JP2007198763A - Harmonic analyzer - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、交流回路に発生する高調波の解析装置に関し、詳しくは、測定アナログ信号のディジタル化に用いるサンプリング用クロックの高精度化に関するものである。 The present invention relates to an apparatus for analyzing harmonics generated in an AC circuit, and more particularly to improving the accuracy of a sampling clock used for digitizing a measurement analog signal.
近年、テレビやインバータ形式の蛍光灯、エアコン等の電気機器に流れる電流には高調
波成分が含まれる場合が多い。また、電力設備に高調波を発生させる機器が接続されてい
る場合にも、交流回路に高調波電流が流れる。このような高調波は、他の電気設備に悪影
響を与えることから、高調波解析を行って高調波成分の分布を把握し、高調波成分の軽減対策を講じる必要がある。
In recent years, harmonic components are often included in currents flowing through electric devices such as televisions, inverter-type fluorescent lamps, and air conditioners. Also, when a device that generates harmonics is connected to the power facility, harmonic current flows through the AC circuit. Since such harmonics adversely affect other electrical equipment, it is necessary to perform harmonic analysis to understand the distribution of harmonic components and take measures to reduce the harmonic components.
図5は従来の高調波解析装置の一例を示すブロック図である。図5において、高調波解析の対象となる測定アナログ信号は、入力端子1を介して正規化回路2に入力され、信号処理に適した適正な信号レベルに正規化される。正規化回路2で所定の信号レベルに正規化された測定アナログ信号は、A/D変換器(ADC)3に入力されるとともに、ゼロクロス検出器7にも入力される。
FIG. 5 is a block diagram showing an example of a conventional harmonic analyzer. In FIG. 5, a measurement analog signal to be subjected to harmonic analysis is input to a
ADC3は、正規化された測定アナログ信号をA/D変換し、ディジタルデータに変換する。ADC3で変換されたディジタルデータは、DSP4を介してメモリ5に保存される。
The
DSP4は、メモリ5に必要なサンプル数のデータが保存されたら、これらメモリ5に保存されたディジタルデータに基づきFFT演算を行い、測定アナログ信号の高調波成分を求める。そして、求めた高調波成分を出力装置6に表示する。
When the data of the required number of samples is stored in the memory 5, the DSP 4 performs an FFT operation based on the digital data stored in the memory 5 to obtain a harmonic component of the measurement analog signal. Then, the obtained harmonic component is displayed on the
ゼロクロス検出器7は、正規化された測定アナログ信号のゼロクロス点を検出し、負から正にゼロクロスするときに1、正から負にゼロクロスするときに0になるディジタル値のゼロクロス信号に変換する。このゼロクロス信号の周波数は、正規化された測定アナログ信号の基本波の周波数と一致する。ゼロクロス検出器7のゼロクロス信号は、PLL回路8に入力される。
The zero cross detector 7 detects the zero cross point of the normalized measurement analog signal, and converts it to a digital zero cross signal that becomes 1 when zero crossing from negative to positive and 0 when crossing from positive to negative. The frequency of this zero cross signal matches the frequency of the fundamental wave of the normalized measurement analog signal. The zero cross signal of the zero cross detector 7 is input to the
PLL回路8は、ゼロクロス信号のN倍の周波数を有するディジタル信号を生成し、サンプリングクロックとしてADC3に入力する。
The
図6は図5のPLL回路8の一例を示すブロック図である。図6において、位相比較器81の一方の入力端子には、ゼロクロス検出器7のゼロクロス信号が基準信号として入力される。位相比較器81の他方の入力端子には、VCO(電圧制御発振器)83の出力信号が分周器84を介して入力される。位相比較器81は、ゼロクロス信号と分周器84の出力信号との位相を比較し、2つの信号の位相差に比例した信号をフィルタ82を介してVCO83に制御信号として出力する。
FIG. 6 is a block diagram showing an example of the
フィルタ82は、VCO83の位相同期動作に不要な高周波成分を除去する。
The
VCO83は、フィルタ82を介して入力される制御信号の電圧に対応した周波数を有する0、1のディジタル信号を出力する。このディジタル信号は、サンプリングクロックとしてADC3に入力されるとともに、分周器84で1/Nの周波数に分周されて位相比較器81に入力される。定常状態では、基準となるゼロクロス信号の立ち上がりとVCO83で生成されるサンプリングクロックの立ち上がりは一致する。
The
図7は図5の構成における各部の波形例図である。(a)は正規化回路2に入力される高調波成分を含む測定アナログ信号、(b)はゼロクロス検出器7から出力される測定アナログ信号に基づくゼロクロス信号、(c)はPLL回路8からADC3に入力されるサンプリングクロックである。
FIG. 7 is a waveform example diagram of each part in the configuration of FIG. (a) is a measurement analog signal including a harmonic component input to the
ところで、図6のようなアナログPLL回路8において、位相比較器81の基準となるゼロクロス信号と分周器84の出力信号との位相差が最小検出位相差以下の場合に着目すると、位相比較器81から位相差に比例した信号が出力されなくなる。この結果、サンプリングクロックの周波数は、基準信号の周波数の正確なN倍にならなくなってしまう。
By the way, in the
また、基準となるゼロクロス信号の周波数が固定化された単一周波数ではないため、ある程度の周波数範囲に対応したフィルタ82のC、Rの定数決定にあたっては、相当の工数が必要になる。また、定数決定にあたっては、これら各素子の特性ばらつきや温度による特性変化も考慮しなければならない。
Further, since the frequency of the reference zero-cross signal is not a fixed single frequency, a considerable amount of man-hours are required to determine the C and R constants of the
また、VCO83の電圧−周波数変換特性については、全入力電圧範囲で理想的な特性ではなく、上限や下限に近い電圧入力では特性が悪化する。
Further, the voltage-frequency conversion characteristics of the
さらに、アナログ回路で構成していることから外来ノイズの影響を受けやすく、安定したサンプリングクロックを出力するにはノイズの影響を受けにくくする必要がある。 Furthermore, since it is configured with an analog circuit, it is easily affected by external noise, and in order to output a stable sampling clock, it is necessary to make it less susceptible to noise.
測定アナログ信号をディジタルデータに変換するA/D変換器に入力されるサンプリングクロックの周波数が不正確であったり不安定であったりすると、測定アナログ信号とA/D変換器から変換出力されるディジタルデータの対応関係が低下し、高精度の高調波解析が期待できなくなる。 If the frequency of the sampling clock input to the A / D converter that converts the measurement analog signal into digital data is inaccurate or unstable, the measurement analog signal and the digital output converted from the A / D converter Correspondence of data is lowered, and high-precision harmonic analysis cannot be expected.
本発明は、このような従来の問題点に着目したものであり、その目的は、正確な周波数で特性が安定したサンプリングクロックに基づき測定アナログ信号をディジタルデータに変換でき、高精度の高調波解析が行える高調波解析装置を提供することにある。 The present invention pays attention to such conventional problems, and its purpose is to convert a measurement analog signal into digital data based on a sampling clock whose characteristics are stable at an accurate frequency, and to perform high-accuracy harmonic analysis. It is an object of the present invention to provide a harmonic analysis apparatus capable of performing the above.
このような課題を達成するために、請求項1の発明は、
測定アナログ信号をディジタル化して高調波の解析を行う高調波解析装置であって、
ディジタル回路で構成され、測定アナログ信号のゼロクロス信号に基づき、ゼロクロス信号のN倍の周波数を有し測定アナログ信号のディジタル化に用いるサンプリングクロックを生成するサンプリングクロック発生器を設けたことを特徴とする。
In order to achieve such a problem, the invention of
A harmonic analysis device that digitizes a measurement analog signal and analyzes harmonics,
A sampling clock generator comprising a digital circuit and having a frequency N times that of the zero cross signal and generating a sampling clock used for digitizing the measurement analog signal is provided based on the zero cross signal of the measurement analog signal. .
請求項2の発明は、請求項1記載の高調波解析装置において、
前記サンプリングクロック発生器は、ゼロクロス信号の1周期あたり何個のサンプリングクロックを出力するかを決めるための任意の定数を設定できる演算器を含むことを特徴とする。
The invention of
The sampling clock generator includes an arithmetic unit capable of setting an arbitrary constant for determining how many sampling clocks are output per cycle of the zero cross signal.
請求項3の発明は、請求項1記載の高調波解析装置において、
前記サンプリングクロック発生器は、何回分のゼロクロス信号の立ち上がりからサンプリングクロックを生成するかを決めるための任意の定数を設定できる演算器を含むことを特徴とする。
The invention of
The sampling clock generator includes an arithmetic unit that can set an arbitrary constant for determining how many times the zero-cross signal rises to generate the sampling clock.
請求項4の発明は、請求項2記載の高調波解析装置において、
前記演算器は、除算器、乗算器、シフタのいずれかで構成されることを特徴とする。
The invention of
The arithmetic unit is formed of any one of a divider, a multiplier, and a shifter.
請求項5の発明は、請求項3記載の高調波解析装置において、
前記演算器は、除算器、乗算器、シフタのいずれかで構成されることを特徴とする。
The invention of claim 5 is the harmonic analysis apparatus of
The arithmetic unit is formed of any one of a divider, a multiplier, and a shifter.
請求項6の発明は、請求項1記載の高調波解析装置において、
前記サンプリングクロック発生器は、整数部と小数部の出力系統を有し小数部出力を加算するように構成された加算器を含むことを特徴とする。
The invention of
The sampling clock generator includes an adder having an output system of an integer part and a decimal part and configured to add the decimal part output.
これらにより、正確な周波数で特性が安定したサンプリングクロックに基づき測定アナログ信号をディジタルデータに変換でき、高精度の高調波解析が行える高調波解析装置が実現できる。 Accordingly, it is possible to realize a harmonic analysis apparatus that can convert a measurement analog signal into digital data based on a sampling clock whose characteristics are stable at an accurate frequency, and perform high-accuracy harmonic analysis.
以下、本発明について、図面を用いて説明する。図1は本発明の一実施例を示すブロック図であり、図5と共通する部分には同一符号を付けて再度の説明は省略する。図1において、図5のPLL回路8に代えてサンプリングクロック発生器9が接続されている。
Hereinafter, the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the present invention. Components common to those in FIG. In FIG. 1, a
サンプリングクロック発生器9は、ゼロクロス検出器7から出力されるゼロクロス信号の周波数のN倍のディジタル信号を生成し、これをA/D変換のタイミングを制御するサンプリングクロックとしてADC3に入力する。
The
図2は図1のサンプリングクロック発生器9の具体例を示すブロック図である。図2において、立ち上がりエッジ検出器10は、入力されるゼロクロス信号の立ち上がりエッジを検出することによりパルスを1つ生成し、パルスカウンタ11に出力する。
FIG. 2 is a block diagram showing a specific example of the
パルスカウンタ11には、ゼロクロス検出器7から入力されるゼロクロス信号の他、図示しない基準クロック発生源から一定間隔のパルス列よりなる基準クロックも入力されている。そして、ゼロクロス検出器7のゼロクロス信号パルスから次のゼロクロス信号パルスまでの時間、基準クロックのパルス数をカウントする。カウント終了後、そのカウント値をメモリ12に出力する。
In addition to the zero-cross signal input from the zero-cross detector 7, the
メモリ12は、パルスカウンタ11の出力をM個保存できる領域を持っている。立ち上がりエッジ検出器10の出力パルスがあるごとに、パルスカウンタ11のカウント値出力はメモリ12に保存される。1回目の立ち上がりエッジ検出器10の出力パルスによりメモリ12のメモリ領域1にパルスカウンタ11のカウント値出力が保存され、2回目の立ち上がりエッジ検出器10の出力パルスによりメモリ12のメモリ領域2にパルスカウンタ11のカウント値出力が保存され、M回目の立ち上がりエッジ検出器10の出力パルスによりメモリ12のメモリ領域Mにパルスカウンタ11のカウント値出力が保存される。
The
そして、(M+1)回目の立ち上がりエッジ検出器10の出力パルスではメモリ12の先頭に戻ってメモリ領域1にパルスカウンタ11のカウント値出力が保存され、(M+2)回目の立ち上がりエッジ検出器10の出力パルスではメモリ12のメモリ領域2にパルスカウンタ11のカウント値出力が保存される。
Then, the output pulse of the (M + 1) th rising
加算器13は、メモリ12のメモリ領域1〜Mまでに保存されているパルスカウンタ11のカウント値をすべて加算し、加算結果を2進数で演算器14に出力する。
The
演算器14は、除算器、乗算器、シフタなどで構成される。除算器の場合、定数1として数値Nが入力され、加算器13の加算出力をNで除算した数値が出力される。乗算器の場合、定数1として(1/N)を計算した数値が入力され、加算器13の加算出力に(1/N)を乗算した数値が出力される。Nが2のべき数の場合、シフタを用いることもできる。シフタの場合、定数1として(log2N)を計算した数値が入力され、加算器13の加算出力を右へ(log2N)ビット分シフトした数値が出力される。
The
演算器15も、除算器、乗算器、シフタなどで構成される。除算器の場合、定数2として数値Mが入力され、演算器14の出力をMで除算した数値が出力される。乗算器の場合は、定数2として(1/M)を計算した数値が入力され、演算器14の出力に(1/M)を乗算した数値が出力される。Mが2のべき数の場合、シフタを用いることもできる。シフタの場合、定数2として(log2M)を計算した数値が入力され、演算器14の出力を右へ(log2M)ビット分シフトした数値が出力される。
The
加算器16の一方の入力端子には演算器15の出力値が入力され、他方の入力端子にはラッチ17を介して加算器16の小数部の出力値(積み残し)が入力される。この加算器16は整数部と小数部の出力系統を備えていて、整数部出力はダウンカウンタ18に入力され、小数部出力はラッチ17を介して加算器16の他方の入力端子に入力されている。
The output value of the
ダウンカウンタ18には、加算器16の整数部出力値の他、図示しない基準クロック発生源から一定間隔のパルス列よりなる基準クロックが入力され、カウント値判定回路19から制御パルスが入力されている。カウント値判定回路19から制御パルスが入力されることにより加算器16の整数部出力値をカウント初期値としてセットし、基準クロックパルスが入ってくる毎にカウント初期値から1カウントずつカウントダウンしていく。カウント値が1になると、カウント値判定回路19から制御パルスが入力され、次の基準クロックのパルスが入ったタイミングで、加算器16の整数部出力値をカウント初期値としてセットする。
In addition to the integer part output value of the
カウント値判定回路19は、ダウンカウンタ18のカウント値が1になったことを検出判定してパルスを出力する。このカウント値判定回路19の出力パルスは、A/D変換のタイミングを制御するサンプリングクロックとしてADC3に入力されるとともに、ダウンカウンタ18に制御パルスとして入力され、さらにラッチ17にラッチパルスとして入力される。
The count
ラッチ17のラッチ端子には、カウント値判定回路19の出力パルスが入力される。ラッチ17は、カウント値判定回路19からダウンカウンタ18のカウント値1の判定パルスが出力される毎に加算器16の小数部出力をラッチし、加算器16の他方の入力端子に入力する。
The output pulse of the count
このような構成において、演算器14に定数1として入力される数値Nは、ゼロクロス信号の1周期あたり何個のサンプリングクロックを出力するかを決める数値である。演算器15に定数2として入力される数値Mは、何回分のゼロクロス信号の立ち上がりからサンプリングクロックを生成するかを決める数値である。
In such a configuration, the numerical value N input as a constant 1 to the
ここで、ゼロクロス信号がジッターを持っている場合、この数値Mが大きいほどアベレージング効果が大きくなり、ゼロクロス信号のジッターがサンプリングクロックのジッターとして与える影響は小さくなる。 When the zero cross signal has jitter, the averaging effect increases as the numerical value M increases, and the influence of the jitter of the zero cross signal as the jitter of the sampling clock decreases.
また、ゼロクロス信号に全くジッターがないものとすると、数値Mが大きくなることによって基準クロックの分解能より高い分解能でゼロクロス信号の立ち上がりを検出できることになり、サンプリングクロックの周波数精度が高くなる。 If the zero cross signal has no jitter at all, the numerical value M increases, so that the rising edge of the zero cross signal can be detected with a resolution higher than the resolution of the reference clock, and the frequency accuracy of the sampling clock increases.
図3はゼロクロス信号にジッターがないときの各部の波形・数値例図であり、N=5、M=2の例を示している。 FIG. 3 is a waveform / numerical example diagram of each part when there is no jitter in the zero cross signal, and shows an example of N = 5 and M = 2.
図4はゼロクロス信号にジッターがあるときの各部の波形・数値例図であり、N=5、M=2の例を示している。 FIG. 4 is a waveform / numerical example diagram of each part when there is jitter in the zero cross signal, and shows an example of N = 5 and M = 2.
図6に示すPLL回路8では、図7に示すようにゼロクロス信号(b)の立ち上がりとサンプリングクロック(c)の立ち上がりが一致していたが、図2に示すサンプリングクロック発生器9の場合、図3および図4に示すようにゼロクロス信号(a)の立ち上がりとサンプリングクロックに対応するカウント値判定回路19の出力(n)の立ち上がりは必ずしも一致しない。
In the
ゼロクロス信号の立ち上がりとサンプリングクロックが一致し、さらにゼロクロス信号の立ち上がりと同じ時刻にA/D変換されたディジタルデータを先頭にDSPがメモリに保存し、このウインドウのデータを使ってDSPがFFT演算を行ったとき、FFT演算の結果は、ウインドウの先頭の位置を0degとした基本波成分の位相が算出できる。 The rising edge of the zero cross signal coincides with the sampling clock, and the DSP stores the digital data A / D converted at the same time as the rising edge of the zero cross signal in the memory, and the DSP performs the FFT operation using the data in this window. When this is done, the phase of the fundamental wave component can be calculated as the result of the FFT operation with the top position of the window being 0 deg.
しかし、このウインドウの先頭位置に対する基本波成分の位相を算出する必要がない場合には、ゼロクロス信号の立ち上がりとサンプリングクロックの立ち上がりを一致させる必要はない。 However, when it is not necessary to calculate the phase of the fundamental wave component with respect to the head position of this window, it is not necessary to make the rising edge of the zero cross signal coincide with the rising edge of the sampling clock.
図2において、加算器16で演算器15の出力値とラッチ17の出力値(積み残し)を加算することにより、ダウンカウンタ18にセットされる値は前回までの積み残しを考慮した値になるため、サンプリングクロックの周期の理想値とのずれは、長い時間を経過した後でも基準クロックの3個分以下になる。
In FIG. 2, by adding the output value of the
この基準クロック3個分以下の内訳は、ゼロクロス信号と基準クロックが同期していないことによる最初のゼロクロス信号の立ち上がりと立ち上がりエッジ検出器10の出力との時間のずれに対応する最大基準クロック1個分と、(M+1)個後の立ち上がりエッジ検出器10の出力とゼロクロス信号の立ち上がりとの時間のずれに対応する最大基準クロック1個分と、加算器16の小数部出力の最大値0.9999・・・に対応する最大基準クロック1個分となる。
The breakdown of three reference clocks or less is one maximum reference clock corresponding to the time lag between the rising edge of the first zero cross signal and the output of the rising
サンプリグクロックの理想値とのずれは、基準クロックの3個分以下なので、基準クロックが比較的低い周波数でも精度良くサンプリグクロックが発生できる。また、基準クロックが高くできる場合は、より精度良くサンプリグクロックが発生できる。 Since the deviation from the ideal value of the sampling clock is three or less of the reference clock, the sampling clock can be generated with high accuracy even when the reference clock has a relatively low frequency. Further, when the reference clock can be increased, the sampling clock can be generated with higher accuracy.
正規化された信号に内部ノイズが重畳されていることに起因して、ゼロクロス検出器7の出力信号がジッターを持っている場合でも、Mを大きくすることにより安定したサンプリングクロックを生成できる。Mを大きくするためには、メモリ12の容量を増やすとともに加算器13の加算可能個数を増やせばよく、容易である。
Even when the output signal of the zero cross detector 7 has jitter due to the internal noise superimposed on the normalized signal, a stable sampling clock can be generated by increasing M. In order to increase M, it is easy to increase the capacity of the
図2に示すサンプリングクロック発生器9は、ディジタル回路で構成することからアナログ素子のCやRが不要になり、定数決定の必要がなく、ばらつきや温度の影響もない。
Since the
また、VCOに対応する回路もアナログではなく、ディジタル回路で実現するため、理想的な特性に近づけることができ、外来ノイズに対しても影響を受けにくい。 In addition, since the circuit corresponding to the VCO is realized not by analog but by a digital circuit, it can be brought close to an ideal characteristic and hardly affected by external noise.
パルスカウンタ11の最大カウント可能数を大きくすることにより、基準信号が低い周波数でも高調波解析可能である。基準信号が高い周波数では、基準クロックの周波数を高くすれば、精度良くサンプリグクロックが発生できる。
By increasing the maximum countable number of the
演算器14の定数1や演算器15の定数2を可変にすることにより、簡単に分周比やアベレージング効果を変更することができる。
By making the constant 1 of the
なお上記実施例では、パルスカウンタ11の基準クロックとダウンカウンタ18の基準クロックとして同一のものを使う例を示したが、同一である必要はなく、異なっていても良い。その場合は、ダウンカウンタ18にセットする値を加算器16の整数部出力に適切な数値を乗算したり、除算したりすればよい。また、演算器15の出力に適切な数値を乗算したり、除算してもよい。
In the above embodiment, the same clock is used as the reference clock of the
また、パルスカウンタ11の基準クロックとダウンカウンタ18の基準クロックとして同一のものを使う場合、基準クロックの周波数の絶対的な精度は必要ない。温度などの影響で、基準クロックの周波数がドリフトした場合でも、ゼロクロス信号の周期を基準クロックでカウントし、同じ基準クロックを使ってダウンカウンタ18をダウンカウントしてADC3へのサンプリングクロックを作っているからである。
Further, when the same clock is used as the reference clock of the
また、上記実施例では、入力端子1に入力される測定アナログ信号から、A/D変換される信号とゼロクロス信号の両方を得ているが、ゼロクロス信号を別の入力端子に入力される測定アナログ信号から得てもよい。
In the above embodiment, both the A / D converted signal and the zero cross signal are obtained from the measurement analog signal input to the
以上説明したように、本発明によれば、正確な周波数で特性が安定したサンプリングクロックに基づき測定アナログ信号をディジタルデータに変換でき、高精度の高調波解析が行える高調波解析装置を実現することができる。 As described above, according to the present invention, it is possible to realize a harmonic analysis apparatus that can convert a measurement analog signal into digital data based on a sampling clock whose characteristics are stable at an accurate frequency and perform high-accuracy harmonic analysis. Can do.
9 サンプリングクロック発生器
10 エッジ検出器
11 パルスカウンタ
12 メモリ
13,16 加算器
14,15 演算器
17 ラッチ
18 ダウンカウンタ
19 カウント値判定回路
DESCRIPTION OF
Claims (6)
ディジタル回路で構成され、測定アナログ信号のゼロクロス信号に基づき、ゼロクロス信号のN倍の周波数を有し測定アナログ信号のディジタル化に用いるサンプリングクロックを生成するサンプリングクロック発生器を設けたことを特徴とする高調波解析装置。 A harmonic analysis device that digitizes a measurement analog signal and analyzes harmonics,
A sampling clock generator comprising a digital circuit and having a frequency N times that of the zero cross signal and generating a sampling clock used for digitizing the measurement analog signal is provided based on the zero cross signal of the measurement analog signal. Harmonic analyzer.
2. The harmonic analysis apparatus according to claim 1, wherein the sampling clock generator includes an adder having an output system of an integer part and a decimal part and configured to add decimal part outputs.
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