JP2629603B2 - 抵抗測定装置 - Google Patents
抵抗測定装置Info
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- JP2629603B2 JP2629603B2 JP15888294A JP15888294A JP2629603B2 JP 2629603 B2 JP2629603 B2 JP 2629603B2 JP 15888294 A JP15888294 A JP 15888294A JP 15888294 A JP15888294 A JP 15888294A JP 2629603 B2 JP2629603 B2 JP 2629603B2
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- Japan
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- resistance
- switch
- measured
- turned
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- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、オペアンプを用いた二
重積分A/D変換回路による抵抗測定装置に関するもの
である。
重積分A/D変換回路による抵抗測定装置に関するもの
である。
【0002】
【従来の技術】従来から、図2のような二重積分回路を
利用した抵抗測定装置が周知である。これは、ある一定
の基準時間Trefの間、入力抵抗の両端の電圧VIN をバ
ッファ503を介して積分回路(抵抗R1、キャパシタ
C1、インバータ504)により積分する。次の期間基
準抵抗の両端の電圧−Ec で逆積分を行ない、ゼロコン
パレータ505、カウンタ506により比較しその間の
時間Tのクロック数を計算し、表示回路507により表
示することによって、得られる。式は、 T=VIN*Tref/Ec・・・(A)で表される。
利用した抵抗測定装置が周知である。これは、ある一定
の基準時間Trefの間、入力抵抗の両端の電圧VIN をバ
ッファ503を介して積分回路(抵抗R1、キャパシタ
C1、インバータ504)により積分する。次の期間基
準抵抗の両端の電圧−Ec で逆積分を行ない、ゼロコン
パレータ505、カウンタ506により比較しその間の
時間Tのクロック数を計算し、表示回路507により表
示することによって、得られる。式は、 T=VIN*Tref/Ec・・・(A)で表される。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
ような二重積分型A/D変換回路によれば、インバータ
503、504のオフセットが出力されてしまい、抵抗
測定誤差が生じるという課題があった。
ような二重積分型A/D変換回路によれば、インバータ
503、504のオフセットが出力されてしまい、抵抗
測定誤差が生じるという課題があった。
【0004】本発明は、上記課題に鑑み、A/D変換回
路におけるオフセットをキャンセルし、高精度な抵抗測
定装置を提供することを目的とする。
路におけるオフセットをキャンセルし、高精度な抵抗測
定装置を提供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明の抵抗測定装置
は、被測定抵抗と基準抵抗とを直列に接続し、電源端子
に被測定抵抗または基準抵抗のうち一方の抵抗を接続
し、グランド端子に被測定抵抗または基準抵抗の他方の
抵抗を接続し、電源端子とグランド端子間に電圧を印加
してなる測定回路と、電源端子に接続された抵抗の両端
の電圧値を第1のバッファを介して第1の期間積分し、
グランド端子に接続された抵抗の両端逆電圧を第2のバ
ッファを介して第2の期間積分する二重積分回路と、第
1の積分を行った積分値と第2の積分を行った積分値と
を比較する比較手段と、該比較手段の出力により被測定
抵抗の測定値を表示する表示手段と、を備えた抵抗測定
装置において、電源端子に接続された抵抗の両端と前記
第1及び第2のバッファとの間に接続された第1のスイ
ッチと、該第1のスイッチから第1及び第2のバッファ
までのラインと、グランド端子間に接続された第2のス
イッチと、を備え、被測定抵抗を測定する前、第1のス
イッチをオフし第2のスイッチをオンし、第1及び第2
のバッファの入力にグランド電圧を印加し、被測定抵抗
を測定するとき、第1のスイッチをオンし第2のスイッ
チをオフすることを特徴とする。
は、被測定抵抗と基準抵抗とを直列に接続し、電源端子
に被測定抵抗または基準抵抗のうち一方の抵抗を接続
し、グランド端子に被測定抵抗または基準抵抗の他方の
抵抗を接続し、電源端子とグランド端子間に電圧を印加
してなる測定回路と、電源端子に接続された抵抗の両端
の電圧値を第1のバッファを介して第1の期間積分し、
グランド端子に接続された抵抗の両端逆電圧を第2のバ
ッファを介して第2の期間積分する二重積分回路と、第
1の積分を行った積分値と第2の積分を行った積分値と
を比較する比較手段と、該比較手段の出力により被測定
抵抗の測定値を表示する表示手段と、を備えた抵抗測定
装置において、電源端子に接続された抵抗の両端と前記
第1及び第2のバッファとの間に接続された第1のスイ
ッチと、該第1のスイッチから第1及び第2のバッファ
までのラインと、グランド端子間に接続された第2のス
イッチと、を備え、被測定抵抗を測定する前、第1のス
イッチをオフし第2のスイッチをオンし、第1及び第2
のバッファの入力にグランド電圧を印加し、被測定抵抗
を測定するとき、第1のスイッチをオンし第2のスイッ
チをオフすることを特徴とする。
【0006】
【実施例】以下図面を参照して本発明の実施例を二重積
分型A/D変換回路を用いて説明する。
分型A/D変換回路を用いて説明する。
【0007】図1に、二重積分回路を使用した本発明の
一実施例を示す。
一実施例を示す。
【0008】抵抗測定に先立って、スイッチ601、6
03、609がオフし、オートゼロ用アナログスイッチ
602,604がオンすることによって、オペアンプ6
14、615の入力がグランド電位に落ち、オペアンプ
614、615、616、618のオフセット電圧がキ
ャンセルされる。次に、実際に抵抗測定を行う際は、ス
イッチ601、603、609、及び607または60
8がオンし、オートゼロ用アナログスイッチ602,6
04がオフする。このとき、Trefの積分期間にVINと
して、VIN=Rin×Vref/(Rin+RON+Rref)が積
分される。また、逆積分期間の基準電圧−Ecとして、
−Ec=−Rref×Vref/(Rin+R0N+Rref)で逆積
分される。これらの関係式から、T=Rin*Tref/R
refとなって抵抗測定がなされる。
03、609がオフし、オートゼロ用アナログスイッチ
602,604がオンすることによって、オペアンプ6
14、615の入力がグランド電位に落ち、オペアンプ
614、615、616、618のオフセット電圧がキ
ャンセルされる。次に、実際に抵抗測定を行う際は、ス
イッチ601、603、609、及び607または60
8がオンし、オートゼロ用アナログスイッチ602,6
04がオフする。このとき、Trefの積分期間にVINと
して、VIN=Rin×Vref/(Rin+RON+Rref)が積
分される。また、逆積分期間の基準電圧−Ecとして、
−Ec=−Rref×Vref/(Rin+R0N+Rref)で逆積
分される。これらの関係式から、T=Rin*Tref/R
refとなって抵抗測定がなされる。
【0009】なお、本発明のオフセットキャンセルは、
二重積分型回路に限らず、パルス幅変調型回路、電圧−
周波数変換型(電荷並行型)回路を適用した抵抗測定装
置に応用できる。
二重積分型回路に限らず、パルス幅変調型回路、電圧−
周波数変換型(電荷並行型)回路を適用した抵抗測定装
置に応用できる。
【0010】
【発明の効果】本発明の抵抗測定装置は、被測定抵抗を
測定する前、第1のスイッチをオフし第2のスイッチを
オンし、バッファの入力にグランド電圧を印加し、前記
被測定抵抗を測定するとき、前記第1のスイッチをオン
し前記第2のスイッチをオフするため、そのときのバッ
ファのオフセット分を検出でき、被測定抵抗を測定する
ときオフセット分をキャンセルでき、高精度な抵抗測定
装置を提供できる。
測定する前、第1のスイッチをオフし第2のスイッチを
オンし、バッファの入力にグランド電圧を印加し、前記
被測定抵抗を測定するとき、前記第1のスイッチをオン
し前記第2のスイッチをオフするため、そのときのバッ
ファのオフセット分を検出でき、被測定抵抗を測定する
ときオフセット分をキャンセルでき、高精度な抵抗測定
装置を提供できる。
【図1】二重積分型A/D変換回路を用いた本発明の一
実施例を示す図。
実施例を示す図。
【図2】従来の二重積分型A/D変換回路の概略図。
Rin・・被測定抵抗 R1、R2・・積分用抵抗 C1・・積分用コンデンサ 605,606,607,608、609・・レンジ切
換用スイッチ 602,604・・オートキャンセル用スイッチ 614,615・・バッファアンプ 616・・反転増幅用オペアンプ 618・・積分用オペアンプ 620・・コンパレータ 621・・カウンタ 622・・表示回路
換用スイッチ 602,604・・オートキャンセル用スイッチ 614,615・・バッファアンプ 616・・反転増幅用オペアンプ 618・・積分用オペアンプ 620・・コンパレータ 621・・カウンタ 622・・表示回路
Claims (1)
- 【請求項1】被測定抵抗と基準抵抗とを直列に接続し、
電源端子に前記被測定抵抗または前記基準抵抗のうち一
方の抵抗を接続し、グランド端子に前記被測定抵抗また
は前記基準抵抗の他方の抵抗を接続し、前記電源端子と
前記グランド端子間に電圧を印加してなる測定回路と、 前記電源端子に接続された抵抗の両端の電圧値を第1の
バッファを介して第1の期間積分し、前記グランド端子
に接続された抵抗の両端逆電圧を第2のバッファを介し
て第2の期間積分する二重積分回路と、 前記第1の積分を行った積分値と前記第2の積分を行っ
た積分値とを比較する比較手段と、 該比較手段の出力により前記被測定抵抗の測定値を表示
する表示手段と、 を備えた抵抗測定装置において、 前記電源端子に接続された抵抗の両端と前記第1及び第
2のバッファとの間に接続された第1のスイッチと、 該第1のスイッチから前記第1及び第2のバッファまで
のラインと、前記グランド端子間に接続された第2のス
イッチと、 を備え、 前記被測定抵抗を測定する前、前記第1のスイッチをオ
フし前記第2のスイッチをオンし、前記第1及び第2の
バッファの入力にグランド電圧を印加し、 前記被測定抵抗を測定するとき、前記第1のスイッチを
オンし前記第2のスイッチをオフすることを特徴とする
抵抗測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15888294A JP2629603B2 (ja) | 1994-07-11 | 1994-07-11 | 抵抗測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15888294A JP2629603B2 (ja) | 1994-07-11 | 1994-07-11 | 抵抗測定装置 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58006971A Division JPH0731218B2 (ja) | 1983-01-19 | 1983-01-19 | 抵抗測定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0755857A JPH0755857A (ja) | 1995-03-03 |
JP2629603B2 true JP2629603B2 (ja) | 1997-07-09 |
Family
ID=15681451
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP15888294A Expired - Lifetime JP2629603B2 (ja) | 1994-07-11 | 1994-07-11 | 抵抗測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2629603B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3807381B2 (ja) | 2003-03-05 | 2006-08-09 | セイコーエプソン株式会社 | A/d変換回路、温度センサ回路、集積回路、及び温度センサ回路の調整方法 |
JP6270403B2 (ja) * | 2013-10-18 | 2018-01-31 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体装置及び電子制御装置 |
JP6553164B2 (ja) * | 2017-12-26 | 2019-07-31 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | アナログディジタル変換回路及び電子装置 |
-
1994
- 1994-07-11 JP JP15888294A patent/JP2629603B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0755857A (ja) | 1995-03-03 |
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