JP2008276070A - 拡大撮像装置 - Google Patents
拡大撮像装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2008276070A JP2008276070A JP2007121870A JP2007121870A JP2008276070A JP 2008276070 A JP2008276070 A JP 2008276070A JP 2007121870 A JP2007121870 A JP 2007121870A JP 2007121870 A JP2007121870 A JP 2007121870A JP 2008276070 A JP2008276070 A JP 2008276070A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- holding member
- sample holding
- objective lens
- thickness
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/0088—Inverse microscopes
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/24—Base structure
- G02B21/241—Devices for focusing
- G02B21/242—Devices for focusing with coarse and fine adjustment mechanism
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/34—Microscope slides, e.g. mounting specimens on microscope slides
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
Abstract
【解決手段】本発明の上記課題は、観察する試料と、前記試料と対物レンズとの間に介在する透過性を有する試料保持部材と、前記試料保持部材の光学的な厚さの誤差に起因して発生する収差を補正する補正環機構を備えた補正環付き対物レンズと、前記試料保持部材の光学的な厚さを検出する光学厚さ検出手段と、前記光学厚さ検出手段により検出された前記試料保持部材の光学的な厚さをもとに、収差補正量を求める演算手段と、前記演算手段で求めた前記収差補正量に基づいて前記補正環を駆動させる駆動手段と、前記対物レンズと前記試料との距離を変える合焦手段と、前記対物レンズを通った前記試料の像を撮像する撮像手段を備えることによって解決される。
【選択図】 図1
Description
本発明の実施のための顕微鏡全体の構成例を図1に示す。ステージ16に載置された観察する標本Sの下方に対物レンズ5が配置され、この対物レンズ5を保持する対物レンズ保持部材があり、駆動部17により対物レンズ5が上下する。対物レンズ保持部材は、保持されている対物レンズ5の種類を認識することにより対物レンズ固有の情報を識別する対物レンズ識別手段を有している。
[第2の実施の形態]
図7Aは本発明の第2の実施の形態における基本的なフローを示す図である。
図7Bは標本保持部材の機械的な厚さが前もって解っている場合のための厚さ検出フローである。厚さがわかっている場合はその値を演算装置27につながったPC(パーソナルコンピュータ)などから手入力するのが良い。
一方、標本保持部材にCCD視野範囲全体に至るような大きなゴミが付着していた場合、非常に強い蛍光輝度が検出される。このようなエラーを防ぐために輝度の上限値を決めておけばエラーを検出する事ができる。
2・・・光源
3・・・コリメータレンズ
4・・・遮蔽板
5・・・対物レンズ
5A・・・補正環
6・・・結像レンズ
7・・・2分割センサ
8・・・ハーフミラー
9・・・ダイクロイックミラー
10・・・2分割センサの受光面
11・・・対物レンズの焦点面
12・・・励起用光源
13・・・照明光学系
14・・・蛍光キューブ
15・・・撮像素子
16・・・ステージ
17・・・駆動部
18・・・試料
19・・・試料を固定する封入剤
20・・・試料保持部材(カバーガラス)
21・・・封止剤
22・・・試料保持部材の空気と接する面
23・・・試料保持部材の試料と接する面
24・・・スライドガラス
25・・・補正環駆動手段
26・・・対物レンズ識別手段
27・・・演算装置
Claims (11)
- 観察する試料と、
前記試料と対物レンズとの間に介在する透過性を有する試料保持部材と、
前記試料保持部材の光学的な厚さの誤差に起因して発生する収差を補正する補正環機構を備えた補正環付き対物レンズと、
前記試料保持部材の光学的な厚さを検出する光学的厚さ検出手段と、
前記光学厚さ検出手段により検出された前記試料保持部材の光学的な厚さをもとに、収差補正量を求める演算手段と、
前記演算手段で求めた前記収差補正量に基づいて前記補正環機構を駆動させる駆動手段と、
前記対物レンズと前記試料との距離を変える合焦手段と、
前記対物レンズを通った前記試料の像を撮像する撮像手段と、
を備えたことを特徴とする拡大撮像装置。 - 前記補正環付き対物レンズの前記収差補正量に基づいて、前記補正環機構の駆動量と、焦点位置の移動量を決定するために、前記対物レンズ固有の情報を識別する対物レンズ識別手段を更に備えたことを特徴とする請求項1に記載の拡大撮像装置。
- 前記光学的な厚さ検出手段は、瞳分割方式の測長器であり、前記試料保持部材の空気と接する面と、前記試料と接する面との距離を検出することにより、前記試料保持部材の光学的な厚さを検出することを特徴とする請求項1または請求項2に記載の拡大撮像装置。
- 前記光学的な厚さ検出手段は、
瞳分割方式の測長器にて、前記試料保持部材の空気と接する面から所定の検索範囲内に前記試料保持部材と試料と接する面を検出できなかった場合に、前記撮像手段により得た画像を用いたコントラスト検出法にて前記試料への合焦を行い、
試料保持部材の空気と接する面と、試料面との距離を検出し、
これを前記試料保持部材の光学的な厚さとして検出することを特徴とする請求項1または請求項2に記載の拡大撮像装置。 - 前記合焦手段は、前記補正環機構の駆動に伴い生じる焦点位置の変化量に応じて、前記試料と前記対物レンズとの距離を変更することを特徴とする請求項1から請求項4の何れかに記載の拡大撮像装置。
- 前記光学的厚さ検出手段は、前記試料保持部材の厚さを直接入力する入力装置を備えたことを特徴とする請求項1に記載の拡大撮像装置。
- 観察する試料と対物レンズとの間に介在する透過性を有する試料保持部材と、
前記試料保持部材の厚さ及び屈折率の違いや誤差に起因して発生する収差を補正する補正環機構を備えた対物レンズと、
前記試料保持部材の機械的な厚さを検出する機械的厚さ検出手段と、
前記試料保持部材の屈折率を識別する屈折率識別手段と、
前記検出手段により検出された前記試料保持部材の機械的な厚さと前記屈折率識別手段により識別された屈折率をもとに、補正量を求める演算手段と、
前記演算手段で求めた前記補正量に基づいて前記補正環機構を駆動させる駆動手段と、
前記対物レンズと前記試料との距離を変える合焦手段と、
前記対物レンズを通った前記試料の像を撮像する撮像手段と、
を備えたことを特徴とする拡大撮像装置。 - 前記屈折率識別手段は、少なくとも吸収フィルタと、励起フィルタと、ダイクロイックミラーとを備え、
前記試料保持部材に励起光を当てて前記試料保持部材が自家蛍光を発するかどうかを前記撮像手段で検出して、前記試料保持部材の素材がプラスチックかガラスかを判断し屈折率を選択する選択手段を備えることを特徴とする請求項7に記載の拡大撮像装置。 - 前記屈折率識別手段は、前記試料保持部材の素材がプラスチックかガラスかのいずれかの場合は、前記機械的厚さ検出手段で得られた前記試料保持部材の厚さからプラスチックとガラスを判断してその屈折率を選択することを特徴とする請求項7に記載の拡大撮像装置。
- 前記屈折率識別手段は、ユーザーが前記試料保持部材の屈折率を直接入力することを特徴とする請求項7に記載の拡大撮像装置。
- 前記瞳分割方式の測長器は、焦点検出機能と自動焦点調整機能を兼ね備えることを特徴とする請求項3に記載の拡大撮像装置。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007121870A JP2008276070A (ja) | 2007-05-02 | 2007-05-02 | 拡大撮像装置 |
US12/150,536 US7825360B2 (en) | 2007-05-02 | 2008-04-29 | Optical apparatus provided with correction collar for aberration correction and imaging method using same |
EP08008379A EP1988417B1 (en) | 2007-05-02 | 2008-05-02 | Optical apparatus and imaging method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007121870A JP2008276070A (ja) | 2007-05-02 | 2007-05-02 | 拡大撮像装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008276070A true JP2008276070A (ja) | 2008-11-13 |
JP2008276070A5 JP2008276070A5 (ja) | 2010-05-27 |
Family
ID=39595836
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007121870A Pending JP2008276070A (ja) | 2007-05-02 | 2007-05-02 | 拡大撮像装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7825360B2 (ja) |
EP (1) | EP1988417B1 (ja) |
JP (1) | JP2008276070A (ja) |
Cited By (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010261996A (ja) * | 2009-04-30 | 2010-11-18 | Nikon Corp | 顕微鏡 |
JP2012123039A (ja) * | 2010-12-06 | 2012-06-28 | Sony Corp | 顕微鏡、領域判定方法、及びプログラム |
JP2012145788A (ja) * | 2011-01-13 | 2012-08-02 | Sony Corp | 顕微鏡装置及び球面収差補正方法 |
JP2012203193A (ja) * | 2011-03-25 | 2012-10-22 | Olympus Corp | 微弱光観察顕微鏡及び微弱光取得方法 |
JP2013088809A (ja) * | 2011-10-14 | 2013-05-13 | Leica Microsystems Cms Gmbh | 顕微鏡撮像光線路の球面収差を識別し補正する方法及び装置 |
JP2013161020A (ja) * | 2012-02-08 | 2013-08-19 | Shimadzu Corp | 撮像装置及び顕微鏡、並びに、これらに用いられるプログラム |
JP2014160213A (ja) * | 2013-02-20 | 2014-09-04 | Olympus Corp | 顕微鏡システム及びプログラム |
JP2015069202A (ja) * | 2013-10-01 | 2015-04-13 | オリンパス株式会社 | 顕微鏡システム |
JP2015123465A (ja) * | 2013-12-26 | 2015-07-06 | 信越ポリマー株式会社 | 基板加工装置及び基板加工方法 |
US9329376B2 (en) | 2011-06-22 | 2016-05-03 | Canon Kabushiki Kaisha | Imaging apparatus |
JP2019109513A (ja) * | 2017-12-18 | 2019-07-04 | カール ツァイス マイクロスコピー ゲーエムベーハーCarl Zeiss Microscopy Gmbh | 顕微鏡のビーム経路内の試料ホルダの厚さを決定する方法 |
JP2019521385A (ja) * | 2016-07-01 | 2019-07-25 | カール ツァイス マイクロスコピー ゲーエムベーハーCarl Zeiss Microscopy Gmbh | 顕微鏡検査および収差補正のための装置 |
WO2020240639A1 (ja) * | 2019-05-24 | 2020-12-03 | 株式会社ニコン | 顕微鏡装置、顕微鏡装置の制御方法、および顕微鏡装置の制御プログラム |
CN112596226A (zh) * | 2020-12-18 | 2021-04-02 | 佳贺斯(浙江)生物医药科技有限公司 | 一种医用细胞检测的载片装置 |
JP2022083508A (ja) * | 2020-11-25 | 2022-06-06 | 富士通フロンテック株式会社 | 測定方法、情報処理装置およびプログラム |
Families Citing this family (27)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2009153919A1 (ja) * | 2008-06-17 | 2009-12-23 | 株式会社ニコン | 顕微鏡装置および顕微鏡装置制御プログラム |
JP2010102196A (ja) * | 2008-10-24 | 2010-05-06 | Olympus Corp | 顕微鏡画像の自動調整方法、顕微鏡システム |
JP5577885B2 (ja) * | 2010-06-28 | 2014-08-27 | ソニー株式会社 | 顕微鏡及び合焦点方法 |
JP2012042669A (ja) * | 2010-08-18 | 2012-03-01 | Sony Corp | 顕微鏡制御装置及び光学的歪み補正方法 |
JP5988629B2 (ja) * | 2012-03-14 | 2016-09-07 | オリンパス株式会社 | 複数の光学ユニットを備えた顕微鏡 |
US8785885B1 (en) * | 2013-01-30 | 2014-07-22 | Omnivision Technologies, Inc. | Fluorescence imaging module |
US9857361B2 (en) | 2013-03-15 | 2018-01-02 | Iris International, Inc. | Flowcell, sheath fluid, and autofocus systems and methods for particle analysis in urine samples |
US10705008B2 (en) | 2013-03-15 | 2020-07-07 | Iris International, Inc. | Autofocus systems and methods for particle analysis in blood samples |
JP2016024009A (ja) * | 2014-07-18 | 2016-02-08 | 株式会社ミツトヨ | 厚さ測定装置及び厚さ測定方法 |
US9933607B2 (en) | 2014-08-06 | 2018-04-03 | General Electric Company | Microscope objective |
DE102014216227B4 (de) | 2014-08-14 | 2020-06-18 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zum Bestimmen eines Abstandes zweier voneinander entlang einer ersten Richtung beabstandeter optischer Grenzflächen |
DE102016212019A1 (de) | 2016-07-01 | 2018-01-04 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Neigungsmessung und -korrektur des Deckglases im Strahlengang eines Mikroskops |
DE102016115140B4 (de) | 2016-08-16 | 2022-07-28 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Wechselsystem für ein Mikroskop sowie Mikroskop |
DE102017105928A1 (de) | 2017-03-20 | 2018-09-20 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Mikroskop und Verfahren zum Abbilden eines Objektes |
DE102017105926A1 (de) | 2017-03-20 | 2018-09-20 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Verfahren und Mikroskop zum Abbilden eines Objektes |
DE102017214189A1 (de) * | 2017-08-15 | 2019-02-21 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Verfahren zum Betrieb einer Mikroskopieranordnung und Mikroskopieranordnung mit einem ersten Mikroskop und mindestens einem weiteren Mikroskop |
EP3812823A4 (en) * | 2018-06-20 | 2022-02-16 | Hitachi High-Tech Corporation | OBSERVATION DEVICE |
CN108716935A (zh) * | 2018-08-27 | 2018-10-30 | 陈富威 | 汽车挡风玻璃检测设备 |
DE102018126009B4 (de) * | 2018-10-19 | 2022-05-19 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Verfahren und Mikroskop zur Bestimmung der Dicke eines Deck- oder Tragglases |
DE102018125997A1 (de) | 2018-10-19 | 2020-04-23 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Verfahren zur digitalen Korrektion einer optischen Abbildung einer Probe mittels eines Mikroskops und Mikroskop |
DE102018126021B3 (de) * | 2018-10-19 | 2020-04-23 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Verfahren zum Korrigieren eines Abbildungsfehlers in einem Mikroskopsystem und Mikroskopsystem |
DE102018126007B4 (de) * | 2018-10-19 | 2024-02-01 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Verfahren zur Korrektion eines sphärischen Abbildungsfehlers eines Mikroskops und Mikroskop |
EP3816611B1 (en) | 2019-10-29 | 2023-01-25 | Leica Microsystems CMS GmbH | Microscope and method for determining an aberration in a microscope |
DE102019129695A1 (de) * | 2019-11-04 | 2021-05-06 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Verfahren zum Vorbereiten eines Mikroskops für das Abbilden einer Probe |
WO2022150396A1 (en) | 2021-01-05 | 2022-07-14 | Molecular Devices Llc | Methods and systems to compensate for substrate thickness error |
US20230003964A1 (en) * | 2021-06-24 | 2023-01-05 | Fei Deutschland Gmbh | Systems and methods for motorized adjustment of objective lens correction collar |
CN114460735A (zh) * | 2022-01-17 | 2022-05-10 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 基于空间光调制器波前校正的显微成像装置与方法 |
Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS631905A (ja) * | 1986-06-20 | 1988-01-06 | Asahi Optical Co Ltd | 光学式厚み測定法及び装置 |
JPH0666561A (ja) * | 1992-06-15 | 1994-03-08 | Nikon Corp | 焦点位置検出装置 |
JPH1039199A (ja) * | 1996-04-16 | 1998-02-13 | Olympus Optical Co Ltd | 光学機器に適用される焦点調節装置 |
JP2002169101A (ja) * | 2000-09-22 | 2002-06-14 | Olympus Optical Co Ltd | 顕微鏡 |
JP2003043374A (ja) * | 2001-07-30 | 2003-02-13 | Olympus Optical Co Ltd | 顕微鏡装置 |
JP2005017643A (ja) * | 2003-06-25 | 2005-01-20 | Hamamatsu Photonics Kk | 対物レンズおよび光学装置 |
JP2005031507A (ja) * | 2003-07-09 | 2005-02-03 | Olympus Corp | 顕微鏡システム、顕微鏡の制御方法、及びプログラム |
JP2005043624A (ja) * | 2003-07-28 | 2005-02-17 | Nikon Corp | 顕微鏡制御装置、顕微鏡装置、及び顕微鏡対物レンズ |
JP2006003543A (ja) * | 2004-06-16 | 2006-01-05 | Olympus Corp | 顕微鏡システム |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3828381C2 (de) * | 1988-08-20 | 1997-09-11 | Zeiss Carl Fa | Verfahren und Einrichtung zur automatischen Fokussierung eines optischen Systems |
US5483079A (en) * | 1992-11-24 | 1996-01-09 | Nikon Corporation | Apparatus for detecting an in-focus position of a substrate surface having a movable light intercepting member and a thickness detector |
US6043475A (en) * | 1996-04-16 | 2000-03-28 | Olympus Optical Co., Ltd. | Focal point adjustment apparatus and method applied to microscopes |
JP4441831B2 (ja) | 1999-09-16 | 2010-03-31 | 株式会社ニコン | 顕微鏡装置 |
US7006411B2 (en) * | 2001-06-13 | 2006-02-28 | Ricoh Company, Ltd. | Optical pickup unit having electro-optical element and information recording and reproduction apparatus |
JP2003158666A (ja) | 2001-11-21 | 2003-05-30 | Nikon Corp | 交換レンズ式電子撮像装置および電子撮像システム |
JP3837059B2 (ja) | 2001-11-27 | 2006-10-25 | オリンパス株式会社 | 顕微鏡対物レンズ |
US7345814B2 (en) * | 2003-09-29 | 2008-03-18 | Olympus Corporation | Microscope system and microscope focus maintaining device for the same |
GB0407566D0 (en) | 2004-04-02 | 2004-05-05 | Isis Innovation | Method for the adjustment of spherical aberration |
JP4932162B2 (ja) * | 2005-01-20 | 2012-05-16 | オリンパス株式会社 | 焦点検出装置とそれを用いた蛍光観察装置 |
JP5021254B2 (ja) * | 2006-09-06 | 2012-09-05 | オリンパス株式会社 | 顕微鏡装置の制御方法、顕微鏡装置 |
-
2007
- 2007-05-02 JP JP2007121870A patent/JP2008276070A/ja active Pending
-
2008
- 2008-04-29 US US12/150,536 patent/US7825360B2/en active Active
- 2008-05-02 EP EP08008379A patent/EP1988417B1/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS631905A (ja) * | 1986-06-20 | 1988-01-06 | Asahi Optical Co Ltd | 光学式厚み測定法及び装置 |
JPH0666561A (ja) * | 1992-06-15 | 1994-03-08 | Nikon Corp | 焦点位置検出装置 |
JPH1039199A (ja) * | 1996-04-16 | 1998-02-13 | Olympus Optical Co Ltd | 光学機器に適用される焦点調節装置 |
JP2002169101A (ja) * | 2000-09-22 | 2002-06-14 | Olympus Optical Co Ltd | 顕微鏡 |
JP2003043374A (ja) * | 2001-07-30 | 2003-02-13 | Olympus Optical Co Ltd | 顕微鏡装置 |
JP2005017643A (ja) * | 2003-06-25 | 2005-01-20 | Hamamatsu Photonics Kk | 対物レンズおよび光学装置 |
JP2005031507A (ja) * | 2003-07-09 | 2005-02-03 | Olympus Corp | 顕微鏡システム、顕微鏡の制御方法、及びプログラム |
JP2005043624A (ja) * | 2003-07-28 | 2005-02-17 | Nikon Corp | 顕微鏡制御装置、顕微鏡装置、及び顕微鏡対物レンズ |
JP2006003543A (ja) * | 2004-06-16 | 2006-01-05 | Olympus Corp | 顕微鏡システム |
Cited By (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010261996A (ja) * | 2009-04-30 | 2010-11-18 | Nikon Corp | 顕微鏡 |
JP2012123039A (ja) * | 2010-12-06 | 2012-06-28 | Sony Corp | 顕微鏡、領域判定方法、及びプログラム |
JP2012145788A (ja) * | 2011-01-13 | 2012-08-02 | Sony Corp | 顕微鏡装置及び球面収差補正方法 |
JP2012203193A (ja) * | 2011-03-25 | 2012-10-22 | Olympus Corp | 微弱光観察顕微鏡及び微弱光取得方法 |
US9329376B2 (en) | 2011-06-22 | 2016-05-03 | Canon Kabushiki Kaisha | Imaging apparatus |
JP2013088809A (ja) * | 2011-10-14 | 2013-05-13 | Leica Microsystems Cms Gmbh | 顕微鏡撮像光線路の球面収差を識別し補正する方法及び装置 |
JP2013161020A (ja) * | 2012-02-08 | 2013-08-19 | Shimadzu Corp | 撮像装置及び顕微鏡、並びに、これらに用いられるプログラム |
JP2014160213A (ja) * | 2013-02-20 | 2014-09-04 | Olympus Corp | 顕微鏡システム及びプログラム |
JP2015069202A (ja) * | 2013-10-01 | 2015-04-13 | オリンパス株式会社 | 顕微鏡システム |
JP2015123465A (ja) * | 2013-12-26 | 2015-07-06 | 信越ポリマー株式会社 | 基板加工装置及び基板加工方法 |
JP2019521385A (ja) * | 2016-07-01 | 2019-07-25 | カール ツァイス マイクロスコピー ゲーエムベーハーCarl Zeiss Microscopy Gmbh | 顕微鏡検査および収差補正のための装置 |
JP7308033B2 (ja) | 2016-07-01 | 2023-07-13 | カール ツァイス マイクロスコピー ゲーエムベーハー | 顕微鏡検査および収差補正のための装置 |
JP2019109513A (ja) * | 2017-12-18 | 2019-07-04 | カール ツァイス マイクロスコピー ゲーエムベーハーCarl Zeiss Microscopy Gmbh | 顕微鏡のビーム経路内の試料ホルダの厚さを決定する方法 |
WO2020240639A1 (ja) * | 2019-05-24 | 2020-12-03 | 株式会社ニコン | 顕微鏡装置、顕微鏡装置の制御方法、および顕微鏡装置の制御プログラム |
JP2022083508A (ja) * | 2020-11-25 | 2022-06-06 | 富士通フロンテック株式会社 | 測定方法、情報処理装置およびプログラム |
JP7335860B2 (ja) | 2020-11-25 | 2023-08-30 | 富士通フロンテック株式会社 | 測定方法、情報処理装置およびプログラム |
CN112596226A (zh) * | 2020-12-18 | 2021-04-02 | 佳贺斯(浙江)生物医药科技有限公司 | 一种医用细胞检测的载片装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP1988417A1 (en) | 2008-11-05 |
EP1988417B1 (en) | 2012-12-26 |
US20080310016A1 (en) | 2008-12-18 |
US7825360B2 (en) | 2010-11-02 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2008276070A (ja) | 拡大撮像装置 | |
EP2196836B1 (en) | Automatic focusing device and microscope | |
CN107076964B (zh) | 基于图像的激光自动聚焦*** | |
JP5577885B2 (ja) | 顕微鏡及び合焦点方法 | |
JP4932162B2 (ja) | 焦点検出装置とそれを用いた蛍光観察装置 | |
CN102313982A (zh) | 显微镜及区域确定方法 | |
JP6506908B2 (ja) | 合焦方法、計測方法、合焦装置、及び計測装置 | |
JP5199407B2 (ja) | 顕微鏡システム及び観察方法 | |
JP6241858B2 (ja) | 共焦点顕微鏡 | |
JP4599941B2 (ja) | 自動焦点検出装置およびこれを備える顕微鏡システム | |
US9366849B2 (en) | Microscope system and method for microscope system | |
JP2005128493A (ja) | 顕微鏡システム | |
JP2008262100A (ja) | 標本スキャナ装置、該装置による標本位置検出方法 | |
JP5959247B2 (ja) | 顕微鏡 | |
JP2006215259A (ja) | 顕微鏡システム、観察方法および観察プログラム | |
JP2012212018A (ja) | 焦点維持装置及び顕微鏡装置 | |
JP2012159794A (ja) | 顕微鏡装置 | |
JP5400499B2 (ja) | 焦点検出装置 | |
US20240069322A1 (en) | Methods and systems to compensate for substrate thickness error | |
US20240236467A9 (en) | Image acquisition apparatus, image acquisition method, and medium | |
US20240137637A1 (en) | Image acquisition apparatus, image acquisition method, and medium | |
JP5009141B2 (ja) | 焦点検出装置及びそれを用いた合焦方法 | |
JPH1020186A (ja) | 自動焦点調整方法及びその装置 | |
JP2010145531A (ja) | 焦点検出装置 | |
JP2012083487A (ja) | フォーカス検出装置および該フォーカス検出装置によるフォーカス検出方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100413 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20100413 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20111214 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20111220 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120217 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120403 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20121002 |