JP2010155297A - 樹脂被覆方法および樹脂被覆装置 - Google Patents
樹脂被覆方法および樹脂被覆装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2010155297A JP2010155297A JP2008333750A JP2008333750A JP2010155297A JP 2010155297 A JP2010155297 A JP 2010155297A JP 2008333750 A JP2008333750 A JP 2008333750A JP 2008333750 A JP2008333750 A JP 2008333750A JP 2010155297 A JP2010155297 A JP 2010155297A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- resin
- workpiece
- wafer
- curable resin
- state
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 229920005989 resin Polymers 0.000 title claims abstract description 189
- 239000011347 resin Substances 0.000 title claims abstract description 189
- 238000000576 coating method Methods 0.000 title claims abstract description 49
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 title claims abstract description 30
- 238000000034 method Methods 0.000 title abstract description 18
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 33
- 238000000926 separation method Methods 0.000 claims description 11
- 238000001816 cooling Methods 0.000 claims description 4
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 4
- 229920005992 thermoplastic resin Polymers 0.000 claims description 3
- 229920001187 thermosetting polymer Polymers 0.000 claims description 3
- 230000005484 gravity Effects 0.000 abstract description 30
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 145
- 239000000463 material Substances 0.000 description 6
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 6
- 230000008569 process Effects 0.000 description 5
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 4
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 4
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 4
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 description 4
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000009471 action Effects 0.000 description 2
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 2
- 239000011148 porous material Substances 0.000 description 2
- JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N AsGa Chemical compound [As]#[Ga] JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-M Fluoride anion Chemical compound [F-] KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000005388 borosilicate glass Substances 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 150000002484 inorganic compounds Chemical class 0.000 description 1
- 229910010272 inorganic material Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- 229910021421 monocrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 230000000717 retained effect Effects 0.000 description 1
- 238000007665 sagging Methods 0.000 description 1
- 229910052594 sapphire Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010980 sapphire Substances 0.000 description 1
- 239000004575 stone Substances 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- 238000009281 ultraviolet germicidal irradiation Methods 0.000 description 1
- 238000010792 warming Methods 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
- Constituent Portions Of Griding Lathes, Driving, Sensing And Control (AREA)
- Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
Abstract
【解決手段】押圧パッド23の吸着部24の吸着面24aにウェーハ1の表面1aを吸着して、ウェーハ1の変形を矯正する。次に、矯正状態のウェーハ1を液状の樹脂P1上に載置して押圧し、この後、押圧パッド23をウェーハ1から離反させてウェーハ1に反り等が戻る変形を起こさせてから、樹脂P1を硬化させる。矯正状態から樹脂P1上で変形させることにより重力での変形はさせず、研削後に厳密な平坦状態を得る。
【選択図】図4
Description
[1]半導体ウェーハ
図1(a)の符号1は、一実施形態でのワークである半導体ウェーハ(以下、ウェーハ)を示している。このウェーハ1は、シリコン等からなる円柱状の材料インゴットをワイヤソーにより所定の厚さにスライスして得られた素材段階のものである。
図2は、ウェーハ1の裏面1bに樹脂を供給して硬化させる一実施形態の樹脂塗布装置10を示している。図2で符号11は中空の基台であり、この基台11の上部には、上面が平坦、かつ水平なワーク載置面12aとされた矩形板状のステージ12が配設されている。ステージ12は、紫外線が透過するホウ珪酸ガラスや石英ガラス等からなるもので、ステージ12の下面は基台11内の中空に面している。
次に、上記樹脂被覆装置10の動作を説明する。この動作中に、本発明の樹脂被覆方法が含まれている。
以上のようにして裏面1aに樹脂膜P2が被覆されたウェーハ1は、両面が研削される平坦加工工程に移される。図7は、ウェーハ1を研削するための研削スピンドル30およびチャックテーブル40を示している。
上記のようにして樹脂被覆装置10によりウェーハ1の裏面1bに樹脂膜P2を被覆する実施形態においては、押圧パッド23に吸着して変形を矯正したウェーハ1を、硬化前の樹脂P1の上に載置して押圧してから、この時点ではまだ樹脂P1を硬化させず、一旦ウェーハ1から押圧パッド23を離反させて矯正を解除した後に、樹脂P1を硬化するといった手順をポイントとしている。
[実施例]
単結晶シリコンからなる円柱状の材料インゴットをワイヤソーでスライスし、直径φ300mm、厚さ900μmのウェーハを得た。続いてこのウェーハの反りを測定した。
ウェーハをフィルムの樹脂の上に載置するにあたり、押圧パッドにウェーハを吸着して変形を矯正することはせず、単にウェーハをフィルムの樹脂上に載置してから、このウェーハを押圧パッドで押圧し、次いで、押圧パッドをウェーハから離間させるといった方法を採った。これ以外の工程は上記実施例と同様にして、両面が研削されて平坦加工されたウェーハを得た。
平坦加工後の上記実施例と比較例のウェーハのWARP(反り)を(株)コベルト科研の「ウェーハBOW/WARP測定装置SBW-331M」で測定した。その結果を、樹脂被覆前の反りの測定値と合わせて表1に示す。なお、当該測定装置「SBW-331M」の測定結果は、たわみによる形状の変形量を打ち消す数値補正が反映されるため、無重力下における測定結果とみなすことができる。
Claims (8)
- うねりや反り等の変形要素を含む薄板状ワークの一の面を研削して平坦に加工するために該ワークの他の面に樹脂を被覆する樹脂被覆方法であって、
平坦面に、前記ワークの前記一の面を密着させた状態で該ワークを保持し、前記変形要素を矯正して該ワークを平坦とするワーク矯正工程と、
外的刺激によって硬化する硬化性樹脂上に、前記矯正工程で矯正された状態の前記ワークを、前記他の面が該樹脂に密着する状態に載置するワーク載置工程と、
前記ワークの前記一の面から前記平坦面を離反させる平坦面離反工程と、
外的刺激付与手段によって前記硬化性樹脂に刺激を付与して該樹脂を硬化させる樹脂硬化工程と、を少なくとも備えることを特徴とする樹脂被覆方法。 - ステージのワーク載置面に前記硬化性樹脂を供給する樹脂供給工程を有し、該樹脂供給工程の後に前記ワーク載置工程を行い、前記ワーク載置工程と前記平坦面離反工程との間に、前記矯正工程で矯正された状態の前記ワークを、押圧手段によって前記一の面側から前記ワーク載置面に供給された前記硬化性樹脂に向かって押圧するワーク押圧工程を含むことを特徴とする請求項1に記載の樹脂被覆方法。
- 前記ワーク押圧工程と前記平坦面離反工程との間に、前記平坦面に前記ワークの前記一の面を保持した状態で、該平坦面を、該ワークの前記他の面から前記一の面に向かう方向に移動させる平坦面移動工程を含むことを特徴とする請求項2に記載の樹脂被覆方法。
- 前記硬化性樹脂は、紫外線照射により硬化する紫外線硬化樹脂であり、
前記外的刺激付与手段は、紫外線を照射する紫外線照射手段であることを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の樹脂被覆方法。 - 前記硬化性樹脂は、加熱されることにより硬化する熱硬化樹脂であり、
前記外的刺激付与手段は、加熱を行う加熱手段であることを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の樹脂被覆方法。 - 前記硬化性樹脂は、加熱されることにより液化し、冷却されることにより硬化する熱可塑性樹脂であり、
前記外的刺激付与手段は、冷却を行う冷却手段であることを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の樹脂被覆方法。 - うねりや反り等の変形要素を含む薄板状ワークの一の面を研削して平坦に加工するために該ワークの他の面に樹脂を被覆する樹脂被覆装置であって、
前記ワークを、前記一の面が密着する状態に着脱自在に保持する平坦面を有し、該平坦面に該ワークを保持した時において前記変形要素を矯正して該ワークを平坦とするワーク矯正手段と、
ワーク載置面を有し、該ワーク載置面に硬化性樹脂が供給されるステージと、
前記ワーク矯正手段で矯正された状態の前記ワークを、該ワーク載置面に供給された前記硬化性樹脂に載置するワーク載置手段と、
前記ステージの前記ワーク載置面に供給された硬化性樹脂に外的刺激を付与する外的刺激付与手段と、を少なくとも備えることを特徴とする樹脂被覆装置。 - 前記ワーク矯正手段を前記ステージの前記ワーク載置面に対向配置させるとともに、該ワーク矯正手段を該ワーク載置面に対し進退自在に移動させ、進出時に、前記硬化性樹脂に載置された前記ワークを該樹脂に向かって押圧する押圧手段を有することを特徴とする請求項7に記載の樹脂被覆装置。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008333750A JP5320058B2 (ja) | 2008-12-26 | 2008-12-26 | 樹脂被覆方法および樹脂被覆装置 |
TW98134602A TWI468255B (zh) | 2008-12-26 | 2009-10-13 | Resin coating method and resin coating apparatus (1) |
CN200910258836.0A CN101770936B (zh) | 2008-12-26 | 2009-12-25 | 树脂覆盖方法和树脂覆盖装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008333750A JP5320058B2 (ja) | 2008-12-26 | 2008-12-26 | 樹脂被覆方法および樹脂被覆装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010155297A true JP2010155297A (ja) | 2010-07-15 |
JP5320058B2 JP5320058B2 (ja) | 2013-10-23 |
Family
ID=42503720
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008333750A Active JP5320058B2 (ja) | 2008-12-26 | 2008-12-26 | 樹脂被覆方法および樹脂被覆装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5320058B2 (ja) |
CN (1) | CN101770936B (ja) |
TW (1) | TWI468255B (ja) |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012049448A (ja) * | 2010-08-30 | 2012-03-08 | Mitsubishi Chemicals Corp | 窒化物半導体基板の製造方法 |
JP2012143723A (ja) * | 2011-01-13 | 2012-08-02 | Disco Corp | 樹脂塗布装置 |
US11056374B2 (en) | 2018-10-30 | 2021-07-06 | Disco Corporation | Protective member forming method |
JP7436289B2 (ja) | 2020-05-27 | 2024-02-21 | 株式会社ディスコ | 保護部材形成装置 |
JP7436288B2 (ja) | 2020-05-27 | 2024-02-21 | 株式会社ディスコ | 保護部材形成装置 |
JP7471751B2 (ja) | 2020-08-05 | 2024-04-22 | 株式会社ディスコ | ウェーハの加工方法 |
JP7511977B2 (ja) | 2020-06-16 | 2024-07-08 | 株式会社ディスコ | 被加工物の研削方法 |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5585379B2 (ja) * | 2010-10-21 | 2014-09-10 | 富士電機株式会社 | 半導体装置の製造方法およびその製造装置 |
DE102015216619B4 (de) | 2015-08-31 | 2017-08-10 | Disco Corporation | Verfahren zum Bearbeiten eines Wafers |
GB2551732B (en) | 2016-06-28 | 2020-05-27 | Disco Corp | Method of processing wafer |
DE102018200656A1 (de) | 2018-01-16 | 2019-07-18 | Disco Corporation | Verfahren zum Bearbeiten eines Wafers |
JP7034809B2 (ja) | 2018-04-09 | 2022-03-14 | 株式会社ディスコ | 保護シート配設方法 |
JP7088125B2 (ja) * | 2019-05-14 | 2022-06-21 | 信越半導体株式会社 | 被覆物の厚さ測定方法及び研削方法 |
TWI744098B (zh) * | 2020-11-18 | 2021-10-21 | 中華精測科技股份有限公司 | 砂紙安裝方法與砂紙安裝裝置 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11111653A (ja) * | 1997-10-07 | 1999-04-23 | Toshiba Ceramics Co Ltd | 半導体ウェーハの製造方法 |
JP2000005982A (ja) * | 1998-06-22 | 2000-01-11 | Enya System:Kk | スライスドウエ−ハの基準面形成方法 |
JP2001110765A (ja) * | 1999-10-05 | 2001-04-20 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 高精度ウェーハとその製造方法 |
JP2006263837A (ja) * | 2005-03-22 | 2006-10-05 | Disco Abrasive Syst Ltd | ウエーハの平坦加工方法 |
JP2007134371A (ja) * | 2005-11-08 | 2007-05-31 | Nikka Seiko Kk | ウエ−ハの基準面形成方法及びその装置 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3055401B2 (ja) * | 1994-08-29 | 2000-06-26 | 信越半導体株式会社 | ワークの平面研削方法及び装置 |
JPH0957587A (ja) * | 1995-08-16 | 1997-03-04 | Sony Corp | 軟質材の平坦化方法及び装置 |
JP4728023B2 (ja) * | 2005-03-24 | 2011-07-20 | 株式会社ディスコ | ウェハの製造方法 |
-
2008
- 2008-12-26 JP JP2008333750A patent/JP5320058B2/ja active Active
-
2009
- 2009-10-13 TW TW98134602A patent/TWI468255B/zh active
- 2009-12-25 CN CN200910258836.0A patent/CN101770936B/zh active Active
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11111653A (ja) * | 1997-10-07 | 1999-04-23 | Toshiba Ceramics Co Ltd | 半導体ウェーハの製造方法 |
JP2000005982A (ja) * | 1998-06-22 | 2000-01-11 | Enya System:Kk | スライスドウエ−ハの基準面形成方法 |
JP2001110765A (ja) * | 1999-10-05 | 2001-04-20 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 高精度ウェーハとその製造方法 |
JP2006263837A (ja) * | 2005-03-22 | 2006-10-05 | Disco Abrasive Syst Ltd | ウエーハの平坦加工方法 |
JP2007134371A (ja) * | 2005-11-08 | 2007-05-31 | Nikka Seiko Kk | ウエ−ハの基準面形成方法及びその装置 |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012049448A (ja) * | 2010-08-30 | 2012-03-08 | Mitsubishi Chemicals Corp | 窒化物半導体基板の製造方法 |
JP2012143723A (ja) * | 2011-01-13 | 2012-08-02 | Disco Corp | 樹脂塗布装置 |
TWI554337B (zh) * | 2011-01-13 | 2016-10-21 | Disco Corp | Resin coating means |
KR101831910B1 (ko) * | 2011-01-13 | 2018-02-26 | 가부시기가이샤 디스코 | 수지 도포 장치 |
US11056374B2 (en) | 2018-10-30 | 2021-07-06 | Disco Corporation | Protective member forming method |
JP7436289B2 (ja) | 2020-05-27 | 2024-02-21 | 株式会社ディスコ | 保護部材形成装置 |
JP7436288B2 (ja) | 2020-05-27 | 2024-02-21 | 株式会社ディスコ | 保護部材形成装置 |
JP7511977B2 (ja) | 2020-06-16 | 2024-07-08 | 株式会社ディスコ | 被加工物の研削方法 |
JP7471751B2 (ja) | 2020-08-05 | 2024-04-22 | 株式会社ディスコ | ウェーハの加工方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN101770936A (zh) | 2010-07-07 |
TW201029799A (en) | 2010-08-16 |
JP5320058B2 (ja) | 2013-10-23 |
TWI468255B (zh) | 2015-01-11 |
CN101770936B (zh) | 2014-04-02 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5320058B2 (ja) | 樹脂被覆方法および樹脂被覆装置 | |
JP5324212B2 (ja) | 樹脂被覆方法および樹脂被覆装置 | |
JP5089370B2 (ja) | 樹脂被覆方法および装置 | |
JP5524716B2 (ja) | ウェーハの平坦加工方法 | |
US11648712B2 (en) | Imprint apparatus, imprint method, and method of manufacturing article | |
JP7071782B2 (ja) | ウェーハの加工方法 | |
JP5773660B2 (ja) | 樹脂剥がし装置および研削加工装置 | |
JP6475519B2 (ja) | 保護部材の形成方法 | |
TWI788342B (zh) | 晶圓的加工方法 | |
JP6914587B2 (ja) | ウェーハの加工方法 | |
JP7233883B2 (ja) | 保護部材の形成方法 | |
JP2018187695A (ja) | ウェーハの加工方法 | |
JP2006263837A (ja) | ウエーハの平坦加工方法 | |
JP6641209B2 (ja) | 保護部材形成装置 | |
JP4663362B2 (ja) | ウエーハの平坦加工方法 | |
JP2019186265A (ja) | 基板処理システム、基板処理方法、プログラム及びコンピュータ記憶媒体 | |
KR102379433B1 (ko) | 피가공물의 절삭 가공 방법 | |
JP2014175541A (ja) | ウェーハ貼着方法 | |
JP2015133464A (ja) | インプリント装置 | |
JP7214309B2 (ja) | ウェーハの加工方法 | |
JP6401988B2 (ja) | 加工装置及びウエーハの加工方法 | |
JP6322472B2 (ja) | シート貼付方法、シート貼付装置及びウエハ加工方法 | |
JP2019220526A (ja) | 型を用いて基板上の組成物を成形する成形装置、成形方法、および、物品の製造方法 | |
JP2020013890A (ja) | インプリント装置およびその制御方法、ならびに物品製造方法 | |
KR102461027B1 (ko) | 몰드를 사용해서 기판 상의 조성물을 성형하는 성형 장치, 및 물품 제조 방법 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20111111 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20130410 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20130411 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130606 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130624 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130712 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5320058 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |