JP2005337980A - Alternating current signal measuring instrument - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、交流電流や交流電圧などの交流信号についての平均値、実効値、高調波、および電力の各パラメータなどを測定する交流信号測定装置に関するものである。 The present invention relates to an AC signal measuring apparatus that measures average values, effective values, harmonics, power parameters, and the like of AC signals such as AC current and AC voltage.
この種の交流信号測定装置として、特開平4−340475号公報に開示された交流信号測定装置(パワーアナライザ装置)が知られている。この交流信号測定装置では、PLL(Phase Locked Loop)同期方式を採用して構成されたPLL部が入力被測定信号の周波数の2のべき乗倍(一例として512倍)の周波数に規定されたサンプリングクロックを生成し、A/D変換部がこのサンプリングクロックに基づいて入力被測定信号をディジタルデータに変換し、メモリがこのディジタルデータを記憶する。これにより、入力被測定信号の1サイクルを正確に512回サンプリングして、512個のディジタルデータを取り込むことが可能となっている。
ところが、上記した従来の交流信号測定装置には、以下のような改善すべき課題がある。すなわち、この従来の交流信号測定装置では、入力被測定信号に基づいて作動するアナログ回路(位相比較器、ループフィルタおよびVCO(Voltage Controlled Oscillator))で構成されたPLL部を用いてサンプリングクロックの周波数を2のべき乗倍に高めているため、入力被測定信号の周波数が変動するときには、サンプリングクロックが安定するまでに時間がかかるおそれがある。また、入力被測定信号の周波数が20Hz以下の低周波数のときには、PLL部が追従できないためにサンプリングクロックが生成されない結果、ディジタルデータを取得することが困難となるおそれもある。さらに、アナログ回路で構成されたPLL部には、周波数を逓倍するときの倍数に制限がある。このため、例えばデルタシグマ型のA/D変換器を使用するときなど、さらに高い周波数のサンプリングクロックを生成するときには、このような高い周波数のサンプリングクロックを生成するのが困難となるおそれもある。 However, the conventional AC signal measuring apparatus described above has the following problems to be improved. That is, in this conventional AC signal measuring device, the frequency of the sampling clock using a PLL section configured with an analog circuit (phase comparator, loop filter and VCO (Voltage Controlled Oscillator)) that operates based on the input signal under measurement. Therefore, when the frequency of the input signal under measurement fluctuates, it may take time for the sampling clock to stabilize. In addition, when the frequency of the input signal under measurement is a low frequency of 20 Hz or less, the PLL unit cannot follow, and as a result, the sampling clock is not generated, so that it may be difficult to acquire digital data. Furthermore, the PLL unit configured with an analog circuit has a restriction on the multiple when the frequency is multiplied. For this reason, when a higher frequency sampling clock is generated, for example, when a delta-sigma A / D converter is used, it may be difficult to generate such a high frequency sampling clock.
本発明は、上記の課題を解決すべくなされたものであり、入力した交流信号の周波数の2のべき乗倍の周波数のサンプリングクロックを短時間でしかも安定して生成し得る交流信号測定装置を提供することを主目的とする。 The present invention has been made to solve the above-described problems, and provides an AC signal measuring apparatus capable of stably generating a sampling clock having a frequency that is a power of 2 times the frequency of an input AC signal in a short time. The main purpose is to do.
上記目的を達成すべく請求項1記載の交流信号測定装置は、予め設定された第1の基準電圧と入力した交流信号とが交差するタイミングに同期して検出信号を生成する検出信号生成部と、期首および期末が前記タイミングに同期する前記交流信号のm(mは1以上の整数)周期毎に当該各m周期における当該交流信号の周波数を前記各検出信号に基づいて測定すると共に当該周波数を示す周波数データを出力する周波数測定部と、前記各m周期後の所定のタイミングで、出力しているサンプリングクロックの周波数を前記周波数データで示される前記周波数を2のべき乗倍した周波数に変更するクロック生成部と、前記サンプリングクロックに同期して前記交流信号をサンプリングすると共にA/D変換するA/D変換部とを備えている。
In order to achieve the above object, the AC signal measuring device according to
また、請求項2記載の交流信号測定装置は、請求項1記載の交流信号測定装置において、前記クロック生成部は、前記各m周期後における前記検出信号の最初の生成タイミングを前記所定のタイミングとして前記サンプリング周波数を変更する。
The AC signal measuring device according to
また、請求項3記載の交流信号測定装置は、請求項1記載の交流信号測定装置において、前記検出信号生成部は、予め設定された第2の基準電圧と前記交流信号とが交差するタイミングに同期して第2の検出信号を生成し、前記クロック生成部は、前記各m周期後における前記第2の検出信号の最初の生成タイミングを前記所定のタイミングとして前記サンプリング周波数を変更する。
The AC signal measuring device according to claim 3 is the AC signal measuring device according to
また、請求項4記載の交流信号測定装置は、請求項1から3のいずれかに記載の交流信号測定装置において、前記クロック生成部は、ダイレクトディジタルシンセサイザで構成されている。 According to a fourth aspect of the present invention, there is provided the AC signal measuring apparatus according to any one of the first to third aspects, wherein the clock generation unit is constituted by a direct digital synthesizer.
請求項1記載の交流信号測定装置によれば、位相比較器、ループフィルタおよびVCOなどのアナログ回路で構成されるPLL回路をクロック生成部に使用しないため、入力した交流信号の周波数が変動したときにフィードバックループの遅延時間(遅れ)に起因して発生するこの種のPLL回路特有のサンプリングクロックの周波数変動を回避することができる結果、交流信号についての周波数の2のべき乗倍の周波数に設定したサンプリングクロックを安定して、しかも瞬時に生成することができる。また、出力しているサンプリングクロックの周波数をクロック生成部が各m周期後の所定のタイミングで設定データで示されるサンプリング周波数に変更することにより、サンプリングクロックのサンプリング周波数を交流信号の周期の変化に追従してm周期毎に確実に更新することができる。このため、交流信号を正確に2のべき乗等分した周期でA/D変換部が交流信号をサンプリングすることができる。さらに、交流信号の周波数が20Hz以下の低周波数のときや、交流信号の周波数に対するサンプリングクロックの周波数の倍数が非常に大きいときなど、上記PLL回路を使用した構成では対応できないときにおいても、サンプリングクロックを安定して生成することができるため、交流信号の周期を正確に2のべき乗等分した周期で交流信号を安定してサンプリングすることができる。したがって、交流信号についての平均値、実効値、高調波、および電力の各パラメータなどの特性データを正確に測定することができる。
According to the AC signal measuring apparatus of
また、請求項2記載の交流信号測定装置によれば、各m周期後における検出信号の最初の生成タイミングを所定のタイミングとしてクロック生成部がサンプリング周波数を変更することにより、第1の基準電圧と交流信号とが交差するタイミングで生成される検出信号を利用して簡易にサンプリング周波数を変更することができる。したがって、新たなタイミング生成回路を設ける必要がないため、回路構成を簡略化することができる。さらに、第1の基準電圧と交流信号とが交差するタイミングを利用した場合としては最も早くサンプリング周波数を変更することができる。したがって、交流信号についての平均値、実効値、高調波、および電力の各パラメータなどの特性データを一層正確に測定することができる。
According to the AC signal measuring apparatus of
また、請求項3記載の交流信号測定装置によれば、予め設定された第2の基準電圧と交流信号とが交差するタイミングに同期して検出信号生成部が第2の検出信号を生成し、クロック生成部は、各m周期後における第2の検出信号の最初の生成タイミングを所定のタイミングとしてサンプリング周波数を変更することにより、周波数測定部による周波数測定のためのm周期の期首と、クロック生成部におけるサンプリング周波数の変更(更新)周期の期首との時間差を交流信号の1周期の範囲内で任意に設定することができる。したがって、この時間差を少なくすることにより、測定した交流信号の周波数をサンプリング周波数に短時間で反映させることができる。したがって、交流信号の周期をより正確に2のべき乗等分した周期で交流信号をサンプリングすることができる結果、交流信号についての平均値、実効値、高調波、および電力の各パラメータなどの特性データをさらに一層正確に測定することができる。 According to the AC signal measuring device of claim 3, the detection signal generating unit generates the second detection signal in synchronization with the timing at which the preset second reference voltage and the AC signal intersect, The clock generation unit changes the sampling frequency with the first generation timing of the second detection signal after each m period as a predetermined timing, thereby starting the m period for frequency measurement by the frequency measurement unit, and generating the clock The time difference from the beginning of the change (update) cycle of the sampling frequency in the unit can be arbitrarily set within the range of one cycle of the AC signal. Therefore, by reducing this time difference, the frequency of the measured AC signal can be reflected in the sampling frequency in a short time. Therefore, the AC signal can be sampled with a period obtained by dividing the period of the AC signal more accurately by a power of 2. As a result, characteristic data such as average values, effective values, harmonics, and power parameters for the AC signal are obtained. Can be measured even more accurately.
また、請求項4記載の交流信号測定装置によれば、ダイレクトディジタルシンセサイザでクロック生成部を構成したことにより、クロック生成部におけるサンプリングクロックの周波数の切替に要する時間を一層短縮することができるため、切替後のサンプリングクロックを殆ど遅延なくA/D変換部に出力することができる。したがって、A/D変換部が交流信号の周期を正確に2のべき乗等分した周期での交流信号についてのサンプリング動作を一層確実に実行することができる。 Further, according to the AC signal measuring device of claim 4, since the clock generation unit is configured with the direct digital synthesizer, the time required for switching the frequency of the sampling clock in the clock generation unit can be further shortened. The switched sampling clock can be output to the A / D converter with little delay. Therefore, the A / D conversion unit can more reliably execute the sampling operation for the AC signal in a cycle in which the cycle of the AC signal is accurately divided by a power of 2.
以下、添付図面を参照して、本発明に係る交流信号測定装置について説明する。 Hereinafter, an AC signal measuring apparatus according to the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.
最初に、交流信号測定装置1の構成について、図面を参照して説明する。
First, the configuration of the AC
交流信号測定装置1は、図1に示すように、入力部2、フィルタ部3、検出信号生成部4、周波数測定部5、周波数算出部6、クロック生成部7、A/D変換部8および信号処理部9を備え、入力した交流信号についての特性データを測定する。ここで、特性データとは、測定対象信号の平均値、実効値、高調波、および測定対象信号に基づいて算出される電力の各パラメータなどをいう。
As shown in FIG. 1, the AC
入力部2は、例えばバッファ回路などで構成されて、入力した測定対象信号としての交流信号S1(一例として正弦波)を低インピーダンスで装置内部の各部に出力する。なお、さらにアンプを備えて、入力した交流信号S1を所定のレベルまで増幅するように入力部2を構成することもできる。フィルタ部3は、入力部2から出力された交流信号S1を入力して、この交流信号S1に含まれているノイズ成分を除去して交流信号S2として出力する。検出信号生成部4は、一例として、コンパレータ回路と微分回路(いずれも図示せず)とを備えて構成されている。検出信号生成部4では、コンパレータ回路が、入力した交流信号S2と基準電圧Vr(本発明における第1の基準電圧)とが交差するタイミングに同期して交互に立ち上がりと立ち下がりとを繰り返す矩形波を生成し、微分回路が、この矩形波を微分する。この結果、図2に示すように、所定パルス幅の検出信号S3が、交流信号S2の波形と基準電圧Vrとが交差するタイミングに同期して出力される。この場合、基準電圧Vrは、一例として、正弦波である交流信号S1の中間電位(交流信号S1の最大値と最小値の中間電位)であるゼロボルトに設定されている。したがって、検出信号生成部4は、いわゆるゼロクロス検出回路として構成されている。なお、後述するように基準電圧Vrをゼロボルト以外の電圧に設定する場合には、図1に破線で示すように、予め所定電圧に設定された基準電圧Vrを生成する基準電源4aを備えて検出信号生成部4を構成することができる。
The
周波数測定部5は、交流信号S2(つまり交流信号S1)のm周期における交流信号S2の周波数を検出信号S3に基づいて測定すると共に、その周波数を示す周波数データD1を出力する。具体的には、周波数測定部5は、図2に示すように、交流信号S2のm(mは1以上の整数。本例では一例として「1」)周期を1測定周期として、交流信号S2の周波数を測定すると共に、周波数データD1を出力する。この場合、交流信号S2の周波数測定に際して、周波数測定部5は、交流信号S1の各1周期T0,T1,T2,T3,・・(以下、特に区別しないときには周期Tともいう)の期首を示す検出信号S3(同図中の符号aで示す検出信号S3)から、期末を示す検出信号(次の周期Tの期首を示す検出信号S3(同図中の符号aで示す検出信号S3))までの時間をそれぞれ計測し、各計測時間に基づいて、各周期T0,T1,T2,T3,・・における交流信号S2の周波数f0,f1,f2,f3,・・(以下、特に区別しないときには周波数f)をそれぞれ測定する。また、周波数測定部5は、測定した各周期Tの周波数fを示す周波数データD1を、各周期Tの終了直後から所定時間(一例として各周期Tの2分の1の時間以上で、かつ各周期Tの時間未満の時間)だけ出力する。周波数算出部6は、周波数測定部5から新たな周波数データD1を入力する度に、直ちに、この周波数データD1で示される周波数fを2のべき乗(n:一例としてn=512)倍してサンプリング周波数を算出すると共にサンプリング周波数(f×n)を示す設定データD2を出力する。この場合、周波数算出部6は、周波数測定部5と同様にして、各周期Tの終了直後から所定時間(一例として各周期Tの2分の1の時間以上で、かつ各周期Tの時間未満の時間)だけ出力する。なお、周波数測定部5および周波数算出部6については、例えばCPUを用いて構成することができる。
The
クロック生成部7は、非位相同期ループ型であるダイレクト・ディジタル・シンセサイザ(Direct Digital Synthesizer。以下、「DDS」ともいう)で構成されて、入力した設定データD2に基づいて、この設定データD2で示される周波数(f×n)のサンプリングクロックS4を直接生成する。このように構成されたクロック生成部7は、位相比較器、ループフィルタおよびVCOなどのアナログ回路を用いて構成された位相同期ループ(PLL)型のクロック生成部と比較して、極めて短時間(2桁以上短い時間)でサンプリングクロックS4の周波数を切り替えることができ、しかも、広い周波数範囲に亘ってサンプリングクロックS4を安定して生成してA/D変換部8に殆ど遅延なく出力する。また、クロック生成部7は、図2に示すように、各周期T0,T1,T2,T3,・・の中間において出力される検出信号S3(同図中の符号bで示す検出信号S3)に同期して、言い換えれば、各周期T0,T1,T2,T3,・・の期末からさらに検出信号S3の1周期だけ経過したタイミングに同期して(本発明における周期T後の所定のタイミングで)、周波数算出部6から出力された設定データD2を入力すると共に、この設定データD2で示される周波数(f×n)にサンプリングクロックS4の周波数を変更する(更新する)。
The
A/D変換部8は、一例としてサンプリングホールド回路とA/D変換回路とで構成されて、サンプリングクロックS4に同期して交流信号S1をサンプリングすると共にA/D変換してディジタルデータD3を出力する。信号処理部9は、一例として、DSP(Digital Signal Processor)を用いて構成されて、入力したディジタルデータD3に基づき、例えば、ディジタルデータD3をFFT演算処理することにより、交流信号S1についての特性データD4を算出して出力する。この場合、ディジタルデータD3が交流信号S1の1周期を2のべき乗で正確に等分した周期でサンプリングして得られたデータのため、信号処理部9は効率よくかつ正確にFFT演算処理を実行する。
The A /
次に、交流信号測定装置1の動作について説明する。なお、交流信号測定装置1では、現在、周波数測定部5が、周期T0における交流信号S2の周波数f0を算出するために、周期T0の時間を計測しているものとする。
Next, the operation of the AC
この交流信号測定装置1では、入力部2が、入力した交流信号S1を低インピーダンスでフィルタ部3とA/D変換部8とに出力する。この際に、フィルタ部3は、その交流信号S1のノイズ成分を除去して交流信号S2として検出信号生成部4に出力する。この状態において、図2に示すように、交流信号S2が立ち下がりつつ基準電圧Vrと交差する。この際に、検出信号生成部4は、この交差のタイミングに同期して、周波数測定部5、周波数算出部6およびクロック生成部7に検出信号S3(符号aで示す検出信号S3)を出力する。これにより、交流信号S2についての次の周期T1が開始する。
In this AC
周波数測定部5は、検出信号S3(符号aで示す検出信号S3)の入力に同期して、周期T0についての時間計測を完了すると共に、計測した時間に基づいて周期T0における交流信号S1の周波数f0を算出して周波数データD1を出力する。また、周波数測定部5は、周期T0についての時間計測の完了後、直ちに次の周期T1における交流信号S2の周波数測定(具体的には、周波数測定のための時間計測)を開始する。周波数測定部5は、測定した周波数f0を示す周波数データD1を周期T0の期末から出力し始める。周波数算出部6は、周波数測定部5からこの周波数データD1を入力し、この周波数データD1で示される周波数f0を2のべき乗倍(n倍)してサンプリング周波数(f1×n)を直ちに算出して、このサンプリング周波数を示す設定データD2の出力を開始する。
The
その後、交流信号S2が立ち上がりつつ基準電圧Vrと交差したときに、検出信号生成部4は、この交差のタイミングに同期して、検出信号S3(符号bで示す検出信号S3)を生成すると共に、周波数測定部5、周波数算出部6およびクロック生成部7に出力する。クロック生成部7は、この検出信号S3の立ち上がりに同期して、周波数算出部6から出力されている設定データD2を入力することにより、出力しているサンプリングクロックS4の周波数(サンプリング周波数)を周波数(f0×n)に変更する。これにより、A/D変換部8は、符号bで示す検出信号S3の立ち上がりに同期して、新たなサンプリング周波数(f0×n)での交流信号S2のサンプリングを開始する(交流信号S2についてのディジタルデータD3の生成を開始する)。信号処理部9は、このディジタルデータD3をFFT演算処理することにより、交流信号S1についての特性データD4を算出して出力する。一方、周波数測定部5および周波数算出部6は、符号bで示す検出信号S3を入力した後に、周波数データD1および設定データD2の出力をそれぞれ停止する。
Thereafter, when the AC signal S2 rises and crosses the reference voltage Vr, the detection signal generation unit 4 generates a detection signal S3 (detection signal S3 indicated by reference sign b) in synchronization with the timing of the crossing, and The data is output to the
その後、図2に示すように、検出信号生成部4は、交流信号S2が立ち下がりつつ基準電圧Vrと交差するタイミングに同期して、符号aで示す検出信号S3を出力する。周波数測定部5は、この検出信号S3の立ち上がりに同期して周期T1についての時間計測を完了すると共に、計測した時間に基づいて周期T1における交流信号S1の周波数を算出する。また、併せて、周波数測定部5は、周期T2における交流信号S2の周波数測定(具体的には、周波数測定のための時間計測)を開始する。また、周波数測定部5は、測定した周波数f1を示す周波数データD1を周期T1の期末から出力し始める。周波数算出部6は、周波数測定部5からこの周波数データD1を入力し、この周波数データD1で示される周波数f1を2のべき乗倍してサンプリング周波数(f1×n)を直ちに算出して、このサンプリング周波数を示す設定データD2の出力を開始する。
Thereafter, as shown in FIG. 2, the detection signal generation unit 4 outputs a detection signal S3 indicated by symbol a in synchronization with the timing at which the AC signal S2 falls and crosses the reference voltage Vr. The
以後、交流信号測定装置1では、各構成要素が、その後の周期T2,T3,・・において、上記した周期T1での動作を繰り返し実行する。具体的には、検出信号生成部4は、交流信号S2が立ち下がりつつ基準電圧Vrと交差するタイミングに同期して検出信号S3(符号aで示す検出信号S3)を繰り返し出力すると共に、交流信号S2が立ち上がりつつ基準電圧Vrと交差するタイミングに同期して検出信号S3(符号bで示す検出信号S3)を繰り返し出力する。周波数測定部5は、各周期T2,T3,・・についての期首から期末までの時間を計測すると共に、計測時間に基づいて各周期T2,T3,・・における交流信号S2の周波数f2,f3,・・を測定する。また、周波数測定部5は、測定した周波数f2,f3,・・についての周波数データD1を各周期T2,T3,・・の期末から、その後の最初の検出信号S3まで出力する。周波数算出部6は、各周期T2,T3,・・における交流信号S2についての周波数データD1を入力すると共に、この周波数データD1に基づいて設定データD2を算出して、この設定データD2を各周期T2,T3,・・の期末から、その後の最初の検出信号S3まで出力する。クロック生成部7は、各周期T2,T3,・・の期末の後の最初の検出信号S3(符号bで示す検出信号S3)に同期して、サンプリングクロックS4のサンプリング周波数をサンプリング周波数(f2×n),(f3×n),・・に順次変更する。A/D変換部8は、クロック生成部7から入力したサンプリングクロックS4に基づき、各周期T2,T3,・・の期末の後の最初の検出信号S3(符号bで示す検出信号S3)に同期して、サンプリングクロックS4のサンプリング周波数をサンプリング周波数(f2×n),(f3×n),・・に変更しつつ、交流信号S1をサンプリングしてディジタルデータD3を出力する。信号処理部9は、A/D変換部8から出力されるディジタルデータD3をFFT演算処理することにより、交流信号S1についての特性データD4を算出して出力する。このようにして、交流信号測定装置1は、入力した交流信号S1についての周波数fを交流信号S1の各周期T毎に測定すると共にこの周波数fのn倍のサンプリング周波数(f×n)を算出し、各周期T後の所定のタイミング(各周期Tの期末後の最初の検出信号S3の生成タイミング、言い換えれば、次の周期が半周期経過したタイミング)が期首となる交流信号S1の1周期分について、直前の各周期Tにおいて計測した交流信号S1の周波数fに基づいて算出されたサンプリング周波数(f×n)でサンプリングすることにより、特性データD4を周期Tで繰り返し出力する。
Thereafter, in the AC
このように、この交流信号測定装置1では、基準電圧Vrと交流信号S2とが交差するタイミングに同期して検出信号生成部4が出力する検出信号S3に基づいて、周波数測定部5が交流信号S1の1周期Tにおける周波数fを測定し、周波数算出部6がこの周波数fを2のべき乗倍(n倍)してサンプリング周波数(f×n)を算出し、DDSで構成されたクロック生成部7がこのサンプリング周波数(f×n)のサンプリングクロックS4を生成してA/D変換部8に出力する。このため、この交流信号測定装置1によれば、入力した交流信号S1の周波数が変動したときにフィードバックループの遅延時間に起因して発生するPLL回路(位相比較器、ループフィルタおよびVCOなどで構成されたPLL回路)特有のサンプリングクロックS4の周波数変動を回避することができる結果、交流信号S1の周波数fを2のべき乗倍した周波数(f×n)に設定したサンプリングクロックS4を安定して、しかも瞬時に生成することができる。
As described above, in the AC
また、クロック生成部7が、各1周期T後の所定のタイミング(各周期Tの期末後の最初の検出信号S3の生成タイミング)で、サンプリングクロックS4のサンプリング周波数(f×n)を設定データで示されるサンプリング周波数(f×n)に変更することにより、基準電圧Vrと交流信号S1とが交差するタイミングを利用して簡易にサンプリング周波数を変更することができる。したがって、新たなタイミング生成回路を設ける必要がないため、回路構成を簡略化することができる。さらに、基準電圧Vrと交流信号S1とが交差するタイミングを利用した場合としては最も早くサンプリング周波数を変更することができる結果、交流信号S1の周期(周波数f)の変化に追従して1周期T毎にサンプリングクロックS4のサンプリング周波数を確実に更新することができる。このため、交流信号S1の周期Tを正確に2のべき乗(n)等分した周期(T/n)で交流信号S1をサンプリングすることができる。さらに、交流信号S1の周波数fが20Hz以下の低周波数のときや、交流信号S1の周波数fに対するサンプリングクロックS4の周波数の倍数nが非常に大きいときなど、PLL回路を使用した構成では対応できないときにおいても、サンプリングクロックS4を安定して生成することができるため、交流信号S2(つまり交流信号S1)を安定してサンプリングすることができる。したがって、信号処理部9において、特性データD4に基づいて、交流信号S1についての平均値、実効値、高調波、および電力の各パラメータなどを正確に測定することができる。
The
なお、上記した検出信号生成部4では、正弦波である交流信号S1に対して基準電圧Vrをゼロボルトに設定する構成が採用されているが、基準電圧Vrについては、交流信号S1と交差する電圧に設定されていればよく、具体的には、交流信号S1の最小値を超えて最大値未満の範囲内の任意の所定電圧に設定することができる。一例として、図3に示すように、基準電圧Vrを交流信号S1の中間電位以外の電位に設定したときにおいても、上記した構成と同様にして、各周期TにおけるA/D変換部8のサンプリングクロックS4の周波数を直前の周期Tにおいて測定した周波数fの2のべき乗倍に正確に設定することができる。このため、上記した構成と同様の効果を奏することができる。また、同図に示すように、符号bで示される検出信号S3の生成タイミングを、符号aで示される検出信号S3の生成タイミングを基準として1周期Tの半周期経過前に設定することができる。このため、交流信号S1の周波数測定からサンプリング周波数の変更までに要する時間を短縮することができる。したがって、基準電圧Vrと交流信号S1とが交差するタイミングを利用しつつ、交流信号S1の周期Tを一層正確に2のべき乗(n)等分した周期(T/n)で交流信号S1をサンプリングすることができる。
In the detection signal generation unit 4 described above, a configuration is adopted in which the reference voltage Vr is set to zero volts with respect to the AC signal S1 that is a sine wave. However, the reference voltage Vr is a voltage that intersects the AC signal S1. Specifically, it can be set to an arbitrary predetermined voltage within a range exceeding the minimum value of the AC signal S1 and less than the maximum value. As an example, as shown in FIG. 3, even when the reference voltage Vr is set to a potential other than the intermediate potential of the AC signal S1, the sampling of the A /
また、図4に示す交流信号測定装置11のように、基準電圧Vrr(本発明における第2の基準電圧)を生成する第2の基準電源4bを設け、基準電圧Vrと交流信号S2との交差タイミングに同期して検出信号S3を生成すると共に、基準電圧Vrrと交流信号S2との交差タイミングに同期して検出信号S31を生成する検出信号生成部14を検出信号生成部4に代えて備える構成を採用することもできる。なお、交流信号測定装置1と同一の構成要素については同一の符号を付して、重複する説明を省略する。
Further, like the AC
この交流信号測定装置11では、図5に示すように、検出信号生成部14が、交流信号S2が立ち下がりつつ基準電圧Vrと交差するタイミングに同期して検出信号S3(符号aで示す検出信号S3:本発明における第1の検出信号)を出力すると共に、交流信号S2がさらに立ち下がりつつ基準電圧Vrr(<Vr)と交差するタイミングに同期して検出信号S31(符号cで示す検出信号S31:本発明における第2の検出信号)を出力する動作を繰り返す。クロック生成部7は、各周期T0,T1,T2,T3,・・の期末後の所定のタイミングで出力される符号cで示す検出信号S31に同期して、サンプリングクロックS4のサンプリング周波数をサンプリング周波数(f0×n),(f1×n),(f2×n),(f3×n),・・に順次変更する。A/D変換部8は、符号cで示す検出信号S31の生成周期でサンプリング周波数が変化するサンプリングクロックS4に基づいて交流信号S1をサンプリングしてディジタルデータD3を生成する。
In this AC
この交流信号測定装置11によれば、各基準電圧Vr,Vrrを適宜設定することにより、周波数測定部5による交流信号S2についての周波数fの測定のためのm周期T(図5中ではm=1)の期首と、クロック生成部7におけるサンプリング周波数(f×n)の変更(更新)周期の期首との時間差を交流信号の1周期の範囲内で任意に設定することができる。したがって、この時間差を少なくすることにより、測定した交流信号S1の周波数fをサンプリング周波数(f×n)に短時間で反映させることができる。したがって、交流信号S1の1周期をより正確に2のべき乗(n)等分した周期(T/n)で交流信号S1をサンプリングすることができる結果、交流信号S1についての平均値、実効値、高調波、および電力の各パラメータなどの特性データをさらに一層正確に測定することができる。
According to the AC
1,11 交流信号測定装置
2 入力部
3 フィルタ部
4,14 検出信号生成部
5 周波数測定部
6 周波数算出部
7 クロック生成部
8 A/D変換部
9 信号処理部
D1 周波数データ
D2 設定データ
f0〜f3 周波数
Vr,Vrr 基準電圧
S1,S2 交流信号
S3 検出信号
S4 サンプリングクロック
T0〜T3 周期
DESCRIPTION OF
Claims (4)
期首および期末が前記タイミングに同期する前記交流信号のm(mは1以上の整数)周期毎に当該各m周期における当該交流信号の周波数を前記各検出信号に基づいて測定すると共に当該周波数を示す周波数データを出力する周波数測定部と、
前記各m周期後の所定のタイミングで、出力しているサンプリングクロックの周波数を前記周波数データで示される前記周波数を2のべき乗倍した周波数に変更するクロック生成部と、
前記サンプリングクロックに同期して前記交流信号をサンプリングすると共にA/D変換するA/D変換部とを備えている交流信号測定装置。 A detection signal generation unit that generates a detection signal in synchronization with a timing at which the preset first reference voltage and the input AC signal intersect;
For each m (m is an integer of 1 or more) period of the AC signal whose beginning and end are synchronized with the timing, the frequency of the AC signal in each m period is measured based on each detection signal and the frequency is indicated A frequency measurement unit that outputs frequency data;
A clock generator for changing the frequency of the sampling clock being output to a frequency obtained by multiplying the frequency indicated by the frequency data by a power of 2 at a predetermined timing after each of the m periods;
An AC signal measuring apparatus comprising: an A / D converter that samples the AC signal in synchronization with the sampling clock and performs A / D conversion.
前記クロック生成部は、前記各m周期後における前記第2の検出信号の最初の生成タイミングを前記所定のタイミングとして前記サンプリング周波数を変更する請求項1記載の交流信号測定装置。 The detection signal generation unit generates a second detection signal in synchronization with a timing at which a preset second reference voltage and the AC signal intersect,
2. The AC signal measuring device according to claim 1, wherein the clock generation unit changes the sampling frequency using the first generation timing of the second detection signal after the m periods as the predetermined timing. 3.
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