JP3214515B2 - 感光体の表面電圧を測定する方法 - Google Patents

感光体の表面電圧を測定する方法

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Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、静電印刷機、より詳細
には、印刷機の感光体表面の電圧レベルおよび暗減衰速
度を測定する改良された方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】一般に、静電写真印刷法では、最初に、
光導電性絶縁部材がほぼ一様な電位に帯電され、その表
面が感光化される。そのあと、光導電性絶縁部材の帯電
した部分が、複写する原稿書類の光像にさらされる。こ
れにより、光導電性部材の上に、原稿書類の中に含まれ
る情報領域に対応する静電潜像が記録される。代わり
に、電子的に制御されたレーザービームで帯電した光導
電性部材を露光することによって静電潜像を生成するこ
ともできる。光導電性部材に静電潜像が記録されたあ
と、静電潜像は、反対の極性に帯電した現像剤を接触さ
せることによって現像される。この現像処理に使用する
現像剤は、キャリヤ粒子とトナー粒子の混合物であって
もよいし、トナー粒子のみの現像剤であってもよい。ト
ナー粒子は静電潜像へ引きつけられ、トナー粉末像が形
成される。トナー粉末像は、続いてコピー用紙へ転写さ
れたあと、コピー用紙へ永久的に定着される。
【０００３】ドラム形式またはエンドレスベルト形式の
感光体を使用する複写機においては、感光体表面は、多
くの処理部を通過するとき同時に１つ以上の像を含むこ
とがある。投影された像を含む感光体表面の一部分
（「像区域」と呼ばれる）は、通例、「原稿間スペー
ス」と呼ばれる感光面の一部分によって隔てられてい
る。感光体表面がスコロトロンによって適当な電圧レベ
ルに帯電されたあと、一般に、現像部においてトナー粒
子を引きつけるのを避けるため、感光体表面の原稿間ス
ペース区域は適当なランプで放電される。
【０００４】従って、感光体表面の多くの部分はさまざ
まな電圧レベルに帯電される。たとえば、最初に帯電さ
れた高い電圧レベルの部分や、選択的に放電された像区
域や、像区域間の完全に放電された部分などが感光体表
面に存在する。
【０００５】多色電子写真印刷の場合には、光導電性表
面に１つの静電潜像が形成されるのに加えて、異なる色
に対応する複数の静電潜像が記録される。各色の静電潜
像は、その補色のトナー粒子で現像される。異なる色の
像および対応する補色のトナー粒子について、現像処理
が複数回繰り返される。各色のトナー像は、先行するト
ナー像にぴったり整合させてコピー用紙へ転写される。
これにより、コピー用紙の上に複数層のトナー像が生成
される。そのあと、複数層のトナー像はコピー用紙へ永
久的に定着され、カラーコピーができ上がる。鮮明なカ
ラーコピーを作るには、複数のトナー像を転写すると
き、各色のトナー像を互いにぴったり整合させなければ
ならない。
【０００６】でき上がったコピーの品質は、感光体の表
面電位の注意深い制御で決まる。感光体表面の電圧レベ
ルを測定するため使用する装置は、静電電圧計すなわち
電位計である。電位計は、一般に、移動する感光体表面
の近くに、複写機にしっかり固定され、感光体表面が電
位計のプローブを通過するとき、表面の電圧レベルを測
定する。
【０００７】プリントの品質を良くするには、特に現像
ゾーンにおける感光体表面の精密な電圧レベルが必要で
ある。ブリントの品質の２つの構成要素、すなわちプリ
ントのコントラストと背景の清浄度は、現像ゾーンにお
ける感光体の表面電位の影響を直接受ける。表面電位
は、感光体上の電荷密度の測度であり、完成したプリン
トの品質に関係する。高品質のプリントを得るには、現
像ゾーンにおける感光体の表面電位を精密な範囲内に保
たなければならない。
【０００８】電位計を現像ゾーンに直接設置すること
も、現像ゾーンにおける表面電位を測定する１つの方法
である。しかし、この設置場所では、電位計の測定精度
が現像剤（たとえば、トナー粒子）の影響を受けるの
で、表面電位の測定精度が低くなることがある。さら
に、カラー印刷の場合には、色分解された静電潜像に塗
布される各色の現像剤に対応して、現像ゾーン内に複数
の現像区域が存在する。現像ゾーン内の各カラー現像区
域における感光体の表面電位を正確に知ることが望まし
いが、それには現像ゾーン内の各カラー現像区域ごとに
電位計を配置する必要がある。しかし、コスト面および
空間的制限から、そのような静電電圧計の配置は好まし
くない。
【０００９】上記に代わる方法として、現像ゾーン以外
の場所に１個の電位計を配置し、それを使って感光体の
表面電位を監視する方法がある。この方法では、現像ゾ
ーンから離れた電位計によって読み取られた電圧と、感
光体が現像ゾーンに達したときの電圧とを関連づける手
立てが必要である。一般に、これら２つの電圧の間に
は、差異すなわち誤差があり、その誤差は電位計と現像
ゾーン間の距離が増すほど増大する。さらに、誤差の大
きさは、印刷機内の各カラー現像区域ごとに異なると予
想される。
【００１０】本発明は、上記以外の電位計を使用せず
に、上記の誤差を推定し、印刷機内の本来の場所におけ
る推定誤差をときどき改定する方法を提供する。また、
本発明は、他の目的、たとえば時間によって感光体の表
面電圧が変化することが問題であるとき、その診断に使
用することができる。
【００１１】
【発明が解決しようとする課題】本発明の第１の目的
は、静電像記録部材の表面電位を正確に測定する装置お
よび方法を提供することである。
【００１２】本発明の第２の目的は、１個の静電電圧計
を使用して、ゼログラフィー複写機または印刷機内の本
来の場所の感光体の暗減衰を測定する装置および方法を
提供することである。
【００１３】本発明の第３の目的は、感光体表面に沿っ
た少なくとも１つの現像ゾーン以外の場所で表面電位を
測定し、感光体表面の暗減衰速度を決定し、そして外挿
することによって、前記少なくとも１つの現像ゾーンに
おける表面電位を決定することである。
【００１４】本発明の第４の目的は、感光体の特性決定
を必要とするゼログラフィー制御装置の校正を行い、感
光体すなわち像形成部材の性能について診断を行う装置
および方法を提供することである。
【００１５】本発明の第５の目的は、現像ゾーン以外の
場所において測定した表面電位および感光体表面の暗減
衰速度に基づいて、現像ゾーン内の４つの各カラー現像
区域における感光体の表面電位を決定する装置および方
法を提供することである。
【００１６】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記およびそ
の他の目的を、感光体の表面電位を決定する「パークア
ンドライド（park and ride)」法によって達成する。詳
しく述べると、感光体表面の一部分を帯電し、感光体を
回転させ、そして帯電した区域を帯電測定装置の近くで
停止させる。帯電測定装置は、最初の時間およびその後
の第２の時間に帯電した感光体表面の電圧を測定し、そ
の測定電圧を使用して暗減衰速度を決定する。この校正
により、現像区域から離れた場所に配置された静電電圧
計で測定した電圧に基づいて、現像ゾーンにおける表面
電圧を正確に外挿することができるので、正規の動作モ
ードで感光体が連続回転している状態で、現像電位を正
確に制御することができる。
【００１７】感光体の標準回転中、帯電した表面が現像
ゾーンまで回転するのに要する正規の時間は、感光体の
回転速度から求めることができる。現像ゾーン内に電圧
計を設置せずに、この現像ゾーンまで回転する推定時間
と暗減衰速度に基づいて、現像ゾーン内の表面電位を決
定することができる。カラー印刷機の場合には、各現像
区域まで感光体が回転するのに要する複数の時間と暗減
衰速度に基づいて、複数の現像区域に対応する複数の表
面電位を求めることができる。パークアンドライド操作
を一定の回数だけ繰り返し、その結果を平均することに
よって、推定電位の精度を高めることができる。代わり
に、２つ以上の帯電電圧においてそれぞれの暗減衰速度
を推定することによって（たとえば、感光体表面を高電
圧と、低電圧で帯電させ、各電圧における暗減衰速度を
決定することによって）、推定電圧の精度を高めること
もできる。
【００１８】本発明のその他の目的および特徴は、添付
図面を参照して以下の詳細な説明を読まれれば、完全に
理解できるであろう。
【００１９】
【実施例】図１は、取り外し可能な現像剤貯蔵／小出し
カートリッジすなわち現像剤ホッパー２０を備えた現像
装置を有する自動ゼログラフィー印刷機１０を示す。こ
こで使用する用語「現像剤」は、トナー粒子とキャリヤ
粒子の混合現像剤のほか、トナー粒子のみ、またはキャ
リヤ粒子のみも含むものとする。印刷機１０は、矢印で
示す方向に回転して一連のゼログラフィー処理部（帯電
部Ａ、像形成部Ｂ、現像部Ｃ、転写部Ｄ、清掃部Ｅ）を
順次通過する感光ドラム１２を有する。
【００２０】複写する原稿書類は、像形成プラテン１６
の上に置かれており、ランプ１１、ミラー１３，１５、
および固定レンズ１８から成る可動光学装置によって走
査され、帯電部Ａにおいて帯電されたドラム表面に流れ
るように動く光像が投影される。ドラム表面に流れるよ
うに動く光像は、像形成部Ｂにおいて、走査された原稿
書類に対応する静電潜像を生成する。この静電潜像は、
次に、現像部Ｃにおいて現像され、可視トナー像が形成
される。現像部Ｃには、たとえば磁気現像剤ブラシで感
光ドラム１２に現像剤を塗布する現像ロール１９と、た
とえばオーガー２１によって現像剤を補給する現像剤ホ
ッパー２０が配置されている。コピー用紙のスタックの
一番上の用紙２３は、供給ロール２２によって整合ロー
ル２５へ送り出され、そこから感光ドラム表面上のトナ
ー像と同期して転写部Ｄへ送られる。トナー像がコピー
用紙へ転写されたあと、コピー用紙はドラム表面から剥
離され、定着部Ｆへ送られ、そこでトナー像がコピー用
紙へ定着される。感光ドラム表面自体は、清掃部Ｅへ回
転し続けて、そこで、帯電部Ａにおいてドラム表面が再
び帯電される前に、ドラム表面に残っている残留トナー
が除去される。定着されたトナー像を有するコピー用紙
は、定着装置を離れたあと、用紙収集トレー２６へ運ば
れる。
【００２１】電圧測定装置１００は、１個の静電電圧計
であることが好ましい。電圧計は現像ゾーンに設置しな
いので、図示中間位置に、電圧計を設置するより広い場
所がある。さらに、ほこり、現像剤、バイアス電圧、そ
の他の要因が静電電圧計の性能を害することはない。
【００２２】図２および図３において、電圧測定装置１
００は、像形成部Ｂと現像部Ｃの間に設置されている。
現像部Ｃは、たとえばカラー複写機／印刷機内の４つの
カラー現像区域に相当する現像区域１〜４を有する。そ
のほかに、転写部Ｄ、消去部３７および清掃部Ｅも、図
２および図３に図示してある。
【００２３】（パークアンドライド(Park and Ride)
法）本発明の一実施例において、静電電圧計１００は、
本来の場所で感光体１２の暗減衰を測定する。最初に、
帯電部Ａにおいて、標準の静電潜像形成の場合と同じや
り方で制御された電圧または電流を用いて感光体表面を
帯電させる。感光体表面を回転させ、帯電した区域が静
電電圧計１００に近づくと、感光体を停止させ（park)
、所定の時間のあと、静電電圧計１００で感光体の表
面電位を測定する。随意に、帯電した表面の暗減衰速度
を決定するため、暗減衰曲線に沿って進み（ride）、第
２の所定の時間のあと、再び静電電圧計で感光体の表面
電位を測定する。
【００２４】また、（ａ）同時に２以上の場所で表面電
位を測定し（必ずしも２つの現像区域とは限らない）、
（ｂ）たとえば、最小自乗法を使用してデータを暗減衰
速度の数学的モデルに当てはめ、（ｃ）この数学的モデ
ルおよび適合したパラメータを静電パラメータを推定す
る基礎として使用することができる。従って、帯電設定
および露光設定が与えられたとして、表面電圧を計算す
ることもできるし、あるいは選んだ表面電圧が与えられ
たとして、帯電および露光設定を推定することもでき
る。この手法は、望ましい結果を得るため、１個または
複数の現像装置において帯電および露光操作点を選定す
ること、およびコピーを濃くすること／薄くすることな
ど、前記選定点を修正することを考慮に入れている。
【００２５】また、本発明を使用して感光体の暗減衰速
度を測定し、その暗減衰速度を使用して、感光体の暗減
衰速度がステム要求を満たしているかどうかを決定する
ことができる。たとえば、保守要員は、この測定結果を
使用して、感光体を交換すべきかどうかを決定すること
ができる。また、保守要員は、迷光レベルが許容できる
かどうか、すなわち光源が正常に動作しているかどうか
も決定することができるであろう。
【００２６】（実例１）たとえば米国特許第4,474,865
号や同第4,559,287 号に開示されているように、パーク
アンドライド法を使用して適当な感光体の暗減衰速度を
求めることができる。そのあと、この暗減衰速度の数学
モデルと適合したパラメータを使用して１以上の現像場
所における現像電位を推定する。これは、像形成ゾーン
と現像ゾーンの間に設置された（好ましいが、必ずでは
ない）１個の静電電圧計を使用して実施することができ
る。感光体の表面電位Ｖは、暗所において減衰する。そ
の時間依存性は、次式で表すことができる。
【００２７】 Ｖ（ｔ）＝Ｖ＋βｔｄ （１） ここで、ｔは帯電後の時間、Ｖとβは帯電処理によって
決まるパラメータ（一般に、感光体の構造、材質、バッ
チによって変わる）、ｄは使用する感光体の種類によっ
て決まるパラメータである。Ｖとβは、帯電装置がスコ
ロトロンの場合、帯電電圧と共に直線的に変化するの
で、数式１は、次式のように展開することができる。
【００２８】 Ｖ（ｔ）＝ａ0 ＋ａ1 ＶGRID＋（ｂ0 ＋ｂ1 ＶGRID）ｔｄ （２） ここで、ＶGRIDはスコロトロンのグリッドに印加された
電圧である。パークアンドライド法を２回連続して使用
し、そのたびにＶGRIDに別個の値を使用し、そのたびに
２つの電圧を測定することによって、数式２の４つのパ
ラメータを推定するに足るデータを得ることができる。
最初に、感光体を比較的高い電圧ＶGRID＝ＣH で帯電さ
せて、帯電した区域が静電電圧計に達した時間（ｔ1 ）
にパークアンドライド法で電圧（ＶH1）を測定する。同
様に、一定時間（ｔ2 ）をおいて、電圧（ＶH2）を測定
する。次に、感光体駆動装置を再始動させ、感光体を光
で照射して残っている電荷を消去する。次に、比較的低
い帯電電圧（ＣL ）で、上記処理を繰り返し、時間ｔ1
とｔ2 に、それぞれＶL1とＶL2を測定する。数式２に従
って（θ1 ＝ｆ（ｔ1 ｄ）およびθ2 ＝ｆ（ｔ2 ｄ）と
して）、 ＶH1＝ａ0 ＋ａ1 ＣH ＋ｂ0 θ1 ＋ｂ1 θ1 ＣH ＶH2＝ａ0 ＋ａ1 ＣH ＋ｂ0 θ2 ＋ｂ1 θ2 ＣH （３） ＶL1＝ａ0 ＋ａ1 ＣL ＋ｂ0 θ1 ＋ｂ1 θ1 ＣL ＶL2＝ａ0 ＋ａ1 ＣL ＋ｂ0 θ2 ＋ｂ1 θ2 ＣL 数式３を解いて、以下のように、４つのパラメータ
ａ0 ，ａ1 ，ｂ0 ，ｂ1 を求めることができる。
【００２９】 ｂ1 ＝((ＶH1−ＶH2) −（ＶL1−ＶL2))/ ΔθΔＣ ｂ0 ＝((ＶL1−ＶL2) ＣH −（ＶH1−ＶH2）ＣL )/ΔθΔＣ ａ1 ＝((ＶH2−ＶL2）θ1 −（ＶH1−ＶL1）θ2 )/ΔθΔＣ） ａ0 ＝((ＶH1θ2 −ＶH2θ1 ）ＣL − (ＶL1θ2 −ＶL2θ1 ）ＣH )/ΔθΔＣ ここで、Δθ＝θ1 −θ2 、ΔＣ＝ＣH −ＣL である。
時間ｔでのＶ（ｔ）を得るために必要なＶGRIDの値を推
定できるように、数式２を次式のように書き直すことが
できる。
【００３０】 ＶGRID＝（Ｖ（ｔ）−ａ0 −ｂ0 θ）／（ａ1 ＋ｂ1 θ） （２） ＶGRIDの値が得られたら、上記パラメータと数式２を使
用して、現像装置ばかりでなく、静電電圧計の設置位置
における予想表面電圧を計算して推定手続きの正確さを
点検することができる。
【００３１】（実例２）処理中に感光体が停止しなかっ
た幾つかの後方の地点、特に現像装置の所で感光体が有
するはずの表面電位は、パークアンドライド法を使用し
て、経験に基づいて決定することができる。図２に示す
ように、帯電部Ａ、像形成部Ｂ、静電電圧計１００、図
示のように配置された４つの現像装置１，２，３，４、
転写部Ｄ、消去部３７、および清掃部Ｅから成るゼログ
ラフィー処理様式を仮定する。また、感光体、帯電装
置、および（または）装置環境には、かなりのばらつき
があるので、現像装置１〜４における目標暗所現像電位
を正しく維持するには、１つの帯電設定では十分でない
と仮定する。現像装置１についてはｔ1 ＝ｄ1 ／ｖ、現
像装置２についてはｔ2 ＝ｄ2 ／ｖ、以下同様にして、
静電電圧計１００から現像装置までの正規の移動時間を
計算する。ここで、ｖ＝ｒω （ω：ラジアン／秒）、
ｄ1 ＝ｒΘ1 、ｄ2 ＝ｒΘ2 、ｄ3 ＝ｒΘ3 、ｄ4 ＝ｒ
Θ4 （Θ：ラジアン）である。
【００３２】以下の手続きを用いて、帯電装置コントロ
ーラに対する正しい帯電設定を得ることができる。 （ａ） 帯電装置コントローラに対し正規の帯電設定を
選定する。 （ｂ） 感光体が表面速度ｖで移動しているとき、感光
体表面の代表的な区間を帯電させる。
【００３３】（ｃ） 帯電した区域の中心が静電電圧計
１００の下に来るまで、感光体を回転し続ける。 （ｄ） 感光体を停止させ、直ちにＶESV を読み取る
（ＶESV は、誤差検査のため運転しているとき設定点の
同値として使用することができる）。 （ｅ） ｔ1 に等しい時間間隔だけ待ち、静電電圧計を
読み取る（示度をＶ1とする）。
【００３４】（ｆ） 現像装置１における目標電圧をＶ
1,0 ±ｅ1 と仮定し、もし、｜Ｖ1 −Ｖ1,0 ｜＜ｅ1 で
あれば、現在の帯電設定を現像装置１の制御点として使
用し、感光体駆動装置を再始動させ、そしてステップ
（ａ）〜（ｆ）に従って、適当な時間間隔、目標電圧、
および公差を用いて、すべての帯電設定を決定するま
で、次の現像装置について帯電設定をセットアップす
る。
【００３５】さもなければ、もし、Ｖ1 ＜Ｖ1,0 なら
ば、帯電設定を増大させ、Ｖ1 ＞Ｖ1,0 ならば、帯電設
定を減少させ、感光体駆動装置を再始動させ、そしてス
テップ（ｂ）〜（ｆ）を繰り返す。
【００３６】すべての帯電設定を決定したあと、露光は
制御可能と仮定して、同様な手続きを用いて、照明源に
ついて正しい露光レベルを決定する。帯電設定を調整す
る代わりに、適切な現像装置について帯電設定をその新
しい設定点に維持し、代わりに露光レベルを調整する。
【００３７】（実例３）帯電ゾーンＡにおいて、感光体
のパッチＰ１の区域を電圧Ｃ1 に帯電し、第２の隣接す
るパッチＰ２を電圧Ｃ2 に帯電させる。電圧Ｃ1 ，Ｃ2
は、それぞれ実例１の電圧ＣH ，ＣL に一致すると仮定
する（ただし、これは制約条件ではない）。パッチＰ２
に隣接するパッチＰ３をＰ１と同じ電圧Ｃ1 に帯電させ
る。感光体が正規の速度で移動しているとき、パッチＰ
１の表面電圧Ｖ1 と、パッチＰ２の表面電圧Ｖ2 測定す
る。パッチＰ２が依然して静電電圧計１００の下にあっ
て、パッチＰ３が静電電圧計に達する前に、感光体を停
止させる。このとき、パッチＰ１とＰ２が帯電ゾーンＡ
から静電電圧計１００まで移動するのに、時間ｔ1が必
要であろう。時間増分Δｔだけ待って、感光体の回転を
再開させると同時にパッチＰ２の表面電圧Ｖ3 を測定
し、次に感光体の回転を再開させたあと時間ｔ 2 に、パ
ッチＰ３が静電電圧計の下を通過するときパッチＰ３の
表面電圧Ｖ4 を測定する。帯電から現像装置１までの正
規の回転時間をｔD1として、ｔD1＝（ｔ 1 ＋ｔ2 ＋Δ
ｔ）になるように、Δｔを調節する。
【００３８】電圧Ｃ1 ，Ｃ2 はそれぞれ実例１の電圧Ｃ
H ，ＣL に一致すると仮定すると、電圧Ｖ1 ，Ｖ4 はそ
れぞれ実例１のＶH1，ＶH2に一致し、電圧Ｖ2 ，Ｖ3 は
それぞれ実例１の電圧ＶL1，ＶL2に一致し、時間ｔ1 は
実例１のｔ1 に一致し、時間ｔD1は実例１のｔ2 に一致
する。これらの対応を考慮に入れると、この実例のデー
タの分析は、実例１で説明した分析と同じである。
【００３９】（実例４）実例３の延長は、４つのパッチ
を使用することであろう。最初の２つのパッチは上に述
べたＰ１とＰ２に該当する。第３パッチＰ３をＣ1 に帯
電させ、第４パッチＰ４をＣ2 に帯電させると、Ｐ３と
Ｐ４はＰ１とＰ２と同じである。感光体を回転させ、回
転体が回転している状態で、パッチＰ１，Ｐ２が静電電
圧計の下を通過するときそれらの表面電圧Ｖ1 ，Ｖ2 を
読み取る。パッチＰ３が静電電圧計に達する前に、感光
体の回転を停止させ、時間間隔ｔ1 をおいて感光体の回
転を再開させ、感光体の回転を再開させたあと時間ｔ2
に、パッチＰ３，Ｐ４が静電電圧計の下を通過するとき
それらの表面電圧Ｖ3 ，Ｖ4 を読み取る。この実例の場
合は、電圧Ｖ1 ，Ｖ2 はそれぞれ実例１の電圧ＶH1，Ｖ
L1に一致し、電圧Ｖ 3 ，Ｖ4 は、それぞれ実例１の
ＶH2，ＶL2に一致する。帯電から静電電圧計の読取りま
での時間は実例３の場合と同じであるから、上述のよう
に暗減衰速度を決定する。
【００４０】以上、特定の好ましい実施例について説明
したが、発明は記載した特定の実施例に限定されるもの
ではなく、特許請求の範囲に記載した発明の精神および
発明の範囲の中で他の実施例や修正態様を考案できるこ
とは理解されるであろう。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の表面電位測定方法を使用することがで
きる自動ゼログラフィー印刷機の略図である。
【図２】本発明の表面電位測定方法で表面電位を測定し
制御する複数の現像区域とドラム形式の感光体を有する
印刷機（たとえば、カラー印刷機）の略図である。
【図３】本発明の表面電位測定方法で表面電位を測定し
制御する複数の現像区域とベルト形式の感光体を有する
印刷機（たとえば、カラー印刷機）の略図である。
【符号の説明】
Ａ 帯電部 Ｂ 像形成部 Ｃ 現像部 Ｄ 転写部 Ｅ 清掃部 Ｆ 定着部 １〜４ 現像装置 １０ 自動ゼログラフィー印刷機 １１ ランプ １２ 感光ドラム １３，１５ ミラー １６ 像形成プラテン １８ 固定レンズ １９ 現像ロール ２０ 現像剤ホッパー ２１ オーガー ２２ 供給ロール ２３ 一番上の用紙 ２５ 整合ロール ２６ 用紙収集トレー ３７ 消去部 １００ 電圧測定装置（静電電圧計）
フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01R 29/12 G03G 5/00 G03G 15/00 303 G03G 21/00 370 - 540

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】複写機又は印刷機内の静電像記録部材の表
    面電圧を測定する方法であって、 帯電手段で前記記録部材表面の一部分を帯電させて帯電
    部分を生成するステップと、 前記記録部材を回転させるステップと、 前記帯電部分が電荷測定手段に隣接したとき前記記録部
    材の回転を停止させるステップと、 所定の時間に前記電荷測定手段で前記帯電部分の電圧Ｖ
    1を測定するステップと、前記電圧Ｖ1の測定後、所定の時間待機して、第２の電
    圧Ｖ2を測定するステップと、 前記電圧Ｖ1と電圧Ｖ2とを比較して、前記記録部材表面
    の電圧変化の速度から前記記録部材の暗減衰速度を決定
    するステップとから成り、 前記暗減衰速度が、前記記録部材の１つまたはそれ以上
    の場所において、前記記録部材を校正するのに用いられ
    る ことを特徴とする表面電圧測定方法。
  2. 【請求項２】静電像記録部材の表面電圧を測定する方法
    であって、 スコロトロンのグリッドへ電圧ＣH を加えることによ
    り、静電像記録部材の表面の一部を帯電させて帯電部分
    を生成するステップと、 前記記録部材を回転させるステップと、 前記帯電部分が静電電圧計に隣接したとき前記記録部材
    の回転を停止させるステップと、 時間ｔ1 のあと前記静電電圧計で前記表面の第１電圧Ｖ
    H1を測定するステップと、 時間ｔ2 のあと前記静電電圧計で前記表面の第２電圧Ｖ
    H2を測定するステップと、 前記記録部材の回転を再開させるとともに、前記表面か
    ら電荷を消去するステップと、 前記電圧ＣH とは異なる電圧ＣL を加えることにより、
    前記表面を再帯電させるステップと、 前記帯電部分が静電電圧計に隣接したとき前記記録部材
    の回転を停止させるステップと、 時間ｔ3 のあと前記静電電圧計で前記表面の第３電圧Ｖ
    L1を測定するステップと、 時間ｔ4 のあと前記静電電圧計で前記表面の第４電圧Ｖ
    L2を測定するステップと、 前記値ＣH ，ＣL ，ＶH1，ＶH2，ＶL1，ＶL2，ｔ1 ，ｔ
    2 ，ｔ3 ，ｔ4から前記記録部材の暗減衰の速度を決定
    するステップと、 から成ることを特徴とする表面電圧測定方法。
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