JP2011146574A5 - トランジスタの駆動方法及び該方法で駆動されるトランジスタを含む表示装置 - Google Patents
トランジスタの駆動方法及び該方法で駆動されるトランジスタを含む表示装置 Download PDFInfo
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Description
本発明は、トランジスタの駆動方法及び該方法で駆動されるトランジスタを含む表示装置に関する。本発明の駆動方法及び該方法で駆動されるトランジスタを含む表示装置は、特に発光素子と発光素子に電流を供給するための駆動回路で構成される画素をマトリックス状に備えた発光表示装置とその駆動方法に好適である。発光素子としては、例えば有機エレクトロルミネッセンス(Electro−Luminescence、以下ELという)素子が好適である。
そこで、本発明は、電気的ストレスによる閾値電圧の変化を抑える薄膜トランジスタの駆動方法及び該方法で駆動されるトランジスタを含む表示装置を提供することを目的とする。
上記課題を解決するために、本発明は、ソース電極及びドレイン電極に接続された半導体層と、第一の絶縁層と、第二の絶縁層と、第一の導電層と、第二の導電層と、を有し、前記半導体層は前記第一の絶縁層と前記第二の絶縁層とに挟まれ、前記第一の絶縁層は、前記半導体層と接する面とは反対側の面で前記第一の導電層と接し、前記第二の絶縁層は、前記半導体層と接する面とは反対側の面で前記第二の導電層と接し、前記第一の導電層はゲート電極であるトランジスタの駆動方法であって、
前記第二の導電層に、
VBG≦VON1×C1/(C1+C2)
C1:前記第一の絶縁層の単位面積当たりの容量
C2:前記第二の絶縁層の単位面積当たりの容量
VON1:ソース電圧を基準電圧とし、かつ前記第二の導電層にかかる電圧を0Vにしたときのトランジスタの伝達特性におけるドレイン電流の立ち上がり電圧
を満たす電圧VBGを印加することを特徴とするトランジスタの駆動方法を提供するものである。
前記第二の導電層に、
VBG≦VON1×C1/(C1+C2)
C1:前記第一の絶縁層の単位面積当たりの容量
C2:前記第二の絶縁層の単位面積当たりの容量
VON1:ソース電圧を基準電圧とし、かつ前記第二の導電層にかかる電圧を0Vにしたときのトランジスタの伝達特性におけるドレイン電流の立ち上がり電圧
を満たす電圧VBGを印加することを特徴とするトランジスタの駆動方法を提供するものである。
また、本発明は、ソース電極及びドレイン電極に接続された半導体層と、第一の絶縁層と、第二の絶縁層と、第一の導電層と、第二の導電層と、を有し、前記半導体層は前記第一の絶縁層と前記第二の絶縁層とに挟まれ、前記第一の絶縁層は、前記半導体層と接する面とは反対側の面で前記第一の導電層と接し、前記第二の絶縁層は、前記半導体層と接する面とは反対側の面で前記第二の導電層と接し、前記第一の導電層はゲート電極であるトランジスタの駆動方法であって、
前記第二の導電層に、
VBG≦VT1×C1/(C1+C2)
C1:前記第一の絶縁層の単位面積当たりの容量
C2:前記第二の絶縁層の単位面積当たりの容量
VT1:トランジスタのフラットバンド電圧
を満たす電圧VBGを印加することを特徴とするトランジスタの駆動方法を提供するものである。
前記第二の導電層に、
VBG≦VT1×C1/(C1+C2)
C1:前記第一の絶縁層の単位面積当たりの容量
C2:前記第二の絶縁層の単位面積当たりの容量
VT1:トランジスタのフラットバンド電圧
を満たす電圧VBGを印加することを特徴とするトランジスタの駆動方法を提供するものである。
この課題に対し、AOS−TFTにおいてソース、ドレイン及びゲート電極の三端子に加え、第4の端子としてバックゲート電極を追加し、該バックゲート電極に、ある範囲の電圧を印加することで電気的ストレスによる閾値電圧の変化を抑制できることを発見した。本発明では、AOS−TFTはソース電極及びドレイン電極に接続された半導体層と、第一の絶縁層(以下、絶縁層1と言う)と、第二の絶縁層(以下、絶縁層2と言う)と、第一の導電層(以下、導電層1と言う)と、第二の導電層(以下、導電層2と言う)と、を有している。また、半導体層は絶縁層1と絶縁層2とに挟まれ、絶縁層1は、半導体層と接する面とは反対側の面で導電層1と接し、絶縁層2は、半導体層と接する面とは反対側の面で導電層2と接し、導電層1はゲート電極である。さらに、導電層2はバックゲート電極であり、導電層2に、後述する範囲の電圧を印加することで電気的ストレスによる閾値電圧の変化を抑制できる。なお、バックゲート電極とは、バックチャネルを制御するための電極であり、上述のように半導体層を介してゲート電極とは反対側に設ける。バックチャネルとは、半導体層中の、ゲート電極とは反対側の領域のことである。
〔定電流ストレスを印加する場合〕
図5(a)は、図4のトランジスタ2において観測された、バックゲート電圧VBGと、電気的ストレスによる閾値電圧の変化に相当するドレイン−ソース間電圧の変化量ΔVDSとの関係である。図5(a)中の「〇」は、バックゲート電極が存在しない図4のトランジスタ1についてのゲート電圧とドレイン−ソース間電圧の変化量ΔVDSの関係である。ソース電圧を基準電圧として、ゲート電圧をVG、ドレイン電圧をVDとする。図5(a)は電気的ストレスとして、VG=VD=0Vにおいてドレイン−ソース間電流IDS=4μAの一定電流を3162秒流し続けることにより、定電流ストレスを印加したデータである。図5(a)によると、トランジスタ2のバックゲート電極に、上記式(2)で定義したフラットバンド電圧VFB0より低い電圧を印加することで、トランジスタ2はトランジスタ1より閾値電圧の変化量を低減できることがわかる。これは、トランジスタ2のバックゲート電極にフラットバンド電圧VFB0より低い電圧を印加すると、半導体層のバックゲート電極(絶縁層2)側の領域ではトランジスタ1における半導体層の絶縁層2側の領域よりもキャリア密度が低くなるためと考えられる。
図5(a)は、図4のトランジスタ2において観測された、バックゲート電圧VBGと、電気的ストレスによる閾値電圧の変化に相当するドレイン−ソース間電圧の変化量ΔVDSとの関係である。図5(a)中の「〇」は、バックゲート電極が存在しない図4のトランジスタ1についてのゲート電圧とドレイン−ソース間電圧の変化量ΔVDSの関係である。ソース電圧を基準電圧として、ゲート電圧をVG、ドレイン電圧をVDとする。図5(a)は電気的ストレスとして、VG=VD=0Vにおいてドレイン−ソース間電流IDS=4μAの一定電流を3162秒流し続けることにより、定電流ストレスを印加したデータである。図5(a)によると、トランジスタ2のバックゲート電極に、上記式(2)で定義したフラットバンド電圧VFB0より低い電圧を印加することで、トランジスタ2はトランジスタ1より閾値電圧の変化量を低減できることがわかる。これは、トランジスタ2のバックゲート電極にフラットバンド電圧VFB0より低い電圧を印加すると、半導体層のバックゲート電極(絶縁層2)側の領域ではトランジスタ1における半導体層の絶縁層2側の領域よりもキャリア密度が低くなるためと考えられる。
Claims (4)
- ソース電極及びドレイン電極に接続された半導体層と、
第一の絶縁層と、第二の絶縁層と、第一の導電層と、第二の導電層と、を有し、
前記半導体層は前記第一の絶縁層と前記第二の絶縁層とに挟まれ、
前記第一の絶縁層は、前記半導体層と接する面とは反対側の面で前記第一の導電層と接し、
前記第二の絶縁層は、前記半導体層と接する面とは反対側の面で前記第二の導電層と接し、
前記第一の導電層はゲート電極であるトランジスタの駆動方法であって、
前記第二の導電層に、
VBG≦VON1×C1/(C1+C2)
C1:前記第一の絶縁層の単位面積当たりの容量
C2:前記第二の絶縁層の単位面積当たりの容量
VON1:ソース電圧を基準電圧とし、かつ前記第二の導電層にかかる電圧を0Vにしたときのトランジスタの伝達特性におけるドレイン電流の立ち上がり電圧
を満たす電圧VBGを印加することを特徴とするトランジスタの駆動方法。 - ソース電極及びドレイン電極に接続された半導体層と、
第一の絶縁層と、第二の絶縁層と、第一の導電層と、第二の導電層と、を有し、
前記半導体層は前記第一の絶縁層と前記第二の絶縁層とに挟まれ、
前記第一の絶縁層は、前記半導体層と接する面とは反対側の面で前記第一の導電層と接し、
前記第二の絶縁層は、前記半導体層と接する面とは反対側の面で前記第二の導電層と接し、
前記第一の導電層はゲート電極であるトランジスタの駆動方法であって、
前記第二の導電層に、
VBG≦VT1×C1/(C1+C2)
C1:前記第一の絶縁層の単位面積当たりの容量
C2:前記第二の絶縁層の単位面積当たりの容量
VT1:トランジスタのフラットバンド電圧
を満たす電圧VBGを印加することを特徴とするトランジスタの駆動方法。 - 前記トランジスタは、チャネル層として非晶質酸化物半導体を用いていることを特徴とする請求項1又は2に記載のトランジスタの駆動方法。
- 請求項1乃至3のいずれか1項に記載の駆動方法で駆動されるトランジスタを含むことを特徴とする表示装置。
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