KR940007543A - 전자회로 장치 테스트 방법 및 장치 - Google Patents
전자회로 장치 테스트 방법 및 장치 Download PDFInfo
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- B23K26/00—Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
- B23K26/02—Positioning or observing the workpiece, e.g. with respect to the point of impact; Aligning, aiming or focusing the laser beam
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Abstract
전자 회로 장치 테스트 방법에 있어서, 먼저 설정된 성질의 테스트 신호가 제공된다. 다음, 상기 장치는 설정된 모드에서 동작된다. 최종적으로, 의도된 성질의 결과 신호는 다음 평가를 위해 상기 장치의 하나 이상의 특정신호 출력으로 부터 추출된다. 특히, 아날로그 근원 신호는 디지탈 비트 스트림으로 변조된다음 테스트 신호는 디지탈 비트 스트림의 아날로그 필터링을 통해 발생된다. 특히, 추출은 연속적인 임계 레벨을 갖는 출력파결과 신호를 반복적으로 식별한 다음 각 순간에서 온도계 신호 코드를 발생시키기 위해 연속적인 식별 비트 스트림 결과를 재조사한다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
도1은 원형 테스터 기계 장치의 셋업에 대한 도시도,
제2도는 테스트 신호 발생 기술의 개략도,
도3은 일반적인 시그마-델타 변조에 대한 도시도,
도4A 및 제4B도는 도1 제2등급의 시그마-델타 변조에 대한 도시도,
도5는 디지탈 테스터상에 사용된 바와 같은 비교기 회로의 도시도,
도6은 A/D 변환용으로 사용된 바와 같은 비교기 회로의 도시도.
Claims (10)
- 설정된 성질의 테스트 신호를 전자 회로 장치의 특성 신호 입력 수단에 제공하는 단계, 상기 장치를 설정된 모드에서 동작시키는 단계, 의도된 성질의 결과 신호의 다음 평가를 위해 상기 장치의 특정 신호 출력 수단으로부터 의도된 성질의 결과 신호를 추출하는 단계로 이루어진 전자 회로 장치 테스트 방법에 있어서, 아날로그 근원신호를 디지탈 비트 스트림으로 변조하는 단계 및 상기 디지탈 비트 스트림의 아날로그 필터링을 통해서 상기 테스트 신호를 연이어 발생시키는 단계로 이루어지는 것을 특징으로 하는 전자 회로 장치 테스트 방법.
- 제1항에 있어서, 상기 변조는 제1 또는 제2등급의 시그마 델타 변조인 것을 특징으로 하는 전자 회로 장치 테스트 방법.
- 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 추출하는 단계가 연속적인 임계 레벨을 갖는 출력파 결과 신호를 반복적으로 식별하는 단계 및 각 순간에서 온도계 신호 코드를 발생시키기 위해 연속적인 식별 비트 스트림 결과를 연이어 재조사하는 단계로 이루어진 전자 회로 장치 테스트 방법.
- 설정된 성질의 테스트 신호를 전자 회로 장치의 특정 테스트 신호 입력 수단에 제공하기 위한 테스트 신호 소오스 수단, -상기 장치를 설정된 모드에서 동작시키기 위한 제어 수단, -의도된 성질의 결과 신호의 다음 평가를 위해 상기 결과 신호를 상기 장치의 특정 결과 신호 출력 수단으로부터 추출하기 위한 추출 수단을 포함하는 전자 회로 장치 테스트 장치에 있어서, 아날로그 근원 신호를 디지탈 비트 스트림으로 변조하기 위한 변조 수단 및 상기 디지탈 비트 스트림의 아날로그 필터링을 통해서 상기 테스트 신호를 발생시키기 위해 상기 변조 수잔에 의해 공급된 필터링 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 전자 회로 장치 테스트 장치.
- -설정된 성질의 테스트 신호를 전자 회로 장치의 특정 테스트 신호 입력 수단에 제공하기 위한 테스트 신호 소오스 수단, -상기 장치를 설정된 모드에서 동작시키기 위한 제어 수단, -의도된 성질의 결과 신호의 다음 평가를 위해 상기 결과 신호를 상기 장치의 특정 결과 신호 출력 수단으로부터 추출하기 위한 추출 수단을 포함하는 전자 회로장치 테스트 장치에 있어서, 상기 소오스 수단이 아날로그 근원 신호를 디지탈 비트 스트림으로 변조하기 위한 변조 수단에 의해 발생된 바와 같은 디지탈 비트 스트림을 저장하기 위한 디지탈 저장 수단을 갖추며, 상기 디지탈 비트 스트림의 아날로그 필터링을 통해 상기 테스트 신호를 발생시키기 위한 상기 디지탈 저장 수단에 의해 공급된 필터링 수단을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 전자 회로 장치 테스트 장치.
- 제4항 또는 제5항에 있어서, 상기 변조 수단은 제1또는 제2등급의 시그마 델타 변조를 실행하기 위해 배치되는 것을 특징으로 하는 전자 회로 장치 테스트 장치.
- 제4항, 제5항 또는 제6항에 있어서, 상기 전자 회로 장치에 인터페이스하기 위한 경계 주사 테스트 인터페이싱 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 전자 회로 장치 테스트 장치.
- 제4항 내지 제7항에 있어서, 적어도 병렬로 자체완비된 상기 테스트 신호 소오스 및/또는 상기 평가 수단을 가지므로해서 자가 테스트를 실행하기 위해 배치되는 것을 특징으로 하는 전자 회로 장치 테스트 장치.
- 제4항 내지 제8항에 있어서, 상기 추출 수단이 연속적인 임계 레벨을 갖는 출력파 결과 신호를 식별하기 위한 식별 수단 및 각 순간에서 아날로그 신호 출력에 각각 연관되어 발생하는 각 온도계 신호 코드를 재조사한 이후에 연속적인 식별 비트 스트림 결과를 저장하기 위해 상기 추출 수단에 의해 공급된 메모리 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 전자 회로 장치 테스트 장치.
- 테스트 신호를 수신하기 위한 테스트 신호 입력 수단, 설정된 동작 모드에서 설정된 성질의 결과 신호를 생성하도록 상기 테스트 신호상에서 동작시키기 위해 상기 테스트 신호 입력 수단에 의해 공급된 동작 수단 및 다음 평가를 위해 상기 결과 신호 출력 수단을 포함하는 제1항, 제2항 또는 제3항에 따른 방법을 실행하기 위한 대상으로서의 전기 회로 장치에 있어서, 상기 테스트 신호 입력 수단은 아날로그 근원 신호로부터 유도된 디지탈 비트 스트림을 저장하기 위한 디지탈 저장 수단 및 상기 디지탈 비트 스트림의 아날로그 필터링을 통해 상기 테스트 신호를 발생시키기 위해 상기 디지탈 저장 수단에 의해 공급된 필터링 수단을 포함하는 소오스 수단에 의해 공급되는 것을 특징으로 하는 전기 회로 장치.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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