DE69332499T2 - Verfahren und Vorrichtung zur Verwendung analoger Testsignale in digitaler Umgebung - Google Patents

Verfahren und Vorrichtung zur Verwendung analoger Testsignale in digitaler Umgebung

Info

Publication number
DE69332499T2
DE69332499T2 DE69332499T DE69332499T DE69332499T2 DE 69332499 T2 DE69332499 T2 DE 69332499T2 DE 69332499 T DE69332499 T DE 69332499T DE 69332499 T DE69332499 T DE 69332499T DE 69332499 T2 DE69332499 T2 DE 69332499T2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
test signals
analog test
digital environment
digital
environment
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
DE69332499T
Other languages
English (en)
Other versions
DE69332499D1 (de
Inventor
Taco Zwemstra
Gerardus Petrus Helena Seuren
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NXP BV
Original Assignee
Koninklijke Philips Electronics NV
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Koninklijke Philips Electronics NV filed Critical Koninklijke Philips Electronics NV
Application granted granted Critical
Publication of DE69332499D1 publication Critical patent/DE69332499D1/de
Publication of DE69332499T2 publication Critical patent/DE69332499T2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K26/00Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
    • B23K26/02Positioning or observing the workpiece, e.g. with respect to the point of impact; Aligning, aiming or focusing the laser beam
    • B23K26/06Shaping the laser beam, e.g. by masks or multi-focusing

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Compression, Expansion, Code Conversion, And Decoders (AREA)
DE69332499T 1992-09-07 1993-08-31 Verfahren und Vorrichtung zur Verwendung analoger Testsignale in digitaler Umgebung Expired - Lifetime DE69332499T2 (de)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP92202698 1992-09-07
EP93201098 1993-04-15

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE69332499D1 DE69332499D1 (de) 2003-01-02
DE69332499T2 true DE69332499T2 (de) 2003-07-10

Family

ID=26131679

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE69332499T Expired - Lifetime DE69332499T2 (de) 1992-09-07 1993-08-31 Verfahren und Vorrichtung zur Verwendung analoger Testsignale in digitaler Umgebung

Country Status (3)

Country Link
JP (1) JP3580838B2 (de)
KR (1) KR100364336B1 (de)
DE (1) DE69332499T2 (de)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002296329A (ja) * 2001-03-30 2002-10-09 Agilent Technologies Japan Ltd 集積回路の試験装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP3580838B2 (ja) 2004-10-27
KR940007543A (ko) 1994-04-27
JPH06174794A (ja) 1994-06-24
DE69332499D1 (de) 2003-01-02
KR100364336B1 (ko) 2003-02-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE69230791T2 (de) Verfahren und vorrichtung zur kommunikation mit signalen
DE69408749T2 (de) Verfahren und Vorrichtung zur digitalen Zeitverzögerung
DE69219686D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Verwendung in spezifischen Bindungstests
DE69325868T2 (de) Verfahren und Vorrichtung zur akustischen Prüfung mit Zeitumkehrsignalen
DE69326583D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Flugkörperschnittstellenprüfung
DE69633039D1 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Umwandlung eines Signals
DE69726613D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur konvertierung einer analogen stromstärke in ein digitales signal
DE69321201D1 (de) Gerät und Verfahren zur Digitalsignalverarbeitung
DE69331878D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur gewinnung einlagiger zellkulturen
DE69629098D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Belastungsprüfung
DE68925399D1 (de) Verfahren und Gerät zur Bildtransformation
DE59208297D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur gleichzeitigen kultivierung unterschiedlicher säugerzellen
DE68928463D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur wiedergabe
DE69303523D1 (de) Vorrichtung und Verfahren zur seismischen Untersuchung
DE69702596D1 (de) Verfahren und gerät zur wandlung eines analogen signals in digitaler form
DE69332302T2 (de) Verfahren und Vorrichtung zur adaptiver Umsetzung in ein Zeilenfolgesignal
DE68926100D1 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Bildwiedergabe mit variablem Massstab
DE4497995T1 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Frequenzmessung
DE69229650D1 (de) Verfahren und Anordnung zur Datenausgabe
DE69607211T2 (de) Verfahren und gerät zur nebensignalunterdrückung in einer direktsequenzspreizspektrumverbindung
DE59307298D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Phasenmessung
ATA30290A (de) Verfahren und einrichtung zur signalauswertung
DE69212027D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur digitalen Modulation
DE69129585D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur entzerrung eines empfangssignals
DE69332499T2 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Verwendung analoger Testsignale in digitaler Umgebung

Legal Events

Date Code Title Description
8364 No opposition during term of opposition
8328 Change in the person/name/address of the agent

Representative=s name: EISENFUEHR, SPEISER & PARTNER, 10178 BERLIN

8327 Change in the person/name/address of the patent owner

Owner name: NXP B.V., EINDHOVEN, NL