JP2738749B2 - 画像形成装置 - Google Patents
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- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03G—ELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
- G03G15/00—Apparatus for electrographic processes using a charge pattern
- G03G15/50—Machine control of apparatus for electrographic processes using a charge pattern, e.g. regulating differents parts of the machine, multimode copiers, microprocessor control
- G03G15/5033—Machine control of apparatus for electrographic processes using a charge pattern, e.g. regulating differents parts of the machine, multimode copiers, microprocessor control by measuring the photoconductor characteristics, e.g. temperature, or the characteristics of an image on the photoconductor
- G03G15/5037—Machine control of apparatus for electrographic processes using a charge pattern, e.g. regulating differents parts of the machine, multimode copiers, microprocessor control by measuring the photoconductor characteristics, e.g. temperature, or the characteristics of an image on the photoconductor the characteristics being an electrical parameter, e.g. voltage
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は複写機等に用いられる画像形成装置に関し、
特に、残留電位上昇による地肌汚れ，及び，感光層膜の
膜削れによる感光体の感度変化に適切に対処できる画像
形成装置に関する。
特に、残留電位上昇による地肌汚れ，及び，感光層膜の
膜削れによる感光体の感度変化に適切に対処できる画像
形成装置に関する。
画像形成装置の感光体の感光層膜として使用されてい
る有機半導体（以下、OPCと記述する）は、その材質的
特性から残留電位上昇による地肌汚れ，及び，感光層膜
の膜削れによる感光体の感度変化等を発生する恐れがあ
る。
る有機半導体（以下、OPCと記述する）は、その材質的
特性から残留電位上昇による地肌汚れ，及び，感光層膜
の膜削れによる感光体の感度変化等を発生する恐れがあ
る。
感光体の地肌汚れは、第３図Ａの表面電位の露光光量
に対する感度曲線で示すように、OPCの経時使用による
感度変化によって発生するものである。OPCの初期の感
度は、感度曲線301で示すように表面電位が露光光量に
比例して低下し、所定の露光光量以上で一定の地肌部電
位に達する。ところが、OPCの感度は、使用頻度等によ
っても異なるが使用を重ねることによって経時変化し、
感度曲線302に示すように、露光光量を増加しても初期
の地肌部電位まで低下せず、一定の電位（残留電位）で
収束するようになる。即ち、OPC上に電荷が残留し、或
る露光光量以上で露光光量と表面電位が比例しなくな
る。従って、この残留電位によって地肌部電位が上昇す
るため、画像形成処理を行った際に、地肌汚れとして現
れる。
に対する感度曲線で示すように、OPCの経時使用による
感度変化によって発生するものである。OPCの初期の感
度は、感度曲線301で示すように表面電位が露光光量に
比例して低下し、所定の露光光量以上で一定の地肌部電
位に達する。ところが、OPCの感度は、使用頻度等によ
っても異なるが使用を重ねることによって経時変化し、
感度曲線302に示すように、露光光量を増加しても初期
の地肌部電位まで低下せず、一定の電位（残留電位）で
収束するようになる。即ち、OPC上に電荷が残留し、或
る露光光量以上で露光光量と表面電位が比例しなくな
る。従って、この残留電位によって地肌部電位が上昇す
るため、画像形成処理を行った際に、地肌汚れとして現
れる。
一方、OPCの感光層膜は強度が弱いため、使用状況に
よっては感光層膜の膜削れ等を起こし、第３図Ｂの感度
曲線303に示すように、感度変化を生じる。このため、
表面電位を初期の地肌部電位まで低下させるのに必要な
露光光量が増加する。
よっては感光層膜の膜削れ等を起こし、第３図Ｂの感度
曲線303に示すように、感度変化を生じる。このため、
表面電位を初期の地肌部電位まで低下させるのに必要な
露光光量が増加する。
第３図Ｃ及びＤは、それぞれ残留電荷蓄積時の画像部
電位VD,地肌部電位VL,残留電位VRの経時変化と、膜削れ
等発生時の画像部電位VD,地肌部電位VL,残留電位VRの経
時変化を示す。一般に、残留電荷蓄積及び膜削れの発生
等は単位時間当たりのコピー量（画像形成サイクルの使
用回数）に影響され、特に、月間コピー量の多いケース
では第３図Ｃのように変化し、１日に数枚〜数十枚程度
しかコピーしない低コピー量のケースでは第３図Ｄのよ
うな変化を示す。何れの場合も経時によって地肌部電位
が上昇するため、地肌汚れが発生する。
電位VD,地肌部電位VL,残留電位VRの経時変化と、膜削れ
等発生時の画像部電位VD,地肌部電位VL,残留電位VRの経
時変化を示す。一般に、残留電荷蓄積及び膜削れの発生
等は単位時間当たりのコピー量（画像形成サイクルの使
用回数）に影響され、特に、月間コピー量の多いケース
では第３図Ｃのように変化し、１日に数枚〜数十枚程度
しかコピーしない低コピー量のケースでは第３図Ｄのよ
うな変化を示す。何れの場合も経時によって地肌部電位
が上昇するため、地肌汚れが発生する。
一方、地肌部電位を検知し、露光光量及び現像バイア
ス電位（或いは帯電電位）を調整するものとして、例え
ば、特開昭59−201067号公報に示される残留電位を検出
し現像バイアス電圧及び露光光量を補正する電子写真装
置、特開昭57−76546号公報に示される基準パターンを
形成して濃度信号を帯電電位及び露光光量にフィードバ
ックする複写画像調整方法、特開昭63−191161号公報に
示される感光体疲労度及び休止時間に応じて帯電電位及
び露光光量を制御して感光体疲労を補償した複写装置が
提案されており、これらの装置を使用することにより、
地肌汚れの影響が少ない複写画像を得ることができる。
ス電位（或いは帯電電位）を調整するものとして、例え
ば、特開昭59−201067号公報に示される残留電位を検出
し現像バイアス電圧及び露光光量を補正する電子写真装
置、特開昭57−76546号公報に示される基準パターンを
形成して濃度信号を帯電電位及び露光光量にフィードバ
ックする複写画像調整方法、特開昭63−191161号公報に
示される感光体疲労度及び休止時間に応じて帯電電位及
び露光光量を制御して感光体疲労を補償した複写装置が
提案されており、これらの装置を使用することにより、
地肌汚れの影響が少ない複写画像を得ることができる。
しかしながら、前述したように地肌汚れ（地肌部電位
の上昇）の原因として、残留電荷の蓄積及び膜削れ等に
よる感度変化の２通りがあり、且つ、これらの原因に対
する補正の方法が異なるため、例えば、残留電荷発生時
は、第３図Ａに示したように、露光光量を上げても地肌
部電位は低下しないので、帯電電位及び現像バイパス電
位を高くして地肌部電位を低下させる必要があり、一
方、膜削れ等による感度変化の場合は、第３図Ｂに示し
たように、露光光量を上げることで地肌部電位は低下す
るため、地肌部電位の補正を単純に１つの方法だけで実
施することが困難であり、更に、実際には２つの原因が
混在して地肌部電位を上昇させているため、地肌汚れの
回避の補正制御が複雑になるという問題点がある。
の上昇）の原因として、残留電荷の蓄積及び膜削れ等に
よる感度変化の２通りがあり、且つ、これらの原因に対
する補正の方法が異なるため、例えば、残留電荷発生時
は、第３図Ａに示したように、露光光量を上げても地肌
部電位は低下しないので、帯電電位及び現像バイパス電
位を高くして地肌部電位を低下させる必要があり、一
方、膜削れ等による感度変化の場合は、第３図Ｂに示し
たように、露光光量を上げることで地肌部電位は低下す
るため、地肌部電位の補正を単純に１つの方法だけで実
施することが困難であり、更に、実際には２つの原因が
混在して地肌部電位を上昇させているため、地肌汚れの
回避の補正制御が複雑になるという問題点がある。
また、従来の画像形成装置によれば、地肌部電位を検
知し、露光光量及び現像バイアス電位（或いは帯電電
位）を調整するものの、地肌部電位上昇の原因を特定す
ることなく、所定の複写画像が得られるように露光光量
及び現像バイアス電位（或いは帯電電位）を調整するた
め、必ずしも十分な、且つ、適切な地肌汚れの補正を行
っていないとう問題点があった。
知し、露光光量及び現像バイアス電位（或いは帯電電
位）を調整するものの、地肌部電位上昇の原因を特定す
ることなく、所定の複写画像が得られるように露光光量
及び現像バイアス電位（或いは帯電電位）を調整するた
め、必ずしも十分な、且つ、適切な地肌汚れの補正を行
っていないとう問題点があった。
本発明は上記に鑑みてなされたものであって、簡単な
制御で、且つ、適切な地肌汚れの回避の補正が行えるこ
とを目的とする。
制御で、且つ、適切な地肌汚れの回避の補正が行えるこ
とを目的とする。
本発明は上記の目的を達成するため、地肌部電位検知
手段によって検出された感光体の地肌部電位が基準値以
上の場合、露光手段の露光光量を増加させ、再度地肌部
電位の検出を行い、この地肌部電位が基準値以下の場
合、該増加した露光光量を新しい露光量として設定し、
反対に地肌部電位が基準値以上の場合、帯電手段の帯電
電位，及び，現像手段の現像バイアス電位を高くする制
御を行う制御手段を備えた画像形成装置を提供するもの
である。
手段によって検出された感光体の地肌部電位が基準値以
上の場合、露光手段の露光光量を増加させ、再度地肌部
電位の検出を行い、この地肌部電位が基準値以下の場
合、該増加した露光光量を新しい露光量として設定し、
反対に地肌部電位が基準値以上の場合、帯電手段の帯電
電位，及び，現像手段の現像バイアス電位を高くする制
御を行う制御手段を備えた画像形成装置を提供するもの
である。
即ち、本発明の画像形成装置の制御手段は、地肌部電
位検知手段を介して基準値以上の地肌部電位が検出され
た場合、露光手段の露光光量を増加させ、再度地肌部電
位の検出を実行し、該地肌部電位と基準値とを比較し
て、地肌部電位が高い場合は、帯電手段の帯電電位及び
現像手段の現像バイアス電位を高くする。
位検知手段を介して基準値以上の地肌部電位が検出され
た場合、露光手段の露光光量を増加させ、再度地肌部電
位の検出を実行し、該地肌部電位と基準値とを比較し
て、地肌部電位が高い場合は、帯電手段の帯電電位及び
現像手段の現像バイアス電位を高くする。
以下、本発明の画像形成装置を詳細に説明する。
第１図は本発明の画像形成装置の構成を示し、ガラス
板１の下には原稿（図示せず）の全長にわたって移動可
能な照明光源２が備えられ、原稿像は反射鏡3a,3b,3c,3
d,及び，レンズ系3eを含む光学系によって円筒状の感光
体４上に投射される。この投射位置より前に感光体４上
の電荷を除去する除電装置５及び感光体４を一様に帯電
させるコロトロン，スコトロトン等のコロナ放電器より
なる帯電装置６が設けられている。また露光位置より先
には原稿の地肌を形成するために電位を調整するイレー
サ７、感光体４上にトナーを付着させるための現像装置
８、感光体４上の現像液の電位を検出する電位検知セン
サー10（地肌部電位検知手段としても使用する）が設け
られている。現像装置８には必要に応じてトナーを補給
するためのトナー補給装置９が設けられている。さらに
送りローラ12によって導かれた転写紙11は感光体４に接
触した位置で転写チャージャ13によってトナーと逆極性
電位を与えられてトナーが転写紙11に付着する。転写を
終えた転写紙11は、分離チャージャ14により感光体４か
ら分離される。また、この分離を確実にするために分離
爪15が設けられている。感光体４上の残留トナーを除去
するためのクリーニング装置16が除電装置５の前に設け
られている。電位検知センサー10によって検出された信
号を入力して照明光源２の露光ランブ電源2a,帯電装置
６の帯電コロナ電源6a,及び，現像装置８の現像バイア
ス電源8aを制御する制御部17とから構成される。尚、電
位検知センサー10は光学的検知手段であり、表面電位に
応じて付着するトナーによって形成された画像の反射光
量（トナーの付着濃度）を検出することにより、表面電
位を検知するものである。
板１の下には原稿（図示せず）の全長にわたって移動可
能な照明光源２が備えられ、原稿像は反射鏡3a,3b,3c,3
d,及び，レンズ系3eを含む光学系によって円筒状の感光
体４上に投射される。この投射位置より前に感光体４上
の電荷を除去する除電装置５及び感光体４を一様に帯電
させるコロトロン，スコトロトン等のコロナ放電器より
なる帯電装置６が設けられている。また露光位置より先
には原稿の地肌を形成するために電位を調整するイレー
サ７、感光体４上にトナーを付着させるための現像装置
８、感光体４上の現像液の電位を検出する電位検知セン
サー10（地肌部電位検知手段としても使用する）が設け
られている。現像装置８には必要に応じてトナーを補給
するためのトナー補給装置９が設けられている。さらに
送りローラ12によって導かれた転写紙11は感光体４に接
触した位置で転写チャージャ13によってトナーと逆極性
電位を与えられてトナーが転写紙11に付着する。転写を
終えた転写紙11は、分離チャージャ14により感光体４か
ら分離される。また、この分離を確実にするために分離
爪15が設けられている。感光体４上の残留トナーを除去
するためのクリーニング装置16が除電装置５の前に設け
られている。電位検知センサー10によって検出された信
号を入力して照明光源２の露光ランブ電源2a,帯電装置
６の帯電コロナ電源6a,及び，現像装置８の現像バイア
ス電源8aを制御する制御部17とから構成される。尚、電
位検知センサー10は光学的検知手段であり、表面電位に
応じて付着するトナーによって形成された画像の反射光
量（トナーの付着濃度）を検出することにより、表面電
位を検知するものである。
第２図A,Bのフローチャートを参照して、制御部17に
よる地肌汚れ回避の補正制御を説明する。
よる地肌汚れ回避の補正制御を説明する。
地肌汚れ回避の補正制御を行う場合、所定の入力手段
を介して補正制御モードを選択する（詳細は省略する）
と、制御部17はFrag（Ａ）に補正制御モードを示す所定
値Ｋを設定し、Frag（Ｃ）（詳細は後述する）に「０」
を設定する。その後、ガラス板１上に載置した基準原稿
を、帯電装置６で一様に帯電した感光体４上に、照明光
源2,光学系を介して露光して静電潜像とし、現像装置８
によって現像する。
を介して補正制御モードを選択する（詳細は省略する）
と、制御部17はFrag（Ａ）に補正制御モードを示す所定
値Ｋを設定し、Frag（Ｃ）（詳細は後述する）に「０」
を設定する。その後、ガラス板１上に載置した基準原稿
を、帯電装置６で一様に帯電した感光体４上に、照明光
源2,光学系を介して露光して静電潜像とし、現像装置８
によって現像する。
感光体４上の現像された画像情報が電位検知センサー
10の位置に到達すると、制御部17は第２図A,Bに示す201
〜217の制御を実施する。
10の位置に到達すると、制御部17は第２図A,Bに示す201
〜217の制御を実施する。
201……補正制御モードか否か判定する。Frag（Ａ）＝
Ｋ、即ち、補正制御モードならば202を実施し、Frag
（Ａ）≠Ｋならば、213を実施する。
Ｋ、即ち、補正制御モードならば202を実施し、Frag
（Ａ）≠Ｋならば、213を実施する。
202……Frag（Ａ）に「０」を設定する。
203……光学検知サブルーチンを実施する。光学検知サ
ブルーチンは、第２図Ｂに示す214〜217から成り、電位
検知センサー10を制御して地肌部電位（データＢ）を所
定のメモリに記憶する。
ブルーチンは、第２図Ｂに示す214〜217から成り、電位
検知センサー10を制御して地肌部電位（データＢ）を所
定のメモリに記憶する。
204……所定のメモリよりデータＢを読み出す。
205……予め設定された基準値とデータＢを比較し、デ
ータＢ＞基準値ならば206を実施し、データＢ≦基準値
ならば処理を終了する。
ータＢ＞基準値ならば206を実施し、データＢ≦基準値
ならば処理を終了する。
206……露光ランプ電源2aの露光出力VGを１レベル高く
する。
する。
207……Frag（Ｃ）が「１」ならば、210を実施する。
「１」でなければ208を実施する。換言すれば、電位検
知センサー10による検出を２回実施しても、データＢ＞
基準値ならば210を実施する。
「１」でなければ208を実施する。換言すれば、電位検
知センサー10による検出を２回実施しても、データＢ＞
基準値ならば210を実施する。
208……Frag（Ａ）にＫを設定する。
209……Frag（Ｃ）に「１」（再度電位検知センサー10
による地肌部電位の検出を行う）を設定する。
による地肌部電位の検出を行う）を設定する。
210……帯電コロナ電源6aの帯電出力VCを１レベル
（K1）高くする。
（K1）高くする。
211……現像バイアス電源8aの現像バイアス出力VBを１
レベル（K2）高くする。
レベル（K2）高くする。
212……Frag（Ｃ）に「０」を設定し、処理を終了す
る。
る。
213……Frag（Ａ）の値を１増加させて、処理を終了す
る。
る。
尚、213において、Frag（Ａ）の値を増加させるの
は、例えば、所定値Ｋを1000とした場合、この213の加
算処理によってFrag（Ａ）の値が1000（即ち、Ｋ）にな
った際に自動的に補正制御モードに移行するようにする
ためであり、換言すれば、所定回数毎に自動的に補正制
御を行うようにするためである。従って、入力手段によ
る選択のみを行う場合はこの213のステップは省略して
も良い。
は、例えば、所定値Ｋを1000とした場合、この213の加
算処理によってFrag（Ａ）の値が1000（即ち、Ｋ）にな
った際に自動的に補正制御モードに移行するようにする
ためであり、換言すれば、所定回数毎に自動的に補正制
御を行うようにするためである。従って、入力手段によ
る選択のみを行う場合はこの213のステップは省略して
も良い。
以上の構成及び制御において、動作を説明する。
膜削れ等の感度変化による地肌汚れの発生時には、表
面電位と露光光量の関係は第３図Ａに示すような感度曲
線となる。従って、地肌汚れの補正は露光光量を増加さ
せることで実施できる。また、残留電位の蓄積時による
地肌汚れの発生時には、表面電位と露光光量の関係は第
３図Ｂに示すような感度曲線となる。従って、地肌汚れ
の補正は帯電電位及び現像バイアス電位を増加させるこ
とで実施できる。
面電位と露光光量の関係は第３図Ａに示すような感度曲
線となる。従って、地肌汚れの補正は露光光量を増加さ
せることで実施できる。また、残留電位の蓄積時による
地肌汚れの発生時には、表面電位と露光光量の関係は第
３図Ｂに示すような感度曲線となる。従って、地肌汚れ
の補正は帯電電位及び現像バイアス電位を増加させるこ
とで実施できる。
前述したように補正制御モードを選択し、基準原稿の
露光・現像を実行する。制御部17は現像された画像情報
が所定に位置に到達すると、補正制御モードか否かの判
定を行い、補正制御モードならば電位検知センサー10を
制御して、地肌部電位（データＢ）を測定する。この地
肌部電位と基準値を比較して地肌汚れが発生しているか
どうか判定する。ここで地肌部電位≦基準値、即ち、地
肌汚れの発生がない場合、処理を終了し、地肌部電位＞
基準値（地肌汚れの発生がある）場合には、露光ランブ
電源2aの露光光量を増加させて基準原稿を露光・現像
し、再度電位検知センサー10を制御して地肌部電位の測
定を行う。ここで、膜削れ等の感度変化による地肌汚れ
のみが発生している場合は、２回目の測定で露光光量の
増加によって地肌部電位が低下し、地肌部電位≦基準値
となり、地肌汚れの補正がなされるため処理を終了す
る。一方、残留電荷の蓄積による地肌汚れがある場合に
は、露光光量の増加のみでは地肌部電位が低下しないた
め、地肌部電位＞基準値となり、再度地肌汚れの検出が
される。換言すれば、再度地肌汚れが検出された場合は
残留電荷の蓄積があると判断し、帯電電位及び現像バイ
アス電位を増加させることにより地肌汚れの補正を行い
処理を終了する。
露光・現像を実行する。制御部17は現像された画像情報
が所定に位置に到達すると、補正制御モードか否かの判
定を行い、補正制御モードならば電位検知センサー10を
制御して、地肌部電位（データＢ）を測定する。この地
肌部電位と基準値を比較して地肌汚れが発生しているか
どうか判定する。ここで地肌部電位≦基準値、即ち、地
肌汚れの発生がない場合、処理を終了し、地肌部電位＞
基準値（地肌汚れの発生がある）場合には、露光ランブ
電源2aの露光光量を増加させて基準原稿を露光・現像
し、再度電位検知センサー10を制御して地肌部電位の測
定を行う。ここで、膜削れ等の感度変化による地肌汚れ
のみが発生している場合は、２回目の測定で露光光量の
増加によって地肌部電位が低下し、地肌部電位≦基準値
となり、地肌汚れの補正がなされるため処理を終了す
る。一方、残留電荷の蓄積による地肌汚れがある場合に
は、露光光量の増加のみでは地肌部電位が低下しないた
め、地肌部電位＞基準値となり、再度地肌汚れの検出が
される。換言すれば、再度地肌汚れが検出された場合は
残留電荷の蓄積があると判断し、帯電電位及び現像バイ
アス電位を増加させることにより地肌汚れの補正を行い
処理を終了する。
従って、本実施例の画像情報によれば、複写サイクル
の利用頻度が少ない、即ち、単位時間当たりのコピー量
が少ない場合に発生する膜削れ等による地肌汚れを、露
光光量の増加によって補正することができ、また、利用
頻度が多い場合に発生する残留電位の蓄積による地肌汚
れを現像バイアス電位を高くすることによって回避する
ことができる。ここで帯電電位を合わせて増加させるの
は、現像バイアス電位を高くすると画像部電位と現像バ
イアス電位との電位差が小さくなり、コピー濃度が低下
するため、帯電電位を現像バイアス電位の増加量と同等
量増加させて画像部電位と現像バイアス電位との電位差
を保ち、コピー濃度を一定に保つようにするためであ
る。このように、複写サイクルの利用頻度に基づく異な
る原因によって発生する地肌汚れを適切に補正すること
ができ、経時安定した良好な画像を得ることができる。
の利用頻度が少ない、即ち、単位時間当たりのコピー量
が少ない場合に発生する膜削れ等による地肌汚れを、露
光光量の増加によって補正することができ、また、利用
頻度が多い場合に発生する残留電位の蓄積による地肌汚
れを現像バイアス電位を高くすることによって回避する
ことができる。ここで帯電電位を合わせて増加させるの
は、現像バイアス電位を高くすると画像部電位と現像バ
イアス電位との電位差が小さくなり、コピー濃度が低下
するため、帯電電位を現像バイアス電位の増加量と同等
量増加させて画像部電位と現像バイアス電位との電位差
を保ち、コピー濃度を一定に保つようにするためであ
る。このように、複写サイクルの利用頻度に基づく異な
る原因によって発生する地肌汚れを適切に補正すること
ができ、経時安定した良好な画像を得ることができる。
以上説明したように、本発明の画像形成装置は、地肌
部電位検知手段によって検出された感光体の地肌部電位
が基準値以上の場合、露光手段の露光光量を増加させ、
再度地肌部電位の検出を行い、この地肌部電位が基準値
以下の場合、該増加した露光光量を新しい露光量として
設定し、反対に地肌部電位が基準値以上の場合、帯電手
段の帯電電位，及び，現像手段の現像バイアス電位を高
くする制御を行う制御手段を備えたため、簡単な制御
で、且つ、適切な地肌汚れの回避の補正が実施すること
ができる。
部電位検知手段によって検出された感光体の地肌部電位
が基準値以上の場合、露光手段の露光光量を増加させ、
再度地肌部電位の検出を行い、この地肌部電位が基準値
以下の場合、該増加した露光光量を新しい露光量として
設定し、反対に地肌部電位が基準値以上の場合、帯電手
段の帯電電位，及び，現像手段の現像バイアス電位を高
くする制御を行う制御手段を備えたため、簡単な制御
で、且つ、適切な地肌汚れの回避の補正が実施すること
ができる。
第１図は本発明の画像形成装置の一実施例の構成を示す
説明図であり、第２図A,Bは制御部の制御を説明するた
めのフローチャートであり、第３図Ａは残留電荷蓄積時
の表面電位の露光光量に対する感度曲線を示し、第３図
Ｂは膜削れ等発生時の表面電位の露光光量に対する感度
曲線を示し、第３図Ｃ及びＤは、それぞれ残留電荷蓄積
時の画像部電位VD,地肌部電位VL,残留電位VRの経時変化
と、膜削れ等発生時の画像部電位VD,地肌部電位VL,残留
電位VRの経時変化を示す説明図である。 符号の説明 １……ガラス板、２……照明光源 2a……露光ランブ電源 3a,3b,3c,3d……反射鏡 ４……感光体、５……除電装置、６……帯電装置 6a……帯電コロナ電源 ７……イレーサ、８……現像装置 8a……現像バイアス電源 ９……トナー補給装置 10……電位検知センサー 11……転写紙、12……送りローラ 13……転写チャージャ 14……分離チャージャ、15……分離爪 16……クリーニング装置、17……制御部
説明図であり、第２図A,Bは制御部の制御を説明するた
めのフローチャートであり、第３図Ａは残留電荷蓄積時
の表面電位の露光光量に対する感度曲線を示し、第３図
Ｂは膜削れ等発生時の表面電位の露光光量に対する感度
曲線を示し、第３図Ｃ及びＤは、それぞれ残留電荷蓄積
時の画像部電位VD,地肌部電位VL,残留電位VRの経時変化
と、膜削れ等発生時の画像部電位VD,地肌部電位VL,残留
電位VRの経時変化を示す説明図である。 符号の説明 １……ガラス板、２……照明光源 2a……露光ランブ電源 3a,3b,3c,3d……反射鏡 ４……感光体、５……除電装置、６……帯電装置 6a……帯電コロナ電源 ７……イレーサ、８……現像装置 8a……現像バイアス電源 ９……トナー補給装置 10……電位検知センサー 11……転写紙、12……送りローラ 13……転写チャージャ 14……分離チャージャ、15……分離爪 16……クリーニング装置、17……制御部
Claims (1)
- 【請求項１】感光体が帯電手段，露光手段，現像手段，
転写手段等を介して移動することにより、１サイクルの
画像形成を実行し、且つ、地肌部電位検知手段によって
該感光体の地肌部電位を検知する画像形成装置におい
て、 前記地肌部電位検知手段によって検出された前記感光体
の地肌部電位が基準値以上の場合、前記露光手段の露光
光量を増加させ、再度地肌部電位の検出を行い、 この地肌部電位が基準値以下の場合、前記増加した露光
光量を新しい露光量として設定し、 反対に地肌部電位が基準値以上の場合、前記帯電手段の
帯電電位，及び，前記現像手段の現像バイアス電位を高
くする制御を行う制御手段を備えたことを特徴とする画
像形成装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1204163A JP2738749B2 (ja) | 1989-08-07 | 1989-08-07 | 画像形成装置 |
| US07/563,344 US5072258A (en) | 1989-08-07 | 1990-08-07 | Method of controlling surface potential of photoconductive element |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1204163A JP2738749B2 (ja) | 1989-08-07 | 1989-08-07 | 画像形成装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0367276A JPH0367276A (ja) | 1991-03-22 |
| JP2738749B2 true JP2738749B2 (ja) | 1998-04-08 |
Family
ID=16485880
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1204163A Expired - Fee Related JP2738749B2 (ja) | 1989-08-07 | 1989-08-07 | 画像形成装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5072258A (ja) |
| JP (1) | JP2738749B2 (ja) |
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|---|---|---|---|---|
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| US5303006A (en) * | 1990-12-25 | 1994-04-12 | Mita Industrial Co., Ltd. | Image density control device for use in an image forming apparatus |
| US5502550A (en) * | 1991-08-27 | 1996-03-26 | Canon Kabushiki Kaisha | Image forming apparatus and method |
| CA2076791C (en) * | 1991-09-05 | 1999-02-23 | Mark A. Scheuer | Charged area (cad) image loss control in a tri-level imaging apparatus |
| US5587778A (en) * | 1992-01-23 | 1996-12-24 | Canon Kabushiki Kaisha | Overlaid image forming apparatus |
| DE69321755T2 (de) * | 1992-04-28 | 1999-04-22 | Canon Kk | Bilderzeugungsgerät mit einem Aufladeelement |
| JPH0635302A (ja) * | 1992-07-16 | 1994-02-10 | Canon Inc | 画像形成装置 |
| US5532794A (en) * | 1993-01-07 | 1996-07-02 | Sharp Kabushiki Kaisha | Electrophotographic image stabilization control apparatus |
| JP3131353B2 (ja) * | 1995-01-23 | 2001-01-31 | キヤノン株式会社 | 感光体寿命検知装置およびこれを備えた画像形成装置 |
| KR0174600B1 (ko) * | 1995-09-19 | 1999-04-01 | 김광호 | 폐토너 절감을 위한 감광드럼 전위 조절장치 및 방법 |
| KR100193828B1 (ko) * | 1996-06-25 | 1999-06-15 | 윤종용 | 전자사진 현상방식을 채용한 화상형성장치의 화상농도 조정장치 |
| KR100191203B1 (ko) * | 1997-03-14 | 1999-06-15 | 윤종용 | 전자사진 현상방식을 채용한 화상형성장치의 전사 바이어스 제어방법 |
| US5758234A (en) * | 1997-04-17 | 1998-05-26 | Hewlett-Packard Company | Apparatus and method for conditioning a photoconductor |
| EP1229398A3 (en) | 2001-01-12 | 2002-10-16 | Seiko Epson Corporation | Method of and apparatus for controlling the image density of a toner image |
| JP2006145903A (ja) * | 2004-11-19 | 2006-06-08 | Ricoh Co Ltd | 画像形成装置およびプロセスカートリッジ |
| JP5021692B2 (ja) * | 2008-04-10 | 2012-09-12 | 株式会社東芝 | 画像形成装置及び画像形成装置に用いられる電位センサのシャッターの開閉状態検知方法 |
| KR101292556B1 (ko) * | 2008-09-12 | 2013-08-12 | 삼성전자주식회사 | 화상형성장치 및 이의 인쇄 제어방법 |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| BE755383A (fr) * | 1969-08-29 | 1971-03-01 | Xerox Corp | Appareil pour le controle d'electrodes de developpement |
| US4050806A (en) * | 1974-05-10 | 1977-09-27 | Ricoh Co., Ltd. | Method and apparatus for electrically biasing developing electrode of electrophotographic device |
| JPS5441502B2 (ja) * | 1974-10-21 | 1979-12-08 | ||
| DE2655158C2 (de) * | 1976-12-06 | 1986-04-03 | Hoechst Ag, 6230 Frankfurt | Verfahren und Vorrichtung zum Entwickeln eines elektrostatischen latenten Ladungsbildes |
| US4348099A (en) * | 1980-04-07 | 1982-09-07 | Xerox Corporation | Closed loop control of reproduction machine |
| US4511240A (en) * | 1981-01-13 | 1985-04-16 | Canon Kabushiki Kaisha | Electrostatic recording apparatus |
-
1989
- 1989-08-07 JP JP1204163A patent/JP2738749B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1990
- 1990-08-07 US US07/563,344 patent/US5072258A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0367276A (ja) | 1991-03-22 |
| US5072258A (en) | 1991-12-10 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |