JP2007149240A - 光ディスク装置および光ディスク記録方法 - Google Patents

Abstract

【課題】試し書き要否の判断をより的確に行い、不要な試し書き処理をなくし、データ転送レートの低下を防止すること。
【解決手段】制御回路９は、記録後のデータを再生しエラーを検出した場合、再生した信号のエンベロープのトップレベルＶｔｏｐを予め定めた欠陥検出用閾値Ｖｔｈと比較する。比較の結果、Ｖｔｏｐ＞Ｖｔｈである場合は試し書き処理を実施し、Ｖｔｏｐ＜Ｖｔｈである場合は試し書き処理を実施しない。ここに閾値Ｖｔｈのレベルは、エンベロープのトップ値の時間平均レベルとボトム値の時間平均レベルの間に設定する。
【選択図】図３

Description

本発明は、光ディスクにデータを記録する際に、試し書きを効率的に行う光ディスク装置および光ディスク記録方法に関する。

従来、光ディスクにデータを記録する際、記録直後に記録したデータの再生を行い、正しくデータが記録されたかどうかをチェックしている（ベリファイ動作）。データが正しく読み出されれば記録ＯＫとし、正しく読み出せない場合（エラー発生時）は、リトライ処理（再記録）を行う。また、リトライ処理においては、必要に応じ記録条件最適化のための試し書き処理を行う。試し書きでは、記録時のレーザパワーを変えてテスト信号を記録し、それを再生した品質が目標値となるような記録パワー（最適値）を求めて設定し直すものである。

リトライ処理や試し書き処理を行う条件に関し、特許文献１には、記録品質が異常であると判断した場合、最適記録パワー値の検索を下限値を初期値として実行し、高パワー記録による記録面の劣化を抑えることが記載される。また特許文献２には、記録したデータを読み出し、信号波形のアシンメトリ値または振幅値が所定の範囲内にあるか否かでレーザパワーが適正か否かを判定し、適正でないと判定した場合、記録レーザパワーを変化させてリトライ動作を実行することが記載される。

特開平１１−１５４３３０号公報 特開２０００−２９８８３３号公報

上記リトライ処理の一環として行う試し書き処理は、実際にテスト信号を記録レベルを変化させて記録及び再生するものであり、そのために少なからぬ時間を要する。データ記録中に試し書き処理を実行すると、記録データの転送レートの低下を招き、リアルタイムデータ記録などでは支障の生じる場合もありえる。よって、試し書き処理は、必要最小限に留めるべきである。例えば、ディスクに欠陥が存在していてそれが原因でエラーが発生したような場合、記録パワーの設定の問題ではないので、試し書きで最適パワーを求めることは意味がなく不要である。このように、試し書き処理が必要か否かの判断はより正確に行う必要がある。

上記特許文献１や２では、記録品質、アシンメトリ、振幅値などの異常を検出したら、リトライ動作や試し書きを実行することが記載されており、ディスクに欠陥のように試し書き不要な場合は特に考慮されていない。

本発明の目的は、試し書き要否の判断をより的確に行い、不要な試し書き処理をなくし、データ転送レートの低下を防止する光ディスク装置および光ディスク記録方法を提供することにある。

本発明による光ディスク装置は、光ディスクにレーザ光を照射してデータを記録し、また光ディスクからデータを再生する光ヘッドと、光ヘッドの再生したデータのエンベロープを取得する信号検出回路と、信号検出回路の取得したエンベロープの形状に基づき、記録パワーを最適化するための試し書き処理を制御する制御回路とを備える。制御回路は、記録後のデータを再生しエラーを検出した場合、信号検出回路にて再生した信号のエンベロープを取得し、エンベロープ中にほぼ無信号状態の欠陥部、または振幅値が所定値よりも減衰した欠陥部が存在する場合は、試し書き処理を実施せずに、エラーが検出されたデータのリトライ記録または交替記録を実施する。

または本発明の光ディスク装置において、制御回路は、記録後のデータを再生しエラーを検出した場合、再生した信号のエンベロープのトップレベルＶｔｏｐを予め定めた閾値Ｖｔｈと比較し、比較の結果Ｖｔｏｐ＞Ｖｔｈである場合は、試し書き処理を実施し、Ｖｔｏｐ＜Ｖｔｈである場合は、試し書き処理を実施しない。ここに閾値Ｖｔｈのレベルを、エンベロープのトップ値の時間平均レベルとボトム値の時間平均レベルの間に設定する。

また本発明の光ディスク記録方法は、記録したデータを再生しエラーを検出した場合、再生した信号のエンベロープを取得し、エンベロープ中にほぼ無信号状態の欠陥部が存在する場合は、記録パワーを最適化するための試し書き処理を実施せずに、エラーが検出されたデータのリトライ記録または交替記録を実施する。

本発明によれば、不要な試し書き処理がなくなり、データ転送レートの低下を防止できるので、ユーザの使い勝手が向上する。

図１は、本発明による光ディスク装置の一実施例を示すブロック図である。本実施例の装置は、記録可能な光ディスク１をスピンドルモータ３にて回転し、半導体レーザで発生したレーザ光を光ヘッド２から光ディスク１の記録面に照射し、データを記録し、また再生する。モータ駆動回路４は、スピンドルモータ３の回転動作を制御する。記録時の半導体レーザの発光パワーはレーザ駆動回路５にて制御する。再生処理回路６は、光ディスクからの再生されたデータを処理し、欠陥検出回路（信号検出回路）７は再生信号のエンベロープを取得してディスクの欠陥等を検出する。パワー制御回路８は試し書き処理を実行する際のテスト信号（記録パワー可変信号）を生成する。制御回路９は、試し書き処理、リトライ記録処理、交替記録処理等の判断と装置全体の制御を行う。

本実施例では、ベリファイ処理、すなわち記録後のデータを再生しエラーを検出した際、再生信号のエンベロープ形状を欠陥検出回路（信号検出回路）７にて測定し、エンベロープの欠陥を検出することでディスクの欠陥を判定する。制御回路９は、ディスクの欠陥と判定した場合は試し書き処理は行わず、エラーの検出されたデータのリトライ記録処理または交替処理に進むよう制御する。

図２は、図１の欠陥検出回路７におけるエンベロープ検波回路１０の構成を示す図である。トップレベル検出部１１は、再生波形のトップエンベロープ値Ｖｔｏｐを検出する。ＬＰＦ１２は時定数の大きな低域通過フィルタで、トップエンベロープ値の時間平均レベルを検出し、このレベルを抵抗１３にて分圧して欠陥検出用閾値Ｖｔｈを得る。言い換えれば、エンベロープのトップ値の時間平均レベルとボトム値の時間平均レベルの間に閾値Ｖｔｈのレベルを設定する。比較器１４はトップ値Ｖｔｏｐと閾値Ｖｔｈを比較する。比較の結果、Ｖｔｏｐ＞Ｖｔｈの場合は「ディスク正常」、Ｖｔｏｐ＜Ｖｔｈの場合は「ディスク欠陥あり」と判断する。

図３は、本実施例における、再生信号のエンベロープ波形に対する欠陥検出法を模式的に示す図である。

（ａ）は正常な再生信号の場合で、エンベロープのトップ値Ｖｔｏｐとボトム値Ｖｂｏｔが一定のレベルに安定して得られる。振幅値Ｖｐｐ（ＶｔｏｐとＶｂｏｔの差）も一定である。

（ｂ）は、エンベロープ形状は一定であるものの、その振幅値Ｖｐｐが正常時に比べて小さなＶｐｐ’になった場合（振幅異常）である。この原因は、記録条件が不適切（記録パワーの不足など）によるもので、記録パワーを変化させたテスト信号の試し書き処理を行い、最適記録条件を求める必要がある。上記図２の検波回路１０によれば、このような振幅Ｖｐｐのみの減少に対して、トップ値Ｖｔｏｐと閾値Ｖｔｈの比較結果はＶｔｏｐ＞Ｖｔｈとなる。

（ｃ）は、エンベロープ中に欠陥を生じた場合である。符号３０は欠陥箇所を示し、一例として振幅Ｖｐｐがほぼゼロ（Ｖｐｐ”）まで急減した場合を示す。このような振幅の急減する無信号部の発生によって、トップ値Ｖｔｏｐのレベルが閾値Ｖｔｈレベルを下回りＶｔｏｐ＜Ｖｔｈとなる。この原因は、ディスクの欠陥（異物、キズ）などによると推定され、欠陥の程度により、振幅Ｖｐｐやトップ値Ｖｔｏｐのレベルは正常時に比較しゼロないし数十％に減衰する。よって、欠陥検出用の閾値Ｖｔｈレベルは、所望の検出感度が得られるよう、時定数の大きなエンベロープ検波して得られるトップ値の時間平均レベルとボトム値の時間平均レベルの間に適宜設定する。このようなディスクの欠陥に原因がある場合には、記録パワーを変化（増加）させても記録品質を改善できるものではない。

このように、図２のエンベロープ検波回路にて、図３に示した方法によりトップ値Ｖｔｏｐと閾値Ｖｔｈとを比較することで、エラー発生の原因が記録パワーの不適切によるものか、ディスクの欠陥によるものかを判定することができる。

図４は、本実施例による記録処理の手順を示すフローチャートである。ステップＳ１０１で、光ディスクにデータの所定の記録パワーにて記録処理を行う。ステップＳ１０２で、データが正しく記録されたかどうかをチェックするため、欠陥検出回路７にて再生信号のエンベロープを取得する（ベリファイ処理）。ステップＳ１０３で、制御回路９はエラーチェックによりエラー発生を検出する。エラーが検知されなければステップＳ１０１に戻り次のデータを記録する。

エラーが検出されたら、ステップＳ１０４にてエラーの原因を判定するため、欠陥検出回路７（エンベロープ検波回路１０）にてエンベロープのトップレベルＶｔｏｐと閾値Ｖｔｈを比較する。Ｖｔｏｐ＞Ｖｔｈの場合は記録パワーが不適切と判定し、ステップＳ１０５にて試し書き処理を実施して、最適記録パワーを求める。そしてステップＳ１０６にて、最適記録パワーにてエラーの検出されたデータのリトライ記録処理、または交替記録処理を実施する。ステップＳ１０４にてＶｔｏｐ＜Ｖｔｈの場合は、ディスク欠陥ありと判定し、試し書き処理を実施せずにステップＳ１０６に進み、リトライ記録処理または交替記録処理を実施する。以下ステップＳ１０１に戻り、次のデータについて上記処理を繰り返す。

本実施例では、エラー発生時にそのエンベロープを解析することで、エラーの原因がディスク欠陥であるか、パワー不適正であるかを的確に判別できる。そして、記録パワーが不適切な場合のみ試し書きを行う。これにより、不要な試し書き処理を減らし、記録中断による転送レートの低下を最小限に抑えることができる。

なお、上記説明では、再生信号のエンベロープ欠陥を閾値Ｖｔｈと比較することにより検出する検波回路の具体例を述べたが、これに限定されず、光ディスクや装置の特性を考慮して回路構成は適宜設定すればよい。

本発明による光ディスク装置の一実施例を示すブロック図。 本実施例におけるエンベロープ検波回路の構成を示す図。 再生信号のエンベロープ波形に対する欠陥検出法を示す図。 本実施例による記録処理の手順を示すフローチャート。

符号の説明

１…光ディスク、２…光ヘッド、３…スピンドルモータ、４…モータ駆動回路、５…レーザ駆動回路、６…再生処理回路、７…欠陥検出回路（信号検出回路）、８…パワー制御回路、９…制御回路、１０…エンベロープ検波回路。

Claims (7)

1. 光ディスクにデータを記録する光ディスク装置において、
   該光ディスクにレーザ光を照射してデータを記録し、また該光ディスクからデータを再生する光ヘッドと、
   該光ヘッドの再生したデータのエンベロープを取得する信号検出回路と、
   該信号検出回路の取得したエンベロープの形状に基づき、記録パワーを最適化するための試し書き処理を制御する制御回路とを備え、
   該制御回路は、記録後のデータを再生しエラーを検出した場合、上記信号検出回路にて再生した信号のエンベロープを取得し、該エンベロープ中にほぼ無信号状態の欠陥部が存在する場合は、上記試し書き処理を実施せずに、上記エラーが検出されたデータのリトライ記録または交替記録を実施することを特徴とする光ディスク装置。
2. 光ディスクにデータを記録する光ディスク装置において、
   該光ディスクにレーザ光を照射してデータを記録し、また該光ディスクからデータを再生する光ヘッドと、
   該光ヘッドの再生したデータのエンベロープを取得する信号検出回路と、
   該信号検出回路の取得したエンベロープの形状に基づき、記録パワーを最適化するための試し書き処理を制御する制御回路とを備え、
   該制御回路は、記録後のデータを再生しエラーを検出した場合、上記信号検出回路にて再生した信号のエンベロープを取得し、該エンベロープ中に振幅値が所定値よりも減衰した欠陥部が存在する場合は、上記試し書き処理を実施せずに、上記エラーが検出されたデータのリトライ記録または交替記録を実施することを特徴とする光ディスク装置。
3. 光ディスクにデータを記録する光ディスク装置において、
   該光ディスクにレーザ光を照射してデータを記録し、また該光ディスクからデータを再生する光ヘッドと、
   該光ヘッドの再生したデータのエンベロープを取得する信号検出回路と、
   該信号検出回路の取得したエンベロープの形状に基づき、記録パワーを最適化するための試し書き処理を制御する制御回路とを備え、
   該制御回路は、記録後のデータを再生しエラーを検出した場合、再生した信号のエンベロープのトップレベルＶｔｏｐを予め定めた閾値Ｖｔｈと比較し、比較の結果Ｖｔｏｐ＞Ｖｔｈである場合は、上記試し書き処理を実施し、Ｖｔｏｐ＜Ｖｔｈである場合は、上記試し書き処理を実施しないことを特徴とする光ディスク装置。
4. 請求項３記載の光ディスク装置において、
   前記閾値Ｖｔｈのレベルを、前記エンベロープのトップ値の時間平均レベルとボトム値の時間平均レベルの間に設定することを特徴とする光ディスク装置。
5. 光ディスクにデータを記録する際の光ディスク記録方法において、
   記録したデータを再生しエラーを検出した場合、再生した信号のエンベロープを取得し、
   該エンベロープ中にほぼ無信号状態の欠陥部が存在する場合は、記録パワーを最適化するための試し書き処理を実施せずに、上記エラーが検出されたデータのリトライ記録または交替記録を実施することを特徴とする光ディスク記録方法。
6. 光ディスクにデータを記録する際の光ディスク記録方法において、
   記録したデータを再生しエラーを検出した場合、再生した信号のエンベロープのトップレベルＶｔｏｐを予め定めた閾値Ｖｔｈと比較し、
   比較の結果Ｖｔｏｐ＞Ｖｔｈである場合は、記録パワーを最適化するための試し書き処理を実施し、Ｖｔｏｐ＜Ｖｔｈである場合は、該試し書き処理を実施しないことを特徴とする光ディスク記録方法。
7. 請求項６記載の光ディスク記録方法において、
   前記閾値Ｖｔｈのレベルを、前記エンベロープのトップ値の時間平均レベルとボトム値の時間平均レベルの間に設定することを特徴とする光ディスク記録方法。
   
   

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