3b……第2ガイド、4……光ファイバ、5…
…固定剤、10,11……マスク材、12a……光導波路コア部
用マスクパターン、13a……第1ガイド用マスクパター
ン、13b……第2ガイド用マスクパターン、20,21……フ
ォトマスク、22a……光導波路コア部マスクパターン、2
3a……第1ガイド用マスクパターン、23b……第2ガイ
ド用マスクパターン。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 大森 保治 東京都千代田区内幸町1丁目1番6号 日本電信電話株式会社内 (56)参考文献 特開 昭61−267010(JP,A) 特開 昭63−21611(JP,A) 実開 昭63−8706(JP,U) 特公 昭63−25644(JP,B2) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G02B 6/30 G02B 6/12

Claims (3)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】光導波路の端部近傍に、光ファイバと該光
    導波路との位置合わせ用のガイド部を有するガイド付き
    光導波路において、 前記ガイド部は前記光導波路を加工して形成された側壁
    および底部で構成されたガイド溝を有し、かつ該ガイド
    部は幅が互いに異なる光ファイバ位置決め用第1ガイド
    および光ファイバ固定用第2ガイドが高さ方向に積層さ
    れて設けられており、 前記第1ガイドは、その上面の高さが前記光導波路のコ
    ア部上面の高さと同等以下であり、かつ該第1ガイドの
    幅方向の中心軸は前記コア部の中心軸と一致しており、
    さらに前記光ファイバを第1ガイド中に挿入する際の光
    ファイバと該第1ガイドとの接触点から前記光導波路コ
    ア部中心までの距離が、前記光ファイバの半径と等し
    く、 前記第2ガイドは、前記第1ガイドの上部に設けられて
    おり、かつその上面の前記底部からの高さが光ファイバ
    の半径より大きく、幅は前記光ファイバの直径より大き
    い ことを特徴とするガイド付き光導波路。
  2. 【請求項2】光導波路の表面に、光導波路コア部形成用
    マスクパターンと、光ファイバ位置決めのための第1ガ
    イド用マスクパターンとを形成する第1工程と、 光導波路コア部と第1ガイド用パターンを形成する第2
    工程と、 前記コアパターン上のマスクを除去し、前記第1ガイド
    上のマスクを残したまま前記光導波路表面上に埋め込み
    クラッド層を形成する第3工程と、 光ファイバ固定のための第2ガイド用マスクパターンを
    前記埋め込みクラッド層表面に形成する第4工程と、 埋め込みクラッド層表面に形成した前記第2ガイド用マ
    スクパターンと前記埋め込みクラッド層内部に埋め込ん
    だ第1ガイド用マスクパターンをマスクとして、光導波
    路の不要部分を所望の深さエッチングする第5工程と を備えたことを特徴とするガイド付き光導波路の製造方
    法。
  3. 【請求項3】光導波路の表面に、光導波路コア部形成用
    マスクパターンと、光ファイバ位置決めのための第1ガ
    イド用マスクパターンとを形成する第1工程と、 光導波路コア部と第1ガイド用パターンを形成する第2
    工程と、 前記コアパターン上のマスクおよび前記第1ガイド上の
    マスクを除去し、前記光導波路表面上に埋め込みクラッ
    ド層を形成する第3工程と、 光ファイバ固定のための第2ガイド用マスクパターンを
    前記埋め込みクラッド層表面に形成する第4工程と、 埋め込みクラッド層表面に形成した前記第2ガイド用マ
    スクパターンと前記埋め込みクラッド層内部に埋め込ん
    だ第1ガイド用パターンをマスクとして、光導波路の不
    要部分を所望の深さエッチングする第5工程と を備えたことを特徴とするガイド付き光導波路の製造方
    法。
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