KR940007543A - 전자회로 장치 테스트 방법 및 장치 - Google Patents

전자회로 장치 테스트 방법 및 장치 Download PDF

Info

Publication number
KR940007543A
KR940007543A KR1019930017777A KR930017777A KR940007543A KR 940007543 A KR940007543 A KR 940007543A KR 1019930017777 A KR1019930017777 A KR 1019930017777A KR 930017777 A KR930017777 A KR 930017777A KR 940007543 A KR940007543 A KR 940007543A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
signal
electronic circuit
bit stream
test signal
test
Prior art date
Application number
KR1019930017777A
Other languages
English (en)
Other versions
KR100364336B1 (ko
Inventor
츠벰스트라 타코
페테루스 헬레나 세울렌 게라르두스
Original Assignee
에프. 제이. 스미트
필립스 일렉트로닉스 엔.브이.
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 에프. 제이. 스미트, 필립스 일렉트로닉스 엔.브이. filed Critical 에프. 제이. 스미트
Publication of KR940007543A publication Critical patent/KR940007543A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100364336B1 publication Critical patent/KR100364336B1/ko

Links

Classifications

    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K26/00—Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
    • B23K26/02—Positioning or observing the workpiece, e.g. with respect to the point of impact; Aligning, aiming or focusing the laser beam
    • B23K26/06—Shaping the laser beam, e.g. by masks or multi-focusing
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Analogue/Digital Conversion (AREA)
  • Compression, Expansion, Code Conversion, And Decoders (AREA)

Abstract

전자 회로 장치 테스트 방법에 있어서, 먼저 설정된 성질의 테스트 신호가 제공된다. 다음, 상기 장치는 설정된 모드에서 동작된다. 최종적으로, 의도된 성질의 결과 신호는 다음 평가를 위해 상기 장치의 하나 이상의 특정신호 출력으로 부터 추출된다. 특히, 아날로그 근원 신호는 디지탈 비트 스트림으로 변조된다음 테스트 신호는 디지탈 비트 스트림의 아날로그 필터링을 통해 발생된다. 특히, 추출은 연속적인 임계 레벨을 갖는 출력파결과 신호를 반복적으로 식별한 다음 각 순간에서 온도계 신호 코드를 발생시키기 위해 연속적인 식별 비트 스트림 결과를 재조사한다.

Description

전자회로 장치 테스트 방법 및 장치
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
도1은 원형 테스터 기계 장치의 셋업에 대한 도시도,
제2도는 테스트 신호 발생 기술의 개략도,
도3은 일반적인 시그마-델타 변조에 대한 도시도,
도4A 및 제4B도는 도1 제2등급의 시그마-델타 변조에 대한 도시도,
도5는 디지탈 테스터상에 사용된 바와 같은 비교기 회로의 도시도,
도6은 A/D 변환용으로 사용된 바와 같은 비교기 회로의 도시도.

Claims (10)

  1. 설정된 성질의 테스트 신호를 전자 회로 장치의 특성 신호 입력 수단에 제공하는 단계, 상기 장치를 설정된 모드에서 동작시키는 단계, 의도된 성질의 결과 신호의 다음 평가를 위해 상기 장치의 특정 신호 출력 수단으로부터 의도된 성질의 결과 신호를 추출하는 단계로 이루어진 전자 회로 장치 테스트 방법에 있어서, 아날로그 근원신호를 디지탈 비트 스트림으로 변조하는 단계 및 상기 디지탈 비트 스트림의 아날로그 필터링을 통해서 상기 테스트 신호를 연이어 발생시키는 단계로 이루어지는 것을 특징으로 하는 전자 회로 장치 테스트 방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 변조는 제1 또는 제2등급의 시그마 델타 변조인 것을 특징으로 하는 전자 회로 장치 테스트 방법.
  3. 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 추출하는 단계가 연속적인 임계 레벨을 갖는 출력파 결과 신호를 반복적으로 식별하는 단계 및 각 순간에서 온도계 신호 코드를 발생시키기 위해 연속적인 식별 비트 스트림 결과를 연이어 재조사하는 단계로 이루어진 전자 회로 장치 테스트 방법.
  4. 설정된 성질의 테스트 신호를 전자 회로 장치의 특정 테스트 신호 입력 수단에 제공하기 위한 테스트 신호 소오스 수단, -상기 장치를 설정된 모드에서 동작시키기 위한 제어 수단, -의도된 성질의 결과 신호의 다음 평가를 위해 상기 결과 신호를 상기 장치의 특정 결과 신호 출력 수단으로부터 추출하기 위한 추출 수단을 포함하는 전자 회로 장치 테스트 장치에 있어서, 아날로그 근원 신호를 디지탈 비트 스트림으로 변조하기 위한 변조 수단 및 상기 디지탈 비트 스트림의 아날로그 필터링을 통해서 상기 테스트 신호를 발생시키기 위해 상기 변조 수잔에 의해 공급된 필터링 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 전자 회로 장치 테스트 장치.
  5. -설정된 성질의 테스트 신호를 전자 회로 장치의 특정 테스트 신호 입력 수단에 제공하기 위한 테스트 신호 소오스 수단, -상기 장치를 설정된 모드에서 동작시키기 위한 제어 수단, -의도된 성질의 결과 신호의 다음 평가를 위해 상기 결과 신호를 상기 장치의 특정 결과 신호 출력 수단으로부터 추출하기 위한 추출 수단을 포함하는 전자 회로장치 테스트 장치에 있어서, 상기 소오스 수단이 아날로그 근원 신호를 디지탈 비트 스트림으로 변조하기 위한 변조 수단에 의해 발생된 바와 같은 디지탈 비트 스트림을 저장하기 위한 디지탈 저장 수단을 갖추며, 상기 디지탈 비트 스트림의 아날로그 필터링을 통해 상기 테스트 신호를 발생시키기 위한 상기 디지탈 저장 수단에 의해 공급된 필터링 수단을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 전자 회로 장치 테스트 장치.
  6. 제4항 또는 제5항에 있어서, 상기 변조 수단은 제1또는 제2등급의 시그마 델타 변조를 실행하기 위해 배치되는 것을 특징으로 하는 전자 회로 장치 테스트 장치.
  7. 제4항, 제5항 또는 제6항에 있어서, 상기 전자 회로 장치에 인터페이스하기 위한 경계 주사 테스트 인터페이싱 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 전자 회로 장치 테스트 장치.
  8. 제4항 내지 제7항에 있어서, 적어도 병렬로 자체완비된 상기 테스트 신호 소오스 및/또는 상기 평가 수단을 가지므로해서 자가 테스트를 실행하기 위해 배치되는 것을 특징으로 하는 전자 회로 장치 테스트 장치.
  9. 제4항 내지 제8항에 있어서, 상기 추출 수단이 연속적인 임계 레벨을 갖는 출력파 결과 신호를 식별하기 위한 식별 수단 및 각 순간에서 아날로그 신호 출력에 각각 연관되어 발생하는 각 온도계 신호 코드를 재조사한 이후에 연속적인 식별 비트 스트림 결과를 저장하기 위해 상기 추출 수단에 의해 공급된 메모리 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 전자 회로 장치 테스트 장치.
  10. 테스트 신호를 수신하기 위한 테스트 신호 입력 수단, 설정된 동작 모드에서 설정된 성질의 결과 신호를 생성하도록 상기 테스트 신호상에서 동작시키기 위해 상기 테스트 신호 입력 수단에 의해 공급된 동작 수단 및 다음 평가를 위해 상기 결과 신호 출력 수단을 포함하는 제1항, 제2항 또는 제3항에 따른 방법을 실행하기 위한 대상으로서의 전기 회로 장치에 있어서, 상기 테스트 신호 입력 수단은 아날로그 근원 신호로부터 유도된 디지탈 비트 스트림을 저장하기 위한 디지탈 저장 수단 및 상기 디지탈 비트 스트림의 아날로그 필터링을 통해 상기 테스트 신호를 발생시키기 위해 상기 디지탈 저장 수단에 의해 공급된 필터링 수단을 포함하는 소오스 수단에 의해 공급되는 것을 특징으로 하는 전기 회로 장치.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019930017777A 1992-09-07 1993-09-06 전자회로장치테스트방법및장치 KR100364336B1 (ko)

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP92202698.4 1992-09-07
EP92202698 1992-09-07
EP93201098.6 1993-04-15
EP93201098 1993-04-15

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR940007543A true KR940007543A (ko) 1994-04-27
KR100364336B1 KR100364336B1 (ko) 2003-02-05

Family

ID=26131679

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019930017777A KR100364336B1 (ko) 1992-09-07 1993-09-06 전자회로장치테스트방법및장치

Country Status (3)

Country Link
JP (1) JP3580838B2 (ko)
KR (1) KR100364336B1 (ko)
DE (1) DE69332499T2 (ko)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002296329A (ja) * 2001-03-30 2002-10-09 Agilent Technologies Japan Ltd 集積回路の試験装置

Also Published As

Publication number Publication date
DE69332499D1 (de) 2003-01-02
JP3580838B2 (ja) 2004-10-27
DE69332499T2 (de) 2003-07-10
KR100364336B1 (ko) 2003-02-05
JPH06174794A (ja) 1994-06-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR960008342A (ko) 아날로그/디지탈 혼재 집적회로 및 그의 테스트방법
KR920010296A (ko) 개선된 자동기능선택 멀티미터
KR970022357A (ko) 아날로그 디지탈 변환기의 변환특성 테스트회로와 그 방법
DE68927147D1 (de) Prüfgerät und -verfahren zur Prüfung eines elektronischen Geräts und Halbleitergerät mit diesem Prüfgerät
JP2003177160A (ja) 電気信号評価方法
KR890004539A (ko) 전화 톤 검출기
CA2249800C (en) Eye quality monitor for a 2r regenerator
KR940007543A (ko) 전자회로 장치 테스트 방법 및 장치
KR880008540A (ko) 입력 위상 전압의 네가티브 시퀀스 검출기
KR950035097A (ko) 에이디(a/d)변환기 및 에이디(a/d)변환기의 데스트방법
KR900018932A (ko) 정보 패턴 판독 장치
KR910013667A (ko) 교류신호 발생장치
JPS6181926A (ja) 超音波封緘部を備えた容器の監視装置
KR860000753A (ko) 신호 변환 장치 및 그 방법
JPS57157164A (en) Testing method for reliability in thermo-acceleration of integrated circuit
KR970016958A (ko) 디지탈데이타 검출장치
EP0595379B1 (en) A method and apparatus for analog test signal usage in a digital environment
Ando et al. A probabilistic approach to the threshold error reduction theory in bistable measurement devices
KR100273524B1 (ko) 시뮬레이션을 위한 크랭크각 신호 생성장치 및 그 방법
KR100631872B1 (ko) 아날로그-디지털 변환기의 비아이에스티 및 비아이에스씨장치
JPS57130295A (en) Inspecting device for ic memory
JP2705051B2 (ja) 波形生成装置
KR890006228Y1 (ko) 카폰의 주파수 합성 및 변조회로의 테스트회로
JPH0245781A (ja) プリント基板の試験データ生成装置
SU407324A1 (ru) Устройство централизованного контроля

Legal Events

Date Code Title Description
N231 Notification of change of applicant
A201 Request for examination
AMND Amendment
E902 Notification of reason for refusal
AMND Amendment
E601 Decision to refuse application
J201 Request for trial against refusal decision
AMND Amendment
E902 Notification of reason for refusal
B701 Decision to grant
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20091123

Year of fee payment: 8

LAPS Lapse due to unpaid annual fee