JP4460569B2 - 光ディスク装置及びその記録パワー設定方法 - Google Patents

Description

本発明は、円盤状の情報記録媒体である光ディスクにデータを記録する光ディスク装置に関し、特に、レーザビームの記録パワーを最適に調整する光ディスク装置及びその記録パワー設定方法に関する。

従来、光ディスクにデータを記録する際、光ディスク毎に十分な記録品質が得られるように、テスト記録を実行することによりレーザビームの最適記録パワーを求め、当該求めた最適記録パワーによりデータを記録することが行われている。以下、かかる工程をＯＰＣ（Optimum Power Control）と呼ぶ。その際、従来技術によれば、記録品質を評価するパラメータとして、各種の方式が実施・提案されている。例えば、ＣＤやＤＶＤディスクでは、記録された信号のアシンメトリ（β値）を評価指標とする方法（β方式）が使用されている。また、高密度大容量のブルーレイ（ＢＤ：Blu-ray）ディスクに対しては、変調度を評価指標として、その変化を直線近似することにより最適値を求める方法、所謂、κ（カッパ）方式が推奨されている（より詳細には、ＢＤ−ＲＥではκ方式が、ＢＤ−Ｒではκ方式またはβ方式が推奨されている）。なお、これら各方式における記録条件を設定するためのパラメータは、光ディスク毎に、その一部にコントロールデータとして格納されている。

また、これらの方法を改良し、最適条件を高精度に設定する方法が提案されている。例えば、以下の特許文献１には、β方式の改良として、光ディスクから取得した反射率に関する値とβ値に基づいて記録パワーを設定する方法が開示される。また、以下の特許文献２には、κ方式の改良として変調度の測定を２回行い、ターゲットパワーレベルを中心とする範囲の測定結果から最適値を求める方法が開示される。

更に、光ディスクの高速記録においては、主に、ＣＡＶ(Constant Angular Velocity)と呼ばれる、内周から外周に向かって記録速度を高める記録方式が用いられており、光ディスクの記録を行うレーザパワーとストラテジとは、ディスクの内周と外周の間に位置する領域において試し書きで求めた最適値に対し、演算による補正を加えることによって求められる。

例えば、以下の特許文献３には、ＣＡＶ記録に対する内周試し書きと外周試し書きを用いる方式が記載されており、この方式によれば、添付の図１５にも示すように、ディスク内周のＯＰＣ領域及び外周のＯＰＣ領域で、それぞれ、最適記録パワーを求め、ディスクの各半径位置（横軸）における投入すべき記録パワー（Power：縦軸）を線形補間により求める。また、ＣＡＶ記録とは異なるＣＬＶ(Constant Linear Velocity)記録においても、ディスクの内外周において同一速度でＯＰＣを行って最適記録パワーを求め、当該求められたパワーに差が出た場合にも、上記と同様にして、ディスクの各半径位置における記録パワーを、線形補間により求めることも既に知られている。

一方、個々の光ディスク内における感度の不均一による記録への影響や、周囲温度変化によってレーザ特性が変化することによる記録への影響をも加味する必要があり、通常、ＤＶＤではウォーキングＯＰＣと呼ばれる記録中の記録品質を確認する手法が用いられている。これは、例えば、添付の図１６にも示すように、ディスク上である程度記録を行った後、一旦、記録を中断し、当該記録中断直前での記録品質(例えば、βなど)を調べることにより、記録パワーを補正することを内容とするものであり、かかるウォーキングＯＰＣの一例が、例えば、以下の特許文献４に開示されている。

特開２００５−１１６０２７号公報 特開２００５−１４９５３８号公報 特開２００５−１９０５２５号公報 特開２００４−２３４８１２号公報

ところで、特に、上述したＢＤディスクのような高密度大容量のディスクにおいては、より緻密な最適記録パワーの設定が要求されている。

しかしながら、かかる要求に対し、上述した従来のβ方式は、簡便に記録品質を評価できる方法ではあるが、最適記録パワー近傍での測定感度が悪く（記録パワー値に対するβ値の変化が小さく）、精度の良い測定は困難である。また、上記従来技術のκ方式においても、直線近似付近では低パワーとなるため、測定精度が低下してしまい、得られる記録パワーの最適値のばらつきが大きい。

更に、上記の特許文献１に記載された方法では、新たに反射率に関する値の測定技術が必要となり、また、上記の特許文献２に記載される方法では、β値の測定を２回行う必要があるという問題点があった。

また、上記の特許文献３に記載された方法も、レーザ特性の変化に伴う温度変化に対して弱く、更には、線形補間のため、誤差が比較的大きく、ＢＤディスクのような高密度大容量のディスクに対して緻密な最適記録パワーの設定を行うことを出来ず、そして、上記の特許文献４に記載された方法も、上述したＢＤディスク、特に、ＢＤ−Ｒ（１回だけ記録可能）と呼ばれるディスクの一部、ＢＤ−ＲＥ（書替え可能）と呼ばれるディスクの全般では、最適記録パワー付近での記録パワーに対するβの感度が悪いころから、本方法を用いることが出来ないという問題点が指摘されていた。加えて、ブルーレイディスクでは、後にも説明するように、ウォーキングＯＰＣによるβ値評価が困難となっており、そのため、新たな記録中の記録品質を確認する手法が必要となった。

そこで、本発明では、ブルーレイディスクに代表される高密度大容量の光ディスクであって、最適記録パワー近傍での測定感度が悪く、所定の情報記録単位であるＲＵＢ単位で多数に分割されたの記録領域から構成されており、かつ、各記録領域の一部に情報記録に関係しない自由な記録を行うことが出来る領域を設けた光ディスクに対して、記録中の記録品質を確認して最適な記録パワーを設定する新たな手法を提供することを目的とするものである。

なお、本願に先立って、本発明者等により、既に、２００５年１２月１日に出願された特願２００５−３４７４８４には、消去（イレーズ）パワー（Ｐｅ）を一定にしたテスト信号を用いることによりβ感度が良くなることが確認されており、これを利用した最適記録パワー設定方法や、これに加えて、変調度Ｍを指標とするκ法を併用する場合の最適記録パワー設定方法が提案されている。

そして、本発明においては、かかる最適記録パワー設定方法を、特に、ＢＤディスクのような高密度大容量のディスクに適用するものであり、その際、上述したように、所定の情報記録単位（ＲＵＢ）によって多数の領域に分割されて構成された記録領域の一部に設けられたＡＰＣ領域と呼ばれる領域を利用することにより、記録中の記録品質を確認して最適な記録パワーを設定する新たな手法を提供するものである。

より具体的には、まず、本発明によれば、上記の目的を達成するため、記録面上において、所定の情報記録単位からなる複数の記録領域が分割されて構成されており、かつ、当該記録領域の一部に、情報記録に関係しない記録が可能な領域を備えてなる光ディスクに対し、データを記録及び再生する光ディスク装置において、テスト信号を生成する信号形成回路と、該信号形成回路から供給されるテスト信号に基づいて該光ディスクにレーザ光を照射してテスト信号を記録し、そして、該光ディスクから前記テスト信号を再生する光ピックアップと、該光ピックアップの再生した前記テスト信号から非対称性を示すβ値を取得する検出回路と、該検出回路の取得したβ値が目標β値となる記録パワーから最適の記録パワーＰｗｏを設定する制御回路とを備え、上記信号形成回路は、上記テスト信号として、消去パワーＰｅを固定し記録パワーＰｗを変化させたテスト信号を生成すると共に、上記テスト信号を、前記光ディスクの記録領域の一部に形成した当該情報記録に関係しない記録が可能な領域に対して記録することにより、当該光ディスクに対する最適の記録パワーＰｗｏを設定する光ディスク装置が提供される。

また、本発明によれば、やはり上記の目的を達成するため、記録面上において、所定の情報記録単位からなる複数の記録領域が分割されて構成されており、かつ、当該記録領域の一部に、情報記録に関係しない記録が可能な領域を備えてなる光ディスクに対し、データを記録する際の記録パワーを設定する記録パワー設定方法において、当該光ディスクの記録領域の一部に形成された情報記録に関係しない記録が可能な領域に対して、消去パワーＰｅを固定し、かつ、記録パワーＰｗを変化させたテスト信号を記録し、当該記録した信号を再生して、当該記録パワーに対する再生信号の非対称性を示すβ値を取得し、当該取得したβ値が目標β値となる記録パワーから、前記最適の記録パワーＰｗｏを設定する記録パワー設定方法が提供される。

なお、本発明では、前記に記載した光ディスク装置又は記録パワー設定方法において、前記信号形成回路は、前記テスト信号に用いる消去パワーＰｅを決定するために、第２のテスト信号を生成して前記光ディスクの記録領域の一部に形成した当該情報記録に関係しない記録が可能な領域に記録させ、前記検出回路は、該光ディスクより再生される該第２のテスト信号から振幅値を示す変調度Ｍ値を取得し、前記信号形成回路は、該検出回路の取得した変調度Ｍ値の結果に基づき、前記テスト信号に用いる消去パワーＰｅを決定することが好ましい。又は、前記信号形成回路は、前記テスト信号に用いる消去パワーＰｅとして、前記光ディスクに予め記録されている記録条件、又は、当該装置が該光ディスクに対して定めている記録条件に従い、Ｐｅの値を決定して前記光ディスクの記録領域の一部に形成した当該情報記録に関係しない記録が可能な領域に記録させることが、或いは、前記テスト信号に用いる消去パワーＰｅとして、略ゼロ値（Ｐｅ≒０）を用いテスト信号を生成し、前記光ディスクの記録領域の一部に形成した当該情報記録に関係しない記録が可能な領域に対して記録することが好ましい。

または、前記に記載した光ディスク装置又は記録パワー設定方法において、前記光ディスクの記録領域の一部に形成した当該情報記録に関係しない記録が可能な領域に対して記録された上記テスト信号の再生信号における非対称性を示すβ値の測定値を複数平均化することにより、当該光ディスクに対する最適の記録パワーＰｗｏを設定することが好ましい。

以上に述べたように、本発明によれば、ブルーレイディスクに代表される高密度大容量の光ディスクに対しても、記録中の記録品質を確認して最適な記録パワーを設定することが可能な光ディスク装置及びその記録パワー設定方法を提供するという優れた効果を発揮するものである。

以下、本発明の実施の形態について、添付の図面を参照しながら詳細に説明する。まず、添付の図１は、本発明の一実施の形態になる光ディスク装置の概略構成を示すブロック図である。

この図１において、本実施の形態になる光ディスク装置は、ブルーレイディスクに代表される高密度大容量の光ディスク１を装着して所定の回転速度で回転駆動するスピンドルモータ３と、当該スピンドルモータにより回転駆動される光ディスク１の記録面（図の下面）に対し、半導体レーザで発生したレーザ光を照射し、もって、データやテスト信号などを記録し、又は、再生する光ピックアップ２とを備えている。また、この光ピックアップ２には、スレッド機構４が取り付けられており、当該機構の働きにより、上記光ピックアップ２を、所定の速度で回転駆動される光ディスク１上の所望のトラック位置に、移動させる。

一方、図に示す記録信号形成回路６は、記録するデータまたはテスト信号を生成し、レーザドライバ５は、当該回路からのデータ又はテスト信号に基づいて、半導体レーザの発光パワーを制御する。この結果、光ディスク上の所望のトラック位置には、上記のデータ又はテスト信号が記録される。

また、光ピックアップ２は、所定の回転速度で回転駆動される光ディスク１から、上記の記録されたデータ又はテスト信号を再生する。この再生信号（ＲＦ信号）は、更に、ＲＦ信号増幅回路７において増幅され、データ復調回路８において復調されて、再生データ（情報）として出力される。

更に、図のＯＰＣ情報検出回路９は、上記テスト信号の再生結果から、ＯＰＣ情報（β値などの品質）を取得する。また、光ディスク１のコントロール領域には、当該光ディスクの記録パワー設定を含む記録条件（以下、ストラテジ情報）がコントロールデータとして予め記録されており、それを読み出すことにより、最適記録条件の決定に利用する。

そして、フォーカス・トラッキング誤差信号検出器１１は、例えば、再生信号（ＲＦ信号）のレベルを検出して、フォーカス誤差及びトラッキング誤差信号を生成する。フォーカス・トラッキング制御回路１２は、当該誤差信号に基づいて光ピックアップ２のフォーカス制御とトラッキング制御を行う。また、システムコントローラ（制御回路）１０は、記録パワー設定工程（ＯＰＣ）を含め装置全体の制御を行い、そのためのプログラムやデータをメモリ１３に格納している。

上記の構成において、特に、最適記録パワーの設定に関して述べると、ストラテジ情報を参考にして、記録信号形成回路６にて記録パワー等を段階的に変化させたテスト信号を形成し、光ディスク１のＯＰＣ領域にテスト記録する。次に、光ピックアップ２でテスト信号を再生し、ＯＰＣ情報検出回路９にて再生波形の品質（変調度やアシンメトリ）を測定する。システムコントローラ（制御回路）１０は、再生波形の品質に関する測定結果に基づき、記録パワーの最適値を決定する。

続いて、本実施の形態における最適記録パワーの設定方法について説明する。即ち、添付の図２は、テスト記録用の記録波形を模式的に示す図である。縦軸は発光パワーレベルを、記号Ｐｗは記録パワーｗｐ、Ｐｅは消去パワーを示す。記録パワーＰｗは所定の範囲で段階的に変化させる。その時、消去パワーＰｅは固定とする（なお、一部の工程では、記録パワーＰｗと共に、Ｐｗ／Ｐｅ比が一定となるようにＰｅを変化させる）。

また、本実施の形態では、再生波形の品質評価の際に、次の指標を用いる。１つは再生波形の正負振幅の非対称性（アシンメトリ）を示すβ値である（β方式）。他の１つは、再生波形の振幅の大きさを最大（飽和）振幅との比率で表した変調度Ｍである。従来は、β値あるいはＭ値の目標値（Ｔａｒｇｅｔ）を設定し、目標値が得られるパワーＰｗを基にして最適記録パワーＰｗｏを決定していたが、本実施の形態では、これを改良したものである。
＜β方式＞

即ち、まず、最適記録パワー決定のために、β値によって品質を評価するβ方式を採用するものとする。なお、変調度Ｍを指標とするκ方式では、ＲＦ振幅のピークレベル（絶対値）を基準として変調度Ｍを測定するため、特に、２層媒体における他層（記録済）から混入する信号がオフセットとして変調度に影響を与え、これを避けることが困難であった。それに対し、このβ方式では、ピークレベルとＤＣレベルの差（相対値）とＲＦ振幅の比からβ値を求めることから、他の層からのオフセットの影響を受けない。更に、本実施の形態では、その精度を向上するために、テスト信号の消去パワーＰｅを固定としたことに特徴がある。

添付の図３は、このβ値測定に関し、特に、従来方法と本実施の形態になる方法とを比較するための図である。まず、図３（ａ）は従来法を示し、消去パワーＰｅは、記録パワーＰｗと共に、Ｐｗ／Ｐｅ比が一定となるように変化させ、もって、β値を測定していた。しかしながら、この方法では、低パワー領域では特性曲線の勾配は急峻であり、一方、目標値Ｔａｒｇｅｔ＿βの得られる高パワー領域では、特性曲線の勾配が緩やかになる。特に、上述したＢＤディスクのように、緻密な調整が要求される場合には、特性曲線には適度な勾配があることが必要であり、図３（ａ）に示すような記録パワーの特性では、その最適値Ｐｗｏを高精度に求めるのは困難である。

これに対し、図３（ｂ）は、消去パワーＰｅを固定すると共に、Ｐｗのみを変化させ、もって、β値を測定したものである。なお、ここで、Ｐｅを、通常の消去パワーＰｅよりも低い値、ａ、ｂ、ｃ（ａ＞ｂ＞ｃ）に設定した場合に得られる特性曲線が示されている。即ち、この方式によれば、高パワー領域での曲線が適度の勾配を有するようになり（即ち、測定感度が高い）、Ｔａｒｇｅｔ＿βに対する最適パワーＰｗｏを精度良く求めることが可能となる。但し、上記Ｐｅ値の与え方によっては、β曲線がシフトしてしまい、求まる最適値Ｐｗｏの値がずれてしまうことがある。よって、Ｐｅ値を予め正しく求めておく必要がある。なお、図３（ｃ）は、このＰｅ値を「０」に固定した場合である。この場合にも、β曲線は適度な勾配を示すが、その際には、Ｐｅ値を「０」としたことによる補正（例えば、Ｔａｒｇｅｔ＿βの補正）が必要となる。

なお、最適値Ｐｗｏの値を設定する際には、目標値Ｔａｒｇｅｔ＿βが得られる記録パワー値をそのまま最適値Ｐｗｏとするだけではなく、その他、例えば、目標値Ｔａｒｇｅｔ＿βが得られる記録パワー値に対して所定の係数を掛け、最適値Ｐｗｏの値を求めるようにしても良い。

以下には、上述したように、消去パワーＰｅを固定とする具体的な最適記録パワー設定方法の手順を、図５のフローチャートを用いて説明する。

＜設定方法１＞
図５は、固定とするＰｅを求めるために、変調度Ｍを指標とするκ法を併用する場合の最適記録パワー設定方法のフローチャートである。なお、図４は、併用するκ方式の測定法を説明する図である。
＜κ方式＞

ステップＳ５１からＳ５４では、κ方式により、仮のＰｗ（Ｐｗ'）と仮のＰｅ（Ｐｅ'）を決定する。ステップＳ５１では、Ｐｗ／Ｐｅ＝ｓ（既知の係数、一定）の下で、Ｐｗ、Ｐｅを変化させてテスト記録を行い、その変調度Ｍを測定する（図４（ａ））。その際の係数「ｓ」は、当該光ディスクのコントロールデータに含まれるストラテジ情報や、或いは、その光ディスクに対して装置メーカが定めてメモリ１３に格納しているストラテジ情報を参照して用いる。ステップＳ５２では、変調度Ｍが目標値Ｔａｒｇｅｔ＿ＭとなるＰｗ（Ｐｔａｒｇｅｔ）の近傍で、ＰｗとＭの積（Ｐｗ×Ｍ）とＰｗとの関係を直線近似する（図４（ｂ））。ステップＳ５３では、横軸（Ｐｗ×Ｍ＝０）との交点のＰｗ値を切片Ｐｔｈｒとする。ステップＳ５４では、Ｐｔｈｒに所定の係数κ、ρ（いずれも既知）を掛けて仮のＰｗ'を決定し、また１／ｓを掛けて仮のＰｅ'を決定する。

次に、ステップＳ５５からＳ５８では、β方式により最適値ＰｗｏとＰｅｏを決定する。まず、ステップＳ５５では、Ｐｗを仮のＰｗ'を中心に所定範囲ｎ％〜ｍ％内で変化させ、また、Ｐｅについては、仮のＰｅ'に固定し、テスト信号を記録する。ステップＳ５６では、記録したテスト信号を再生し、ＯＰＣ情報を、ここではβ値（アシンメトリ）を取得する。ステップＳ５７では、β値がＴａｒｇｅｔ＿βとなるＰｗから最適値Ｐｗｏを決定する。そして、ステップＳ５８では、Ｐｗｏに１／ｓを掛けて最適値Ｐｅｏを決定する。

上記の方法によれば、β測定時のＰｅ値として、κ法により求めた値Ｐｅ'を用いるので極めて確度が高く、正確な記録パワーを設定することができる。最適なＰｅ値はディスクの種類で異なり、また、ドライブのばらつきや温度条件によって変動するものであるが、この方法によれば、これらの変動に対しても常に安定した設定を可能にするという効果が得られる。

＜設定方法２＞
図６は、固定とするＰｅを求めるために当該ディスクのストラテジ情報などを参照する場合における、最適記録パワー設定方法のフローチャートである。

ステップＳ６１では、光ディスクのコントロールデータ、あるいは装置のメモリ１３からストラテジ情報を読み出し、記述されている値から仮のＰｗ'と仮のＰｅ'を設定し、その比Ｐｗ'／Ｐｅ'＝ｓとする。ステップＳ６２では、Ｐｗは、仮のＰｗ'を中心に所定範囲ｎ％〜ｍ％内で変化させ、Ｐｅを仮のＰｅ'に固定してテスト信号を記録する。ステップＳ６３では、記録したテスト信号を再生し、β値を取得する。ステップＳ６４では、β値がＴａｒｇｅｔ＿βとなるＰｗから最適値Ｐｗｏを決定する。ステップＳ６５では、Ｐｗｏに１／ｓを掛けて最適値Ｐｅｏを決定する。

この方法によれば、パワー設定の工程が短縮する。即ち、上記＜設定方法１＞で行っていたκ方式（Ｓ５１〜Ｓ５４）の工程が省略でき、設定時間の短縮を図ることが出来る。

＜設定方法３＞
図７は、図３（ｃ）のようにＰｅ＝０に固定した場合における最適記録パワー設定方法のフローを示す図である。

ステップＳ７１では、光ディスクのコントロールデータ、あるいは装置のメモリ１３からストラテジ情報を読み出し、記述されている値から仮のＰｗ'と仮のＰｅ'を設定し、その比Ｐｗ'／Ｐｅ'＝ｓとする。ステップＳ７２では、Ｐｗは、仮のＰｗ'を中心に所定範囲ｎ％〜ｍ％内で変化させ、Ｐｅを「０（零）」に固定してテスト信号を記録する。なお、ここで言うＰｅ＝０は、厳密に零とすることを意図するものではなく、他の値（Ｐｗ）と比較してほぼゼロに近い値とする意味である。ステップＳ７３では、テスト信号を再生し、β値を取得する。ステップＳ７４では、β値がＴａｒｇｅｔ＿βとなるＰｗから最適値Ｐｗｏを決定する。なおこの場合には、Ｐｅ＝０と仮定したことによるβ曲線のシフトを補償するため、Ｔａｒｇｅｔ＿βの値には補正値を用いる。ステップＳ７５では、Ｐｗｏに１／ｓを掛けて最適値Ｐｅｏを決定する。

この方法によれば、測定されるβ曲線はただ１つだけであり、これから求まる最適値は光ディスクの種類、装置のばらつきや温度条件によって左右されず、安定な結果が期待できる。また、必要な測定は、β方式１回の工程であり、そのため、大幅な時間短縮を図することが可能となる。

以上のように、上述した最適記録パワー決定方法によれば、最適記録パワー決定のために、消去パワーＰｅを固定して記録パワーＰｗを変化させてβ値を取得するβ方式を採用し、又は、変調度Ｍを指標とするκ法式を採用するものである。そして、本発明では、これらの方式を利用して、特に、ブルーレイディスクに代表される高密度大容量の光ディスクに対しても、記録中の記録品質を確認して最適な記録パワーを設定することを可能とするものである。より具体的には、当該方法を、ブルーレイディスクに代表される高密度大容量の光ディスクに対して適用するものであり、その際、特に、当該ディスクに固有な、所定の情報記録単位（ＲＵＢ）によって多数の領域に分割されて構成された記録領域の一部に設けられたＡＰＣ領域と呼ばれる領域を利用することにより、記録中の記録品質を確認して最適な記録パワーを設定する新たな手法を提供するものである。

図８（ａ）には、上記ブルーレイディスク（ＢＤ）の記録面上に多数形成された情報記録単位（ＲＵＢ）が示されており、その先頭の部分には、図８（ｂ）に示すように、５ｗｂｓ（ウォブル）を単位として、上記ＡＰＣ領域が設けられている。そこで、本発明では、このＡＰＣ領域に着目することにより、記録中の記録品質を確認しながら最適な記録パワーを設定する新たな手法を提供するものである。しかしながら、このＡＰＣ領域は、上述したように、そのデータ長さが５ｗｂｓ（ウォブル）と短く、そのため、以下に述べる方法によって、上述した最適記録パワー決定方法を適用するものである。即ち、当該ＡＰＣ領域は、５ｗｂｓと非常に短く、そのため、ただ１のＡＰＣ領域だけでは、取得し得る測定データが少なく、また、その値がばらついてしまうこととなる。そこで、複数のＡＰＣ領域を利用することにより、上述した最適記録パワー決定方法によって十分な測定データを取得し、もって、ばらつきの少ない最適記録パワーを取得する方法とするものである。

まず、添付の図９〜図１１には、本発明の一実施の形態になる最適記録パワー決定方法を示しており、この例では、上述したβ方式又はκ方式による最適記録パワー決定方法を、複数の上記ＡＰＣ領域において実施して測定データを取得し、それらの平均値を求めることにより、上述した設定方法の何れかを利用することにより、最適な記録パワーを決定するものである。なお、これらの図において、縦軸は、レーザパワーを、横軸は上記ブルーレイディスク（ＢＤ）の記録面上におけるＲＵＢの半径位置、即ち、各ＲＵＢのＩＤ番号が示されている。

即ち、添付の図９に示す最適記録パワー決定方法では、複数のＲＵＢに渡って、その一部に位置する複数のＡＰＣ領域を利用し、例えば、その記録パワーを順次変化（例えば、…Ｐ_ｋ−１、Ｐ_ｋ、Ｐ_ｋ＋１…）させながら記録を行い、その後、上記の最適記録パワー決定方法によって、これらを一括して、測定データを取得する。その際、この例では、上記変化する記録パワーの各々に対して複数のデータを取得し、これらの平均値を求めることにより（データ平均化）、ばらつきの少ない測定を可能とし、もって、確実な最適記録パワーの取得（最適Ｐｏｗｅｒ）を可能にするものである。なお、この最適記録パワーの取得（最適Ｐｏｗｅｒ）を取得した後、光ディスク装置は、取得した最適Ｐｏｗｅｒに従って、最適記録パワーを補正する（Ｐｏｗｅｒ補正）。

また、添付の図１０に示す最適記録パワー決定方法では、隣接する組のＡＰＣ領域に対して記録パワーを順次変化（例えば、…Ｐ_ｋ−１、Ｐ_ｋ、Ｐ_ｋ＋１…）させながら、複数組のＡＰＣ領域に記録を行い、その後、上記の最適記録パワー決定方法によって、これらを一括して、測定データを取得する。その際、この例では、互いに離れたＡＰＣ領域におけるデータを取得し、その平均値を求めることにより（データ平均化）、上記と同様に、ばらつきの少ない測定を可能とすると共に、特に、記録面上で不均一な特性を示すディスクにおける最適記録パワー決定に好適であろう。更に、添付の図１１には、その際、各組のＡＰＣ領域において求められた最適記録パワー（最適Ｐｏｗｅｒ）の平均を求め方法が示されており、これによっても、上記と同様の効果を得ることが出来る。

更に、添付の図１２には、他の方法が示されており、この最適記録パワー決定方法では、一旦、複数のＡＰＣ領域において記録パワーを順次変化（例えば、…Ｐ_ｋ−１、Ｐ_ｋ、Ｐ_ｋ＋１…）させて最適記録パワー（最適Ｐｏｗｅｒ）を求めてＰｏｗｅｒ補正を行い、その後、記録パワーを順次変化（例えば、…Ｐ_ｋ−１、Ｐ_ｋ、Ｐ_ｋ＋１…）させながらＰｏｗｅｒ補正を行う。その際、次の１のＡＰＣ領域に対する記録（この場合、パワーＰ_ｋ―１による記録）を行なう度に、先の測定データから１のデータ（この場合には、最初のパワーＰ_ｋ―１による記録）を除いて平均値を求めることにより（データ平均化）、続くＲＵＢに対して最適記録パワー決定方法を順次行なうものである。この方法によれば、図からも明らかなように、Ｐｏｗｅｒ補正を、順次、連続するＲＵＢに対して行なうことが可能となることから、特に、記録中の記録品質を逐次確認して最適な記録パワーを設定するのに好適である。

加えて、添付の図１３に示す最適記録パワー決定方法では、上記の方法とは異なり、隣接する複数のＲＵＢを単位として、その一部のＡＰＣ領域（図の例では、先頭のＲＵＢにおけるＡＰＣ領域）に対して、換言すれば、ＡＰＣ領域の間に数ＲＵＢの領域を空けて、上記と同様、記録パワーを順次変化（例えば、…Ｐ_ｋ−１、Ｐ_ｋ、Ｐ_ｋ＋１…）させながら、Ｐｏｗｅｒ補正を行い、その後、これらの領域に対し、一括して、測定データを取得する。その結果、得られた測定データから平均値を求めることにより（データ平均化）、上記と同様に、ばらつきの少ない測定を可能とすると共に、この方法では、所定の領域に対して、より迅速な最適記録パワーの決定を行なうことが可能になる。

そして、添付の図１４（ａ）及び（ｂ）には、更に他の方法が示されており、この最適記録パワー決定方法では、所謂、ウォーキングＯＰＣと同様に、複数のＡＰＣ領域に対して記録パワーを順次変化（例えば、…Ｐ_ｋ−１、Ｐ_ｋ、Ｐ_ｋ＋１…）させ、その後、当該複数のＡＰＣ領域分だけ戻り、一括して測定データを取得する。そして、これにより得られた測定データに基づいてＰｏｗｅｒ補正を行い、その後、記録を再開するが、最適記録パワー決定のための記録は中断し、即ち、その間に数ＲＵＢの領域を空けて、再度、上記の動作を繰り返すものである。なお、この方法によっても、ウォーキングＯＰＣと同様に、所定の領域に対し、確実かつより迅速な最適記録パワーの決定を行なうことが可能になる。

即ち、上記に種々述べた最適記録パワー決定方法では、β測定時の記録パワーの設定方法として、上述した各種の方法を利用することにより、特に、ブルーレイディスクに代表される高密度大容量の光ディスクに対して適用して、記録中の記録品質を確認して最適な記録パワーを設定することが可能となる。なお、ここでは、特に、Ｐｅを一定にしてβを求める方式について詳細に述べたが、本発明でこれに限定されることなく、その他、β方式、γ方式、κ方式等を用いることによっても実現することが可能である。

本発明による光ディスク装置の一実施例を示すブロック図。 テスト記録用の記録波形を模式的に示す図。 β値測定に関し、従来方法と本実施例の方法を比較する図。 本実施例で併用するκ方式の測定法を説明する図。 最適記録パワー設定方法（１）のフローチャートを示す図。 最適記録パワー設定方法（２）のフローチャートを示す図。 最適記録パワー設定方法（３）のフローチャートを示す図。 本発明の一実施の形態による最適記録パワー決定方法を説明する図。 本発明の他の実施の形態によるに最適記録パワー決定方法を説明する図。 本発明の他の実施の形態によるに最適記録パワー決定方法を説明する図。 本発明の他の実施の形態によるに最適記録パワー決定方法を説明する図。 本発明の他の実施の形態によるに最適記録パワー決定方法を説明する図。 本発明の他の実施の形態によるに最適記録パワー決定方法を説明する図。 本発明の他の実施の形態によるに最適記録パワー決定方法を説明する図。 従来技術における最適記録パワー決定方法を説明する図。 従来技術における最適記録パワー決定方法（ウォーキングＯＰＣ）を説明する図。

符号の説明

１…光ディスク、２…光ピックアップ、３…スピンドルモータ、４…スレッド機構、５…レーザドライバ、６…記録信号形成回路、７…ＲＦ信号増幅回路、８…データ復調回路、９…ＯＰＣ情報検出回路、１０…システムコントローラ。

Claims (4)

1. 記録面上において、所定の情報記録単位からなる複数の記録領域が分割されて構成されており、かつ、当該記録領域の一部に、情報記録に関係しない記録が可能な領域を備えてなる光ディスクに対し、データを記録及び再生する光ディスク装置において、
   テスト信号を生成する信号形成回路と、
   該信号形成回路から供給されるテスト信号に基づいて該光ディスクにレーザ光を照射してテスト信号を記録し、そして、該光ディスクから前記テスト信号を再生する光ピックアップと、
   該光ピックアップの再生した前記テスト信号から非対称性を示すβ値を取得する検出回路と、
   該検出回路の取得したβ値が目標β値となる記録パワーから記録パワーＰｗｏを設定する制御回路とを備え、
   前記信号形成回路は、前記テスト信号に用いる消去パワーＰｅを決定するために、第２のテスト信号を生成して前記光ディスクの記録領域の一部に形成した当該情報記録に関係しない記録が可能な領域に記録させ、
   前記検出回路は、該光ディスクより再生される該第２のテスト信号から振幅値を示す変調度Ｍ値を取得し、
   前記信号形成回路は、該検出回路の取得した変調度Ｍ値の結果に基づき、前記テスト信号に用いる消去パワーＰｅを決定し、
   前記テスト信号として、決定した消去パワーＰｅを固定し記録パワーＰｗを変化させたテスト信号を生成すると共に、
   前記テスト信号を、前記光ディスクの記録領域の一部に形成した当該情報記録に関係しない記録が可能な領域に対して記録することにより、前記光ディスクに対する記録パワーＰｗｏを設定することを特徴とする光ディスク装置。
2. 前記請求項１に記載の光ディスク装置において、前記光ディスクの記録領域の一部に形成した当該情報記録に関係しない記録が可能な領域に対して記録された前記テスト信号の再生信号における非対称性を示すβ値の測定値を複数平均化することにより、前記光ディスクに対する記録パワーＰｗｏを設定することを特徴とする光ディスク装置。
3. 記録面上において、所定の情報記録単位からなる複数の記録領域が分割されて構成されており、かつ、当該記録領域の一部に、情報記録に関係しない記録が可能な領域を備えてなる光ディスクに対し、データを記録する際の記録パワーを設定する記録パワー設定方法において、
   テスト信号に用いる消去パワーＰｅを決定するために、第２のテスト信号を生成して前記光ディスクの記録領域の一部に形成した当該情報記録に関係しない記録が可能な領域に記録させ、
   該光ディスクより再生される該第２のテスト信号から振幅値を示す変調度Ｍ値を取得し、
   当該取得した変調度Ｍ値の結果に基づき、前記テスト信号に用いる消去パワーＰｅを決定し、
   決定した消去パワーＰｅを固定し、かつ、記録パワーＰｗを変化させたテスト信号を、前記光ディスクの記録領域の一部に形成された情報記録に関係しない記録が可能な領域に対して記録し、
   当該記録した信号を再生して、当該記録パワーに対する再生信号の非対称性を示すβ値を取得し、
   当該取得したβ値が目標β値となる記録パワーから、前記記録パワーＰｗｏを設定することを特徴とする記録パワー設定方法。
4. 前記請求項３に記載の記録パワー設定方法において、前記光ディスクの記録領域の一部に形成した当該情報記録に関係しない記録が可能な領域に対して記録された前記テスト信号の再生信号における非対称性を示すβ値の測定値を複数平均化することにより、前記光ディスクに対する記録パワーＰｗｏを設定することを特徴とする記録パワー設定方法。

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