JP2008116912A - 液晶表示装置及びその不良画素修復方法 - Google Patents

液晶表示装置及びその不良画素修復方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2008116912A
JP2008116912A JP2007213280A JP2007213280A JP2008116912A JP 2008116912 A JP2008116912 A JP 2008116912A JP 2007213280 A JP2007213280 A JP 2007213280A JP 2007213280 A JP2007213280 A JP 2007213280A JP 2008116912 A JP2008116912 A JP 2008116912A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
liquid crystal
display device
pixel
crystal display
pair
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2007213280A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5190625B2 (ja
Inventor
Shoyu Cho
鐘 雄 張
Shintaku Kyo
信 宅 姜
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Samsung Electronics Co Ltd
Original Assignee
Samsung Electronics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Samsung Electronics Co Ltd filed Critical Samsung Electronics Co Ltd
Publication of JP2008116912A publication Critical patent/JP2008116912A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5190625B2 publication Critical patent/JP5190625B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/1333Constructional arrangements; Manufacturing methods
    • G02F1/1343Electrodes
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • G02F1/1362Active matrix addressed cells
    • G02F1/136259Repairing; Defects
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1306Details
    • G02F1/1309Repairing; Testing
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/1333Constructional arrangements; Manufacturing methods
    • G02F1/133345Insulating layers
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • G02F1/1362Active matrix addressed cells
    • G02F1/13624Active matrix addressed cells having more than one switching element per pixel
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • G02F1/1362Active matrix addressed cells
    • G02F1/136286Wiring, e.g. gate line, drain line
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • G02F1/1362Active matrix addressed cells
    • G02F1/1368Active matrix addressed cells in which the switching element is a three-electrode device
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/02Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
    • H01L27/12Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body
    • H01L27/1214Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body comprising a plurality of TFTs formed on a non-semiconducting substrate, e.g. driving circuits for AMLCDs
    • H01L27/124Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body comprising a plurality of TFTs formed on a non-semiconducting substrate, e.g. driving circuits for AMLCDs with a particular composition, shape or layout of the wiring layers specially adapted to the circuit arrangement, e.g. scanning lines in LCD pixel circuits
    • H01L27/1244Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body comprising a plurality of TFTs formed on a non-semiconducting substrate, e.g. driving circuits for AMLCDs with a particular composition, shape or layout of the wiring layers specially adapted to the circuit arrangement, e.g. scanning lines in LCD pixel circuits for preventing breakage, peeling or short circuiting
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L29/00Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/40Electrodes ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/41Electrodes ; Multistep manufacturing processes therefor characterised by their shape, relative sizes or dispositions
    • H01L29/417Electrodes ; Multistep manufacturing processes therefor characterised by their shape, relative sizes or dispositions carrying the current to be rectified, amplified or switched
    • H01L29/41725Source or drain electrodes for field effect devices
    • H01L29/41733Source or drain electrodes for field effect devices for thin film transistors with insulated gate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L29/00Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/66Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/68Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable by only the electric current supplied, or only the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched
    • H01L29/76Unipolar devices, e.g. field effect transistors
    • H01L29/772Field effect transistors
    • H01L29/78Field effect transistors with field effect produced by an insulated gate
    • H01L29/786Thin film transistors, i.e. transistors with a channel being at least partly a thin film
    • H01L29/78603Thin film transistors, i.e. transistors with a channel being at least partly a thin film characterised by the insulating substrate or support
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • G02F1/1362Active matrix addressed cells
    • G02F1/136213Storage capacitors associated with the pixel electrode
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • G02F1/1362Active matrix addressed cells
    • G02F1/136259Repairing; Defects
    • G02F1/136263Line defects

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Thin Film Transistor (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)

Abstract

【課題】本発明は、液晶表示装置及びその不良画素の修復方法を提供する。
【解決手段】第1の絶縁基板と、第1の絶縁基板上に形成され、第1の方向に実質的に平行に配置されたゲート配線及びストレージ配線と、ゲート配線及びストレージ配線と絶縁されて交差し、実質的に第2の方向に配置されたデータ配線と、ゲート配線とデータ配線とによって定義された画素領域上に形成された画素電極と、を含み、ストレージ配線は、実質的に第1の方向に配置され且つ画素電極とオーバーラップしない水平部と、水平部から実質的に第2の方向に分枝してデータ配線とオーバーラップする垂直部と、を含む。これにより、不良画素を効率的でかつ容易に修復できる。
【選択図】図1

Description

本発明は画像表示装置及びその不良画素修復方法に係り、さらに詳細には、液晶表示装置及びその不良画素修復方法に関する。
一般に使用される画像表示装置の例として、陰極線管(CRT;cathode ray tube)、液晶表示装置(LCD;liquid crystal display)、プラズマ表示装置(PDP;plasma display panel)、電子ペーパー表示装置(EDP;electronic paper display)などが挙げられる。画像表示装置は、小型化、軽量化及び低消費電力化などの要求に応えるために活発に開発されている。
液晶表示装置は、カラーフィルタを含むカラーフィルタ基板、薄膜トランジスタアレイを含む薄膜トランジスタ基板及び両基板の間に介在された液晶層を含む。
液晶表示装置の薄膜トランジスタ基板は、多数のゲート線、多数のストレージ配線、多数のデータ線及び画素電極などを含み、これらそれぞれの配線には、断線が発生するか、或いはこれら配線相互間の短絡が惹起されるおそれがある。例えば、一つのデータ線が断線した場合、そのデータ線と接続された一つのカラムの全ての画素が作動しなくなる。
前述したような画素不良が発生した場合、これを修復するための工程が行われるが、この工程が例えば、互いにオーバーラップする配線が短絡するなどの更なる画素不良が惹起されるおそれがある。
従って、他の画素不良が惹起されないように効率的でかつ容易に不良画素を修復(リペア)する方法が必要である。
韓国特許公開第2005-105591号
本発明が解決しようとする技術的課題は、不良画素を効率的でかつ容易に修復できる液晶表示装置を提供することにある。
本発明が解決しようとする他の技術的課題は、このような液晶表示装置の不良画素修復方法を提供することにある。
本発明の技術的課題は以上で言及した技術的課題に制限されず、言及されない他の技術的課題は、以下の記載により当業者に明確に理解されることができる。
前記技術的課題を達成するための本発明の一実施形態による液晶表示装置は、第1の絶縁基板と、第1の絶縁基板上に第1の方向に実質的に平行に配置されたゲート配線及びストレージ配線と、ゲート線及びストレージ配線と絶縁されて交差し、実質的に第2の方向に配置されたデータ配線と、ゲート配線とデータ配線によって定義された画素領域上に形成された画素電極を含み、ストレージ配線は、実質的に第1の方向に配置され、少なくとも一部が画素電極とオーバーラップしない水平部と、水平部から実質的に第2の方向に分枝してデータ配線とオーバーラップする垂直部と、を含む。
前記他の技術的課題を達成するための本発明の一実施形態による液晶表示装置の不良画素修復方法は、液晶表示装置の薄膜トランジスタ基板を提供し、水平部のうち画素電極とオーバーラップしない部位においてストレージ配線を断線させること、を含む。
本発明の実施形態による液晶表示装置及びその不良画素修復方法によれば、以下の効果が一つ或いはその以上ある。
第一に、データ線が断線して不良画素が生じても、ストレージ配線の折り曲げ部及びブリッジ電極を用いて、これを安全にかつ容易に修復できる。
第二に、ストレージ配線とデータ線又は画素電極とが短絡して不良画素が生じても、ストレージ配線の折り曲げ部及びブリッジ電極を用いて、これを安全にかつ容易に修復できる。
第三に、ストレージ配線が断線しても、ブリッジ電極が断線したストレージ配線と他の行に設けられたストレージ配線とを電気的に接続するため、断線部位が存在するストレージ配線に信号遅延が惹起されない。
本発明の利点及び特徴、そしてそれらを達成する方法は、図面と共に詳細に後述される実施形態を参照することにより明確になる。しかしながら、本発明は、以下に開示される実施形態に限定されるものではなく、相異なる多様な形態で実現されるものである。開示される実施形態は、本発明の開示が完全となり、当業者に発明の範疇を十分に理解させるために提供されるものであり、本発明は、特許請求の範囲の記載に基づいて決められなければならない。なお、明細書全体にかけて同一参照符号は同一構成要素を示すものとする。
素子又は層が他の素子又は層の「上方(over)」又は「上(on)」にあると指称されることは、他の素子又は層の真上だけではなく、中間に他の層又は他の素子を介在した場合を全て含む。反面、素子が「直接上」又は「真上」にあると指称されることは、中間に他の素子又は層が介在しないことを示す。なお、明細書全体にかけて同一参照符号は同一構成要素を示すものとする。
空間的に相対的な用語である「下(below)」、「下方(beneath)」、「下部(lower)」、「上(above)」、「上部(upper)」などは図面に示すように、一つの素子又は構成要素と他の素子又は構成要素との相関関係を容易に記述するため使用できる。空間的に相対的な用語は、図面に示される方向に加えて使用時又は動作時における素子の互いに異なる方向を含む用語として理解されなければならない。なお、明細書全体にかけて同一参照符号は同一構成要素を示すものとする。
以下、図面を参照して本発明の実施形態を詳細に説明する。
図1〜図5を参照して、本発明の第1の実施形態による液晶表示装置について詳細に説明する。図1は、本発明の第1の実施形態による液晶表示装置に含まれる薄膜トランジスタ基板の配置図である。図2は、図1の薄膜トランジスタ基板をA−A´線に沿って切った断面図である。図3は、本発明の第1の実施形態による液晶表示装置に含まれるカラーフィルタ基板の配置図である。図4は、本発明の第1の実施形態による液晶表示装置の配置図である。図5は、図4の液晶表示装置をB−B´線に沿って切った断面図である。
本発明の第1の実施形態による液晶表示装置は、図4及び図5に示すように、薄膜トランジスタ基板1と、これと対向するカラーフィルタ基板2と、これら両基板1、2の間に形成され、一定の方向に配向されている液晶層3と、から成る。
先ず、図1及び図2を参照して、本発明の第1の実施形態による薄膜トランジスタ基板1について詳細に説明する。
本発明の第1の実施形態による薄膜トランジスタ基板1は、第1の絶縁基板10上に形成されたゲート配線22,24、ストレージ配線28,29、ゲート絶縁膜30、アクティブ層40、オーミックコンタクト層55,56、データ配線62,65,66,67、保護膜70及び画素電極82などを含む。
第1の絶縁基板10は、耐熱性及び透光性を有した物質、例えば透明ガラス又はプラスチックから成ってもよい。
第1の絶縁基板10上には、第1の方向、本実施形態においては、画素電極の長手方向に直交する方向(以後、横方向ともいう)に実質的に平行に配列されたゲート配線22,24及びストレージ配線28,29が形成される。ゲート配線22,24及びストレージ配線28,29は同一の層、例えば第1の絶縁基板10の上に形成できる。
ゲート配線22,24は、実質的に第1の方向に配置されてゲート信号を伝達するゲート線22及びゲート線22から突起形態で突出されたゲート電極24を含む。ゲート電極24は、後述するソース電極65及びドレイン電極66と共に薄膜トランジスタの三端子を構成する。
ストレージ配線28,29は、第1の方向にゲート配線22,24と実質的に平行に配置された水平部28と、水平部28から第2の方向、本実施形態においては、第1の方向に直交する、画素電極の長手方向(以後、縦方向ともいう)に分枝されて後述するデータ配線62,65,66,67とオーバーラップする垂直部29と、を含む。
ストレージ配線28,29は、ストレージ電圧が印加され、後述する画素電極82と共にストレージキャパシタを形成する一方、画素不良を修復する役割も果たす。
水平部28は、ゲート配線22,24、より詳しくは、ゲート線22と離隔され、ゲート線22と平行に配置される。水平部28は後述する画素電極82とオーバーラップするように配置され、これにより画素電極82と水平部28との間にはストレージキャパシタが形成される。
水平部28の少なくとも一部は、後述する画素電極82とオーバーラップしない。具体的には、水平部28は全体的にゲート線22と平行であるが、水平部28の一部には画素電極82とオーバーラップしないように画素電極82の周縁より突出した折り曲げ部(28a)が形成される。折り曲げ部(28a)は、水平部28に隣接したゲート線22側に折り曲げられるが、ゲート配線22,24及びデータ配線62,65,66,67とオーバーラップしない。折り曲げ部(28a)の形状は例えば、U字形状であってもよいが、画素電極82とオーバーラップしない限り円弧形状、V字形状などであってもよく、多様な変形が可能である。このようにストレージ配線28,29が画素電極82とオーバーラップしない折り曲げ部(28a)を含むことによって、データ線62及び画素電極82などに断線又は短絡が生じた場合に、これを効率的に修復できる。このような液晶表示装置の画素不良修復方法については詳細に後述する。
垂直部29は、前述した水平部28から実質的に第2の方向(本実施形態においては縦方向)に分枝する。具体的には、水平部28は例えば、薄膜トランジスタ基板1の長辺に平行に横方向に沿って配置され、それぞれの水平部28から複数の垂直部29が分枝する。垂直部29は、薄膜トランジスタ基板1の短辺に平行に縦方向に配置される。
垂直部29は、水平部28から分枝して、垂直部29の末端が隣接画素のゲート線22に隣接するように形成されるが、隣接画素のゲート線22と電気的に接続されないように離隔される。
垂直部29は、後述するデータ線62とオーバーラップして、データ線62の断線又は短絡の修復に用いられる。これについても本実施形態の液晶表示装置の画素不良修復方法を説明しながら詳細に説明する。
垂直部29の幅(W)は、データ線62の幅(W)より広く形成される。これによりデータ線62の修復が容易になる。垂直部29の周縁は、第2の方向(本実施形態においては縦方向)に沿って画素電極82とオーバーラップして、バックライトアセンブリ(図示せず)から照射された光が漏れないようにする。すなわち、垂直部29は、隣接する一対の画素電極82とオーバーラップする。また図4を参照すれば、垂直部29の幅(W)は、開口率が減少しないように、ブラックマトリックス120の幅(W)と同一になるように形成される。
再び図1及び図2を参照すれば、ゲート配線22,24及びストレージ配線28,29は、アルミニウム(Al)またはアルミニウム合金などのアルミニウム系列の金属、銀(Ag)または銀合金など銀系列の金属、銅(Cu)または銅合金など銅系列の金属、モリブデン(Mo)またはモリブデン合金などモリブデン系列の金属、クロム(Cr)、チタン(Ti)、タンタル(Ta)などからなってもよい。また、ゲート配線22,24及びストレージ配線28,29は、物理的性質が異なる二つの導電膜(図示せず)を含む多重膜構造を有してもよい。さらに、ゲート配線22,24及びストレージ配線28,29は、導電性有機高分子物質であるPEDOT(Poly Ethylene DiOxy Thiophene)のコーティング方法による塗布、又はインジェクト−プリンティング方法による印刷によって形成されてもよい。
第1の絶縁基板10上には酸化シリコン(SiOx)又は窒化シリコン物(SiNx)などの無機絶縁物質、又はBCB(Benzo Cyclo Butene)、アクリル系物質、ポリイミドのような有機絶縁物質から成るゲート絶縁膜30が形成され、ゲート配線22,24及びストレージ配線28,29を覆っている。
ゲート絶縁膜30上部の一部には、水素化アモルファスシリコン、多結晶シリコン又は導電性有機物質などから成るアクティブ層40が形成される。
アクティブ層40は島形、線形などのように多様な形状を有してもよく、例えば本実施形態のように島形に形成された場合、アクティブ層40はゲート電極24上でゲート電極24とオーバーラップし、後述するソース電極65及びドレイン電極66と少なくとも一部がオーバーラップする。アクティブ層40の形は、島形に限定されず多様に変形できる。アクティブ層40が線形に形成される場合、データ線62下に設けられてゲート電極24上部まで延長された形状を有してもよい。
アクティブ層40の上部には、シリサイド又はn型不純物が高濃度でドーピングされたn水素化アモルファスシリコン又はp型不純物がドーピングされたITO(酸化インジウムスズ)などの物質から作られたオーミックコンタクト層55,56が形成されてもよい。オーミックコンタクト層55,56は対を成してアクティブ層40上に設けられ、後述するソース電極65及びドレイン電極66とアクティブ層40との接触特性を良好にする。アクティブ層40とアクティブ層40上部に形成されるソース電極65及びドレイン電極66との接触特性が良好な場合には、オーミックコンタクト層55,56は省略されてもよい。
アクティブ層40及びゲート絶縁膜30上には、データ配線62,65,66,67が形成される。データ配線62,65,66,67は実質的に第2の方向(本実施形態においては縦方向)に配置される。データ配線62,65,66,67は、ゲート線22と絶縁されて交差することにより画素を定義するデータ線62、データ線62から分枝してアクティブ層40の上部まで延長されているソース電極65、及びソース電極65と分離されて対向するドレイン電極66を含む。
データ線62は、縦方向に配置されてゲート線22と交差し、データ信号が印加される。
ソース電極65は、データ線62から分枝してJ形状を有してもよく、アクティブ層40と少なくとも一部がオーバーラップする。
ドレイン電極66の一端は、J形状であるソース電極65の凹部位に設けられ、アクティブ層40と少なくとも一部がオーバーラップする。
一方、ドレイン電極66の一端から延長されて、画素電極82と電気的に接続されるドレイン電極拡張部67は、ドレイン電極66より幅が広く形成される。ドレイン電極拡張部67は、開口率を減少させないように画素領域外部に形成される。ドレイン電極66の一端からドレイン電極拡張部67に至る領域は、開口率減少を最小化するように線形に形成され、ストレージ配線28,29の水平部28とオーバーラップするように形成される。ここで、画素領域とは、ゲート配線22,24とデータ配線62,65,66,67によって定義される領域を指す。画素領域は、バックライトアセンブリから照射された光が通過する領域として理解されてもよい。従って、薄膜トランジスタ基板1の画素領域に対応するカラーフィルタ基板(図5の2参照)のカラーフィルタ(図3の130参照)領域も画素領域として理解されてもよい。
データ配線62,65,66,67はクロム、モリブデン系列の金属、タンタル及びチタンなど高融点金属から成ってもよく、高融点金属などから成る下部膜(図示せず)とその上に設けられた低抵抗物質から成る上部膜(図示せず)とから成る多層膜構造を有してもよい。多層膜構造の例としては、クロム下部膜とアルミニウム上部膜の二重膜又はアルミニウム下部膜とモリブデン上部膜の二重膜、及びモリブデン膜−アルミニウム膜−モリブデン膜の三重膜を挙げることができる。
データ線62、ドレイン電極66及び露出したアクティブ層40上には絶縁膜から成る保護膜70が形成される。ここで保護膜70は、窒化珪素又は酸化珪素から成る無機物、平坦化特性が良好であり、感光性を有する有機物又はプラズマ化学気相成長(Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition;PECVD)で形成されるa−Si:C:O及びa−Si:O:Fなどの低誘電率絶縁物質などから成る。また、保護膜70は、有機膜の優秀な特性を生かしながら露出したアクティブ層40を保護するために下部無機膜と上部有機膜の二重膜構造を有してもよい。
保護膜70には、ドレイン電極拡張部67を露出させるコンタクトホール72が形成される。
保護膜70上には、コンタクトホール72を介してドレイン電極66と電気的に接続される画素電極82が形成される。画素電極82は、一側にドレイン電極接続部(82a)が形成されており、この部位はコンタクトホール72を介してドレイン電極66、具体的には、ドレイン電極拡張部67と電気的に接続され、ドレイン電極66を介してデータ電圧が印加される。ドレイン電極接続部(82a)は、開口率が減少しないようにバックライトアセンブリから照射される光が通過する画素領域の外部に突出してもよい。
画素電極82は、ITO又はIZO(酸化インジウム亜鉛)などの透明導電体又はアルミニウムなどの反射性導電体から成ってもよい。
図4及び図5を参照すると、データ電圧が画素電極82に印加された場合、画素電極82は、カラーフィルタ基板2の共通電極140と共に電界を生成することによって画素電極82と共通電極140との間の液晶層3の液晶分子の配向を決定する。
以下、図3〜図5を参照して、本実施形態の液晶表示装置に含まれるカラーフィルタ基板2について詳細に説明する。
カラーフィルタ基板2は、第2の絶縁基板100下面に形成されたブラックマトリックス120、カラーフィルタ130、オーバーコート膜(図示せず)及び共通電極140などを含み、薄膜トランジスタ基板1と対向するように配置される。
カラーフィルタ基板2の第2の絶縁基板100は、耐熱性及び透光性を有した物質、例えば透明ガラス又はプラスチックから成ってもよい。
本実施形態の絶縁基板100上には、例えばクロム(Cr)などの不透明物質から成るブラックマトリックス120が形成され、画素領域を区画する。
ブラックマトリックス120は、第1の方向及び第2の方向にマトリックス形状に配置され、第2の方向(本実施形態においては縦方向)の幅(W)は、前述したようにストレージ配線28、29の垂直部29の幅と実質的に同一である。
ブラックマトリックス120によって区画された画素領域には、順次に赤色、緑色、青色のカラーフィルタ130が形成される。カラーフィルタ130は、互いに異なる色の光を透過させる物質から成り、特定の波長帯の光だけを通過させる役割を果たす。
カラーフィルタ130は、ストライプ、モザイク及びデルタ形状などで配置されてもよいが、本実施形態ではストライプ形状のカラーフィルタ130を例に挙げて説明する。ストライプ形状のカラーフィルタ130は、第2の方向(本実施形態においては縦方向)に同じ色のカラーフィルタ130が配置される。すなわち、第1の方向(本実施形態においては横方向)に見れば、任意のn番目(但し、nは自然数)カラーフィルタは赤色カラーフィルタであってもよく、n+1番目カラーフィルタは緑色カラーフィルタであってもよく、n+2番目カラーフィルタは青色カラーフィルタであってもよい。
カラーフィルタ130上にはオーバーコート膜が形成される。オーバーコート膜の上にはITO又はIZOなどの透明な導電物質から成る共通電極140が形成される。また、図示されてはいないが、画素電極82上には薄膜トランジスタ基板1と共通電極140とを一定間隔に維持するためのスペーサが形成されてもよく、スペーサによって維持される間隙に液晶層3が介在する。
以下、図6〜図8を参照して、本実施形態の液晶表示装置に画素不良が発生した場合における不良画素を修復する方法について詳細に説明する。図6は、図1の薄膜トランジスタ基板のデータ線に断線が発生した場合において、その修復方法を示した概略図である。図7は、図1の薄膜トランジスタ基板のデータ線に短絡が発生した場合において、その修復方法を示した概略図である。図8は、図1の薄膜トランジスタ基板の画素電極に短絡が発生した場合において、その修復方法を示した概略図である。
先ず、図1及び図2で説明したような薄膜トランジスタ基板1を提供する。薄膜トランジスタ基板1は、多数の配線及び電極から成っているため、個々の配線及び電極に断線が発生するか、或いは配線相互間又は配線と電極との間に短絡が発生する可能性がある。
具体的には、図6に示すように、データ線62に断線部位(O)が発生すれば、断線したデータ線62と接続された全ての画素が作動しない。
このような画素不良を修復するため、断線部位(O)を中心にその両側に対応するデータ線62及びストレージ配線28,29を導通させるようにレーザービームを照射してレーザー短絡部位(LS、LS)を形成する。レーザービームは、データ線62及びその下部に配置されたストレージ配線28,29を一部溶かして、レーザー短絡部位(LS、LS)を形成し、これによりデータ線62及びストレージ配線28,29が互いに電気的に接続される。その結果、データ線62によって印加された信号がデータ線62の断線部位(O)を通過せず、レーザー短絡部位(LS、LS)を経てストレージ配線28,29の垂直部29に迂回する別途の電流通路が形成されることによって、不良画素を容易に修復できる。この場合、例えば緑色波長帯(約532nm)を有したレーザービームが不良画素の修復に使用されてもよく、ストレージ配線28,29の垂直部29とデータ線62とを溶かすため約0.1mJ〜1mJのレーザービームが印加されてもよい。レーザービームスポットの直径は、例えば約1μm〜4μmであってもよい。
しかしながら、前述した工程だけを行った場合、ストレージ配線28,29にはデータ線62を経て印加されたデータ信号が伝達され、これはストレージ配線28,29に印加されたストレージ電圧信号と干渉を起こして、不良が発生していない他の画素にも影響を及ぼす可能性がある。したがって、不良が発生した画素のストレージ配線28,29を断線させることが好ましい。具体的には、ストレージ配線28,29の水平部28のうち画素電極82とオーバーラップしない部分、すなわち折り曲げ部28aにレーザービームを照射してレーザー断線部位(LC、LC)を形成することによって、ストレージ配線28,29を断線させる。この場合、断線したデータ線62の両側に隣接した画素領域の折り曲げ部28aの全てにレーザー断線部位(LC、LC)を形成する。すなわち、一つのデータ線62が断線された場合、レーザー断線部位(LC、LC)は、断線したデータ線62両側に設けられる2個の折り曲げ部28aにそれぞれ形成される。画素電極82とオーバーラップしない部分、すなわち折り曲げ部28aを断線させることによって、不良画素の修復過程で発生しうる他の画素の信号干渉現象が防止できる。
本実施形態のようにレーザービームの使用及び画素電極82とオーバーラップしない折り曲げ部(28a)を有するストレージ配線28,29によって、断線したデータ線62を修復するためCVD(Chemical Vapor Deposition)方式で断線部分を接続させる場合に比べて、データ線62とその下部に設けられたソース電極65とが短絡されることによって発生する前述した信号干渉、或いは微細データ線62の更なる断線の発生を防止できる。
図7に示すように、データ線62とストレージ配線28,29とのオーバーラップ面積が広いため、これがパーティクルなどによって短絡されるおそれが大きい。データ線62とストレージ配線28,29との間に短絡部位(S)が発生すれば、短絡したデータ線62と接続された全てのストレージ配線28,29に前述した信号干渉が起こるため、画素不良が惹起される。
従って、この場合、ストレージ配線28,29の水平部28には画素電極82の周縁より突出した折り曲げ部28aが形成されているため、短絡したデータ線62の両側に隣接した画素領域の折り曲げ部28aにレーザー断線部位(LC、LC)を形成できる。すなわち、一つのデータ線62が短絡した場合、レーザー断線部位(LC、LC)は、短絡したデータ線62の両側に設けられた2個の折り曲げ部28aにそれぞれ形成されて、ストレージ配線28,29とデータ配線62,65,66,67とに信号干渉が発生することを防止する。
このように、本実施形態の薄膜トランジスタ基板1は、ストレージ配線28,29に折り曲げ部28aが形成され、この折り曲げ部28aが画素電極82の周縁より突出しているため、データ線62とストレージ配線28,29の垂直部29とが短絡した場合、短絡部位(S)に隣接したストレージ配線28,29の水平部28にレーザー断線部位(LC、LC)を容易に形成できる。これにより短絡したデータ線62による画素不良を容易に修復できる。
図8に示すように、パーティクルなどによってストレージ配線28,29と画素電極82との間に短絡部位(S)が発生すれば、画素電極82に所望していないストレージ電圧が印加され、画素不良が惹起される。
この場合、ストレージ配線28,29の水平部28aには画素電極82の周縁より突出した折り曲げ部28aが形成されているため、短絡したストレージ配線28,29の両側に隣接した画素領域の折り曲げ部28aにレーザー断線部位(LC、LC)を形成できる。すなわち、一つのストレージ配線28,29が短絡した場合、レーザー断線部位(LC、LC)は短絡したストレージ配線28,29の両側に設けられた2個の折り曲げ部28aにそれぞれ形成される。これにより、短絡したストレージ配線28,29に接続された全ての画素に画素不良が惹起されることを防止できる。
本実施形態の薄膜トランジスタ基板1は、ストレージ配線28,29に折り曲げ部28aが形成され、この折り曲げ部28aが画素電極82の周縁より突出しているため、画素電極82とストレージ配線28,29とが短絡した場合、ストレージ配線28,29にレーザー断線部位(LC、LC)を容易に形成できる。これにより、短絡したストレージ配線28,29に接続された全ての画素に画素不良が惹起されることを防止できる。このような不良画素修復方法においては、不良が発生した画素電極82にレーザービームを照射することにより、画素電極82とゲート線22とを短絡させて不良画素をオフさせなくとも不良画素を修復できる。
以下、図9及び図10を参照して、本発明の第2の実施形態による液晶表示装置について詳細に説明する。図9は、本発明の第2の実施形態による液晶表示装置に含まれる薄膜トランジスタ基板の配置図である。図10は図9の薄膜トランジスタ基板をC−C´線に沿って切った断面図である。
説明の便宜上、実施形態1の図面に示した各部材と同一の機能を有する部材は同一符号で示し、その説明は省略または簡略化する。本実施形態による液晶表示装置は、図9及び図10に示すように、本発明の実施形態1による液晶表示装置と以下を除外しては基本的に同一な構造を有する。すなわち、本実施形態による液晶表示装置は、隣接画素のストレージ配線28,29を互いに電気的に接続させるブリッジ電極84をさらに含む。
本実施形態のストレージ配線28,29の垂直部29末端には突出部29aが形成される。突出部29aは、画素電極82´側に突出しており、隣接画素領域のストレージ配線28,29の折り曲げ部28aと共に垂直線上に設けられる。
ブリッジ電極84は、ゲート配線22,24を中心に隣接する一対のストレージ配線28,29を電気的に接続する。具体的には、ブリッジ電極84は、隣接する一対のストレージ配線28,29のうち何れか一つの水平部28と一対のストレージ配線28,29のうち他の一つの垂直部29とを電気的に接続する。ブリッジ電極84は、ブリッジ電極コンタクトホール74,76によってストレージ配線28,29の折り曲げ部28aと突出部29aとを電気的に接続させる。これにより、ストレージ配線28,29がブリッジ電極84によって互いに電気的に接続されるため、画素不良を修復するために何れか一つのストレージ配線28,29を断線させても、他の画素に信号遅延が惹起されることを防止できる。これについては後述する。
ブリッジ電極84は、ブリッジ電極84に隣接する画素電極82´と実質的に同一な物質から成り、実質的に同一な層に形成される。具体的には、画素電極82´がITO又はIZOなどのような透明導電性物質から成る場合、ブリッジ電極84もITO又はIZO電極から成る。
ブリッジ電極84は、全ての画素領域毎に形成されてもよい。言い換えれば、画素領域は対応するカラーフィルタ(図3の130参照)の種類に応じて赤色画素領域、緑色画素領域又は青色画素領域に区画され、ブリッジ電極84はこのような画素領域全てに形成されてもよい。ブリッジ電極84が形成された画素領域の画素電極82´は、ブリッジ電極84が形成されない画素領域の画素電極82に比べて面積が狭くてもよい。すなわち、ブリッジ電極84が形成された画素領域において、画素電極82´は、ブリッジ電極84と電気的に接続されないように隅の一部が切断されてブリッジ電極84と離隔される。ブリッジ電極84は全ての画素領域毎に形成されてもよいが、前述した赤色画素領域、緑色画素領域及び青色画素領域のうち何れか一つ又は二つの画素領域にだけ形成されてもよい。何れか一つの画素領域は、輝度貢献度(contribution to luminance)が最小である青色画素領域であってもよい。ブリッジ電極84が輝度貢献度が最小である青色画素領域毎に形成されることによって、ブリッジ電極84形成による輝度減少を最小化でき、カラーフィルタ基板(図3の2参照)に形成されるスペーサがブリッジ電極84に対応する部分に形成されることによる開口率減少も防止できる。
以下、図11〜図14を参照して、本実施形態の液晶表示装置に画素不良が発生した場合における不良画素を修復する方法について詳細に説明する。図11は、図9の薄膜トランジスタ基板のデータ線に断線が発生した場合において、その修復方法を示した概略図である。図12は、図9の薄膜トランジスタ基板のデータ線に短絡が発生した場合において、その修復方法を示した概略図である。図13は、図9の薄膜トランジスタ基板の画素電極に短絡が発生した場合において、その修復方法を示した概略図である。図14は、図9の薄膜トランジスタ基板のストレージ配線に断線が発生した場合において、ブリッジ電極の役割を示した概略図である。
先ず、図9及び図10で説明したようなブリッジ電極84が形成された薄膜トランジスタ基板1´を提供する。
図11に示すように、データ線62に断線部位(O´)が発生すれば、画素不良が発生する。これを修復するため、断線部位(O´)を中心にその両側に対応するデータ線62及びストレージ配線28,29の垂直部29にレーザービームを照射してレーザー短絡部位(LS´、LS´)を形成し、データ線62とストレージ配線28,29とを互いに導通させる。さらに、断線したデータ線62の両側に隣接したストレージ配線28,29の折り曲げ部28aにレーザービームを照射して、レーザー断線部位(LC´、LC´)を形成する。横方向に接続されたストレージ配線28,29は同一なストレージ電圧信号が印加されるため、何れか一つの画素領域のストレージ配線28,29にレーザー断線部位(LC´、LC´)が存在すれば、断線部位が存在する画素領域よりも後の画素領域には第1の方向に接続されたストレージ配線28,29のストレージ電圧信号が伝達されない。しかしながら、レーザー断線部位(LC´、LC´)を含むストレージ配線28,29は、すぐ次の行に配置されたストレージ配線28,29とブリッジ電極84によって電気的に接続されているため、次の行に配置されたストレージ配線28,29からストレージ電圧信号が印加される。このため、レーザー断線部位(LC´、LC´)が存在するストレージ配線28,29に接続された画素領域全体に信号遅延が発生することを防止できる。
図12に示すように、データ線62とストレージ配線28,29との間に短絡部位(S´)が発生すれば、短絡したデータ線62と接続された全てのストレージ配線28,29に信号干渉が起こるため、画素不良が惹起される。このような画素不良を修復するため、短絡したデータ線62の両側に設けられる2個の折り曲げ部28aにレーザー断線部位(LC´、LC´)をそれぞれ形成し、ストレージ配線28,29とデータ配線62,65,66,67とに信号干渉が発生することを防止する。ブリッジ電極84によってストレージ配線28,29が互いに電気的に接続されているため、何れか一つの画素領域にレーザー断線部位(LC´、LC´)が存在しても、その画素領域以後の他の画素領域に信号遅延が惹起されないことは、図11を参照して説明したとおりである。
図13に示すように、ストレージ配線28,29と画素電極82´との間に短絡部位(S´)が発生した場合、短絡したストレージ配線28,29の両側に隣接した画素領域の折り曲げ部28aにレーザー断線部位(LC´、LC´)を形成する。ブリッジ電極84によってストレージ配線28,29が互いに電気的に接続されているため、何れか一つの画素領域にレーザー断線部位(LC´、LC´)が存在しても、その画素領域以後の他の画素領域に信号遅延が惹起されないことは図11を参照して説明したとおりである。
図14に示すように、ストレージ配線28,29、例えば水平部28に断線部位(O´)が発生した場合、断線部位(O´)が存在する画素領域には信号遅延が起こるが、ブリッジ電極84によってn番目の行のストレージ配線28、29とn+1番目の行のストレージ配線28,29とが互いに電気的に接続されているため、n番目の行のストレージ配線28,29にはn+1番目の行のストレージ配線28,29に印加されたストレージ電圧信号が伝達される。従って、n番目の行の何れかの画素領域に断線部位(O´)が存在しても、同一行にある他の画素領域にストレージ電圧信号が伝達されない信号遅延は惹起されない。
以上、添付した図面を参照して本発明の実施形態を説明したが、当業者であれば、本発明は本発明の技術的思想や必須的な特徴を変更せずに他の具体的な形態で実施されうることを理解することができる。したがって、上述した好適な実施形態は、例示的なものであり、限定的なものではないと理解されるべきである。
本発明の第1の実施形態による液晶表示装置に含まれる薄膜トランジスタ基板の配置図である。 図1の薄膜トランジスタ基板をA−A´線に沿って切った断面図である。 本発明の第1の実施形態による液晶表示装置に含まれるカラーフィルタ基板の配置図である。 本発明の第1の実施形態による液晶表示装置の配置図である。 図4の液晶表示装置をB−B´線に沿って切った断面図である。 図1の薄膜トランジスタ基板のデータ線に断線が発生した場合において、その修復方法を示した概略図である。 図1の薄膜トランジスタ基板のデータ線に短絡が発生した場合において、その修復方法を示した概略図である。 図1の薄膜トランジスタ基板の画素電極に短絡が発生した場合において、その修復方法を示した概略図である。 本発明の第2の実施形態による液晶表示装置に含まれる薄膜トランジスタ基板の配置図である。 図9の薄膜トランジスタ基板をC−C´線に沿って切った断面図である。 図9の薄膜トランジスタ基板のデータ線に断線が発生した場合において、その修復方法を示した概略図である。 図9の薄膜トランジスタ基板のデータ線に短絡が発生した場合において、その修復方法を示した概略図である。 図9の薄膜トランジスタ基板の画素電極に短絡が発生した場合において、その修復方法を示した概略図である。 図9の薄膜トランジスタ基板のストレージ配線に断線が発生した場合におけるブリッジ電極の役割を示した概略図である。
符号の説明
1 薄膜トランジスタ基板
2 カラーフィルタ基板
3 液晶層
10 第1の絶縁基板
22 ゲート線
24 ゲート電極
28 水平部
28a 折り曲げ部
29 垂直部
29a 突出部
30 ゲート絶縁膜
40 アクティブ層
55,56 オーミックコンタクト層
62 データ線
65 ソース電極
66 ドレイン電極
67 ドレイン電極拡張部
70 保護膜
72 コンタクトホール
74,76 ブリッジ電極コンタクトホール
82,82´ 画素電極
84 ブリッジ電極
100 第2の絶縁基板
120 ブラックマトリックス
130 カラーフィルタ
140 共通電極

Claims (21)

  1. 第1の絶縁基板と、
    前記第1の絶縁基板上に第1の方向に実質的に平行に配置されたゲート配線及びストレージ配線と、
    前記ゲート配線及び前記ストレージ配線と絶縁されて交差し、実質的に第2の方向に配置されたデータ配線と、
    前記ゲート配線と前記データ配線とによって定義された画素領域上に形成された画素電極と、
    を含み、
    前記ストレージ配線は、実質的に前記第1の方向に配置され且つ前記画素電極とオーバーラップしない水平部と、前記水平部から実質的に前記第2の方向に分枝して、前記データ配線とオーバーラップする垂直部と、を含むことを特徴とする液晶表示装置。
  2. 前記水平部には、前記画素電極とオーバーラップしない折り曲げ部が形成されることを特徴とする請求項1に記載の液晶表示装置。
  3. 前記折り曲げ部は、前記ゲート配線及び前記データ配線とオーバーラップしないことを特徴とする請求項2に記載の液晶表示装置。
  4. 前記折り曲げ部は、U字形状であることを特徴とする請求項3に記載の液晶表示装置。
  5. 前記垂直部の幅は、前記データ配線の幅より広いことを特徴とする請求項1に記載の液晶表示装置。
  6. 前記垂直部は、前記第2の方向に沿って前記画素電極とオーバーラップすることを特徴とする請求項5に記載の液晶表示装置。
  7. 前記垂直部は、前記垂直部に隣接する一対の前記画素電極とオーバーラップすることを特徴とする請求項6に記載の液晶表示装置。
  8. 前記データ線に形成された断線部位と、
    前記断線部位の両側に対応する前記データ線及び前記垂直部に形成されたレーザー短絡部位と、
    前記レーザー短絡部位に隣接した画素領域に位置し、前記画素電極とオーバーラップしない一対の前記水平部に形成された一対のレーザー断線部位と、をさらに含むことを特徴とする請求項2に記載の液晶表示装置。
  9. 前記データ線と前記垂直部との相互間に形成された短絡部位と、
    前記短絡部位に隣接した画素領域に位置し、前記画素電極とオーバーラップしない一対の前記水平部に形成された一対のレーザー断線部位と、をさらに含むことを特徴とする請求項2に記載の液晶表示装置。
  10. 前記ストレージ配線と前記画素電極との相互間に形成された短絡部位と、
    前記短絡部位に隣接した画素領域に位置し、前記画素電極とオーバーラップしない一対の前記水平部に形成された一対のレーザー断線部位と、をさらに含むことを特徴とする請求項2に記載の液晶表示装置。
  11. 前記ゲート配線を中心に隣接する一対の前記ストレージ配線を電気的に接続するブリッジ電極をさらに含むことを特徴とする請求項1に記載の液晶表示装置。
  12. 前記ブリッジ電極は、前記一対のストレージ配線のうち何れか一つの水平部と前記一対のストレージ配線のうち他の一つの垂直部とを電気的に接続することを特徴とする請求項11に記載の液晶表示装置。
  13. 前記ブリッジ電極は、前記画素電極と実質的に同一な物質から成り、実質的に同一な層に形成されることを特徴とする請求項11に記載の液晶表示装置。
  14. 前記ブリッジ電極は、ITO又はIZOから成ることを特徴とする請求項13に記載の液晶表示装置。
  15. 前記画素領域は、前記画素領域に対応するカラーフィルタの種類に応じて赤色画素領域、緑色画素領域又は青色画素領域に定義され、前記ブリッジ電極は、前記青色画素領域上に形成されることを特徴とする請求項11に記載の液晶表示装置。
  16. 前記第1の絶縁基板に対向する第2の絶縁基板と、
    前記第2の絶縁基板上に形成されて前記画素領域を区画するブラックマトリックスと、をさらに含み、
    前記垂直部の幅は、前記ブラックマトリックスの幅と実質的に同一なことを特徴とする請求項1に記載の液晶表示装置。
  17. 前記データ線に形成された断線部位と、
    前記断線部位の両側に対応する前記データ線及び前記垂直部に形成されたレーザー短絡部位と、
    前記レーザー短絡部位に隣接した画素領域に位置し、前記画素電極とオーバーラップしない一対の前記水平部に形成された一対のレーザー断線部位と、をさらに含み、
    前記レーザー断線部位が形成された一対の前記水平部のうち少なくとも一つは、前記ブリッジ電極と電気的に接続されることを特徴とする請求項11に記載の液晶表示装置。
  18. 前記データ線と前記垂直部との相互間に形成された短絡部位と、
    前記短絡部位に隣接した画素領域に位置し、前記画素電極とオーバーラップしない一対の前記水平部に形成された一対のレーザー断線部位と、をさらに含み、
    前記レーザー断線部位が形成された一対の前記水平部のうち少なくとも一つは、前記ブリッジ電極と電気的に接続されることを特徴とする請求項11に記載の液晶表示装置。
  19. 前記ストレージ配線と前記画素電極との相互間に形成された短絡部位と、
    前記短絡部位に隣接した画素領域に位置し、前記画素電極とオーバーラップしない一対の前記水平部に形成された一対のレーザー断線部位と、をさらに含み、
    前記レーザー断線部位が形成された一対の前記水平部のうち少なくとも一つは、前記ブリッジ電極と電気的に接続されることを特徴とする請求項11に記載の液晶表示装置。
  20. 請求項1の前記薄膜トランジスタ基板を提供し、
    前記水平部のうち前記画素電極とオーバーラップしない部分において前記ストレージ配線を断線させること、
    を含むことを特徴とする液晶表示装置の不良画素修復方法。
  21. 前記データ線が断線した場合、前記断線した部位の両側に対応する前記データ線及び前記ストレージ配線を導通させることをさらに含むことを特徴とする請求項20に記載の液晶表示装置の不良画素修復方法。
JP2007213280A 2006-11-03 2007-08-20 液晶表示装置及びその不良画素修復方法 Active JP5190625B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR10-2006-0108410 2006-11-03
KR1020060108410A KR101306239B1 (ko) 2006-11-03 2006-11-03 액정 표시 장치 및 그의 불량 화소 복구 방법

Related Child Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012194452A Division JP5571750B2 (ja) 2006-11-03 2012-09-04 液晶表示装置及びその不良画素修復方法
JP2013002936A Division JP5796023B2 (ja) 2006-11-03 2013-01-10 液晶表示装置及びその不良画素修復方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2008116912A true JP2008116912A (ja) 2008-05-22
JP5190625B2 JP5190625B2 (ja) 2013-04-24

Family

ID=39416563

Family Applications (3)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007213280A Active JP5190625B2 (ja) 2006-11-03 2007-08-20 液晶表示装置及びその不良画素修復方法
JP2012194452A Active JP5571750B2 (ja) 2006-11-03 2012-09-04 液晶表示装置及びその不良画素修復方法
JP2013002936A Active JP5796023B2 (ja) 2006-11-03 2013-01-10 液晶表示装置及びその不良画素修復方法

Family Applications After (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012194452A Active JP5571750B2 (ja) 2006-11-03 2012-09-04 液晶表示装置及びその不良画素修復方法
JP2013002936A Active JP5796023B2 (ja) 2006-11-03 2013-01-10 液晶表示装置及びその不良画素修復方法

Country Status (4)

Country Link
US (6) US7580108B2 (ja)
JP (3) JP5190625B2 (ja)
KR (1) KR101306239B1 (ja)
CN (2) CN101174067B (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013020261A (ja) * 2006-11-03 2013-01-31 Samsung Electronics Co Ltd 液晶表示装置及びその不良画素修復方法

Families Citing this family (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101261450B1 (ko) * 2006-02-06 2013-05-10 삼성디스플레이 주식회사 액정 표시 장치와 그 제조 방법
KR20100035318A (ko) * 2008-09-26 2010-04-05 삼성전자주식회사 액정 표시 장치
EP2450744A4 (en) 2009-06-30 2013-02-06 Sharp Kk LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE
KR101634635B1 (ko) * 2009-10-19 2016-07-11 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
KR101225444B1 (ko) * 2009-12-08 2013-01-22 엘지디스플레이 주식회사 액정표시장치 및 그의 제조방법과 그의 리페어 방법
KR101677282B1 (ko) * 2009-12-11 2016-11-17 엘지디스플레이 주식회사 박막 트랜지스터 액정표시장치 및 이의 제조방법
KR101761276B1 (ko) * 2010-01-08 2017-07-26 삼성디스플레이 주식회사 액정 표시 장치 및 이의 리페어 방법
KR20110089915A (ko) 2010-02-02 2011-08-10 삼성전자주식회사 표시 기판, 이의 제조 방법 및 표시 패널
TWI409559B (zh) 2010-08-27 2013-09-21 Chunghwa Picture Tubes Ltd 液晶顯示面板
CN101943835A (zh) * 2010-09-07 2011-01-12 华映光电股份有限公司 液晶显示面板的修补结构及其修补方法
KR101286094B1 (ko) * 2010-09-15 2013-07-15 엘지디스플레이 주식회사 유기전계발광소자의 제조 방법 및 수리방법
KR101820032B1 (ko) 2010-09-30 2018-01-19 삼성디스플레이 주식회사 박막 트랜지스터 기판, 액정 표시 장치 및 이들의 리페어 방법
US20130120230A1 (en) * 2011-11-14 2013-05-16 Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co., Ltd. Flat Display Panel And A Method Of Repairing The Same
CN102508384A (zh) * 2011-11-14 2012-06-20 深圳市华星光电技术有限公司 平面显示面板及其修复方法
CN103135297B (zh) * 2011-11-30 2016-03-16 上海中航光电子有限公司 一种薄膜晶体管液晶显示装置及其断线数据线修复方法
KR102395211B1 (ko) * 2013-12-27 2022-05-10 엘지디스플레이 주식회사 유기발광표시장치 및 그의 제조방법
KR20150078308A (ko) * 2013-12-30 2015-07-08 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치 및 그 리페어 방법
CN104143309A (zh) * 2014-07-24 2014-11-12 京东方科技集团股份有限公司 一种阵列基板、显示面板及其修复方法
CN104282624B (zh) 2014-10-31 2018-06-08 京东方科技集团股份有限公司 阵列基板及其制备方法、显示装置
CN104698674B (zh) * 2015-03-30 2017-08-29 京东方科技集团股份有限公司 一种显示面板和显示装置
CN105140126A (zh) * 2015-09-01 2015-12-09 昆山龙腾光电有限公司 开关元件的制造方法及阵列基板
KR102542186B1 (ko) * 2016-04-04 2023-06-13 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
KR20180063937A (ko) 2016-12-02 2018-06-14 삼성디스플레이 주식회사 표시 패널 및 이를 리페어하기 위한 방법
CN108254988B (zh) * 2018-03-19 2021-01-26 Tcl华星光电技术有限公司 断线修复方法
US20210320151A1 (en) * 2018-09-11 2021-10-14 Sharp Kabushiki Kaisha Light-emitting device
CN109541868B (zh) * 2018-12-29 2022-04-26 成都中电熊猫显示科技有限公司 修正方法、装置和存储介质
JP7047861B2 (ja) 2020-05-07 2022-04-05 セイコーエプソン株式会社 電気光学装置および電子機器
CN114563893B (zh) 2020-11-27 2024-03-08 福州京东方光电科技有限公司 一种显示基板的维修方法、显示基板及显示装置
CN112748615B (zh) * 2021-01-04 2022-11-29 成都中电熊猫显示科技有限公司 阵列基板及阵列基板的修复方法

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03171034A (ja) * 1989-11-30 1991-07-24 Toshiba Corp 液晶表示装置及びその製造方法
JPH05241192A (ja) * 1992-02-27 1993-09-21 Sanyo Electric Co Ltd 液晶表示装置
JPH08320466A (ja) * 1995-03-17 1996-12-03 Sharp Corp アクティブマトリクス基板及びその欠陥修正方法
JPH10123563A (ja) * 1996-10-17 1998-05-15 Sharp Corp 液晶表示装置およびその欠陥修正方法
JPH10232408A (ja) * 1997-02-20 1998-09-02 Fujitsu Ltd 液晶表示パネル、液晶表示装置及びその製造方法
JPH10260430A (ja) * 1997-03-19 1998-09-29 Advanced Display:Kk Tft液晶表示装置
JPH1138449A (ja) * 1997-01-31 1999-02-12 Fujitsu Ltd 薄膜トランジスタマトリクス基板及びその製造方法
JP2000292803A (ja) * 1999-04-12 2000-10-20 Hitachi Ltd 液晶表示装置
JP2001194688A (ja) * 1999-11-05 2001-07-19 Samsung Electronics Co Ltd 液晶表示装置用薄膜トランジスタ基板
JP2006106660A (ja) * 2004-10-06 2006-04-20 Samsung Electronics Co Ltd 薄膜トランジスタ表示板及びこれを含む液晶表示装置

Family Cites Families (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0356942A (ja) * 1989-07-26 1991-03-12 Hitachi Ltd 液晶表示装置
JPH07113731B2 (ja) * 1990-08-03 1995-12-06 カシオ計算機株式会社 液晶表示素子
JPH07113731A (ja) 1993-10-15 1995-05-02 Mutou Kagaku Yakuhin Kk プレパラート作製用プレート
JPH08201847A (ja) * 1995-01-25 1996-08-09 Hitachi Ltd 液晶表示装置
KR0149300B1 (ko) 1995-05-26 1998-10-15 김광호 복수 개의 채널 영역을 가진 박막 트랜지스터가 형성되어 있는 액정 디스플레이 패널 및 그 제조 방법
JP3491079B2 (ja) * 1996-06-05 2004-01-26 株式会社アドバンスト・ディスプレイ 液晶表示装置の修復方法
JPH10239699A (ja) 1997-02-25 1998-09-11 Advanced Display:Kk 液晶表示装置
JP3491131B2 (ja) * 1998-01-19 2004-01-26 セイコーエプソン株式会社 液晶装置及び電子機器
TWI250337B (en) 1998-02-09 2006-03-01 Seiko Epson Corp An electro-optical apparatus and electronic appliances
KR100312753B1 (ko) * 1998-10-13 2002-04-06 윤종용 광시야각액정표시장치
JP2001100249A (ja) 1999-09-28 2001-04-13 Matsushita Electric Ind Co Ltd 液晶表示パネルとその製造方法
JP2001281690A (ja) * 2000-03-31 2001-10-10 Fujitsu Ltd 液晶表示装置及びその修復方法
JP3864036B2 (ja) 2000-05-23 2006-12-27 セイコーエプソン株式会社 液晶表示装置
JP2001332742A (ja) 2000-05-25 2001-11-30 Casio Comput Co Ltd 薄膜トランジスタ基板
JP2002031816A (ja) 2000-07-14 2002-01-31 Matsushita Electric Ind Co Ltd 液晶表示装置
JP2002162644A (ja) * 2000-11-27 2002-06-07 Hitachi Ltd 液晶表示装置
JP4709375B2 (ja) * 2000-12-22 2011-06-22 東芝モバイルディスプレイ株式会社 液晶表示素子
KR100366770B1 (ko) * 2001-04-06 2003-01-06 삼성전자 주식회사 액정 표시 장치
KR100740938B1 (ko) 2001-08-30 2007-07-19 삼성전자주식회사 레이저 조사 표지를 가지는 박막 트랜지스터 기판
KR100840313B1 (ko) * 2001-10-12 2008-06-20 삼성전자주식회사 광시야각 액정 표시 장치 및 그 기판
JP4551049B2 (ja) 2002-03-19 2010-09-22 三菱電機株式会社 表示装置
KR100876403B1 (ko) 2002-08-27 2008-12-31 엘지디스플레이 주식회사 횡전계방식 액정 표시 장치 및 그 제조방법
KR100867750B1 (ko) * 2002-09-27 2008-11-10 삼성전자주식회사 액정 표시 장치
US7372528B2 (en) * 2003-06-09 2008-05-13 Samsung Electronics Co., Ltd. Array substrate, method of manufacturing the same and liquid crystal display apparatus having the same
KR100980016B1 (ko) * 2003-08-04 2010-09-03 삼성전자주식회사 박막 트랜지스터 표시판
KR100966438B1 (ko) * 2003-10-30 2010-06-28 엘지디스플레이 주식회사 스토리지 배선의 저항을 감소시킨 액정표시패널
KR20050105591A (ko) 2004-04-30 2005-11-04 엘지.필립스 엘시디 주식회사 액정표시소자 및 그 제조방법
US8400599B2 (en) 2006-08-16 2013-03-19 Samsung Display Co., Ltd. Liquid crystal display panel having a light blocking electrode
KR101306239B1 (ko) * 2006-11-03 2013-09-17 삼성디스플레이 주식회사 액정 표시 장치 및 그의 불량 화소 복구 방법

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03171034A (ja) * 1989-11-30 1991-07-24 Toshiba Corp 液晶表示装置及びその製造方法
JPH05241192A (ja) * 1992-02-27 1993-09-21 Sanyo Electric Co Ltd 液晶表示装置
JPH08320466A (ja) * 1995-03-17 1996-12-03 Sharp Corp アクティブマトリクス基板及びその欠陥修正方法
JPH10123563A (ja) * 1996-10-17 1998-05-15 Sharp Corp 液晶表示装置およびその欠陥修正方法
JPH1138449A (ja) * 1997-01-31 1999-02-12 Fujitsu Ltd 薄膜トランジスタマトリクス基板及びその製造方法
JPH10232408A (ja) * 1997-02-20 1998-09-02 Fujitsu Ltd 液晶表示パネル、液晶表示装置及びその製造方法
JPH10260430A (ja) * 1997-03-19 1998-09-29 Advanced Display:Kk Tft液晶表示装置
JP2000292803A (ja) * 1999-04-12 2000-10-20 Hitachi Ltd 液晶表示装置
JP2001194688A (ja) * 1999-11-05 2001-07-19 Samsung Electronics Co Ltd 液晶表示装置用薄膜トランジスタ基板
JP2006106660A (ja) * 2004-10-06 2006-04-20 Samsung Electronics Co Ltd 薄膜トランジスタ表示板及びこれを含む液晶表示装置

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013020261A (ja) * 2006-11-03 2013-01-31 Samsung Electronics Co Ltd 液晶表示装置及びその不良画素修復方法
JP2013080260A (ja) * 2006-11-03 2013-05-02 Samsung Display Co Ltd 液晶表示装置及びその不良画素修復方法
US8976331B2 (en) 2006-11-03 2015-03-10 Samsung Display Co., Ltd. Liquid crystal display device and method of repairing bad pixels therein
US9164344B2 (en) 2006-11-03 2015-10-20 Samsung Display Co., Ltd. Liquid crystal display device and method of repairing bad pixels therein
US9268187B2 (en) 2006-11-03 2016-02-23 Samsung Display Co., Ltd. Liquid crystal display device and method of repairing bad pixels therein

Also Published As

Publication number Publication date
KR20080040440A (ko) 2008-05-08
KR101306239B1 (ko) 2013-09-17
CN102176101B (zh) 2014-07-09
JP2013080260A (ja) 2013-05-02
CN101174067B (zh) 2011-06-15
US8400609B2 (en) 2013-03-19
US20150153601A1 (en) 2015-06-04
US20110317107A1 (en) 2011-12-29
US9268187B2 (en) 2016-02-23
US8976331B2 (en) 2015-03-10
CN102176101A (zh) 2011-09-07
US20090290086A1 (en) 2009-11-26
JP5571750B2 (ja) 2014-08-13
US20080117349A1 (en) 2008-05-22
JP5796023B2 (ja) 2015-10-21
JP5190625B2 (ja) 2013-04-24
US8045075B2 (en) 2011-10-25
CN101174067A (zh) 2008-05-07
JP2013020261A (ja) 2013-01-31
US7580108B2 (en) 2009-08-25
US20130215350A1 (en) 2013-08-22
US20150316826A1 (en) 2015-11-05
US9164344B2 (en) 2015-10-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5190625B2 (ja) 液晶表示装置及びその不良画素修復方法
KR101216688B1 (ko) 박막 트랜지스터 기판 및 이를 포함하는 액정 표시 장치
JP5328117B2 (ja) 液晶表示装置
EP1865372A1 (en) Repair method for an active matrix display substrate using laser cutting and laser-assisted chemical vapour deposition
JP5317399B2 (ja) 液晶表示装置
KR20140047649A (ko) 액정 표시 장치
KR20120080885A (ko) 액정 표시 장치
JP2005018080A (ja) 薄膜トランジスタ表示板及びこれを含む液晶表示装置の修理方法
US20070064167A1 (en) Liquid crystal display and method of repairing bad pixels
KR101803798B1 (ko) 액정표시장치
KR20130095714A (ko) 액정표시장치
CN1893091A (zh) 薄膜面板及其制造方法
KR101233356B1 (ko) 박막 트랜지스터 표시판 및 이의 리페어 방법
KR20130043131A (ko) 액정표시장치
KR101715836B1 (ko) 액정표시장치
KR101595828B1 (ko) 액정표시장치
KR20070080349A (ko) 액정 표시 장치

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20100730

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110617

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20120531

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120605

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120904

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20121211

A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712

Effective date: 20121213

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20130110

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Ref document number: 5190625

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20160208

Year of fee payment: 3

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R3D02

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250