JP2016151536A - 検査装置および検査方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】検査装置100は、太陽電池9を検査するである。移動ステージ3は、太陽電池9を保持する保持面300を有する。ポンプ光照射部21は、保持面300へ向かう方向にポンプ光LP1を出射する。4つの基準試料部50は、保持面300の一部に設けられ、ポンプ光照射部21からのポンプ光LP1の照射に応じてテラヘルツ波を放射する。テラヘルツ波検出部23は、各基準試料50から放射されるテラヘルツ波を検出する。ステージ駆動機構31は、移動ステージ3を移動させることによって、保持面300に対するポンプ光LP11の光路を相対的に変位させる変位機構である。
【選択図】図3
Description
図1は、実施形態に係る検査装置100の概略側面図である。検査装置100は、装置架台1、テラヘルツ波測定系2、移動ステージ3、試料台4および制御部7を備えている。
次に、検査装置100の動作フローについて説明する。
まず、図5に示す光学系の検査処理について説明する。この検査処理では、基準試料部50からのテラヘルツ波を検出することによって、光学系の異常に関する検査が行われる。
次に、ステージ平行度の検査処理について説明する。この検査処理では、基板厚測定器51によって、各基準試料部50の高さ位置が個別に測定される。基準試料部50の高さ位置は、移動ステージ3の保持面300の高さ位置に相当するため、4箇所の基準試料部50の高さ位置を測定することによって、保持面300の平行度(基準平面(例えばX−Y平面)に対する傾き度合い)を検査することができる。
以上、実施形態について説明してきたが、本発明は上記のようなものに限定されるものではなく、様々な変形が可能である。
1 装置架台
2 テラヘルツ波測定系
22 ポンプ光照射部(第1照射部、第2照射部)
221 フェムト秒レーザ
23 テラヘルツ波検出部
231 テラヘルツ波検出器
24 遅延部
241 遅延ステージ
242 遅延ステージ駆動機構
3 移動ステージ(保持部)
300 保持面
31 ステージ駆動機構(変位機構)
4 試料台
41 電圧印加テーブル
43 電極ピンユニット
431 電極ピン
432 電極バー
50 基準試料部
51 基板厚測定器
61 表示部
7 制御部
71 CPU
711 検査部
74 記憶部
9 太陽電池(被検査体)
91 受光面
93 バスバー電極
95 フィンガー電極
B1 ビームスプリッタ
LP1 パルス光
LP11 ポンプ光
LP12 プローブ光
LT1 テラヘルツ波
PG1 プログラム
Claims (5)
- 被検査体を検査する検査装置であって、
被検査体を保持する保持面を有する保持部と、
前記保持面へ向かう方向にポンプ光を出射する第1照射部と、
前記保持面の一部に設けられ、前記第1照射部からの前記ポンプ光の照射に応じて電磁波を放射する1以上の基準試料部と、
前記電磁波を検出する検出部と、
前記保持面に対する前記ポンプ光の光路を相対的に変位させる変位機構と、
を備える、検査装置。 - 請求項1に記載の検査装置であって、
前記検出部にプローブ光を照射する第2照射部、
をさらに備え、
前記検出部は、前記第2照射部からの前記プローブ光の照射に応じて、入射する前記電磁波の電界強度に応じた電流を発生させる検出器を有する、検査装置。 - 請求項1または請求項2に記載の検査装置において、
前記保持部よりも前記保持面の側において、前記保持面における相異なる3以上の箇所のそれぞれに設けられた前記基準試料部の高さ位置を測定する高さ位置測定部、
をさらに備える、検査装置。 - 請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の検査装置において、
前記基準試料が、インジウムヒ素、リン化インジウム、ガリウムヒ素、テルル化カドミウム、および、単結晶シリコンのうち少なくともいずれかを含む半導体バルク結晶を含むである、検査装置。 - 被検査体を検査する検査方法であって、
(a)被検査体を保持部の保持面で保持する工程と、
(b)前記保持面の一部に設けられている基準試料部に向けて、ポンプ光を照射する工程と、
(c)前記ポンプ光の照射に応じて前記基準試料部から放射される電磁波を検出する工程と、
(d)前記保持面に対する前記ポンプ光の光路を相対的に変位させる工程と、
を含む、検査方法。
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