JP2004012283A - 半導体集積回路の検査装置および検査方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】複数の半導体集積回路を同時に検査する場合に、半導体集積回路のピン数の増大や同時検査数の増加に対してLSIテスタ側の測定可能なピン数の不足を回避する。
【解決手段】検査対象の半導体集積回路の良品サンプル101の入力と検査対象の複数の半導体集積回路102、106の入力に同一の入力信号を入力する手段と、良品サンプルの出力と検査対象の各半導体集積回路の出力を出力信号毎に比較する手段と、検査対象の半導体集積回路毎に全ての出力信号について前記比較結果で出力信号毎の一致が検出されたことを判定する手段とを具備し、検査対象となる複数の半導体集積回路の出力信号を良品サンプルの出力信号と個々に比較することにより、複数の半導体集積回路を同時に検査する。
【選択図】 図1
【解決手段】検査対象の半導体集積回路の良品サンプル101の入力と検査対象の複数の半導体集積回路102、106の入力に同一の入力信号を入力する手段と、良品サンプルの出力と検査対象の各半導体集積回路の出力を出力信号毎に比較する手段と、検査対象の半導体集積回路毎に全ての出力信号について前記比較結果で出力信号毎の一致が検出されたことを判定する手段とを具備し、検査対象となる複数の半導体集積回路の出力信号を良品サンプルの出力信号と個々に比較することにより、複数の半導体集積回路を同時に検査する。
【選択図】 図1
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、複数の半導体集積回路を同時に検査する場合に検査時間を短縮することができる半導体集積回路の検査装置および検査方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
LSIテスタを用いて半導体集積回路の検査を行う際に、検査の生産性を向上させるために、複数の半導体チップを同時に検査することで検査時間の短縮を図ることが行われている。
【0003】
従来、半導体集積回路の同時検査を行う場合、図3に示すように、検査用の入力信号を分岐して検査対象の複数の半導体集積回路301および302に入力し、半導体集積回路の全ての出力信号をLSIテスタにより検査する必要があった。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記従来の検査方法においては、半導体集積回路のピン数が増大したときや、同時に検査する半導体集積回路数が増えた場合に、LSIテスタ側の測定可能なピン数が不足し同時検査が実施できなくなるという問題があった。
【0005】
本発明はかかる点に鑑みてなされたものであり、複数の半導体集積回路を同時に検査する場合に、半導体集積回路のピン数の増大や同時検査数の増加に対してLSIテスタ側の測定可能なピン数の不足を回避することができる半導体集積回路の検査装置および検査方法を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】
この課題を解決するために、本発明の請求項1に係る半導体集積回路の検査装置は、検査対象の半導体集積回路の良品サンプル(101)の入力と検査対象の複数の半導体集積回路(102、106)の入力に同一の入力信号を入力する手段と、良品サンプルの出力と検査対象の各半導体集積回路の出力を出力信号毎に比較する手段(103、104:107、108)と、検査対象の半導体集積回路毎に全ての出力信号について比較結果で出力信号毎の一致が検出されたことを判定する手段(105、109)とを具備するものである。
【0007】
上記構成によれば、上記手段により検査対象となる複数の半導体集積回路の出力信号を良品サンプルの出力信号と個々に比較することができるため、複数の半導体集積回路を同時に検査することができ、検査のために観測する信号は検査対象の半導体集積回路の数と同数で済むため、半導体集積回路のピン数増大の問題に対処することができ、同時検査数の増加に対してLSIテスタ側の測定可能なピン数の不足を回避することができる。
【0008】
本発明の請求項2に係る半導体集積回路の検査装置は、請求項1記載の半導体集積回路の検査装置において、前記検査対象の半導体集積回路毎に全ての出力信号について比較結果で出力信号毎の一致が検出されたことを判定する手段は、判定結果を保持する手段(206、211)を含むものである。
【0009】
上記構成によれば、比較判定結果が保持されるため、検査対象の半導体集積回路の出力信号におけるタイミングのずれによる過渡状態を排除することができる。
【0010】
本発明の請求項3に係る半導体集積回路の検査方法は、検査対象の半導体集積回路の良品サンプルの入力と検査対象の複数の半導体集積回路の入力に同一の入力信号を入力し、良品サンプルの出力と検査対象の各半導体集積回路の出力を出力信号毎に比較し、全ての出力信号について出力信号毎の比較結果で一致が検出された検査対象の半導体集積回路を良品と判定するものである。
【0011】
上記構成によれば、検査対象となる複数の半導体集積回路の出力信号を良品サンプルの出力信号と個々に比較することができるため、複数の半導体集積回路を同時に検査することができ、検査のために観測する信号は検査対象の半導体集積回路の数と同数で済むため、半導体集積回路のピン数増大の問題に対処することができ、同時検査数の増加に対してLSIテスタ側の測定可能なピン数の不足を回避することができる。
【0012】
本発明の請求項4に係る半導体集積回路の検査方法は、請求項3記載の半導体集積回路の検査方法において、前記検査対象の半導体集積回路毎に全ての出力信号について出力信号毎の比較結果で一致が検出されたことを判定結果として保持するものである。
【0013】
上記構成によれば、比較判定結果が保持されるため、検査対象の半導体集積回路の出力信号におけるタイミングのずれによる過渡状態を排除することができる。
【0014】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態について図面を参照しながら説明する。本発明は、良品サンプルと検査対象の半導体集積回路の出力信号を比較するための論理回路を有し、検査対象の半導体集積回路の出力信号が良品サンプルの出力信号と一致することを確認することができる構造を持つ。
【0015】
(実施の形態1)
図1は本発明の実施の形態1に係る半導体集積回路の検査装置の構成を示すブロック図である。図1において、101は検査対象の半導体集積回路の良品サンプル、102および106は検査対象の複数の半導体集積回路、103、104、107、108は排他的論理和回路、105、109は論理積回路である。
【0016】
検査対象の複数の半導体集積回路102および106には、良品サンプル101に入力される信号と同一の信号が入力される。良品サンプル101および検査対象の半導体集積回路102の出力信号は、対応する同一信号のペアが、それぞれ複数の排他的論理和回路103および104に入力される。同様に良品サンプル101および検査対象の半導体集積回路106の出力信号は、対応する同一信号のペアが、それぞれ複数の排他的論理和回路107および108に入力される。
【0017】
複数の排他的論理和回路103および104の出力信号は論理積回路105に入力される。同様に複数の排他的論理和回路107および108の出力信号は論理積回路109に入力される。論理積回路105および109の出力信号が真であることを確認することにより、半導体集積回路102および106が良品サンプル101と同一の振る舞いをしていることが確認でき、検査対象の半導体集積回路が良品であることが判定できる。
【0018】
各論理積回路の出力は各検査対象の半導体集積回路に対応しているので、例えば、論理積回路105の出力信号が真でない場合は、半導体集積回路102が良品でないと判定できる。したがって、各論理積回路の出力を観測するだけで各検査対象の半導体集積回路の良否を判定することができる。
【0019】
このようにして、検査対象となる複数の半導体集積回路の出力信号を良品サンプルの出力信号と個々に比較することにより、複数の半導体集積回路を同時に検査することができ、検査のために観測する信号は検査対象の半導体集積回路の数と同数で済むため、半導体集積回路のピン数増大の問題に対処することができ、同時検査数の増加に対してLSIテスタ側の測定可能なピン数の不足を回避することができる。
【0020】
さらに、上記説明の論理積回路105および109の出力信号をさらに他の論理積回路に入力することにより、個別の半導体集積回路の良否判定機能は縮退するが、検査に必要な端子数をさらに減らすことができる。
【0021】
(実施の形態2)
図2は本発明の実施の形態2に係る半導体集積回路の検査装置の構成を示すブロック図である。図2において、201は検査対象の半導体集積回路の良品サンプル、202および207は検査対象の複数の半導体集積回路、203、204、208、209は排他的論理和回路、205、210は論理積回路、206、211はフリップフロップである。
【0022】
検査対象の複数の半導体集積回路202および207には、良品サンプル201に入力される信号と同一の信号が入力される。良品サンプル201および検査対象の半導体集積回路202の出力信号は、対応する同一信号のペアが、それぞれ複数の排他的論理和回路203および204に入力される。同様に良品サンプル201および検査対象の半導体集積回路207の出力信号は、対応する同一信号のペアが、それぞれ複数の排他的論理和回路208および209に入力される。
【0023】
複数の排他的論理和回路203および204の出力信号は論理積回路205に入力され、その出力信号はフリップフロップ206に入力される。同様に複数の排他的論理和回路208および209の出力信号は論理積回路210に入力され、その出力信号はフリップフロップ211に入力される。フリップフロップ206および211の出力信号を観測することにより、半導体集積回路202および207が良品サンプル201と同一の振る舞いをしているかどうかを確認することができ、検査対象の半導体集積回路の良否を判定することができる。
【0024】
ここで、フリップフロップ206および211のクロック入力を調整することにより、良品サンプル201および検査対象の半導体集積回路202、207の出力信号のタイミングのずれによる過渡状態を排除することができる。
【0025】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、検査対象となる複数の半導体集積回路の出力信号を良品サンプルの出力信号と個々に比較することができるので、複数の半導体集積回路を同時に検査することができ、検査のために観測する信号は検査対象の半導体集積回路の数と同数で済むため、半導体集積回路のピン数増大の問題が生ずることもなく、同時検査数の増加に対してLSIテスタ側の測定可能なピン数の不足を回避できるという優れた効果を得ることができる。
【0026】
さらに本発明によれば、比較判定結果を記憶手段に保持することにより、検査対象の半導体集積回路の出力信号におけるタイミングのずれによる過渡状態を排除するという優れた効果を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態に係る半導体集積回路の検査装置の構成を示すブロック図。
【図2】本発明の第2の実施の形態に係る半導体集積回路の検査装置の構成を示すブロック図。
【図3】従来の半導体集積回路の検査方法を示すブロック図。
【符号の説明】
101、201 良品サンプル
102、106、202、207 検査対象の半導体集積回路
103、104、107、108、203、204、208、209 排他的論理和回路
105、109、205、210 論理積回路
206、211 フリップフロップ
301、302 検査対象の半導体集積回路
【発明の属する技術分野】
本発明は、複数の半導体集積回路を同時に検査する場合に検査時間を短縮することができる半導体集積回路の検査装置および検査方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
LSIテスタを用いて半導体集積回路の検査を行う際に、検査の生産性を向上させるために、複数の半導体チップを同時に検査することで検査時間の短縮を図ることが行われている。
【0003】
従来、半導体集積回路の同時検査を行う場合、図3に示すように、検査用の入力信号を分岐して検査対象の複数の半導体集積回路301および302に入力し、半導体集積回路の全ての出力信号をLSIテスタにより検査する必要があった。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記従来の検査方法においては、半導体集積回路のピン数が増大したときや、同時に検査する半導体集積回路数が増えた場合に、LSIテスタ側の測定可能なピン数が不足し同時検査が実施できなくなるという問題があった。
【0005】
本発明はかかる点に鑑みてなされたものであり、複数の半導体集積回路を同時に検査する場合に、半導体集積回路のピン数の増大や同時検査数の増加に対してLSIテスタ側の測定可能なピン数の不足を回避することができる半導体集積回路の検査装置および検査方法を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】
この課題を解決するために、本発明の請求項1に係る半導体集積回路の検査装置は、検査対象の半導体集積回路の良品サンプル(101)の入力と検査対象の複数の半導体集積回路(102、106)の入力に同一の入力信号を入力する手段と、良品サンプルの出力と検査対象の各半導体集積回路の出力を出力信号毎に比較する手段(103、104:107、108)と、検査対象の半導体集積回路毎に全ての出力信号について比較結果で出力信号毎の一致が検出されたことを判定する手段(105、109)とを具備するものである。
【0007】
上記構成によれば、上記手段により検査対象となる複数の半導体集積回路の出力信号を良品サンプルの出力信号と個々に比較することができるため、複数の半導体集積回路を同時に検査することができ、検査のために観測する信号は検査対象の半導体集積回路の数と同数で済むため、半導体集積回路のピン数増大の問題に対処することができ、同時検査数の増加に対してLSIテスタ側の測定可能なピン数の不足を回避することができる。
【0008】
本発明の請求項2に係る半導体集積回路の検査装置は、請求項1記載の半導体集積回路の検査装置において、前記検査対象の半導体集積回路毎に全ての出力信号について比較結果で出力信号毎の一致が検出されたことを判定する手段は、判定結果を保持する手段(206、211)を含むものである。
【0009】
上記構成によれば、比較判定結果が保持されるため、検査対象の半導体集積回路の出力信号におけるタイミングのずれによる過渡状態を排除することができる。
【0010】
本発明の請求項3に係る半導体集積回路の検査方法は、検査対象の半導体集積回路の良品サンプルの入力と検査対象の複数の半導体集積回路の入力に同一の入力信号を入力し、良品サンプルの出力と検査対象の各半導体集積回路の出力を出力信号毎に比較し、全ての出力信号について出力信号毎の比較結果で一致が検出された検査対象の半導体集積回路を良品と判定するものである。
【0011】
上記構成によれば、検査対象となる複数の半導体集積回路の出力信号を良品サンプルの出力信号と個々に比較することができるため、複数の半導体集積回路を同時に検査することができ、検査のために観測する信号は検査対象の半導体集積回路の数と同数で済むため、半導体集積回路のピン数増大の問題に対処することができ、同時検査数の増加に対してLSIテスタ側の測定可能なピン数の不足を回避することができる。
【0012】
本発明の請求項4に係る半導体集積回路の検査方法は、請求項3記載の半導体集積回路の検査方法において、前記検査対象の半導体集積回路毎に全ての出力信号について出力信号毎の比較結果で一致が検出されたことを判定結果として保持するものである。
【0013】
上記構成によれば、比較判定結果が保持されるため、検査対象の半導体集積回路の出力信号におけるタイミングのずれによる過渡状態を排除することができる。
【0014】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態について図面を参照しながら説明する。本発明は、良品サンプルと検査対象の半導体集積回路の出力信号を比較するための論理回路を有し、検査対象の半導体集積回路の出力信号が良品サンプルの出力信号と一致することを確認することができる構造を持つ。
【0015】
(実施の形態1)
図1は本発明の実施の形態1に係る半導体集積回路の検査装置の構成を示すブロック図である。図1において、101は検査対象の半導体集積回路の良品サンプル、102および106は検査対象の複数の半導体集積回路、103、104、107、108は排他的論理和回路、105、109は論理積回路である。
【0016】
検査対象の複数の半導体集積回路102および106には、良品サンプル101に入力される信号と同一の信号が入力される。良品サンプル101および検査対象の半導体集積回路102の出力信号は、対応する同一信号のペアが、それぞれ複数の排他的論理和回路103および104に入力される。同様に良品サンプル101および検査対象の半導体集積回路106の出力信号は、対応する同一信号のペアが、それぞれ複数の排他的論理和回路107および108に入力される。
【0017】
複数の排他的論理和回路103および104の出力信号は論理積回路105に入力される。同様に複数の排他的論理和回路107および108の出力信号は論理積回路109に入力される。論理積回路105および109の出力信号が真であることを確認することにより、半導体集積回路102および106が良品サンプル101と同一の振る舞いをしていることが確認でき、検査対象の半導体集積回路が良品であることが判定できる。
【0018】
各論理積回路の出力は各検査対象の半導体集積回路に対応しているので、例えば、論理積回路105の出力信号が真でない場合は、半導体集積回路102が良品でないと判定できる。したがって、各論理積回路の出力を観測するだけで各検査対象の半導体集積回路の良否を判定することができる。
【0019】
このようにして、検査対象となる複数の半導体集積回路の出力信号を良品サンプルの出力信号と個々に比較することにより、複数の半導体集積回路を同時に検査することができ、検査のために観測する信号は検査対象の半導体集積回路の数と同数で済むため、半導体集積回路のピン数増大の問題に対処することができ、同時検査数の増加に対してLSIテスタ側の測定可能なピン数の不足を回避することができる。
【0020】
さらに、上記説明の論理積回路105および109の出力信号をさらに他の論理積回路に入力することにより、個別の半導体集積回路の良否判定機能は縮退するが、検査に必要な端子数をさらに減らすことができる。
【0021】
(実施の形態2)
図2は本発明の実施の形態2に係る半導体集積回路の検査装置の構成を示すブロック図である。図2において、201は検査対象の半導体集積回路の良品サンプル、202および207は検査対象の複数の半導体集積回路、203、204、208、209は排他的論理和回路、205、210は論理積回路、206、211はフリップフロップである。
【0022】
検査対象の複数の半導体集積回路202および207には、良品サンプル201に入力される信号と同一の信号が入力される。良品サンプル201および検査対象の半導体集積回路202の出力信号は、対応する同一信号のペアが、それぞれ複数の排他的論理和回路203および204に入力される。同様に良品サンプル201および検査対象の半導体集積回路207の出力信号は、対応する同一信号のペアが、それぞれ複数の排他的論理和回路208および209に入力される。
【0023】
複数の排他的論理和回路203および204の出力信号は論理積回路205に入力され、その出力信号はフリップフロップ206に入力される。同様に複数の排他的論理和回路208および209の出力信号は論理積回路210に入力され、その出力信号はフリップフロップ211に入力される。フリップフロップ206および211の出力信号を観測することにより、半導体集積回路202および207が良品サンプル201と同一の振る舞いをしているかどうかを確認することができ、検査対象の半導体集積回路の良否を判定することができる。
【0024】
ここで、フリップフロップ206および211のクロック入力を調整することにより、良品サンプル201および検査対象の半導体集積回路202、207の出力信号のタイミングのずれによる過渡状態を排除することができる。
【0025】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、検査対象となる複数の半導体集積回路の出力信号を良品サンプルの出力信号と個々に比較することができるので、複数の半導体集積回路を同時に検査することができ、検査のために観測する信号は検査対象の半導体集積回路の数と同数で済むため、半導体集積回路のピン数増大の問題が生ずることもなく、同時検査数の増加に対してLSIテスタ側の測定可能なピン数の不足を回避できるという優れた効果を得ることができる。
【0026】
さらに本発明によれば、比較判定結果を記憶手段に保持することにより、検査対象の半導体集積回路の出力信号におけるタイミングのずれによる過渡状態を排除するという優れた効果を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態に係る半導体集積回路の検査装置の構成を示すブロック図。
【図2】本発明の第2の実施の形態に係る半導体集積回路の検査装置の構成を示すブロック図。
【図3】従来の半導体集積回路の検査方法を示すブロック図。
【符号の説明】
101、201 良品サンプル
102、106、202、207 検査対象の半導体集積回路
103、104、107、108、203、204、208、209 排他的論理和回路
105、109、205、210 論理積回路
206、211 フリップフロップ
301、302 検査対象の半導体集積回路
Claims (4)
- 検査対象の半導体集積回路の良品サンプルの入力と検査対象の複数の半導体集積回路の入力に同一の入力信号を入力する手段と、
前記良品サンプルの出力と前記検査対象の各半導体集積回路の出力を出力信号毎に比較する手段と、
前記検査対象の半導体集積回路毎に全ての出力信号について前記比較結果で出力信号毎の一致が検出されたことを判定する手段と、
を具備することを特徴とする半導体集積回路の検査装置。 - 前記検査対象の半導体集積回路毎に全ての出力信号について前記比較結果で出力信号毎の一致が検出されたことを判定する手段は、判定結果を保持する手段を含むことを特徴とする請求項1記載の半導体集積回路の検査装置。
- 検査対象の半導体集積回路の良品サンプルの入力と検査対象の複数の半導体集積回路の入力に同一の入力信号を入力し、前記良品サンプルの出力と前記検査対象の各半導体集積回路の出力を出力信号毎に比較し、全ての出力信号について前記出力信号毎の比較結果で一致が検出された検査対象の半導体集積回路を良品と判定することを特徴とする半導体集積回路の検査方法。
- 前記検査対象の半導体集積回路毎に全ての出力信号について前記出力信号毎の比較結果で一致が検出されたことを判定結果として保持することを特徴とする請求項3記載の半導体集積回路の検査方法。
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JP2002165695A JP2004012283A (ja) | 2002-06-06 | 2002-06-06 | 半導体集積回路の検査装置および検査方法 |
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US7385231B2 (en) | 2005-08-31 | 2008-06-10 | Fujifilmcorporation | Porous thin-film-deposition substrate, electron emitting element, methods of producing them, and switching element and display element |
CN116400202A (zh) * | 2023-06-07 | 2023-07-07 | 中国汽车技术研究中心有限公司 | 一种芯片逻辑功能交叉验证测试方法 |
-
2002
- 2002-06-06 JP JP2002165695A patent/JP2004012283A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN116400202A (zh) * | 2023-06-07 | 2023-07-07 | 中国汽车技术研究中心有限公司 | 一种芯片逻辑功能交叉验证测试方法 |
CN116400202B (zh) * | 2023-06-07 | 2023-09-01 | 中国汽车技术研究中心有限公司 | 一种芯片逻辑功能交叉验证测试方法 |
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