JP2012018129A5 - 光断層撮像装置及び光断層撮像方法 - Google Patents

Description

本発明は、光断層撮像装置及び光断層撮像方法に関し、特に、眼科診療等に用いられるＯＣＴにより断層画像を撮る光断層撮像装置及び光断層撮像方法に関するものである。

本発明は、上記課題に鑑み、簡単な構成で精度の高い偏光パラメータを取得し、偏光ＯＣＴ画像を取得できる光断層撮像装置及び光断層撮像方法を提供することを目的とする。

本発明に係る光断層撮像装置は、
測定光を照射した被検査物からの戻り光と、該測定光に対応する参照光とを合成した合成光を互いに異なる偏光方向である第一の光と第二の光とに分割する分割手段と、
前記第一及び第二の光にそれぞれ対応する回折格子への照射光の偏光方向を調整して該回折格子における該照射光の分光特性を互いに揃える調整手段と、
前記第一及び第二の光にそれぞれ対応する前記調整手段からの光を分光する前記回折格子からの光に基づいて前記被検査物の偏光情報を示す断層画像を取得する取得手段と、を有する。

また、本発明に係る光断層撮像方法は、
測定光を照射した被検査物からの戻り光と、該測定光に対応する参照光とを合成した合成光を互いに異なる偏光方向である第一の光と第二の光とに分割する工程と、
前記第一及び第二の光にそれぞれ対応する回折格子への照射光の偏光方向を調整して該回折格子における該照射光の分光特性を互いに揃える工程と、
前記第一及び第二の光にそれぞれ対応する前記調整された光を分光する前記回折格子からの光に基づいて前記被検査物の偏光情報を示す断層画像を取得する工程と、を含む。

本発明によれば、偏光方向の異なる光に対して回折格子の分光特性（回折格子に対する入射光の偏光方向）を揃えることができる。これにより、簡単な構成で精度の高い偏光パラメータを取得し、偏光ＯＣＴ画像を取得できる光断層撮像装置及び光断層撮像方法を実現することができる。

Claims (13)

1. 測定光を照射した被検査物からの戻り光と、該測定光に対応する参照光とを合成した合成光を互いに異なる偏光方向である第一の光と第二の光とに分割する分割手段と、
   前記第一及び第二の光にそれぞれ対応する回折格子への照射光の偏光方向を調整して該回折格子における該照射光の分光特性を互いに揃える調整手段と、
   前記第一及び第二の光にそれぞれ対応する前記調整手段からの光を分光する前記回折格子と、
   前記第一及び第二の光にそれぞれ対応する前記回折格子からの光を検出する検出手段と、
   前記第一及び第二の光にそれぞれ対応する前記検出手段からの出力に基づいて前記被検査物の偏光情報を示す断層画像を取得する取得手段と、
   を有することを特徴とする光断層撮像装置。
2. 前記調整手段が、
   前記第一の光を導光する第一の偏光保持ファイバーと、
   前記第二の光を導光する第二の偏光保持ファイバーと、を有し、
   前記第一及び第二の偏光保持ファイバーの出射端の相対角度を調整して前記第一及び第二の光の偏光方向を揃えて前記回折格子に照射することを特徴とする請求項１に記載の光断層撮像装置。
3. 前記調整手段が、
   前記第一の光の光路に設けられ、該第一の光の偏光方向を回転して前記第二の光の偏光方向に揃える回転手段と、
   前記第二の光の光路に設けられ、前記回転手段で生じる前記第一の光の分散を補償する補償手段と、
   を有することを特徴とする請求項１に記載の光断層撮像装置。
4. 前記調整手段が、前記第一の光に対応する光の前記回折格子における照射位置に、前記第二の光に対応する光を照射することを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の光断層撮像装置。
5. 前記検出手段が、前記第一及び第二の光にそれぞれ対応する前記回折格子からの光を共通のセンサにおける異なる領域で検出することを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載の光断層撮像装置。
6. 前記参照光の光路に設けられ、該参照光の偏光方向を変更する第一の変更手段と、
   前記測定光の光路に設けられ、該測定光の偏光方向を変更する第二の変更手段と、
   を有することを特徴とする請求項１乃至５のいずれか１項に記載の光断層撮像装置。
7. 前記第一の変更手段が、前記参照光を直線偏光に変更し、
   前記第二の変更手段が、前記測定光を円偏光に変更することを特徴とする請求項６に記載の光断層撮像装置。
8. 前記調整手段が、前記第一及び第二の光にそれぞれ対応する光を前記回折格子の同一の位置に異なる入射角で照射することを特徴とする請求項１乃至７のいずれか１項に記載の光断層撮像装置。
9. 測定光を照射した被検査物からの戻り光と、該測定光に対応する参照光とを合成した合成光を互いに異なる偏光方向である第一の光と第二の光とに分割する工程と、
   前記第一及び第二の光にそれぞれ対応する回折格子への照射光の偏光方向を調整して該回折格子における該照射光の分光特性を互いに揃える工程と、
   前記第一及び第二の光にそれぞれ対応する前記調整された光を分光する前記回折格子からの光に基づいて前記被検査物の偏光情報を示す断層画像を取得する工程と、
   を含むことを特徴とする光断層撮像方法。
10. 前記調整工程が、前記第一及び第二の光の偏光方向を揃えて前記回折格子に照射する工程を含むことを特徴とする請求項９に記載の光断層撮像方法。
11. 測定光を照射した被検査物からの戻り光と、該測定光に対応する参照光とを合成した合成光を互いに異なる偏光方向である第一の光と第二の光とに分割する分割手段と、
    前記第一及び第二の光にそれぞれ対応する回折格子への照射光の偏光方向を調整して該回折格子における該照射光の分光特性を互いに揃える調整手段と、
    前記第一及び第二の光にそれぞれ対応する前記調整手段からの光を分光する前記回折格子からの光に基づいて前記被検査物の偏光情報を示す断層画像を取得する取得手段と、
    を有することを特徴とする光断層撮像装置。
12. 前記調整手段が、前記第一及び第二の光の偏光方向を揃えて前記回折格子に照射することを特徴とする請求項１１に記載の光断層撮像装置。
13. 光源からの光を測定光と参照光とに分割し、被検査物である被検眼に照射された該測定光による戻り光と、参照光路を経由した該参照光とを合波した干渉光を回折格子により分光し、該分光された光の強度により前記被検査物の断層画像を得る光断層撮像装置であって、
    前記干渉光を異なる偏光方向の第一の光と第二の光とに分割する分割手段と、
    前記回折格子へ入射される前記第一の光と前記第二の光との偏光方向を揃える手段と、
    を有することを特徴とする光断層撮像装置。