JP2017049036A - 画像測定装置及びその制御プログラム - Google Patents
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Abstract
【解決手段】本発明の一の実施の形態に係る画像測定装置は、ワークを撮像して、このワークの画像を取得する撮像装置と、この画像に基づいてワークの測定を行い、測定結果を出力する演算装置とを備える。また、演算装置は、上記画像に基づいて、この画像よりも画素数が少ない他の画像を生成し、この他の画像に基づいて複数の領域を設定し、これら複数の領域に基づいて上記測定結果を算出する。
【選択図】図3
Description
次に、本発明の第1の実施の形態について図面を参照して詳細に説明する。
次に、図16及び図17を参照して、本発明の第2の実施の形態に係る画像測定装置について説明する。尚、以下の説明において、第1の実施の形態と同様の部分については同一の符号を付し、説明を省略する。
第1の実施の形態においてはエッジ検出処理や異常点検出処理等を行っていたが、これらの処理を省略したり、他の処理に置き換えたりする事も可能である。また、上記フィルタリング等の画像処理を組み合わせて行う事も可能である。
Claims (5)
- ワークを撮像して、前記ワークの画像を取得する撮像装置と、
前記画像に基づいて前記ワークの測定を行い、測定結果を出力する演算装置と
を備え、
前記演算装置は、
前記画像に基づいて、前記画像よりも画素数が少ない他の画像を生成し、
前記他の画像に基づいて複数の領域を設定し、
前記複数の領域に基づいて前記測定結果を算出する
ことを特徴とする画像測定装置。 - 前記演算装置は、前記領域の輪郭線に沿ってエッジ検出処理を行ってエッジ点群を取得する
ことを特徴とする請求項1記載の画像測定装置。 - 前記演算装置は、前記エッジ点群に含まれる複数のエッジ点のうちの一部を排除する
ことを特徴とする請求項2記載の画像測定装置。 - 前記演算装置は、前記複数の領域に対して、それぞれ異なる複数の番号を設定する
ことを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項記載の画像測定装置。 - ワークを撮像して、前記ワークの画像を取得する撮像装置と、
前記画像に基づいて前記ワークの測定を行い、測定結果を出力する演算装置と
を備えた画像測定装置を制御して、前記測定結果の算出を行う画像測定装置の制御プログラムであって、
前記演算装置は、
前記画像に基づいて、前記画像よりも画素数が少ない他の画像を生成し、
前記他の画像に基づいて複数の領域を設定し、
前記複数の領域に基づいて前記測定結果を算出する
ことを特徴とする画像測定装置の制御プログラム。
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