JP2007035153A - 記録方法、光ディスク装置、プログラム及び記録媒体 - Google Patents
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Abstract
【課題】記録品質を低下させることなく、光ディスクに対する記録を短時間で行う。
【解決手段】記録中に記録面からの反射光に基づいて欠陥検出を同時に行い(ステップ411、413)、欠陥が検出されると、一旦記録を中断し(ステップ419)、欠陥の大きさを計測する(ステップ421)。そして、欠陥の大きさが予め設定されている大きさを超えているときには、欠陥を回避した位置から記録を再開し(ステップ431、432)、一方、、欠陥の大きさが予め設定されている大きさ以下のときには、中断した位置から記録を再開する(ステップ441)。
【選択図】図4
【解決手段】記録中に記録面からの反射光に基づいて欠陥検出を同時に行い(ステップ411、413)、欠陥が検出されると、一旦記録を中断し(ステップ419)、欠陥の大きさを計測する(ステップ421)。そして、欠陥の大きさが予め設定されている大きさを超えているときには、欠陥を回避した位置から記録を再開し(ステップ431、432)、一方、、欠陥の大きさが予め設定されている大きさ以下のときには、中断した位置から記録を再開する(ステップ441)。
【選択図】図4
Description
本発明は、記録方法、光ディスク装置、プログラム及び記録媒体に係り、更に詳しくは、情報を光ディスクに記録する記録方法及び該記録方法の実施に好適な光ディスク装置、光ディスク装置で用いられるプログラム及び該プログラムが記録された記録媒体に関する。
近年、光学的あるいは磁気的に情報が記録される各種のディスク状メディアが広く普及しており、これらは一般的に、光ディスクと総称されている。光ディスクの種類としては、音楽用CDやCD−ROM、あるいはDVD−ROMのように情報が予め記録されているものの他に、一度だけ書き込みが可能な追記型光ディスク、及び書き換えが可能な書換型光ディスクがある。
追記型光ディスクや書換型光ディスクのように記録可能な光ディスクでは、その記録面にスポット状に絞りこんだレーザ光を照射し、非常に小さなマーク(記録マーク)を形成することで情報を高密度に記録している。しかしながら、高密度ゆえに、記録面上の僅かな欠陥によっても失われる情報量は非常に大きい。また、光ディスクは交換媒体であるため劣悪な環境に置かれることが多く、製造上の先天的な欠陥に加え、ゴミ、ホコリ、油、キズなどによる後天的な欠陥の発生が否めない。そこで、欠陥領域があると、その領域を回避して情報を記録している。
欠陥領域を回避する方法としては大きく二つの方法がある。記録後に情報が正常に読み出せるかどうかをチェックするいわゆるベリファイ動作により行う方法と、サーティファイ動作やフォーマット動作による記録前の欠陥チェックで欠陥領域を予め把握しておく方法である。簡単に言うと記録後に欠陥を検出する方法と記録前に欠陥を検出する方法である。これら2つの方法は、光ディスクが書き換え可能か否かや記録フォーマットなどにより使い分けられ、また併用されることもある。
例えばDVD−RAMディスクの場合には、情報の記録前に検出された欠陥はPDL(Primary Defect List)に登録され、欠陥のあるセクタを飛ばして記録再生するスリッピングと呼ばれる処理が行われ、情報の記録後に検出された欠陥はSDL(Secondary Defect List)に登録され、各ゾーンのスペア領域に記録再生するリプレースメントと呼ばれる処理が行われる。
しかしながら、記録後に欠陥を検出する方法は、確実で信頼性は高いが、記録に要する時間(以下、「記録時間」と略述する)が増大し、その結果として記録速度が低下し、例えば、放送番組のビデオ録画の際に、情報の欠損が生じない最低の記録速度を確保するのが困難となる場合があるいう不都合があった。また、記録前に欠陥を検出する方法は、記録速度の低下は小さいが、欠陥をチェックした後に生じた欠陥に対応できなかったり、すぐに記録を開始できないという不都合があった。
そこで、処理の短縮化や省略化などの方法がいろいろ提案された(例えば、特許文献1及び特許文献2参照)。特許文献1では、記録前に行うサーティファイに時間がかかることを問題視し、所定トラックの小さな領域を記録に先立って欠陥検査することで記録前の処理時間を最小にする方法が開示されている。特許文献2では、欠陥検査を高速な粗検査と正確な微検査とに分けて行うことで記録前の処理時間を短縮する方法が開示されている。
しかしながら、特許文献1に開示されている方法では、記録中に記録・再生を繰り返して欠陥チェックを行う方法と基本的に同じであり、記録速度が大幅に低下する場合があった。また、特許文献2に開示されている方法では、記録開始前の処理時間を要求されるレベルまで短縮できない場合があった。
本発明は、かかる事情の下になされたもので、その第1の目的は、記録品質を低下させることなく、光ディスクに対する記録を短時間で行うことができる記録方法を提供することにある。
また、本発明の第2の目的は、記録品質を低下させることなく、光ディスクに対する記録を短時間で行うことができる光ディスク装置を提供することにある。
また、本発明の第3の目的は、光ディスク装置の制御用コンピュータにて実行され、記録品質を低下させることなく、光ディスクに対する記録を短時間で行うことを可能とするプログラム及びそのプログラムが記録された記録媒体を提供することにある。
請求項1に記載の発明は、スパイラル状又は同心円状のトラックが形成された記録面を有する光ディスクに情報を記録する記録方法であって、記録中に、記録面からの反射光に基づいてトラックに欠陥があるか否かを判断する工程と;前記判断の結果、欠陥がある場合に、記録を一時的に中断し、前記欠陥の大きさを検出する工程と;前記検出された欠陥の大きさが、予め設定されている上限値以下の場合に、記録を中断した位置から記録を再開する工程と;を含む記録方法である。
これによれば、スパイラル状又は同心円状のトラックが形成された記録面を有する光ディスクに情報を記録する際に、記録中に、記録面からの反射光に基づいてトラックに欠陥があるか否かが判断され、その判断の結果、欠陥がある場合に、記録を一時的に中断し、欠陥の大きさが検出される。そして、検出された欠陥の大きさが、予め設定されている上限値以下の場合には、記録を中断した位置から記録が再開される。すなわち、トラック上に欠陥があっても、例えば再生時のエラー訂正処理などで訂正可能であることが明確な場合には、交替処理などを行うことなく記録が継続される。従って、記録品質を低下させることなく、光ディスクに対する記録を短時間で行うことが可能となる。
この場合において、請求項2に記載の記録方法の如く、前記検出された欠陥の大きさが、前記上限値を超える場合に、前記欠陥を回避した位置から記録を再開する工程を、更に含むこととすることができる。
この場合において、請求項3に記載の記録方法の如く、前記欠陥の回避により生じた未記録領域にダミーデータを記録する工程を、更に含むこととすることができる。
上記請求項2及び3に記載の各記録方法において、請求項4に記載の記録方法の如く、前記欠陥の領域に関する情報を前記光ディスクに記録する工程を、更に含むこととすることができる。
上記請求項1〜4に記載の各記録方法において、請求項5に記載の記録方法の如く、前記欠陥があるか否かを判断する工程では、前記反射光の光量低下が予め設定されている時間以上、継続したときに、欠陥があると判断することとすることができる。
上記請求項1〜5に記載の各記録方法において、請求項6に記載の記録方法の如く、前記欠陥の大きさを検出する工程では、トラックのスパイラル方向又は円周方向に関する前記欠陥の最大長さ、及び前記光ディスクの半径方向に関する前記欠陥の最大長さ、のいずれかを前記欠陥の大きさとすることとすることができる。
上記請求項1〜5に記載の各記録方法において、請求項7に記載の記録方法の如く、前記欠陥の大きさを検出する工程では、トラックのスパイラル方向又は円周方向に関する前記欠陥の最大長さ、及び前記光ディスクの半径方向に関する前記欠陥の最大長さ、のうち大きいほうを前記欠陥の大きさとすることを特徴とする請求項1〜5のいずれか一項に記載の記録方法。
上記請求項1〜7に記載の各記録方法において、請求項8に記載の記録方法の如く、前記欠陥の大きさを検出する工程では、前記光ディスクの半径方向に、少なくとも1トラック分だけトラックジャンプしつつ、前記欠陥の大きさを検出することとすることができる。
請求項9に記載の発明は、スパイラル状又は同心円状のトラックが形成された記録面を有する光ディスクに対する情報の記録が可能な光ディスク装置であって、光ディスクの記録面に光を集光するとともに、該記録面からの戻り光を受光し光電変換信号を出力する光ピックアップ装置と;記録中に、前記光電変換信号に基づいて欠陥の有無を監視し、欠陥が検出されると記録を一時的に中断し、前記欠陥の大きさが予め設定されている上限値以下の場合に、記録を中断した位置から記録を再開させる処理装置と;を備える光ディスク装置である。
これによれば、スパイラル状又は同心円状のトラックが形成された記録面を有する光ディスクに情報を記録する際に、処理装置により記録中に、光電変換信号に基づいて欠陥の有無が監視されており、欠陥が検出されると記録が一時的に中断され、欠陥の大きさが予め設定されている上限値以下の場合には、記録を中断した位置から記録が再開される。そこで、トラック上に欠陥があっても、例えば再生時のエラー訂正処理などで訂正可能であることが明確な場合には、交替処理などを行うことなく記録が継続される。従って、記録品質を低下させることなく、光ディスクに対する記録を短時間で行うことが可能となる。
この場合において、請求項10に記載の光ディスク装置の如く、前記処理装置は、前記欠陥の大きさが前記上限値を超える場合に、前記欠陥を回避した位置から記録を再開させることとすることができる。
上記請求項9及び10に記載の各光ディスク装置において、請求項11に記載の光ディスク装置の如く、前記光ディスクに記録される記録用データが一時的に蓄積されるバッファメモリを更に備え、前記処理装置は、欠陥が検出されたときに前記バッファメモリに蓄積されている記録用データのデータ量が予め設定されている値よりも少ない場合に記録を一時的に中断することとすることができる。
請求項12に記載の発明は、光ディスクの記録面に光を集光するとともに、該記録面からの戻り光を受光し光電変換信号を出力する光ピックアップ装置を有し、光ディスクに対する情報の記録が可能な光ディスク装置に用いられるプログラムであって、前記光電変換信号に基づいて欠陥があるか否かを判断する手順と;前記判断の結果、欠陥がある場合に、記録を一時的に中断し、前記欠陥の大きさを検出する手順と;前記検出された欠陥の大きさと、予め設定されている上限値とを比較する手順と;前記比較の結果、前記欠陥の大きさが前記上限値以下の場合に、記録を中断した位置から記録を再開する手順と;を前記光ディスク装置の制御用コンピュータに実行させるプログラムである。
これによれば、本発明のプログラムが所定のメモリにロードされ、その先頭アドレスがプログラムカウンタにセットされると、光ディスク装置の制御用コンピュータは、光電変換信号に基づいて欠陥があるか否かを判断し、その判断の結果、欠陥がある場合に、記録を一時的に中断し、欠陥の大きさを検出する。そして、検出された欠陥の大きさと、予め設定されている上限値とを比較し、その比較の結果、欠陥の大きさが上限値以下の場合に、記録を中断した位置から記録を再開する。すなわち、本発明のプログラムによれば、光ディスク装置の制御用コンピュータに請求項1に記載の発明に係る記録方法を実行させることができ、これにより、記録品質を低下させることなく、光ディスクに対する記録を短時間で行うことが可能となる。
この場合において、請求項13に記載のプログラムの如く、前記比較の結果、前記欠陥の大きさが前記上限値を超える場合に、前記欠陥を回避した位置から記録を再開する手順を、前記制御用コンピュータに更に実行させることとすることができる。
請求項14に記載の発明は、請求項12又は13に記載のプログラムが記録されたコンピュータ読み取り可能な記録媒体である。
これによれば、請求項12又は13に記載のプログラムが記録されているために、コンピュータに実行させることにより、記録品質を低下させることなく、光ディスクに対する記録を短時間で行うことが可能となる。
以下、本発明の一実施形態を図1〜図6に基づいて説明する。図1には、本発明の一実施形態に係る光ディスク装置20の概略構成が示されている。
この図1に示される光ディスク装置20は、光ディスク15を回転駆動するスピンドルモータ22、光ピックアップ装置23、該光ピックアップ装置23をスレッジ方向に駆動するシークモータ21、レーザ制御回路24、エンコーダ25、モータ制御回路26、PU制御回路27、再生信号処理回路28、バッファRAM34、バッファマネージャ37、インターフェース38、フラッシュメモリ39、CPU40及びRAM41などを備えている。なお、図1における接続線は、代表的な信号や情報の流れを示すものであり、各ブロックの接続関係の全てを表すものではない。また、一例として、DVD系の記録可能な光ディスクが光ディスク15に用いられるものとする。
前記光ピックアップ装置23は、光ディスク15のスパイラル状又は同心円状のトラックが形成された記録面にレーザ光を照射するとともに、その記録面からの反射光を受光するための装置である。この光ピックアップ装置23は、波長が660nmのレーザ光を出射する光源、該光源からの光を記録面に集光する対物レンズ、記録面で反射され対物レンズを介した戻り光を受光する受光器、及び対物レンズをフォーカス方向及びトラッキング方向に微小駆動する駆動系(いずれも図示省略)などを備えている。
前記再生信号処理回路28は、I/Vアンプ28a、サーボ信号検出回路28b、ウォブル信号検出回路28c、RF信号検出回路28d、デコーダ28e及び欠陥検出回路28fなどから構成されている。
前記I/Vアンプ28aは、光ピックアップ装置23の受光器の出力信号(光電変換信号)を電圧信号に変換するとともに、所定のゲインで増幅する。
前記サーボ信号検出回路28bは、I/Vアンプ28aの出力信号に基づいてフォーカスエラー信号及びトラックエラー信号などのサーボ信号を検出する。
前記ウォブル信号検出回路28cは、I/Vアンプ28aの出力信号に基づいてウォブル信号を検出する。
前記RF信号検出回路28dは、I/Vアンプ28aの出力信号に基づいてRF信号を検出する。
前記デコーダ28eは前記ウォブル信号からアドレス情報、同期情報などを抽出する。また、デコーダ28eは前記RF信号に対して復号処理及び誤り検出処理などを行い、誤りが検出されたときには誤り訂正処理を行った後、再生データとして前記バッファマネージャ37を介して前記バッファRAM34に格納する。
前記欠陥検出回路28fは、一例として図2に示されるように、I/Vアンプ28aを介した光ピックアップ装置23の受光器の出力信号を全て加算し、所定のゲインで増幅する増幅器f1と、該増幅器f1の出力信号に含まれる高周波成分を除去するローパスフィルタf2と、ローパスフィルタf2の出力信号と所定のスライスレベルとを比較し、その比較結果を出力するコンパレータf3と、トラックのスパイラル方向又は円周方向(以下便宜上、「トラック方向」という)に関する欠陥の大きさを検出するためのタイマカウンタf4と、を含んでいる。なお、増幅器f1のゲインは可変であり、ローパスフィルタf2の出力レベルがほぼ一定となるように調整される。また、スライスレベルは、欠陥を精度良く検出できるように、予め適切な値に設定されている。
例えば、図3(A)に示されるように、走査対象のトラック(以下、「走査トラック」と略述する)上に欠陥があると、記録面からの反射光の光量は、記録時には一例として図3(B)に示されるように、欠陥のない部分では変調されたレーザ光に応じた光量となり、欠陥部分では反射率の低下により低い光量となる。また、記録が中断されている時には、一定の低い発光パワーで光源を駆動するため、一例として図3(C)に示されるように、欠陥のない部分は一定光量となり、欠陥部分は、欠陥のない部分よりも少し低い光量となる。そこで、ローパスフィルタf2の出力レベル(図3(D))が記録時と記録中断時とでほぼ同じ(図3(D))となるように増幅器f1のゲインが調整される。なお、未記録トラックに欠陥がある場合には、反射光量は図3(C)と同様なレベルとなる。そして、ローパスフィルタf2の出力信号はコンパレータf3で二値化され、コンパレータf3の出力信号は、一例として図3(E)に示されるように、パルス信号となる。従って、パルス信号におけるパルス幅はトラック方向に関する欠陥の大きさに対応することとなる。このパルス信号は、タイマカウンタf4のゲート端子及びCPU40の割り込み端子に出力される。なお、増幅器f1のゲイン調整は、CPU40の指示によって行われる。
タイマカウンタf4は、パルス信号が入力されると、パルス信号の立ち上がりのタイミングに同期してカウント値が0リセットされ、カウントアップを開始する。そして、一定時間毎にカウント値を+1し、パルス信号の立ち下がりのタイミングに同期してカウントアップを停止する。従って、カウント値はパルス幅の大きさ、すなわち、トラック方向に関する欠陥の大きさに応じた値となる。なお、タイマカウンタf4のカウント値はCPU40から読出し可能である。
前記PU制御回路27は、サーボ信号検出回路28bからのサーボ信号に基づいてフォーカスずれやトラックずれを補正するための制御信号を生成し、光ピックアップ装置23の駆動系に出力する。
前記モータ制御回路26は、CPU40の指示に基づいて、スピンドルモータ22及びシークモータ21をそれぞれ駆動制御する。
前記バッファRAM34には、光ディスク15に記録するデータ(記録用データ)、及び光ディスク15から再生したデータ(再生データ)などが一時的に格納される。このバッファRAM34へのデータの入出力は、前記バッファマネージャ37によって管理されている。
前記エンコーダ25は、CPU40の指示に基づいて、バッファRAM34に蓄積されている記録用データをバッファマネージャ37を介して取り出し、データの変調及びエラー訂正コードの付加等を行ない、光ディスク15への書き込み信号を生成する。
前記レーザ制御回路24は、光ピックアップ装置23から出射されるレーザ光のパワーを制御する。例えば記録の際には、前記書き込み信号、記録条件、及び光源の発光特性などに基づいて、光源の駆動信号が生成される。
前記インターフェース38は、上位装置(例えば、パソコン)との双方向の通信インターフェースであり、ATAPI(AT Attachment Packet Interface)、SCSI(Small Computer System Interface)、及びUSB(Universal Serial Bus)などの標準インターフェースに準拠している。
前記フラッシュメモリ39には、CPU40にて解読可能なコードで記述された本発明に係るプログラムを含む各種プログラム、記録条件及び光源の発光特性などが格納されている。
前記CPU40は、フラッシュメモリ39に格納されているプログラムに従って上記各部の動作を制御するとともに、制御に必要なデータなどをRAM41に保存する。
《記録処理》
次に、上位装置から記録要求があったときの、光ディスク装置20における処理について図4を用いて説明する。図4のフローチャートは、CPU40によって実行される一連の処理アルゴリズムに対応している。上位装置から記録要求コマンドを受信すると、フラッシュメモリ39に格納されている図4のフローチャートに対応するプログラム(以下「記録処理プログラム」という)の先頭アドレスがCPU40のプログラムカウンタにセットされ、記録処理がスタートする。なお、上位装置からの記録用データは、一例として録画データのようなストリーミングデータであるものとする。
次に、上位装置から記録要求があったときの、光ディスク装置20における処理について図4を用いて説明する。図4のフローチャートは、CPU40によって実行される一連の処理アルゴリズムに対応している。上位装置から記録要求コマンドを受信すると、フラッシュメモリ39に格納されている図4のフローチャートに対応するプログラム(以下「記録処理プログラム」という)の先頭アドレスがCPU40のプログラムカウンタにセットされ、記録処理がスタートする。なお、上位装置からの記録用データは、一例として録画データのようなストリーミングデータであるものとする。
最初のステップ401では、記録中断が禁止されているか否かを示す記録中断禁止フラグfに、記録中断が禁止されていないことを意味する「0」を設定する。
次のステップ403では、所定の線速度(又は角速度)で光ディスク15が回転するようにモータ制御回路26に指示するとともに、上位装置から記録要求コマンドを受信した旨を再生信号処理回路28に通知する。
次のステップ405では、指定アドレスに対応する目標位置近傍に光スポットが形成されるように、モータ制御回路26に指示する。これにより、シーク動作が行なわれる。なお、シーク動作が不要であれば、ここでの処理はスキップされる。
次のステップ407では、記録を許可する。これにより、エンコーダ25、レーザ制御回路24、及び再生信号処理回路28などにより、記録動作が開始され、前述のようにして記録用データに対応した情報が順次、光ディスク15の記録面に記録される。また、増幅器f1のゲインを記録時のゲインに調整する。
次のステップ409では、記録要求コマンドで指定されたデータ量と、現時点までに記録されたデータ量とを比較し、記録が完了しているか否かを判断する。記録が完了していなければ、ここでの判断は否定され、ステップ411に移行する。
このステップ411では、タイマカウンタf4のカウント値cを読出す。
次のステップ413では、カウント値cと予め設定されている閾値Nとを比較して、欠陥が検出されたか否かを判断する。カウント値cが閾値N以上であれば、欠陥が検出されたと判断され、ステップ415に移行する。すなわち、ここでは、記録面からの反射光量を低下させる要因(例えば、後天的なものとしてはゴミ、ホコリ、油、キズなど)のトラック方向に関する大きさが、予め設定されている値以上のものを欠陥とみなしている。
このステップ415では、記録中断禁止フラグfが1であるか否かを判断する。記録中断禁止フラグfが1でなければ、ここでの判断は否定され、ステップ417に移行する。
このステップ417では、バッファマネージャ37を介して、現在バッファRAM34に蓄積されている記録用データのデータ量を取得し、予め設定されている上限値M以上であるか否かを判断する。記録用データの蓄積量が上限値M以上でなければ、ここでの判断は否定され、ステップ419に移行する。
このステップ419では、エンコーダ25、レーザ制御回路24、及び再生信号処理回路28などに記録の中断を指示する。
次のステップ421では、増幅器f1のゲインを記録中断時のゲインに調整し、欠陥の規模情報として、トラック方向に関する欠陥の最大の長さ(以下便宜上、「欠陥の長さd」という)を算出する。具体的には、そのままトラッキングを続け、記録中断位置を基点として1回転毎に、周回トラック数をカウントアップするとともに、タイマカウンタf4のカウント値cを読出してRAM41に順次保存する。そして、1回転しても欠陥検出回路28fからの割込みが発生しなくなると、欠陥領域を越えたと判断し、RAM41に保存されているカウント値cの最大値と、アドレスから求めた半径位置と、スピンドルモータ22の回転数から求めた線速度とから、欠陥の長さdを算出する。
次のステップ423では、欠陥の長さdが予め設定されている閾値L(例えば0.5mm)を超えているか否かを判断する。欠陥の長さdが閾値Lを超えていれば、ここでの判断は肯定されステップ431に移行する。なお、閾値Lは、再生に影響しない欠陥の長さの上限値であり、実験、及びシミュレーションなどにより予め取得されている。
このステップ431では、欠陥領域を回避した位置を算出する。具体的には、記録を中断した位置の物理アドレスに、前記周回トラック数分のECCブロック単位のセクタ数を加算し、得られた物理アドレスを欠陥領域を回避した位置とする。
次のステップ433では、欠陥領域を回避した位置からの記録再開を指示する。
次のステップ435では、欠陥領域に関する情報をRAM41に保存する。そして、前記ステップ409に戻る。
なお、上記ステップ423において、欠陥の長さdが閾値L以下であれば、ここでの判断は否定されステップ441に移行する。
このステップ441では、中断した位置からの記録再開を指示する。
次のステップ443では、記録中断禁止フラグfに、記録中断が禁止されていることを意味する「1」を設定する。そして、前記ステップ409に戻る。
また、上記ステップ417において、記録用データの蓄積量が上限値M以上であれば、ここでの判断は肯定され、ステップ451に移行する。
このステップ451では、1周以上欠陥検出回路28fからの割込みがなかったか否かを判断する。1周以内で欠陥検出回路28fからの割込みがあったならば、ここでの判断は否定され、前記ステップ409に戻る。一方、1周以上欠陥検出回路28fからの割込みがなかったならば、ここでの判断は肯定され、ステップ453に移行する。
このステップ453では、記録中断禁止フラグfに、記録中断が禁止されていないことを意味する「0」を設定する。そして、前記ステップ409に戻る。
また、上記ステップ415において、記録中断禁止フラグfが1であれば、ここでの判断は肯定され、上記ステップ451に移行する。
また、上記ステップ413において、カウント値cが閾値N以上でなければ、欠陥は検出されなかったと判断され、上記ステップ451に移行する。
さらに、上記ステップ409において、記録が完了していれば、ここでの判断は肯定され、ステップ461に移行する。
このステップ461では、RAM41に欠陥情報が保存されているか否かを判断する。RAM41に欠陥情報が保存されていれば、ここでの判断は肯定され、ステップ463に移行する。
このステップ463では、RAM41に保存されている欠陥情報を光ディスク15に記録する。ここでは、一例として光ディスク15のリードイン領域に欠陥情報が記録される。
次のステップ465では、光ディスク15の欠陥領域にダミーデータを記録する。
次のステップ467では、記録終了を上位装置に通知する。そして、記録処理を終了する。
すなわち、記録中に並行して記録面からの反射光に基づいて欠陥検出を行い、欠陥が検出されると、一旦記録を中断し欠陥の大きさを計測する。そして、欠陥の大きさが予め設定されている大きさを超えているときには、一例として図5に示されるように、欠陥を回避した位置から記録を再開し、一方、、欠陥の大きさが予め設定されている大きさ以下のときには、一例として図6に示されるように、中断した位置から記録を再開する。これにより、記録品質を低下させることなく、従来よりも短時間で記録を行うことができる。
以上の説明から明らかなように、本実施形態に係る光ディスク装置20では、CPU40及び該CPU40によって実行されるプログラムとによって、処理装置が構成されている。なお、CPU40によるプログラムに従う処理の少なくとも一部をハードウェアによって構成することとしても良いし、あるいは全てをハードウェアによって構成することとしても良い。
また、本実施形態では、記録媒体としてのフラッシュメモリ39に記録されているプログラムのうち、図4に対応するプログラムによって、本発明に係るプログラムが実行されている。
そして、上記記録処理にて、本発明に係る記録方法が実施されている。
以上説明したように、本実施形態に係る光ディスク装置20によると、記録中に、光電変換信号に基づいて欠陥の有無が監視されており、欠陥が検出されると記録が一時的に中断され、欠陥の大きさが予め設定されている再生に影響しない上限値以下の場合には、記録を中断した位置から記録が再開される。これにより、複数のトラックをまたぐような欠陥があっても、例えば再生時のエラー訂正処理などで訂正可能であることが明確な場合には、交替処理などを行うことなく記録が継続される。従って、記録品質を低下させることなく、光ディスクに対する記録を短時間で行うことが可能となる。
また、本実施形態によると、記録を中断する前にバッファRAM34に蓄積されている記録用データの蓄積量をチェックし、蓄積量が上限値M以上のときには、記録を継続している。これにより、記録用データのオーバーフローを防止することができる。例えば、テレビ放送の録画のように、情報を随時記録しなければならない場合には、バッファRAM34の空き容量と上位装置からのデータ転送レートとで算出される時間が、記録中断から記録再開までに利用できる時間である。すなわち、記録中断から記録再開までに要する時間が確保できないときには記録中断を延期する。
また、本実施形態によると、欠陥を回避したときには、欠陥情報を光ディスク15に記録している。これにより、光ディスク15が他の光ディスク装置にセットされた場合に、その光ディスク装置では、欠陥情報に基づいて物理的に途切れた情報を連続的な情報として取り扱うことが可能となる。
また、本実施形態によると、欠陥を回避したときには、その欠陥領域にダミーデータを記録している。これにより、誤って欠陥領域を再生しても、そこが欠陥領域であることを直ちに認識できるため、アクセス速度を向上させることができる。
なお、上記実施形態では、前記ステップ421において、そのままトラッキングを続けて欠陥の長さdを算出する場合について説明したが、これに限らず、例えば図7に示されるように、記録を中断後、所定のトラック数だけアドレスを加算する方向にジャンプして、前記欠陥の長さdを算出しても良い。これにより、処理時間を短縮することができる。また、一例として図8に示されるように、所定のトラック数だけアドレスを加算する方向にジャンプし、欠陥の有無がジャンプ前と同じならばジャンプ前と同一方向に、欠陥の有無がジャンプ前と異なるならばジャンプ前と反対方向に、ジャンプするトラック数を半分にして順次ジャンプし、前記欠陥の長さdを算出しても良い。これにより、処理時間を更に短縮することができる。
また、上記実施形態では、前記ステップ421において、欠陥の規模情報として、トラック方向に関する欠陥の最大の長さを算出する場合について説明したが、これに限らず、例えば半径方向に関する欠陥の最大の長さを、欠陥の規模情報として算出しても良い。
また、この場合に、トラック方向に関する欠陥の最大の長さ、及び半径方向に関する欠陥の最大の長さ、のうち大きいほうを欠陥の規模情報としても良い。
また、上記実施形態において、バッファRAM34の容量が記録用データに比べて十分に大きいことが確実な場合には、上記記録処理における前記ステップ417の処理を省くことができる。
また、上記実施形態では、光ディスク15がDVD系の光ディスクの場合について説明したが、これに限らず、例えば波長が405nmの光に対応する次世代の光ディスクであっても良い。
また、上記実施形態では、情報の記録及び再生が可能な光ディスク装置について説明したが、これに限らず、情報の記録、再生及び消去のうち、少なくとも情報の記録が可能な光ディスク装置であれば良い。また、光ディスク装置として、上記記録処理が可能なDVDレコーダであっても良い。
また、上記実施形態では、光ディスクが1つの記録層を有する場合について説明したが、これに限らず、複数の記録層を有していてもよい。
また、上記実施形態では、本発明に係るプログラムは、フラッシュメモリ39に記録されているが、他の記録媒体(CD、光磁気ディスク、DVD、メモリカード、USBメモリ、フレキシブルディスク等)に記録されていても良い。この場合には、各記録媒体に対応する再生装置(又は専用インターフェース)を介して本発明に係るプログラムをフラッシュメモリ39にロードすることとなる。また、ネットワーク(LAN、イントラネット、インターネットなど)を介して本発明に係るプログラムをフラッシュメモリ39に転送しても良い。要するに、本発明に係るプログラムがフラッシュメモリ39にロードされれば良い。
また、上記実施形態では、光ピックアップ装置が1つの半導体レーザを備える場合について説明したが、これに限らず、例えば互いに異なる波長の光束を発光する複数の半導体レーザを備えていても良い。この場合に、例えば波長が約405nmの光束を発光する半導体レーザ、波長が約660nmの光束を発光する半導体レーザ及び波長が約780nmの光束を発光する半導体レーザの少なくとも1つを含んでいても良い。すなわち、光ディスク装置が互いに異なる規格に準拠した複数種類の光ディスクに対応する光ディスク装置であっても良い。
以上説明したように、本発明の記録方法によれば、記録品質を低下させることなく、光ディスクに対する記録を短時間で行うのに適している。また、本発明の光ディスク装置によれば、記録品質を低下させることなく、光ディスクに対する記録を短時間で行うのに適している。また、本発明のプログラム及び記憶媒体によれば、光ディスク装置に、記録品質を低下させることなく、短時間で光ディスクに記録をさせるのに適している。
15…光ディスク、20…光ディスク装置、23…光ピックアップ装置、39…フラッシュメモリ(記録媒体)、40…CPU(処理装置、制御用コンピュータ)。
Claims (14)
- スパイラル状又は同心円状のトラックが形成された記録面を有する光ディスクに情報を記録する記録方法であって、
記録中に、記録面からの反射光に基づいてトラックに欠陥があるか否かを判断する工程と;
前記判断の結果、欠陥がある場合に、記録を一時的に中断し、前記欠陥の大きさを検出する工程と;
前記検出された欠陥の大きさが、予め設定されている上限値以下の場合に、記録を中断した位置から記録を再開する工程と;を含む記録方法。 - 前記検出された欠陥の大きさが、前記上限値を超える場合に、前記欠陥を回避した位置から記録を再開する工程を、更に含むことを特徴とする請求項1に記載の記録方法。
- 前記欠陥の回避により生じた未記録領域にダミーデータを記録する工程を、更に含むことを特徴とする請求項2に記載の記録方法。
- 前記欠陥の領域に関する情報を前記光ディスクに記録する工程を、更に含むことを特徴とする請求項2又は3に記載の記録方法。
- 前記欠陥があるか否かを判断する工程では、前記反射光の光量低下が予め設定されている時間以上、継続したときに、欠陥があると判断することを特徴とする請求項1〜4のいずれか一項に記載の記録方法。
- 前記欠陥の大きさを検出する工程では、トラックのスパイラル方向又は円周方向に関する前記欠陥の最大長さ、及び前記光ディスクの半径方向に関する前記欠陥の最大長さ、のいずれかを前記欠陥の大きさとすることを特徴とする請求項1〜5のいずれか一項に記載の記録方法。
- 前記欠陥の大きさを検出する工程では、トラックのスパイラル方向又は円周方向に関する前記欠陥の最大長さ、及び前記光ディスクの半径方向に関する前記欠陥の最大長さ、のうち大きいほうを前記欠陥の大きさとすることを特徴とする請求項1〜5のいずれか一項に記載の記録方法。
- 前記欠陥の大きさを検出する工程では、前記光ディスクの半径方向に、少なくとも1トラック分だけトラックジャンプしつつ、前記欠陥の大きさを検出することを特徴とする請求項1〜7のいずれか一項に記載の記録方法。
- スパイラル状又は同心円状のトラックが形成された記録面を有する光ディスクに対する情報の記録が可能な光ディスク装置であって、
光ディスクの記録面に光を集光するとともに、該記録面からの戻り光を受光し光電変換信号を出力する光ピックアップ装置と;
記録中に、前記光電変換信号に基づいて欠陥の有無を監視し、欠陥が検出されると記録を一時的に中断し、前記欠陥の大きさが予め設定されている上限値以下の場合に、記録を中断した位置から記録を再開させる処理装置と;を備える光ディスク装置。 - 前記処理装置は、前記欠陥の大きさが前記上限値を超える場合に、前記欠陥を回避した位置から記録を再開させることを特徴とする請求項9に記載の光ディスク装置。
- 前記光ディスクに記録される記録用データが一時的に蓄積されるバッファメモリを更に備え、
前記処理装置は、欠陥が検出されたときに前記バッファメモリに蓄積されている記録用データのデータ量が予め設定されている値よりも少ない場合に記録を一時的に中断することを特徴とする請求項9又は10に記載の光ディスク装置。 - 光ディスクの記録面に光を集光するとともに、該記録面からの戻り光を受光し光電変換信号を出力する光ピックアップ装置を有し、光ディスクに対する情報の記録が可能な光ディスク装置に用いられるプログラムであって、
前記光電変換信号に基づいて欠陥があるか否かを判断する手順と;
前記判断の結果、欠陥がある場合に、記録を一時的に中断し、前記欠陥の大きさを検出する手順と;
前記検出された欠陥の大きさと、予め設定されている上限値とを比較する手順と;
前記比較の結果、前記欠陥の大きさが前記上限値以下の場合に、記録を中断した位置から記録を再開する手順と;を前記光ディスク装置の制御用コンピュータに実行させるプログラム。 - 前記比較の結果、前記欠陥の大きさが前記上限値を超える場合に、前記欠陥を回避した位置から記録を再開する手順を、前記制御用コンピュータに更に実行させることを特徴とする請求項12に記載のプログラム。
- 請求項12又は13に記載のプログラムが記録されたコンピュータ読み取り可能な記録媒体。
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---|---|---|---|
JP2005216592A JP2007035153A (ja) | 2005-07-27 | 2005-07-27 | 記録方法、光ディスク装置、プログラム及び記録媒体 |
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JP2005216592A Pending JP2007035153A (ja) | 2005-07-27 | 2005-07-27 | 記録方法、光ディスク装置、プログラム及び記録媒体 |
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WO2008041700A1 (fr) * | 2006-10-04 | 2008-04-10 | Panasonic Corporation | Dispositif de disque optique |
JP2008269738A (ja) * | 2007-04-24 | 2008-11-06 | Sony Corp | 光ディスク装置及び光ディスクの記録方法 |
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2005
- 2005-07-27 JP JP2005216592A patent/JP2007035153A/ja active Pending
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