JP2008058123A - 自動分析装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】標準試料を設置時、設置された標準試料を識別して、当該標準試料に依頼されている試薬から、バッファに設置してある精度管理試料を自動的に分析装置に供給し、当該使用試薬に対して、標準試料の測定の直ぐ後に精度管理試料の測定を行う。さらに、当該使用するバッファ内の精度管理試料の残量から、依頼に対して試料切れが生じる恐れがあると判断された場合に、事前に警告表示し、精度管理試料の補充を促す。
【選択図】図3
Description
61,71,81を有している。
ID読取部2は、全体管理用コンピュータ11に接続されている。コンピュータ11には、更に必要な情報を入力する入出力装置を備えた操作部18および分析結果を表示する表示部19が接続されている。
50は、反応ディスク49の回転により、第1の試薬分注位置に移動され、そこで、その反応容器50には第1の試薬ディスク43に保持されている第1の試薬41が、第1の試薬ピペッタ45により分注される。
CONTROL3が格納されている。
CONTROL1の精度管理試料を選択する。
11…全体管理用コンピュータ、12,13,14,15,16,17…分析モジュール用コンピュータ、18…操作部、19…表示部、51,61,71,81…引込線、91…バッファ部。
Claims (7)
- 生体サンプルを分析する分析ユニットと、
生体サンプルを前記分析ユニットに搬送するサンプル搬送装置と、
を備えた自動分析装置において、
試薬に対して標準試料と精度管理試料を予め登録する登録手段と、
前記標準試料の分析依頼が出されたことに伴い、前記登録手段に該標準試料と組で登録されている精度管理試料の分析を自動的に実行するよう指示する制御手段を備えたことを特徴とする自動分析装置。 - 請求項1記載の自動分析装置において、
前記サンプル搬送装置に前記分析ユニットが複数台接続されていることを特徴とする自動分析装置。 - 請求項1または2記載の自動分析装置において、
前記標準試料および精度管理試料は、前記サンプル搬送装置に任意の標準試料または精度管理試料を供給できるバッファ上に載置されていることを特徴とする自動分析装置。 - 請求項1記載の自動分析装置において、
前記制御手段により前記精度管理試料の測定指示が出された際、当該精度管理試料の測定開始前に、対象となる試薬名,測定指示が出された精度管理試料の名前、精度管理試料の使用量の少なくといずれかを出力する手段を備えたことを特徴とする自動分析装置。 - 請求項4記載の自動分析装置において、
前記バッファに載置された精度管理試料の残量を記憶する記憶手段を備え、
前記制御手段により前記精度管理試料の測定指示が出された際、当該精度管理試料の測定開始前に、前記記憶手段に記憶された精度管理試料の残量と、精度管理試料の使用量を比較して、精度管理試料が不足する際には、警告を出力する手段を備えたことを特徴とする自動分析装置。 - 請求項5記載の自動分析装置において、
前記登録手段に同一の試薬に対して複数の精度管理試料が登録されている場合は、不足しない精度管理試料を選択して精度管理試料を測定するように制御する制御手段を備えたことを特徴とする自動分析装置。 - 請求項1記載の自動分析装置において、
自動的に精度管理試料の依頼を行うか、手動で精度管理試料測定の依頼を行うかを予め登録する登録手段を備えたことを特徴とする自動分析装置。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006234831A JP2008058123A (ja) | 2006-08-31 | 2006-08-31 | 自動分析装置 |
CN2007101403419A CN101135692B (zh) | 2006-08-31 | 2007-08-09 | 自动分析装置 |
EP07016194A EP1895307A1 (en) | 2006-08-31 | 2007-08-17 | Automated analyzer |
US11/841,272 US20080056944A1 (en) | 2006-08-31 | 2007-08-20 | Automated analyzer |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006234831A JP2008058123A (ja) | 2006-08-31 | 2006-08-31 | 自動分析装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008058123A true JP2008058123A (ja) | 2008-03-13 |
Family
ID=38779578
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006234831A Pending JP2008058123A (ja) | 2006-08-31 | 2006-08-31 | 自動分析装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20080056944A1 (ja) |
EP (1) | EP1895307A1 (ja) |
JP (1) | JP2008058123A (ja) |
CN (1) | CN101135692B (ja) |
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---|---|
EP1895307A1 (en) | 2008-03-05 |
CN101135692B (zh) | 2011-01-12 |
CN101135692A (zh) | 2008-03-05 |
US20080056944A1 (en) | 2008-03-06 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20081224 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20081224 |
|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20090216 |
|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20110301 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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A521 | Written amendment |
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A711 | Notification of change in applicant |
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|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20110516 |
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A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110628 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20111213 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120301 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20120626 |