JP2570631Y2 - 共焦点用光スキャナ - Google Patents
共焦点用光スキャナInfo
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- JP2570631Y2 JP2570631Y2 JP3640592U JP3640592U JP2570631Y2 JP 2570631 Y2 JP2570631 Y2 JP 2570631Y2 JP 3640592 U JP3640592 U JP 3640592U JP 3640592 U JP3640592 U JP 3640592U JP 2570631 Y2 JP2570631 Y2 JP 2570631Y2
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- Japan
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- confocal
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- Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)
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Description
【0001】
【産業上の利用分野】本考案は、共焦点蛍光顕微鏡など
に用いるピンホ−ル基板を走査する共焦点用光スキャナ
に関し、特に試料の位置探しやピント合わせを容易に
し、微弱蛍光測定を可能とするものである。
に用いるピンホ−ル基板を走査する共焦点用光スキャナ
に関し、特に試料の位置探しやピント合わせを容易に
し、微弱蛍光測定を可能とするものである。
【0002】
【従来の技術】図2は本願出願人による共焦点用光スキ
ャナの先行例であり、共焦点蛍光顕微鏡に用いたもので
ある。図2において、1は共焦点用光スキャナであり、
この共焦点用光スキャナ1は、例えば、図3(イ)に示
すガラス基板の片面に形成された複数のフレネルレンズ
が、焦点位置を一画面分づつ半径方向にPr だけ順次ず
らされて形成された集光ディスク111と、図3(ロ)
に示す基板に形成された複数のピンホ−ルが、半径方向
にPr(周方向にPθ)だけ順次ずらされて形成された
ピンホ−ルディスク112と、集光ディスク111とピ
ンホ−ルディスク112をフレネルレンズの焦点位置に
それぞれピンホ−ルが配置されるように連結するドラム
113から成るピンホ−ル基板11と、集光ディスク1
11とピンホ−ルディスク112の間に設置されたビ−
ムスプリッタ12と、ピンホ−ル基板11を一定速度で
回転するモ−タ13で構成される。2は対物レンズであ
り、ピンホ−ルからの出射光を試料3に照射すると共
に、試料3からの戻り光が、再びピンホ−ルに入射する
位置に設置されている。4はフィルタ、5は接眼レンズ
である。
ャナの先行例であり、共焦点蛍光顕微鏡に用いたもので
ある。図2において、1は共焦点用光スキャナであり、
この共焦点用光スキャナ1は、例えば、図3(イ)に示
すガラス基板の片面に形成された複数のフレネルレンズ
が、焦点位置を一画面分づつ半径方向にPr だけ順次ず
らされて形成された集光ディスク111と、図3(ロ)
に示す基板に形成された複数のピンホ−ルが、半径方向
にPr(周方向にPθ)だけ順次ずらされて形成された
ピンホ−ルディスク112と、集光ディスク111とピ
ンホ−ルディスク112をフレネルレンズの焦点位置に
それぞれピンホ−ルが配置されるように連結するドラム
113から成るピンホ−ル基板11と、集光ディスク1
11とピンホ−ルディスク112の間に設置されたビ−
ムスプリッタ12と、ピンホ−ル基板11を一定速度で
回転するモ−タ13で構成される。2は対物レンズであ
り、ピンホ−ルからの出射光を試料3に照射すると共
に、試料3からの戻り光が、再びピンホ−ルに入射する
位置に設置されている。4はフィルタ、5は接眼レンズ
である。
【0003】このような構成において、図示しないレ−
ザ光源からの出射光は、共焦点用光スキャナ1に入射さ
れる。共焦点用光スキャナ1に入射された光は、ピンホ
−ル基板11の集光ディスク111上に形成されたフレ
ネルレンズにより集光され、ビ−ムスプリッタ12を透
過して、ピンホ−ルディスク112上に形成されたピン
ホ−ルに集光する。ピンホ−ルを通った光は、対物レン
ズ2により、試料3上に照射される。試料3からの戻り
光は、再び対物レンズ2、ピンホールディスク112を
通って、ビ−ムスプリッタ12で反射され(入射光の光
軸方向と直角方向に曲げられ)、フィルタ4および接眼
レンズ5を介して試料3の像を観察できる。この例で
は、ピンホ−ル基板11がモ−タ13により一定速度で
回転しており、ピンホール基板11の回転により、ピン
ホ−ルの像が試料3上を走査している。また、ピンホ−
ルディスク112上のピンホ−ルと試料3上の光スポッ
ト(ピンホ−ルの像)が共焦点関係にあり、図示しない
レ−ザ光源からの入射光と試料3からの戻り光共に、ピ
ンホ−ルを通過するため、共焦点効果による高い分解能
を得られると共に、試料3からの戻り光は、集光ディス
ク111を通過しないため、ピンホ−ルの径によって得
られる共焦点の分解能を保持できる。
ザ光源からの出射光は、共焦点用光スキャナ1に入射さ
れる。共焦点用光スキャナ1に入射された光は、ピンホ
−ル基板11の集光ディスク111上に形成されたフレ
ネルレンズにより集光され、ビ−ムスプリッタ12を透
過して、ピンホ−ルディスク112上に形成されたピン
ホ−ルに集光する。ピンホ−ルを通った光は、対物レン
ズ2により、試料3上に照射される。試料3からの戻り
光は、再び対物レンズ2、ピンホールディスク112を
通って、ビ−ムスプリッタ12で反射され(入射光の光
軸方向と直角方向に曲げられ)、フィルタ4および接眼
レンズ5を介して試料3の像を観察できる。この例で
は、ピンホ−ル基板11がモ−タ13により一定速度で
回転しており、ピンホール基板11の回転により、ピン
ホ−ルの像が試料3上を走査している。また、ピンホ−
ルディスク112上のピンホ−ルと試料3上の光スポッ
ト(ピンホ−ルの像)が共焦点関係にあり、図示しない
レ−ザ光源からの入射光と試料3からの戻り光共に、ピ
ンホ−ルを通過するため、共焦点効果による高い分解能
を得られると共に、試料3からの戻り光は、集光ディス
ク111を通過しないため、ピンホ−ルの径によって得
られる共焦点の分解能を保持できる。
【0004】
【考案が解決しようとする課題】このような上記従来技
術に示す共焦点用光スキャナを用いた共焦点蛍光顕微鏡
において、試料の位置探しやピント合わせ時には、回転
しているピンホール基板11を図中の右方向へずらし
て、レーザ光は蛍光が褪色しないように、NDフィルタ
を用いて減衰させ、通常の落射蛍光顕微鏡の光学系とし
ていた。その状態で、ピンホール基板11を図中の左方
向へずらして挿入し、NDフィルタを取り外し、光量を
増加させ、共焦点蛍光像を得ていた。なお、ピンホール
基板を入れると、共焦点のスライス像が得られる代わり
に光量が減少してしまうため、光量を増加させる必要が
ある。
術に示す共焦点用光スキャナを用いた共焦点蛍光顕微鏡
において、試料の位置探しやピント合わせ時には、回転
しているピンホール基板11を図中の右方向へずらし
て、レーザ光は蛍光が褪色しないように、NDフィルタ
を用いて減衰させ、通常の落射蛍光顕微鏡の光学系とし
ていた。その状態で、ピンホール基板11を図中の左方
向へずらして挿入し、NDフィルタを取り外し、光量を
増加させ、共焦点蛍光像を得ていた。なお、ピンホール
基板を入れると、共焦点のスライス像が得られる代わり
に光量が減少してしまうため、光量を増加させる必要が
ある。
【0005】したがって、操作性が悪く、蛍光量が微弱
な場合は、ピンホールを通過できないため、観察不可能
になる場合があった。
な場合は、ピンホールを通過できないため、観察不可能
になる場合があった。
【0006】本考案は、上記従来技術の課題を踏まえて
成されたものであり、回転しているピンホール基板およ
びNDフィルタの取付け取り外しをしなくても、試料の
位置探しやピント合わせが可能になるようにし、また、
微弱蛍光試料においても、半共焦点の画像を得ることが
できる共焦点用光スキャナを提供することを目的とした
ものである。
成されたものであり、回転しているピンホール基板およ
びNDフィルタの取付け取り外しをしなくても、試料の
位置探しやピント合わせが可能になるようにし、また、
微弱蛍光試料においても、半共焦点の画像を得ることが
できる共焦点用光スキャナを提供することを目的とした
ものである。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
の本考案の構成は、ピンホ−ル基板を回転させ、このピ
ンホ−ル基板を通過した照射光を試料に対して走査する
共焦点用光スキャナにおいて、複数の集光手段が形成さ
れた集光ディスクと、複数のピンホ−ルが形成されたピ
ンホ−ルディスクと、前記集光ディスクとピンホ−ルデ
ィスクとを前記複数の集光手段の焦点位置に前記ピンホ
−ルがそれぞれ配置されるように連結するドラムから成
るピンホ−ル基板と、このピンホ−ル基板を一定速度で
回転させる回転手段と、前記ピンホ−ル基板の集光ディ
スクとピンホ−ルディスクとの間に設置された第1の分
岐光学系と、前記ピンホール基板とこのピンホ−ル基板
からの出射光を前記試料に照射すると共に、前記試料か
らの戻り光が再び前記ピンホ−ル基板のピンホールに入
射する位置に設置された対物レンズとの間に設置され、
前記試料からの戻り光を前記ピンホール基板を通さずに
光軸の側方へ反射させる第2の分岐光学系と、この第2
の分岐光学系を光路から取付け取り外しするための手段
と、を備え、前記第2の分岐光学系を取り付けた状態で
は半共焦点の非スライス像を、また、前記第2の分岐光
学系を光路から取り外した状態では共焦点のスライス像
を得られるようにしたことを特徴とするものである。
の本考案の構成は、ピンホ−ル基板を回転させ、このピ
ンホ−ル基板を通過した照射光を試料に対して走査する
共焦点用光スキャナにおいて、複数の集光手段が形成さ
れた集光ディスクと、複数のピンホ−ルが形成されたピ
ンホ−ルディスクと、前記集光ディスクとピンホ−ルデ
ィスクとを前記複数の集光手段の焦点位置に前記ピンホ
−ルがそれぞれ配置されるように連結するドラムから成
るピンホ−ル基板と、このピンホ−ル基板を一定速度で
回転させる回転手段と、前記ピンホ−ル基板の集光ディ
スクとピンホ−ルディスクとの間に設置された第1の分
岐光学系と、前記ピンホール基板とこのピンホ−ル基板
からの出射光を前記試料に照射すると共に、前記試料か
らの戻り光が再び前記ピンホ−ル基板のピンホールに入
射する位置に設置された対物レンズとの間に設置され、
前記試料からの戻り光を前記ピンホール基板を通さずに
光軸の側方へ反射させる第2の分岐光学系と、この第2
の分岐光学系を光路から取付け取り外しするための手段
と、を備え、前記第2の分岐光学系を取り付けた状態で
は半共焦点の非スライス像を、また、前記第2の分岐光
学系を光路から取り外した状態では共焦点のスライス像
を得られるようにしたことを特徴とするものである。
【0008】
【作用】本考案によれば、第2の分岐光学系を付加する
ことにより、試料の位置探しやピント合わせの際に、ピ
ンホール基板およびレーザのNDフィルタを取付け取り
外しする必要がなく、さらに微弱蛍光試料においても画
像を得ることができる。
ことにより、試料の位置探しやピント合わせの際に、ピ
ンホール基板およびレーザのNDフィルタを取付け取り
外しする必要がなく、さらに微弱蛍光試料においても画
像を得ることができる。
【0009】
【実施例】以下、本考案を図面に基づいて説明する。図
1は本考案の共焦点用光スキャナを共焦点蛍光顕微鏡に
用いた一実施例を示す構成図である。なお、図1におい
て図2と同一要素には同一符号を付して重複する説明は
省略する。図1において、図2との相違点は、共焦点用
光スキャナ1aを、ピンホールディスク111と対物レ
ンズ2との間に、試料3からの戻り光をピンホール基板
11を通さずに光軸の側方へ反射させる第2の分岐光学
系14を設けた構成とした点である。この第2の分岐光
学系14として、図1では、例えばビームスプリッタ1
41とミラー142,143を用いて構成している。な
お、この第2の分岐光学系14は予め調整されており、
図示しない駆動機構により、光路からの取り外し、およ
び、光路への取付けが可能とされている。
1は本考案の共焦点用光スキャナを共焦点蛍光顕微鏡に
用いた一実施例を示す構成図である。なお、図1におい
て図2と同一要素には同一符号を付して重複する説明は
省略する。図1において、図2との相違点は、共焦点用
光スキャナ1aを、ピンホールディスク111と対物レ
ンズ2との間に、試料3からの戻り光をピンホール基板
11を通さずに光軸の側方へ反射させる第2の分岐光学
系14を設けた構成とした点である。この第2の分岐光
学系14として、図1では、例えばビームスプリッタ1
41とミラー142,143を用いて構成している。な
お、この第2の分岐光学系14は予め調整されており、
図示しない駆動機構により、光路からの取り外し、およ
び、光路への取付けが可能とされている。
【0010】このような構成において、レーザ光はピン
ホール基板11により走査され、ビームスプリッタ1
2,第2の分岐光学系14のビームスプリッタ141を
透過して、対物レンズ2により試料3上に絞られる。試
料3からの戻り光(蛍光)は対物レンズ2を介して、第
2の分岐光学系14のビ−ムスプリッタ141,ミラー
142,143で反射され、光量は減少せずに、接眼レ
ンズ5を介して、試料3の像が観察できる。したがっ
て、この状態で、ピンホール基板11およびレーザのN
Dフィルタの取付け取り外しを行わずに、試料の位置探
しやピント合わせができる。また、この状態では半共焦
点の画像となり、微弱蛍光試料の場合に有効となる。一
方、第2の分岐光学系14を図示しない駆動機構により
光路から取り外すことにより、従来技術に示した図2装
置と同様の共焦点画像が得られる。
ホール基板11により走査され、ビームスプリッタ1
2,第2の分岐光学系14のビームスプリッタ141を
透過して、対物レンズ2により試料3上に絞られる。試
料3からの戻り光(蛍光)は対物レンズ2を介して、第
2の分岐光学系14のビ−ムスプリッタ141,ミラー
142,143で反射され、光量は減少せずに、接眼レ
ンズ5を介して、試料3の像が観察できる。したがっ
て、この状態で、ピンホール基板11およびレーザのN
Dフィルタの取付け取り外しを行わずに、試料の位置探
しやピント合わせができる。また、この状態では半共焦
点の画像となり、微弱蛍光試料の場合に有効となる。一
方、第2の分岐光学系14を図示しない駆動機構により
光路から取り外すことにより、従来技術に示した図2装
置と同様の共焦点画像が得られる。
【0011】結果、本考案の共焦点用光スキャナを用い
ることにより、 (1)半共焦点の非スライス像:光量が大きく、試料全
体が見えるため、ピント合わせ時などの粗調に好適であ
る。 (2)共焦点のスライス像:高分解能のため、精密な計
測に好適であり、ピント合わせ時などの微調も容易であ
る。 この2つの場合を第2の分岐光学系の光路からの取付け
取り外しだけで、使い分けることができる。
ることにより、 (1)半共焦点の非スライス像:光量が大きく、試料全
体が見えるため、ピント合わせ時などの粗調に好適であ
る。 (2)共焦点のスライス像:高分解能のため、精密な計
測に好適であり、ピント合わせ時などの微調も容易であ
る。 この2つの場合を第2の分岐光学系の光路からの取付け
取り外しだけで、使い分けることができる。
【0012】なお、上記実施例において、第2の分岐光
学系14を構成するビームスプリッタ141の代わり
に、ダイクロイックミラー、ハーフミラー、偏光ビーム
スプリッタと1/4波長板の組み合わせを用いても良
く、同様の効果得られる。
学系14を構成するビームスプリッタ141の代わり
に、ダイクロイックミラー、ハーフミラー、偏光ビーム
スプリッタと1/4波長板の組み合わせを用いても良
く、同様の効果得られる。
【0013】
【考案の効果】以上、実施例と共に具体的に説明したよ
うに、本考案によれば、第2の分岐光学系を光路から取
付け取り外しするだけで、ピンホールによる蛍光光量の
減少をなくし、試料の位置探しやピント合わせが容易に
でき、また微弱蛍光の試料で共焦点画像の観察が困難な
場合にでも半共焦点の画像が得られるなどの効果を有す
る共焦点用光スキャナを実現できる。
うに、本考案によれば、第2の分岐光学系を光路から取
付け取り外しするだけで、ピンホールによる蛍光光量の
減少をなくし、試料の位置探しやピント合わせが容易に
でき、また微弱蛍光の試料で共焦点画像の観察が困難な
場合にでも半共焦点の画像が得られるなどの効果を有す
る共焦点用光スキャナを実現できる。
【図1】本考案の共焦点用光スキャナを共焦点蛍光顕微
鏡に用いた一実施例を示す構成図である。
鏡に用いた一実施例を示す構成図である。
【図2】共焦点用光スキャナを用いた共焦点蛍光顕微鏡
の一例を示す構成図である。
の一例を示す構成図である。
【図3】共焦点用光スキャナに用いる集光ディスクおよ
びピンホ−ルディスクの一例である。
びピンホ−ルディスクの一例である。
1a 共焦点用光スキャナ 2 対物レンズ 3 試料 11 ピンホ−ル基板 12、141 ビ−ムスプリッタ 13 モ−タ 14 第2の分岐光学系 111 集光ディスク 112 ピンホ−ルディスク 113 ドラム 142、143 ミラー
Claims (1)
- 【請求項1】 ピンホ−ル基板を回転させ、このピンホ
−ル基板を通過した照射光を試料に対して走査する共焦
点用光スキャナにおいて、 複数の集光手段が形成された集光ディスクと、複数のピ
ンホ−ルが形成されたピンホ−ルディスクと、前記集光
ディスクとピンホ−ルディスクとを前記複数の集光手段
の焦点位置に前記ピンホ−ルがそれぞれ配置されるよう
に連結するドラムから成るピンホ−ル基板と、 このピンホ−ル基板を一定速度で回転させる回転手段
と、 前記ピンホ−ル基板の集光ディスクとピンホ−ルディス
クとの間に設置された第1の分岐光学系と、 前記ピンホール基板とこのピンホ−ル基板からの出射光
を前記試料に照射すると共に、前記試料からの戻り光が
再び前記ピンホ−ル基板のピンホールに入射する位置に
設置された対物レンズとの間に設置され、前記試料から
の戻り光を前記ピンホール基板を通さずに光軸の側方へ
反射させる第2の分岐光学系と、 この第2の分岐光学系を光路から取付け取り外しするた
めの手段と、 を備え、 前記第2の分岐光学系を取り付けた状態では半共焦点の
非スライス像を、また、前記第2の分岐光学系を光路か
ら取り外した状態では共焦点のスライス像を得られるよ
うにしたことを特徴とする共焦点用光スキャナ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3640592U JP2570631Y2 (ja) | 1992-05-29 | 1992-05-29 | 共焦点用光スキャナ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3640592U JP2570631Y2 (ja) | 1992-05-29 | 1992-05-29 | 共焦点用光スキャナ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0596816U JPH0596816U (ja) | 1993-12-27 |
JP2570631Y2 true JP2570631Y2 (ja) | 1998-05-06 |
Family
ID=12468936
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3640592U Expired - Fee Related JP2570631Y2 (ja) | 1992-05-29 | 1992-05-29 | 共焦点用光スキャナ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2570631Y2 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002023063A (ja) * | 2000-07-07 | 2002-01-23 | Nikon Corp | 紫外線顕微鏡及びその制御方法 |
JP2008185432A (ja) * | 2007-01-30 | 2008-08-14 | Yokogawa Electric Corp | 創薬スクリーニング装置 |
JP5257605B2 (ja) * | 2009-02-06 | 2013-08-07 | 横河電機株式会社 | 共焦点顕微鏡装置 |
-
1992
- 1992-05-29 JP JP3640592U patent/JP2570631Y2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0596816U (ja) | 1993-12-27 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19980113 |
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