JP2006234401A - 回路配線検査方法および回路配線検査装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】幹配線Mと枝配線P1,P2とを含む回路配線110を検査対象とする回路配線検査方法であって、電流検出抵抗12を含む電流発生器10を枝配線P1の反幹配線側端点P1yと枝配線P2の幹配線側端点P2xとの間に接続して電流Iを出力させると共に、電圧測定器20を枝配線P2の端点P2x,P2y間に接続し、枝配線P1の反幹配線側端点P1yと枝配線P2の幹配線側端点P2xとの間に出力されている電流Iが電流検出抵抗12で検出されないときには枝配線P1の反幹配線側端点P1yと枝配線P2の幹配線側端点P2xとの間に断線有りと判定し、電流Iが電圧測定器20で検出されたときには枝配線P1の端点P1x,P1y間と枝配線P2の端点P2x,P2y間との間に短絡有りと判定する。
【選択図】図1
Description
10 電流発生器
12 電流検出抵抗
20 電圧測定器
30 CPU
100 回路基板
110 回路配線
I 電流
M 幹配線
P1,P2 枝配線
P1x,P2x 幹配線側端点
P1y,P2y 反幹配線側端点
Claims (8)
- 幹配線と当該幹配線から枝状に引き出されている複数の枝配線とを含むと共に当該複数の枝配線の各々に2つの端点が設けられている回路配線を検査対象とし、前記回路配線の断線の有無、および隣接する第1、第2の2つの前記枝配線のうちの当該第1枝配線の前記2つの端点間と当該第2枝配線の前記2つの端点間との間の短絡の有無をそれぞれ検査する回路配線検査方法であって、
信号出力検出部を含む検査信号出力手段を前記第1の枝配線の前記2つの端点のうちの反幹配線側端点と前記第2の枝配線の前記2つの端点のうちの幹配線側端点との間に接続して検査信号を出力させると共に、検査信号検出手段を前記第2の枝配線の前記2つの端点間に接続し、
前記第1の枝配線の前記反幹配線側端点と前記第2の枝配線の前記幹配線側端点との間に出力されている前記検査信号が前記信号出力検出部で検出されないときには前記第1の枝配線の前記反幹配線側端点と前記第2の枝配線の前記幹配線側端点との間に断線有りと判定し、前記検査信号が前記検査信号検出手段で検出されたときには前記第1の枝配線の前記2つの端点間と前記第2の枝配線の前記2つの端点間との間に短絡有りと判定する回路配線検査方法。 - 前記検査信号出力手段として電流発生器を用い、前記検査信号検出手段として電圧測定器を用いる請求項1記載の回路配線検査方法。
- 前記検査信号出力手段として電圧発生器を用い、前記検査信号検出手段として電圧測定器を用いる請求項1記載の回路配線検査方法。
- 前記信号出力検出部は電流検出抵抗を備えて構成されている請求項1から3のいずれかに記載の回路配線検査方法。
- 幹配線と当該幹配線から枝状に引き出されている複数の枝配線とを含むと共に当該複数の枝配線の各々に2つの端点が設けられている回路配線を検査対象とし、前記回路配線の断線の有無、および隣接する第1、第2の2つの前記枝配線のうちの当該第1枝配線の前記2つの端点間と当該第2枝配線の前記2つの端点間との間の短絡の有無をそれぞれ検査する回路配線検査装置であって、
信号出力検出部を含んで構成されると共に前記第1の枝配線の前記2つの端点のうちの反幹配線側端点と前記第2の枝配線の前記2つの端点のうちの幹配線側端点との間に検査信号を出力する検査信号出力手段と、
前記第2の枝配線の前記2つの端点間への前記検査信号の出力の有無を検出する検査信号検出手段と、
前記信号出力検出部が前記第1の枝配線の前記反幹配線側端点と前記第2の枝配線の前記幹配線側端点との間に出力されている前記検査信号を検出しないときには前記第1の枝配線の前記反幹配線側端点と前記第2の枝配線の前記幹配線側端点との間に断線有りと判定し、前記検査信号検出手段が前記検査信号を検出したときには前記第1の枝配線の前記2つの端点間と前記第2の枝配線の前記2つの端点間との間に短絡有りと判定する判定手段とを備えている回路配線検査装置。 - 前記検査信号出力手段は電流発生器を備えて構成され、前記検査信号検出手段は電圧測定器を備えて構成されている請求項5記載の回路配線検査装置。
- 前記検査信号出力手段は電圧発生器を備えて構成され、前記検査信号検出手段は電圧測定器を備えて構成されている請求項5記載の回路配線検査装置。
- 前記信号出力検出部は電流検出抵抗を備えて構成されている請求項5から7のいずれかに記載の回路配線検査装置。
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Cited By (2)
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---|---|---|---|---|
JP2012220275A (ja) * | 2011-04-06 | 2012-11-12 | Hioki Ee Corp | 短絡検査装置および短絡検査方法 |
JP2020012781A (ja) * | 2018-07-20 | 2020-01-23 | パイオニア株式会社 | 検査装置 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63262572A (ja) * | 1987-04-20 | 1988-10-28 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | プリント基板箔スクリ−ニング検査方法 |
JPH05343484A (ja) * | 1992-06-04 | 1993-12-24 | Oputo Syst:Kk | 回路パターン検査装置 |
JPH06148253A (ja) * | 1992-11-04 | 1994-05-27 | Adtec Eng:Kk | 回路パターン検査装置及び検査方法 |
JPH10283044A (ja) * | 1997-04-04 | 1998-10-23 | Asia Electron Inc | 定電流電源装置 |
JP2000275295A (ja) * | 1999-01-21 | 2000-10-06 | Sharp Corp | 電極パターン検査装置および電極パターン検査方法 |
JP2003255007A (ja) * | 2002-02-28 | 2003-09-10 | Hioki Ee Corp | 回路配線検査方法およびその装置 |
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Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63262572A (ja) * | 1987-04-20 | 1988-10-28 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | プリント基板箔スクリ−ニング検査方法 |
JPH05343484A (ja) * | 1992-06-04 | 1993-12-24 | Oputo Syst:Kk | 回路パターン検査装置 |
JPH06148253A (ja) * | 1992-11-04 | 1994-05-27 | Adtec Eng:Kk | 回路パターン検査装置及び検査方法 |
JPH10283044A (ja) * | 1997-04-04 | 1998-10-23 | Asia Electron Inc | 定電流電源装置 |
JP2000275295A (ja) * | 1999-01-21 | 2000-10-06 | Sharp Corp | 電極パターン検査装置および電極パターン検査方法 |
JP2003255007A (ja) * | 2002-02-28 | 2003-09-10 | Hioki Ee Corp | 回路配線検査方法およびその装置 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012220275A (ja) * | 2011-04-06 | 2012-11-12 | Hioki Ee Corp | 短絡検査装置および短絡検査方法 |
JP2020012781A (ja) * | 2018-07-20 | 2020-01-23 | パイオニア株式会社 | 検査装置 |
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