JP2006201465A - 焦点検出装置とそれを用いた蛍光観察装置 - Google Patents
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 165
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 60
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims description 54
- 238000002073 fluorescence micrograph Methods 0.000 claims description 10
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 6
- 210000001747 pupil Anatomy 0.000 claims description 4
- 239000006059 cover glass Substances 0.000 description 51
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 19
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 8
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 5
- 230000035515 penetration Effects 0.000 description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 3
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 2
- 230000004071 biological effect Effects 0.000 description 2
- 238000007654 immersion Methods 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 2
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000005562 fading Methods 0.000 description 1
- 230000001902 propagating effect Effects 0.000 description 1
- 239000012488 sample solution Substances 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
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- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
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- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
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-
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- G02B21/244—Devices for focusing using image analysis techniques
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Analytical Chemistry (AREA)
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Abstract
【解決手段】 エバネッセント光に基づいて観察標本12から発する蛍光像を観察する蛍光観察装置に適用される焦点検出装置において、前記蛍光像のコントラストを検出する検出手段7と、前記検出結果に基づいて焦点を検出する検出手段10と、を備えた。
【選択図】 図1
Description
図1は、本発明の第1の実施の形態にかかる蛍光観察装置の概略構成を示す図である。なお、第1の実施の形態及び以降の実施の形態では、蛍光観察装置として倒立型の落射蛍光顕微鏡を用いて、本発明の実施の形態を説明する。
図1において、1は顕微鏡本体であり、この顕微鏡本体1は、一般的な倒立型の落射蛍光顕微鏡と同様に、照明部2、ダイクロイックミラー3、対物レンズ4、ハーフミラー5、光学フィルタ6および光ディテクタとしての撮像素子(CCDカメラなど)7を有しており、それらが、それぞれの光軸を一致させて配置されている。
なお、蛍光像によるピント検出は、コントラスト差に限らず、像の強度分布などからも求めることができる。
エバネッセントと組み合わせた高精度の焦点検出の効果が得られる。すなわち、蛍光112は上記の数十ナノメートル〜数百ナノメートルのエバネッセント光17の領域でしか発光しないため、数十ナノメートル〜数百ナノメートルという精度で焦点検出ができる。
図2は、本発明の第2の実施の形態にかかる蛍光観察装置の概略構成を示す図である。図2において、図1と同じ部分には同じ符号を付している。
第2の実施の形態では、第1の実施の形態における装置に、新たに焦点検出装置系である集光レンズ30と検出器31を観察光学系の光軸に対して追加している。
図2において、第1の実施の形態では戻り光113を遮光していたが、本実施の形態では、戻り光113を遮光せずに、集光レンズ30にて検出器31の検出ポイント37の後方に集光している。
カバーガラス面13が対物レンズ4の焦点位置よりも上方向に動いた場合を考慮すると、照明光111の戻り光は検出ポイント37に対して検出ポイント38とは反対側の図示しない光路を通ることになる。
従って、まず、ピントがあった状態における集光レンズ30による集光位置である検出器31の検出ポイント37の位置を記憶しておく。そして、集光位置が、検出ポイント37からずれたときに、ピントがずれているということなので、対物レンズ4を動かして、集光位置をピントが合った状態である検出ポイント37の位置に戻す。
これにより、上記の効果に加え、カバーガラス13と標本12の密着面と異なる位置に対物レンズ4の焦点をオフセットして合わせたままで、焦点位置を検出する事ができる。
これにより、上記の効果に加え、エバネッセント光17の浸み出し深さを変化させても焦点位置を検出する事ができる。
これにより、エバネッセント光17の浸み出し深さの変化量を求める事ができる。
これにより、上記の効果に加え、高価な検出器31をより安価な検出器に置き換えることができる。
これにより、上記の効果に加え、焦点検出用の光源の波長を、生体である標本12にダメージを与えにくい赤外光などに変更することができる。
図4は、本発明の第3の実施の形態にかかる蛍光観察装置の概略構成を示す図である。図4において、図1と同じ部分には同じ符号を付している。
図4に示すように、本実施の形態では、新たに焦点検出光源系である焦点検出用レンズ50と、焦点検出装置系である焦点検出用レンズ53と、2分割検出器54とを観察光学系の光軸に対して追加している。
焦点検出用レンズ50が照明光路内に挿入されると、遮光板52は焦点検出戻り光132の光路から抜かれて、焦点検出戻り光132は2分割検出器54に到達する。一方、焦点検出用レンズ50が照明光路内から抜かれると、遮光板52は戻り光113の光路に挿入されて、戻り光113は遮光される。
そこで、2分割検出器54の集光面55にて両検出素子にまたがった小さな集光光が観察できるように対物レンズを光軸方向に調整することで焦点調整を行うことができる。
図7は、本発明の第4の実施の形態にかかる蛍光観察装置の概略構成を示す図である。図7において、図1と同じ部分には同じ符号を付している。
図7に示すように、本実施の形態では、新たに焦点検出光源系である焦点検出光源60と、コリメートレンズ61と、遮光板62と、半透過ミラー63と、焦点検出用ダイクロイックミラー69と、焦点検出装置系である焦点検出用レンズ64と、波長カット板70と、2分割検出器65とを観察光学系の光軸に対して追加している。
焦点検出光ダイクロイックミラー69は、蛍光の波長を透過すると共に、蛍光より波長の長い焦点検出光141を反射するように設定されている。
遮光板62は、焦点検出光の断面から見て半円形に遮光するように、円板状のガラス板の半円部分を遮光し、残りを透過させている。
2分割検出器65の分割面は、光軸と平行でかつ焦点検出光141と焦点検出戻り光142の分割ラインを含む面と同じ面で構成される。
図10は、本発明の第5の実施の形態にかかる蛍光観察装置の概略構成を示す図である。図10において、図1と同じ部分には同じ符号を付している。
ダイクロイックミラー3で反射された焦点検出光源87のレーザ光は、焦点検出光151として対物レンズ4を介して標本12に照射される。
焦点検出装置89は、集光レンズ80、ピンホール81、フィルタ82、検出器83で構成され、各々が顕微鏡本体1の光軸と一致している。散乱光161は集光レンズ80で検出器83に集光される。集光レンズ80の瞳位置にはピンホール81が配置され、焦点を合わせたい視野中心の散乱光114以外の不要な光線を大幅にカットする。ピンホール81と検出器83の間には、赤外域の所定波長である散乱光161の波長のみを透過しそれ以外の照明光88などの波長を除去するフィルタ82が構成される。
散乱光161は、上記のように、数十ナノメートル〜数百ナノメートルのエバネッセント光17の領域でしか発光しないため、数十ナノメートル〜数百ナノメートルという精度の焦点検出が効果として得られる。
2…照明部
3…ダイクロイックミラー
4…対物レンズ
5…ハーフミラー
6…光学フィルタ
7…撮像素子
8…照射光源
9…集光レンズ
10…制御部
12…標本
13…カバーガラス
14…位置制御部
15…オイル
16…接眼レンズ
17…エバネッセント光
18…撮像レンズ
30…集光レンズ
31…検出器
32…カバーガラス面
36…エバネッセント光
39…ピンホール
40…光検出器
41…集光ポイント検出器
50…焦点検出用レンズ
52…遮光板
53…焦点検出用レンズ
54…2分割検出器
55…集光面
60…焦点検出光源
61…コリメートレンズ
62…遮光板
63…半透過ミラー
64…焦点検出用レンズ
65…分割検出器
66…集光面
67…ボケ光
69…焦点検出用ダイクロイックミラー
80…集光レンズ
81…ピンホール
82…フィルタ
83…検出器
84…照明光源
85…励起フィルタ
86…集光レンズ
87…焦点検出光源
89…焦点検出装置
Claims (7)
- エバネッセント光に基づいて観察標本から発する蛍光像を観察する蛍光観察装置に適用される焦点検出装置において、
前記蛍光像のコントラストを検出する検出手段と、
前記検出結果に基づいて焦点を検出する検出手段と、を備えたことを特徴とする焦点検出装置。 - エバネッセント光に基づいて観察標本から発する蛍光像を観察する蛍光観察装置に適用される焦点検出装置において、
前記観察標本と、前記観察標本の屈折率とは異なる屈折率をもつ透明部材との境界面にて全反射した照明光の所定の位置からのずれを検出する検出手段を備えたことを特徴とする焦点検出装置。 - エバネッセント光に基づいて観察標本から発する蛍光像を観察する蛍光観察装置に適用される焦点検出装置において、
照明光を前記境界面に集光させる、前記照明光の光路に挿脱可能な集光レンズと、
前記集光レンズ挿入時に前記照明光が、前記観察標本と、前記観察標本の屈折率とは異なる屈折率をもつ透明部材との境界面にて反射した反射光を検出する検出器を備えた検出手段と、
前記反射光を、前記検出器の検出面に集光する結像レンズと、を備えたことを特徴とする焦点検出装置。 - エバネッセント光に基づいて観察標本から発する蛍光像を観察する蛍光観察装置に適用される焦点検出装置において、
前記観察標本と、前記観察標本の屈折率とは異なる屈折率をもつ透明部材との境界面にて集光する焦点検出光の瞳位置において、焦点検出光をその断面方向で半円形に遮光する遮光板と、
前記焦点検出光が前記境界面において反射した反射光を検出する検出器を備えた検出手段と、
前記反射光を、前記検出器の検出面に集光する結像レンズと、を備えたことを特徴とする焦点検出装置。 - エバネッセント光に基づいて観察標本から発する蛍光像を観察する蛍光観察装置に適用される焦点検出装置において、
前記観察標本における前記エバネッセント光の散乱光を検出する検出手段と、
前記検出手段の近傍に設置され、前記散乱光の一部を透過させるためのピンホールと、を備えたことを特徴とする焦点検出装置。 - 請求項4に記載の焦点検出装置において、
エバネッセント光を生成するための照明光が前記透明部材との境界面で全反射した後の戻り光だけをカットするように配置した照明戻り光カット手段を更に備えたことを特徴とする焦点検出装置。 - エバネッセント光に基づいて観察標本から発する蛍光像を観察する蛍光観察装置において、
請求項1から請求項6のいずれか1項に記載の焦点検出装置と、
前記焦点検出装置の検出結果に基づいて、自動的に合焦を行う合焦手段と、を備えたことを特徴とする蛍光観察装置。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005012824A JP4932162B2 (ja) | 2005-01-20 | 2005-01-20 | 焦点検出装置とそれを用いた蛍光観察装置 |
US11/328,028 US7304282B2 (en) | 2005-01-20 | 2006-01-09 | Focus detection device and fluorescent observation device using the same |
US11/876,676 US7612316B2 (en) | 2005-01-20 | 2007-10-22 | Focus detection device and fluorescent observation device using the same |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005012824A JP4932162B2 (ja) | 2005-01-20 | 2005-01-20 | 焦点検出装置とそれを用いた蛍光観察装置 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008036253A Division JP5289792B2 (ja) | 2008-02-18 | 2008-02-18 | 焦点検出装置とそれを用いた蛍光観察装置 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006201465A true JP2006201465A (ja) | 2006-08-03 |
JP2006201465A5 JP2006201465A5 (ja) | 2008-03-06 |
JP4932162B2 JP4932162B2 (ja) | 2012-05-16 |
Family
ID=36682903
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005012824A Expired - Fee Related JP4932162B2 (ja) | 2005-01-20 | 2005-01-20 | 焦点検出装置とそれを用いた蛍光観察装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US7304282B2 (ja) |
JP (1) | JP4932162B2 (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2008020583A1 (fr) * | 2006-08-14 | 2008-02-21 | Olympus Corporation | dispositif autofocus, microscope et procédé de mise au point automatique |
WO2010010751A1 (ja) * | 2008-07-25 | 2010-01-28 | 株式会社 日立ハイテクノロジーズ | 全反射蛍光観察装置 |
JP5463671B2 (ja) * | 2007-01-19 | 2014-04-09 | 株式会社ニコン | 焦点検出装置、顕微鏡 |
JP2019086799A (ja) * | 2013-10-30 | 2019-06-06 | 株式会社ニコン | 全反射顕微鏡及び全反射顕微鏡の調整方法 |
JP2022513422A (ja) * | 2018-08-20 | 2022-02-08 | ミルテニイ ビオテック ベー.ファー. ウント コー.カーゲー | 顕微鏡装置 |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1678544A1 (de) * | 2003-09-25 | 2006-07-12 | Leica Microsystems CMS GmbH | Verfahren zur probenuntersuchung und mikroskop mit evaneszenter probenbeleuchtung |
US7706060B2 (en) * | 2005-09-26 | 2010-04-27 | National University Corporation Hamamatsu University School Of Medicine | Microscopic cell observation and inspection system using a plurality of observation methods |
JP2008276070A (ja) * | 2007-05-02 | 2008-11-13 | Olympus Corp | 拡大撮像装置 |
US7883276B2 (en) * | 2008-10-14 | 2011-02-08 | Sonosite, Inc. | Optical transmission coupling |
EP2495592A4 (en) | 2009-07-13 | 2018-04-18 | Nikon Corporation | Three-dimensional directional drift control device and microscope device |
TWI456254B (zh) * | 2010-05-19 | 2014-10-11 | Ind Tech Res Inst | 螢光顯微影像系統 |
DK2663890T3 (en) * | 2011-01-12 | 2015-11-30 | Idea Machine Dev Design & Production Ltd | COMPACT MICROSCOPY SYSTEM AND PROCEDURE |
EP3355038B1 (en) * | 2017-01-25 | 2021-09-08 | Specim, Spectral Imaging Oy Ltd | Imaging apparatus and operating method |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH1024019A (ja) * | 1996-07-10 | 1998-01-27 | Konan:Kk | 眼球撮影装置 |
JP2002156578A (ja) * | 2000-11-20 | 2002-05-31 | Olympus Optical Co Ltd | 焦点検出装置、及びそれを備えた対物レンズ、光学顕微鏡又は光学検査装置 |
JP2002341234A (ja) * | 2001-05-17 | 2002-11-27 | Olympus Optical Co Ltd | 顕微鏡用オートフォーカス装置 |
JP2003177325A (ja) * | 2001-12-07 | 2003-06-27 | Olympus Optical Co Ltd | 全反射蛍光顕微鏡 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6594011B1 (en) * | 2000-07-11 | 2003-07-15 | Maven Technologies, Llc | Imaging apparatus and method |
IL148664A0 (en) * | 2002-03-13 | 2002-09-12 | Yeda Res & Dev | Auto-focusing method and device |
JP2003270524A (ja) | 2002-03-19 | 2003-09-25 | Nikon Corp | 焦点検出装置およびこれを備えた顕微鏡、および、焦点検出方法 |
JP4370554B2 (ja) * | 2002-06-14 | 2009-11-25 | 株式会社ニコン | オートフォーカス装置およびオートフォーカス付き顕微鏡 |
DE10309269B4 (de) * | 2003-03-03 | 2005-06-02 | Till Photonics Gmbh | Vorrichtung für Totale Interne Reflexions-Mikroskopie |
-
2005
- 2005-01-20 JP JP2005012824A patent/JP4932162B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2006
- 2006-01-09 US US11/328,028 patent/US7304282B2/en active Active
-
2007
- 2007-10-22 US US11/876,676 patent/US7612316B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH1024019A (ja) * | 1996-07-10 | 1998-01-27 | Konan:Kk | 眼球撮影装置 |
JP2002156578A (ja) * | 2000-11-20 | 2002-05-31 | Olympus Optical Co Ltd | 焦点検出装置、及びそれを備えた対物レンズ、光学顕微鏡又は光学検査装置 |
JP2002341234A (ja) * | 2001-05-17 | 2002-11-27 | Olympus Optical Co Ltd | 顕微鏡用オートフォーカス装置 |
JP2003177325A (ja) * | 2001-12-07 | 2003-06-27 | Olympus Optical Co Ltd | 全反射蛍光顕微鏡 |
Cited By (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2008020583A1 (fr) * | 2006-08-14 | 2008-02-21 | Olympus Corporation | dispositif autofocus, microscope et procédé de mise au point automatique |
JP2008046305A (ja) * | 2006-08-14 | 2008-02-28 | Olympus Corp | 自動合焦装置、顕微鏡および自動合焦方法 |
JP4663602B2 (ja) * | 2006-08-14 | 2011-04-06 | オリンパス株式会社 | 自動合焦装置、顕微鏡および自動合焦方法 |
US8237785B2 (en) | 2006-08-14 | 2012-08-07 | Olympus Corporation | Automatic focusing apparatus for use in a microscope in which fluorescence emitted from a cell is captured so as to acquire a cell image, and automatic focusing method therefor |
JP5463671B2 (ja) * | 2007-01-19 | 2014-04-09 | 株式会社ニコン | 焦点検出装置、顕微鏡 |
WO2010010751A1 (ja) * | 2008-07-25 | 2010-01-28 | 株式会社 日立ハイテクノロジーズ | 全反射蛍光観察装置 |
US8324596B2 (en) | 2008-07-25 | 2012-12-04 | Hitachi High-Technologies Corporation | Total internal reflection fluorescence (TIRF) observation device |
JP5111608B2 (ja) * | 2008-07-25 | 2013-01-09 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 全反射蛍光観察装置 |
JP2019086799A (ja) * | 2013-10-30 | 2019-06-06 | 株式会社ニコン | 全反射顕微鏡及び全反射顕微鏡の調整方法 |
US10809511B2 (en) | 2013-10-30 | 2020-10-20 | Nikon Corporation | Total internal reflection microscope |
JP2022513422A (ja) * | 2018-08-20 | 2022-02-08 | ミルテニイ ビオテック ベー.ファー. ウント コー.カーゲー | 顕微鏡装置 |
JP7270033B2 (ja) | 2018-08-20 | 2023-05-09 | ミルテニイ ビオテック ベー.ファー. ウント コー.カーゲー | 顕微鏡装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20060157637A1 (en) | 2006-07-20 |
US7304282B2 (en) | 2007-12-04 |
US7612316B2 (en) | 2009-11-03 |
JP4932162B2 (ja) | 2012-05-16 |
US20080179491A1 (en) | 2008-07-31 |
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R151 | Written notification of patent or utility model registration |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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S531 | Written request for registration of change of domicile |
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R350 | Written notification of registration of transfer |
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