JP5037285B2 - Pulse signal time measuring device - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、パルス信号時間計測装置に関する。特に、本発明は、入力パルス信号の変化点からの所定の設定値に対応した時間を計測できるパルス信号時間計測装置に関する。 The present invention relates to a pulse signal time measuring apparatus. In particular, the present invention relates to a pulse signal time measuring apparatus capable of measuring a time corresponding to a predetermined set value from a changing point of an input pulse signal.
従来、インバータ回路が電力の変換に用いられている。この種の回路は、例えば効率良くモータの制御を行うことができる。 Conventionally, inverter circuits are used for power conversion. This type of circuit can efficiently control the motor, for example.
図6に、従来の例によるインバータ回路を示す。このインバータ回路では、U相及びX相の信号により駆動される上下一対のトランジスタと、V相及びY相の信号により駆動される上下一対のトランジスタとが、コイルを介して接続されている。U相、X相、V相及びY相それぞれから所定の信号を各トランジスタのドライバに供給することにより、所望の交流電力を発生することができる。 FIG. 6 shows an inverter circuit according to a conventional example. In this inverter circuit, a pair of upper and lower transistors driven by U-phase and X-phase signals and a pair of upper and lower transistors driven by V-phase and Y-phase signals are connected via a coil. By supplying a predetermined signal from each of the U phase, X phase, V phase, and Y phase to the driver of each transistor, desired AC power can be generated.
ここで、図7(a)に示すように、U相及びX相の信号により駆動される上下一対のトランジスタを同時にオン状態(飽和状態)にすると、2つのトランジスタが短絡して大電流が流れる結果、これらのトランジスタが壊れてしまう場合がある。図7(a)の例では、時間t1からt2の間において、U相及びX相の信号が共にハイ状態があり、上下一対のトランジスタを同時にオン状態となっている。 Here, as shown in FIG. 7A, when a pair of upper and lower transistors driven by U-phase and X-phase signals are simultaneously turned on (saturated), the two transistors are short-circuited and a large current flows. As a result, these transistors may be broken. In the example of FIG. 7A, between the times t1 and t2, both the U-phase and X-phase signals are in the high state, and the pair of upper and lower transistors are in the on state at the same time.
上下一対のトランジスタが共にオン状態になることを回避する手法としては、例えば、U相及びX相が共にハイ状態になることを禁止するロジックをインバータ回路に組み込む必要がある。このロジックをインバータ回路に組み込めば、例えば、U相の信号の時間t1からt2の間の部分のハイ状態をロー状態(点線の部分)にすることができる。その結果、上側のトランジスタがオフ状態(遮断状態)となる。 As a technique for avoiding the pair of upper and lower transistors from being turned on, for example, it is necessary to incorporate in the inverter circuit a logic that prohibits the U phase and the X phase from both being in the high state. If this logic is incorporated into an inverter circuit, for example, the high state of the portion of the U-phase signal between times t1 and t2 can be changed to the low state (dotted line portion). As a result, the upper transistor is turned off (cut off).
上記ロジックをインバータ回路に組み込んだ場合には、図7(b)に示すように、U相及びX相の信号が共にハイ状態になることを回避することができる。しかし、時間t2において、ドライバ又はトランジスタの特性等により、U相又はX相の位置が変動して、一瞬ではあるものの、上下一対のトランジスタが共にオン状態になる可能性がある。 When the logic is incorporated in an inverter circuit, it can be avoided that both U-phase and X-phase signals are in a high state, as shown in FIG. However, at time t2, the U-phase or X-phase position may fluctuate due to the characteristics of the driver or transistor, etc., and there is a possibility that both the upper and lower pair of transistors are turned on, although it is instantaneous.
そこで、上下一対のトランジスタが共にオン状態になることを確実に回避する手法として、図7(c)に示すように、上下一対のトランジスタが共にオン状態になることを防止する同時導通防止時間値Toを信号に設けることが行われている。図7(c)に示す例では、X相の信号の立下り時間t1を、U相の立ち上がり時間t2より時間値Toだけ前の位置にずらしている。この同時導通防止時間値Toを信号に設けることにより、上下一対のトランジスタが共にオン状態になることを確実に回避できる。 Therefore, as a method for reliably avoiding that the pair of upper and lower transistors are both turned on, as shown in FIG. 7C, the simultaneous conduction prevention time value for preventing both the pair of upper and lower transistors from being turned on. To is provided in the signal. In the example shown in FIG. 7C, the fall time t1 of the X-phase signal is shifted to a position before the U-phase rise time t2 by a time value To. By providing the simultaneous conduction prevention time value To in the signal, it is possible to reliably avoid the pair of upper and lower transistors from being turned on.
また、図8(a)に示すように、上下一対のトランジスタを同時にオン及びオフ状態にする場合には、図8(b)に示すように、X相の信号の立ち上がり時、及び、U相の信号の立下り時、それぞれに、上記同時導通防止時間値Toを設けることが行われる。図8(b)に示す例では、X相の信号において、時間t1から時間t2までの間と、時間t3から時間t4までの間それぞれに、上記同時導通防止時間値Toが設けられている。 Further, as shown in FIG. 8A, when the pair of upper and lower transistors are turned on and off at the same time, as shown in FIG. The simultaneous conduction prevention time value To is provided for each falling edge of the signal. In the example shown in FIG. 8B, in the X-phase signal, the simultaneous conduction prevention time value To is provided between time t1 and time t2 and between time t3 and time t4.
上述した同時導通防止時間値を信号に設けることは、特定の用途のためのインバータ回路であれば用意に設計することができる。また、汎用のクロック信号発生装置(パルス信号発生装置ともいう)を用いて、インバータ回路に信号を供給する場合でも、供給する信号の周波数が一定であれば、各周波数に対して同時導通防止時間値を設定したパルスパターンを設定することにより、各パルスパターンを有する信号を供給してインバータ回路を駆動することができる。 Providing the above-described simultaneous conduction prevention time value in the signal can be easily designed as long as it is an inverter circuit for a specific application. Even when a signal is supplied to the inverter circuit using a general-purpose clock signal generator (also referred to as a pulse signal generator), if the frequency of the supplied signal is constant, the simultaneous conduction prevention time for each frequency By setting a pulse pattern in which values are set, a signal having each pulse pattern can be supplied to drive the inverter circuit.
一方、周波数が可変であるクロック信号発生装置を用いることにより、シームレス(継ぎ目なく)に周波数制御を行うことができる。 On the other hand, frequency control can be performed seamlessly (seamlessly) by using a clock signal generator having a variable frequency.
しかし、周波数が可変であるクロック信号発生装置を用いて、インバータ回路に信号を供給する場合には、周波数の変化に対応した同時導通防止時間値を信号に設定することが困難である。 However, when a signal is supplied to an inverter circuit using a clock signal generator having a variable frequency, it is difficult to set a simultaneous conduction prevention time value corresponding to a change in frequency in the signal.
周波数が可変であるクロック信号発生装置を用いて、インバータ回路に信号を供給する場合には、まず、信号に設定した所定の同時導通防止時間値を確認するために、周波数ごとに、設定された同時導通防止時間値を計測する必要がある。例えば、同時導通防止時間値の計測だけならば、クロック周波数が固定された固定クロック信号を用いて計測することが可能であるが、クロック信号発生装置がインバータ回路に供給する信号のクロック信号と、上記固定クロック信号とが同期していないので、この手法を用いてトランジスタの駆動信号に同時導通防止時間値を設定すると、駆動信号にジッタが常に発生する。 When a signal is supplied to an inverter circuit using a clock signal generator having a variable frequency, first, a predetermined simultaneous conduction prevention time value set for the signal is set for each frequency. It is necessary to measure the simultaneous conduction prevention time value. For example, if only the measurement of the simultaneous conduction prevention time value can be measured using a fixed clock signal with a fixed clock frequency, the clock signal of the signal supplied to the inverter circuit by the clock signal generator, Since the fixed clock signal is not synchronized, if this method is used to set the simultaneous conduction prevention time value for the transistor drive signal, jitter will always occur in the drive signal.
そこで、本発明は、周波数が可変であるクロック信号発生装置から入力したパルス信号の変化点からの所定の設定値に対応した時間を計測できるパルス信号時間計測装置を提供することを目的とする。ここで、上記パルス信号の変化点は、例えば、パルス信号の立ち上がり時点又は立ち下がり時点である。また、上記所定の設定値は、例えば、同時導通防止時間値である。 Therefore, an object of the present invention is to provide a pulse signal time measuring device capable of measuring a time corresponding to a predetermined set value from a changing point of a pulse signal input from a clock signal generating device having a variable frequency. Here, the change point of the pulse signal is, for example, the rise time or the fall time of the pulse signal. The predetermined set value is, for example, a simultaneous conduction prevention time value.
上記の課題を解決するために、本発明に係るパルス信号時間計測装置は、入力パルス信号の変化点から加算を開始し、クロック信号のクロック周期毎に加算所定値を加算した加算値を出力する加算手段と、上記加算値が設定値に達したとき、計測到達信号を出力する計測到達手段と、を備え、上記計測到達信号の出力により、上記入力パルス信号の変化点からの上記設定値に対応した時間を計測できることを特徴とする。 In order to solve the above problems, the pulse signal time measuring apparatus according to the present invention starts addition from the changing point of the input pulse signal, and outputs an addition value obtained by adding a predetermined addition value for each clock cycle of the clock signal. And an addition means and a measurement arrival means for outputting a measurement arrival signal when the addition value reaches a set value. The output of the measurement arrival signal causes the set value from the change point of the input pulse signal to be set. It can measure the corresponding time.
上述した本発明に係るパルス信号時間計測装置によれば、周波数が可変であるクロック信号発生装置から入力したパルス信号の変化点からの所定の設定値に対応した時間を計測できる。 According to the above-described pulse signal time measuring apparatus according to the present invention, it is possible to measure a time corresponding to a predetermined set value from a change point of a pulse signal input from a clock signal generating apparatus having a variable frequency.
以下、本発明に係るパルス信号時間計測装置の好ましい一実施形態を、図面を参照して説明する。図1は、本発明に係るパルス信号時間計測装置の一実施形態を示すブロック図である。 Hereinafter, a preferred embodiment of a pulse signal time measuring apparatus according to the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of a pulse signal time measuring apparatus according to the present invention.
本実施形態のパルス信号時間計測装置100は、インバータ回路300が出力した入力パルス信号S1を入力し、入力した入力パルス信号S1の変化点を検出して計測開始信号S3を出力する計測開始手段30と、計測開始信号S3の入力により加算を開始し、クロック信号Scのクロック周期毎に加算所定値D1を加算した加算値D2を出力する加算手段10と、加算値D2が設定値Dsに達したとき、計測到達信号S2を出力する計測到達手段20と、加算手段10に上記加算所定値D1を設定する加算所定値算出手段40と、計測到達手段20に上記設定値Dsを設定する制御手段50と、を備えている。
また、本実施形態のパルス信号時間計測装置100は、計測到達信号S2の出力により、入力パルス信号S1の変化点からの設定値Dsに対応した時間を計測できる。
The pulse signal
Further, the pulse signal
本実施形態のパルス信号時間計測装置100の計測開始手段30は、インバータ回路300から、このインバータ回路300が出力した入力パルス信号S1を入力する。この入力パルス信号S1は、図2に示すように、インバータ回路300のトランジスタを駆動する駆動信号である。入力パルス信号S1は、例えば、X相の信号又はU相の信号である。また、入力パルス信号S1の変化点は、例えば、X相の信号の時間t1における立下り時点か、又は、U相の信号の時間t2における立ち下り時点である。ここで、図2は、上述した図7又は図8と同様の波形を意味する。また、上記設定値Dsは、例えば、インバータ回路における同時導通防止時間値である。
The measurement start means 30 of the pulse signal
また、本実施形態のパルス信号時間計測装置100は、上記加算値D2が設定値Dsに達した時、計測到達信号S2を出力し、入力パルス信号S1の変化点からの設定値Dsに対応した時間値(以下、計測時間値ともいう)を計測する。この計測到達信号S2は、インバータ回路300に供給される。インバータ回路300は、所定の同時導通防止時間値を設定するために、入力した計測到達信号S2を用いる。即ち、計測到達信号S2は、インバータ回路300においては、例えば、X相の信号の時間t1における立下り時点からの所定の時間が経過した時点を意味しており、上記計測時間値を計測することにより、設定された同時導通防止時間値と対応しているのかどうかが判断される。
Further, the pulse signal
上記加算手段10及び計測到達手段20それぞれには、装置外部のクロック信号発生手段200からクロック周波数が可変なクロック信号Scが供給される。クロック信号発生手段200は、可変クロック信号Scをインバータ回路300にも供給しており、インバータ回路300は、この可変クロック信号Scに基づいた信号を用いる。即ち、上記入力パルス信号S1のクロック周波数は、この可変クロック信号Scと同じである。従って、クロック信号Scのクロック周波数の変更に応じて、入力パルス信号S1の変化点が変更される。
Each of the adding
上記クロック信号発生手段200としては、例えば、クロック周波数が可変な公知のパルス信号発生装置を用いることができる。 As the clock signal generating means 200, for example, a known pulse signal generating device having a variable clock frequency can be used.
加算所定値算出手段40は、詳しくは後述するが、可変クロック信号Scのクロック周波数に対応した加算所定値D1を算出して、該加算所定値D1を加算手段10に設定する。 As will be described in detail later, the predetermined addition value calculation means 40 calculates an addition predetermined value D1 corresponding to the clock frequency of the variable clock signal Sc, and sets the addition predetermined value D1 in the addition means 10.
上記制御手段50は、少なくともCPU、ROM、RAM、表示部及び操作入力部(図示せず)を有し、予め記憶されているプログラムに従って、計測到達手段20の制御を行う。制御手段50は、パルス信号時間計測装置100の他の構成要素の制御を兼ねていても良い。
The control means 50 includes at least a CPU, a ROM, a RAM, a display unit, and an operation input unit (not shown), and controls the
以下、上述した本実施形態のパルス信号時間計測装置100の一実施例を、図面を参照しながら説明する。図3は、図1のパルス信号時間計測装置100の実施例を示すブロック図である。
Hereinafter, an example of the pulse signal
本実施例のパルス信号時間計測装置100は、図3に示すように、可変クロック信号Scを供給するクロック信号発生手段200と、入力パルス信号S1を供給すると共に計測到達信号S2が供給されるインバータ回路300とを備えている。
As shown in FIG. 3, the pulse signal
クロック信号発生手段200は、可変クロック信号Scを発生して、パルス信号時間計測装置100及びインバータ回路300に供給する。本実施形態では、可変クロック信号Scを供給するクロック信号発生手段200として、ダイレクト・ディジタル・シンセサイザー(DDS)を用いる。
The clock signal generating means 200 generates a variable clock signal Sc and supplies it to the pulse signal
本実施例のクロック信号発生手段200は、図3に示すように、デジタル制御手段210が出力するクロック周波数に対応するクロック周波数情報Fdを入力して、正弦波形の周波数可変な信号を発生するDDS発振手段220と、DDS発振手段220が出力した信号を入力して不要な周波数成分を除去した信号をコンパレータ240に出力するローパスフィルタ230と、ローパスフィルタ230が出力した正弦波形の信号を一方の入力部に入力し、他方の入力部から入力した所定の基準値と比較して矩形波の可変クロック信号Scを出力するコンパレータ240と、DDS発振手段220を制御する上記デジタル制御手段210とで構成される。
As shown in FIG. 3, the clock signal generating means 200 of this embodiment receives the clock frequency information Fd corresponding to the clock frequency output from the digital control means 210 and generates a sine waveform frequency variable signal. One input is an oscillation means 220, a low-
クロック信号発生手段200は、水晶発振器を備えており、50MHz〜100MHzの範囲のクロック周波数を有する可変クロック信号Scを発生することができる。デジタル制御手段210は、50MHz〜100MHzの範囲に相当するクロック周波数情報Fdを、DDS発振手段220に出力すると共に、パルス信号時間計測装置100にも出力する。
The clock signal generating means 200 includes a crystal oscillator and can generate a variable clock signal Sc having a clock frequency in the range of 50 MHz to 100 MHz. The
クロック信号発生手段200は、デジタル制御手段210が出力するクロック周波数情報Fdを変化させることにより、発生する可変クロック信号Scのクロック周波数を変化させる。 The clock signal generation means 200 changes the clock frequency of the generated variable clock signal Sc by changing the clock frequency information Fd output from the digital control means 210.
具体的には、DDS発振手段220は、入力したクロック周波数情報Fdに基づいて、相当するクロック周波数を有する信号を発生する。この入力するクロック周波数情報Fdが変化すると、このクロック周波数情報Fdの変化に対応して、DDS発振手段220が発生する信号の周波数も変化する。 Specifically, the DDS oscillation means 220 generates a signal having a corresponding clock frequency based on the input clock frequency information Fd. When the input clock frequency information Fd changes, the frequency of the signal generated by the DDS oscillation means 220 also changes corresponding to the change of the clock frequency information Fd.
次に、パルス信号時間計測装置100の各構成要素について以下に詳述する。
Next, each component of the pulse signal
まず、加算所定値算出手段40について、以下に説明する。
加算所定値算出手段40は、図3に示すように、デジタル制御手段210が発生したクロック周波数情報Fdを入力し、加算所定値D1を算出する所定値算出手段41と、所定値算出手段41が算出した加算所定値D1を記憶し、記憶した加算所定値D1を加算手段10に出力する加算所定値レジスタ42とで構成される。
First, the addition predetermined value calculation means 40 will be described below.
As shown in FIG. 3, the addition predetermined value calculation means 40 receives the clock frequency information Fd generated by the digital control means 210, and the predetermined value calculation means 41 and the predetermined value calculation means 41 calculate the addition predetermined value D1. An addition predetermined
所定値算出手段41は、加算所定値レジスタ42に設定される加算所定値D1を、デジタル制御手段210から出力されるクロック周波数情報Fdと特定クロック周波数とに基づいて算出する。可変クロック信号Scのクロック周波数と、クロック周波数情報Fdとは線形の関係にある。
The predetermined value calculation means 41 calculates the predetermined addition value D1 set in the addition predetermined
本実施例では、上記特定クロック周波数を、クロック信号発生手段200が供給する周波数範囲の下限値である50MHzとした。以下、この特定クロック周波数50MHzに相当するクロック周波数情報をFd(50)ともいう。なお、上記特定クロック周波数は、他のクロック周波数であっても良い。 In this embodiment, the specific clock frequency is set to 50 MHz, which is the lower limit value of the frequency range supplied by the clock signal generating means 200. Hereinafter, the clock frequency information corresponding to the specific clock frequency of 50 MHz is also referred to as Fd (50). The specific clock frequency may be another clock frequency.
具体的には、所定値算出手段41は、特定クロック周波数に相当するクロック周波数情報Fd(50)を基準として、可変クロック信号Scのクロック周波数に相当する入力したクロック周波数情報Fdとの比を求めて、加算所定値D1を算出する。 Specifically, the predetermined value calculation means 41 obtains a ratio with the input clock frequency information Fd corresponding to the clock frequency of the variable clock signal Sc with reference to the clock frequency information Fd (50) corresponding to the specific clock frequency. Then, the predetermined addition value D1 is calculated.
即ち、加算所定値D1は、以下の式により求められる。
D1 = Fd(50) / 入力したクロック周波数情報Fd
That is, the predetermined addition value D1 is obtained by the following equation.
D1 = Fd (50) / input clock frequency information Fd
可変クロック信号Scのクロック周波数が50MHzの場合には、加算所定値D1は1であり、可変クロック信号Scのクロック周波数が100MHzの場合には、加算所定値D1は0.5となる。従って、本実施例では、可変クロック信号Scのクロック周波数が50MHz〜100MHzの範囲で変化した場合、上記加算所定値D1は1〜0.5の範囲で変化する。 When the clock frequency of the variable clock signal Sc is 50 MHz, the predetermined addition value D1 is 1. When the clock frequency of the variable clock signal Sc is 100 MHz, the predetermined addition value D1 is 0.5. Therefore, in this embodiment, when the clock frequency of the variable clock signal Sc changes in the range of 50 MHz to 100 MHz, the predetermined addition value D1 changes in the range of 1 to 0.5.
所定値算出手段41は、上述したように算出した加算所定値D1を加算所定値レジスタ42に設定する。そして、加算所定値レジスタ42は、設定された加算所定値D1を加算手段10に出力する。
The predetermined value calculation means 41 sets the addition predetermined value D1 calculated as described above in the addition predetermined
本実施例では、加算所定値D1のデータ長は21ビットであり、所定値算出手段41と加算所定値レジスタ42とを接続する信号線、及び、加算所定値レジスタ42と加算手段10とを接続する信号線、それぞれは、21ビットのデータ長を有する。図3の各信号線に表示された数字は、このビット数を表わしている。
In this embodiment, the data length of the predetermined addition value D1 is 21 bits, the signal line connecting the predetermined value calculation means 41 and the addition predetermined
この加算所定値D1のデータ長は以下のように定めることができる。クロック周波数の小数部の有効数字を6桁まで扱えば、一般的な水晶発振器の発振する周波数を十分に精度良く表わすことができる。そして、10-6は2-20に対応するので、小数部のデータ長は20ビットを用意すれば良いことになる。一方、クロック周波数の整数部は、1ビットだけ用意すれば良い。従って、整数部と小数部とを併せて、加算所定値D1のデータ長は21ビットとなる。 The data length of the predetermined addition value D1 can be determined as follows. By handling up to six significant digits of the decimal part of the clock frequency, the frequency at which a general crystal oscillator oscillates can be expressed with sufficient accuracy. Since 10 −6 corresponds to 2 −20 , it is sufficient to prepare 20 bits for the data length of the decimal part. On the other hand, only one bit of the integer part of the clock frequency is prepared. Therefore, the data length of the predetermined addition value D1 is 21 bits by combining the integer part and the decimal part.
上記所定値算出手段41は、公知の除算回路を用いて構成することができる。この除算を行う回路としては、例えば、ニュートン法を使用した回路を用いることが、高速で正確な除算値を求める上で好ましい。 The predetermined value calculation means 41 can be configured using a known division circuit. As a circuit for performing this division, for example, a circuit using Newton's method is preferably used for obtaining a high-speed and accurate division value.
ニュートン法を使用した除算回路を用いた場合、4回の反復計算により、小数部の有効数字6桁を有する加算所定値D1を求めることができる。この場合、一回の反復計算に3クロック数を必要とするので、除算計算の前後の処理を含めて計14クロック数で上記除算が完了する。例えば、デジタル制御手段210が、1μs毎にクロック周波数情報Fdを変更する場合、所定値算出回路は、可変クロック信号Scが50MHzの時には、20ns×14クロック数、即ち280nsの演算時間で上記除算を完了して新たな加算所定値D1を算出できる。この除算速度は、比較的高速でクロック周波数を変化させて周波数制御を行う場合にも十分に対応できる。
When a division circuit using the Newton method is used, the predetermined addition value D1 having 6 significant digits of the decimal part can be obtained by four iterations. In this case, since 3 clocks are required for one repetitive calculation, the above division is completed in a total of 14 clocks including the processes before and after the division calculation. For example, when the
なお、高速な周波数制御が行われない場合には、所定値算出手段41を、2のマイナスべき乗の減算を所定のビット数だけ反復して行う除算回路を用いて構成しても良い。また、所定の除算プログラムを実行するCPUを用いて、所定値算出手段41を構成しても良い。 If high-speed frequency control is not performed, the predetermined value calculation means 41 may be configured using a division circuit that repeatedly subtracts a negative power of 2 by a predetermined number of bits. Further, the predetermined value calculation means 41 may be configured using a CPU that executes a predetermined division program.
次に、加算手段10について以下に説明する。
加算手段10は、図3に示すように、所定値加算手段11と加算値レジスタ12とで構成される。
Next, the adding means 10 will be described below.
As shown in FIG. 3, the adding means 10 includes a predetermined value adding means 11 and an added
所定値加算手段11は、一方の入力部には、加算所定値レジスタ42から読み出された加算所定値D1が入力され、他方の入力部には、加算値レジスタ12が出力する加算値D2がフィードバックして入力される。そして、所定値加算手段11は、入力した加算所定値D1とフィードバックして入力された加算値D2とを加算し、その加算した値を新たな加算値D2として加算値レジスタ12に出力する。
In the predetermined value adding means 11, an addition predetermined value D1 read from the addition predetermined
加算値レジスタ12は、所定値加算手段11が出力する加算値D2を入力する。また、加算値レジスタ12は、記憶している加算値D2を計測到達手段20と、所定値加算手段11の上記他方の入力部に出力する。また、加算値レジスタ12は、クロック信号発生手段200のコンパレータ240が出力する可変クロック信号Scを入力している。また、加算値レジスタ12は、計測開始手段30が出力する計測開始信号S3を入力する。
The
加算値レジスタ12は、計測開始手段30が出力する計測開始信号S3を入力するまでは、加算所定値D1で初期化され続ける。一方、加算値レジスタ12は、計測開始信号S3を入力した後は、可変クロック信号Scに同期して、その記憶内容が所定値加算手段11から入力する加算値D2により更新される。つまり、加算値レジスタ12は、最初に加算所定値D1を入力して記憶した後、計測開始信号S3を入力するまでは、加算所定値D1の値を保持し続ける。即ち、加算手段10は、計測開始手段30が出力する計測開始信号S3を、加算値レジスタ12が入力することにより加算を開始する。
The
本実施例では、加算値D2のデータ長は47ビットであり、所定値加算手段11と加算値レジスタ12とを接続する信号線、及び、加算値レジスタ12と所定値加算手段11の上記他方の入力部とを接続する信号線、それぞれは、47ビットのデータ長を有する。
In this embodiment, the data length of the addition value D2 is 47 bits, the signal line connecting the predetermined value addition means 11 and the
この加算値D2のデータ長は以下のように定めることができる。設定値Dsに対応した時間として、最大1秒間の同時導通保持時間値を計測する場合、可変クロック信号Scが50MHzのクロック周波数を有する時には、整数部として27ビットが必要となる。小数部としては、上述したように、20ビットが必要である。従って、整数部と小数部とを併せて、加算値D2のデータ長は47ビットとなる。 The data length of the added value D2 can be determined as follows. When measuring the simultaneous conduction holding time value for a maximum of 1 second as the time corresponding to the set value Ds, when the variable clock signal Sc has a clock frequency of 50 MHz, 27 bits are required as an integer part. As the decimal part, 20 bits are required as described above. Therefore, the data length of the added value D2 is 47 bits by combining the integer part and the decimal part.
図4(a)に、加算値レジスタ12が記憶する加算値D2の例を示す。図4(a)は、可変クロック信号Scのクロック周波数が50MHzの場合を示しており、上述したように、加算所定値D1は1.0となる。加算値レジスタ12は、計測開始信号S3を入力する前は、初期値として加算所定値D1を、即ち1.0を、保持している。加算値レジスタ12は、計測開始信号S3を入力した後は、可変クロック信号Scのクロック周期ごとに、即ち20nsごとに、記憶内容を更新する。従って、所定値加算手段10は、可変クロック信号Scのクロック周期ごとに、フィードバックされた加算値D2と加算所定値D1とを加算して加算値レジスタ12に出力するので、加算値D2は、図4(a)に示すように、20nsごとに、加算所定値1の変化幅でステップ状に単調に増加する。
FIG. 4A shows an example of the addition value D2 stored in the
次に、計測開始手段30について以下に説明する。
計測開始手段30は、インバータ回路300が出力した入力パルス信号S1を入力する。この入力パルス信号S1は、図2に示すように、インバータ回路のトランジスタを駆動するパルス信号の立ち上がり又は立下りを含んでいる。計測開始手段30は、入力した入力パルス信号S1の立ち上がり又は立下りの時点を検出し、計測開始信号S3を発生して、加算値レジスタ12に出力する。本実施例では、計測開始手段30は、制御手段50により制御されており、入力した入力パルス信号S1の立ち上がり又は立下りの時点のどちらを検出するのかは、制御手段50により選択されるようになされている。
Next, the measurement start means 30 will be described below.
The measurement start means 30 receives the input pulse signal S1 output from the
次に、計測到達手段20について以下に説明する。
計測到達手段20は、図3に示すように、比較手段21と、設定値レジスタ22と、検出手段23とで構成される。
Next, the
As shown in FIG. 3, the
比較手段21は、加算値レジスタ12が出力した加算値D2のうち整数部の27ビットを、一方の入力部に入力する。また、比較手段21は、設定レジスタ22が出力する設定値Dsを、他方の入力部に入力する。そして、比較手段21は、加算値D2と設定値Dsとを比較し、加算値D2が設定値Dsに達したか又は超えたとき、計測到達信号S2を、検出手段23を介して出力する。比較手段21は、例えばデジタルコンパレータを用いて構成することができる。
The comparison means 21
比較手段21の出力信号は、ハイ状態と、ロー状態の2つの状態を有するが、ロー状態の信号値には振れが生じる場合があるので、本実施例では、上記信号値が所定の基準値以上の場合に計測到達信号S2を出力する検出手段23を設けてある。この検出手段23は、可変クロック信号Scを入力しており、信号値の検出は、この可変クロック信号Scのクロック周期と同期して行う。検出手段23は、比較手段21のハイ状態の出力信号値が所定の基準値に達すると、次入力の1クロックの間、計測到達信号S2をインバータ回路300に出力する。
Although the output signal of the comparison means 21 has two states, a high state and a low state, the signal value in the low state may fluctuate. Therefore, in this embodiment, the signal value is a predetermined reference value. In the above case, the detection means 23 for outputting the measurement arrival signal S2 is provided. The detection means 23 receives the variable clock signal Sc, and the signal value is detected in synchronization with the clock cycle of the variable clock signal Sc. When the output signal value in the high state of the
そして、入力パルス信号S1の変化点からの設定値Dsに対応した時間値(計測時間値)は、計測開始信号S3を入力した時点から、計測到達信号S2が出力されるまでの間として計測される。本実施例では、制御手段50が、パルス信号時間計測装置100の他の構成要素の処理を制御しており、上記計測時間値を計測する。
The time value (measurement time value) corresponding to the set value Ds from the changing point of the input pulse signal S1 is measured from the time when the measurement start signal S3 is input until the measurement arrival signal S2 is output. The In the present embodiment, the control means 50 controls processing of other components of the pulse signal
設定値レジスタ22には、制御手段50によって設定値Dsが設定される。本実施例では、設定値Dsがインバータ回路300の同時導通防止時間値に対応する。制御手段50は、同時導通防止時間値を上記特定クロック周波数のクロック周期で除算して設定値Dsを求め、この設定値Dsを設定値レジスタ22に設定する。制御手段50には、同時導通防止時間値が、例えば、インバータ回路300から供給される。
A set value Ds is set in the
例えば、同時導通防止時間値が100ns(ナノ秒)である場合、上記特定クロック周波数(50MHz)のクロック周期は20nsとなり、設定値Dsは5.0となる。 For example, when the simultaneous conduction prevention time value is 100 ns (nanoseconds), the clock period of the specific clock frequency (50 MHz) is 20 ns, and the set value Ds is 5.0.
本実施例では、加算値D2の整数部のデータ長は27ビットであり、比較手段21で比較される設定値Dsも整数であってデータ長は27ビットである。加算値レジスタ12から出力された加算値D2は、所定値加算手段11へ分岐した後、整数部の27ビット分だけが比較手段21の一方の入力部へ入力している。また、設定値レジスタ22と比較手段21の他方の入力部とを接続する信号線は、27ビットのデータ長を有する。
In this embodiment, the data length of the integer part of the added value D2 is 27 bits, and the set value Ds compared by the comparison means 21 is also an integer, and the data length is 27 bits. After the addition value D2 output from the addition value register 12 branches to the predetermined value addition means 11, only 27 bits of the integer part is input to one input part of the comparison means 21. The signal line connecting the
次に、比較手段21の動作を、図4(a)の例を用いて、以下に説明する。図4(a)には、上述したように、可変クロック信号Scのクロック周波数が50MHzであり、比較手段12の設定値レジスタ22には、設定値Dsとして、100ns(ナノ秒)の同時導通防止時間値に対応する5.0が設定されている。比較手段12の一方の入力部には、加算値レジスタ12から加算値D2の整数部が入力される。この加算値D2の整数部は、図4(a)に示すように、初期値の1.0から、可変クロック信号Scのクロック周期ごとに加算所定値D1の1.0ずつが加算されて、2.0、3.0、4.0、5.0と単調に増加する。そして、加算値D2の整数部が設定値Dsである5.0に達した時、比較手段21が検出手段23を介して計測到達信号S2を発生する。
Next, operation | movement of the comparison means 21 is demonstrated below using the example of Fig.4 (a). In FIG. 4A, as described above, the clock frequency of the variable clock signal Sc is 50 MHz, and the
次に、可変クロック信号Scのクロック周期が100MHzの場合の例を、図4(b)に示す。この例では、可変クロック信号Scのクロック周期が10nsであり、加算所定値D1が0.5となる点を除いて、図4(a)の例と同様である。図4(b)では、比較手段12の一方の入力部に入力される加算値D2の整数部は、初期値の0.5から、可変クロック信号Scのクロック周期ごとに加算所定値D1の0.5ずつが加算されて、1.0、1.5、2.0、2.5、・・・5.0と単調に増加する。そして、加算値D2の整数部が設定値Dsである5.0に達した時、比較手段21が計測到達信号S2を発生する。 Next, an example in which the clock cycle of the variable clock signal Sc is 100 MHz is shown in FIG. This example is the same as the example of FIG. 4A except that the clock cycle of the variable clock signal Sc is 10 ns and the predetermined addition value D1 is 0.5. In FIG. 4B, the integer part of the addition value D2 input to one input part of the comparison means 12 is changed from the initial value 0.5 to 0 of the addition predetermined value D1 every clock cycle of the variable clock signal Sc. .5 is added and increases monotonously as 1.0, 1.5, 2.0, 2.5,... 5.0. When the integer part of the added value D2 reaches 5.0, which is the set value Ds, the comparison means 21 generates the measurement arrival signal S2.
このように、本実施例の計測到達手段20は、可変クロック信号Scのクロック周波数が50MHz〜100MHzの範囲で変化しても、同様に、同じ設定値Dsを計測することが可能である。
As described above, the
上述した本実施例のパルス信号時間計測装置100の動作の一例を、図5に示すタイミング図を参照して、以下に説明する。図5は、図4(a)に示した場合のパルス信号時間計測装置100の動作を示している。即ち、図5では、可変クロック信号Scのクロック周波数が50MHzであり、同時導通防止時間値が100ns、即ち設定値Dsが5.0である。
An example of the operation of the above-described pulse signal
図5において、(a)は、可変クロック信号Scを示し、(b)は、計測開始信号S3を示し、(c)は、加算値レジスタ12が記憶する加算値D2を示し、(d)は、比較手段21の出力信号を示し、(e)は、計測到達信号S2を示している。
5, (a) shows the variable clock signal Sc, (b) shows the measurement start signal S3, (c) shows the addition value D2 stored in the
(b)の計測開始信号S3を入力する時間t1よりも前の時点では、加算値レジスタ12が記憶する加算値D2は、加算所定値D1であるaの値を保持している。ここでaは1.0である。加算値レジスタ12は、(b)に示すように、時間t1において、計測開始信号S3を入力すると、可変クロック信号Scのクロック周期と同期して記憶する加算値D2の更新を開始する。(c)の加算値D2は、可変クロック信号Scのクロック周期と同期して、a、2a、3a、4a、5aと単調に増加する。時間t2において、加算値D2が設定値の5.0に達すると、(d)に示すように、比較手段21が出力信号を出力する。そして、(e)に示すように、時間t3において、検出手段23が計測到達信号S2を1クロックの間出力する。時間t4において、制御手段50は、計測開始手段30の計測開始信号S3の出力を停止する。
At a time before the time t1 when the measurement start signal S3 in (b) is input, the addition value D2 stored in the
本実施例では、上記計測時間値は、計測開始信号S3の立ち上がり時点の時間t1から、計測到達信号S2の立ち上がり時点の時間t3までの間である。この計測時間値は、制御手段50により計測される。 In this embodiment, the measurement time value is from the time t1 when the measurement start signal S3 rises to the time t3 when the measurement arrival signal S2 rises. This measurement time value is measured by the control means 50.
なお、計測開始信号S3が発生するタイミングを、比較手段21が出力信号を出力するタイミングと同じにする場合には、設定値D2から加算所定値D1を減じた値を、設定値レジスタ22に設定にすれば良い。
If the timing at which the measurement start signal S3 is generated is the same as the timing at which the
上述した本実施例のパルス信号時間計測装置100によれば、周波数が可変であるパルス信号発生装置から入力した入力パルス信号S1の変化点からの設定値Dsに対応した時間(計測時間値)を計測できる。具体的には、可変クロック信号Scのクロック周波数が変化しても、一定の設定値Dsに対応した上記計測時間値を計測することができる。
According to the pulse signal
また、上記計測時間値の計測中に可変クロック信号Scのクロック周波数が変更された場合にも、加算所定値算出手段40が、常に加算所定値D1を更新しているので、可変クロック信号Scのクロック周波数の変更と、加算所定値D1の更新を同時に行うため、一定の設定値Dsの計測が常に可能である。従って、クロック信号発生装置200の発生する可変クロック信号Scのクロック周波数の変更に対応して、シームレスに設定値Dsとしての同時導通防止時間値の計測を行うことが可能となる。
Further, even when the clock frequency of the variable clock signal Sc is changed during the measurement time value measurement, the addition predetermined value calculation means 40 constantly updates the addition predetermined value D1, so that the variable clock signal Sc Since the change of the clock frequency and the update of the predetermined addition value D1 are performed at the same time, it is possible to always measure the constant set value Ds. Accordingly, it is possible to seamlessly measure the simultaneous conduction prevention time value as the set value Ds in response to the change of the clock frequency of the variable clock signal Sc generated by the
本発明のパルス信号時間計測装置は、上述した実施形態又は実施例に制限されることなく、本発明の趣旨を逸脱しない限り適宜変更が可能である。 The pulse signal time measuring device of the present invention is not limited to the above-described embodiments or examples, and can be appropriately changed without departing from the spirit of the present invention.
例えば、本発明のパルス信号時間計測装置は、入力パルス信号の変化点からの上記設定値に対応した時間を計測できる装置であり、この設定値は、上述した同時導通防止時間値に限られるものではない。 For example, the pulse signal time measuring device of the present invention is a device that can measure the time corresponding to the set value from the changing point of the input pulse signal, and this set value is limited to the above-described simultaneous conduction prevention time value. is not.
また、本発明のパルス信号時間計測装置は、入力パルス信号のクロック周波数が可変ではなく、固定されていても良い。 In the pulse signal time measuring device of the present invention, the clock frequency of the input pulse signal is not variable and may be fixed.
また、上述した図5のタイミング図において、計測開始信号S3の出力を、計測到達信号S2の立下りの時点で停止しているが、計測開始信号S3の出力は別のタイミングで停止しても良い。 Further, in the timing diagram of FIG. 5 described above, the output of the measurement start signal S3 is stopped at the time of the fall of the measurement arrival signal S2, but the output of the measurement start signal S3 may be stopped at another timing. good.
また、本発明のパルス信号時間計測装置100は、インバータ回路の方式やスイッチング素子の種類に制限されることなく、同時導通防止時間値の計測を行うことができる。例えば、インバータ回路300は、トランジスタをスイッチング素子として用いていたが、スイッチング素子としては、MOSFET、IGBT等の半導体素子、又は、SICを用いた半導体素子を用いても良い。
Moreover, the pulse signal
100 パルス信号時間計測装置
10 加算手段
11 所定値加算手段
12 加算値レジスタ
20 計測到達手段
21 比較手段
22 設定値レジスタ
23 検出手段
30 計測開始手段
40 加算所定値算出手段
41 所定値算出手段
42 加算所定値レジスタ
50 制御手段
200 クロック信号発生手段
210 デジタル制御手段
220 DDS発振手段
230 ローパスフィルタ
240 プログラマブルコンパレータ
300 インバータ回路
S1 入力パルス信号
S2 測定到達信号
S3 計測開始信号
Sc クロック信号
D1 加算所定値
D2 加算値
Ds 設定値
Fd クロック周波数情報
DESCRIPTION OF
Claims (4)
前記加算値が設定値に達したとき、計測到達信号を出力する計測到達手段と、を備え、
前記計測到達信号の出力により、前記入力パルス信号の変化点からの前記設定値に対応した時間を計測でき、
前記クロック信号は、デジタル制御手段のクロック周波数情報に従ってクロック周波数が変更されるダイレクト・デジタル・シンセサイザーから供給され、
前記クロック信号のクロック周波数は可変であり、該クロック周波数の変更に応じて、前記入力パルス信号の変化点が変更され、
前記加算手段が加算する前記加算所定値は、前記クロック信号の特定クロック周波数を基準とした前記クロック信号のクロック周波数の比で加算所定値レジスタに設定され、
前記加算所定値レジスタから読み出された前記加算所定値が、前記加算手段に出力されることを特徴とするパルス信号時間計測装置。 Addition means for starting addition from the change point of the input pulse signal and outputting an addition value obtained by adding a predetermined addition value every clock cycle of the clock signal;
A measurement arrival means for outputting a measurement arrival signal when the addition value reaches a set value; and
Wherein the output of the measuring arrival signal, can a time corresponding to the set value from the change point of the input pulse signal measurement,
The clock signal is supplied from a direct digital synthesizer whose clock frequency is changed according to the clock frequency information of the digital control means,
The clock frequency of the clock signal is variable, and the change point of the input pulse signal is changed according to the change of the clock frequency,
The predetermined addition value added by the adding means is set in an addition predetermined value register by a ratio of clock frequencies of the clock signal with reference to a specific clock frequency of the clock signal,
The pulse signal time measuring device , wherein the predetermined addition value read from the addition predetermined value register is output to the addition means .
前記設定値は、前記同時導通防止時間値が前記特定クロック周波数のクロック周期で除算され、設定値レジスタに設定されることを特徴とする請求項1又は2に記載のパルス信号時間計測装置。 A plurality of the input pulse signals, and the input pulse signals are signals for driving the plurality of switching elements connected in series in the power conversion circuit, and the set value is the simultaneous conduction of each of the plurality of switching elements. It corresponds to the simultaneous conduction prevention time value to prevent
3. The pulse signal time measuring apparatus according to claim 1, wherein the set value is set in a set value register by dividing the simultaneous conduction prevention time value by a clock period of the specific clock frequency. 4.
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