DE69304816T2

DE69304816T2 - Verfahren und Gerät zum Nachweis von Fehlern in durchsichtigem Bahnmaterial sowie Glasfolien

Info

Publication number: DE69304816T2
Application number: DE69304816T
Authority: DE
Inventors: Shinya Okugawa
Original assignee: Central Glass Co Ltd
Current assignee: Central Glass Co Ltd
Priority date: 1992-06-26
Filing date: 1993-06-24
Publication date: 1997-01-30
Anticipated expiration: 2013-06-25
Also published as: EP0576011B1; JPH0674907A; JP2795595B2; EP0576011A1; DE69304816D1; US5452079A

Description

HINTERGRUND DER ERFINDUNG

1. Gebiet der Erfindung

Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Detektieren unter verschiedenen Defekten einer transparenten Bahn einen Defekt, der durch Verspannung, wie "Knoten", "Korde", "Riefen", ungeschmolzene Partikel oder "Steine", "Blasen", etc. hervorgerufen wird.

2. Beschreibung des Standes der Technik

Ein bekanntes Verfahren verwendet eine eindimensionale Kamera zum Detektieren eines Schattens, der durch Unterbrechen von Licht von einem Innen- oder Oberflächendefekt einer transparenten Bahn hervorgerufen wird, wie in der vorläufigen japanischen Patentveröffentlichung Nr. 1-189549 offenbart. Ein anderes bekanntes Verfahren verwendet eine Punktlichtquelle zum Werfen von Licht durch eine transparente Bahn auf einen Schirm und einen Sensor zum Detektieren eines Defektes in einer projizierten Figur, wie in der vorläufigen japanischen Gebrauchsmusterveröffentlichung Nr. 3-27343 offenbart. Ein weiteres bekanntes Verfahren ist ausgelegt, um eine Reihe paralleler Linien durch eine transparente Bahn zu beobachten, so daß aufgrund einer Differenz der Brechung ein Defekt durch Verzerrung der Linien dargestellt wird, wie in den vorläufigen japanischen Patentveröffentlichungen Nr. 61-176838 und 61-176839 offenbart. Ein weiteres bekanntes Verfahren verwendet Transmission und Reflexion eines Laserstrahls zur Detektion eines Defektes einer transparenten Bahn. Die JP-A-02036339 offenbart eine Defektuntersuchungseinrichtung mit einer Lichtquelle, Schlitzplatten und einer CCD-Kamera.
Ein Problem der Verfahren nach dem Stand der Technik ist, daß ein Schmutzfleck, etc. auf einer transparenten Bahn fehlerhaft als ein Defekt beurteilt wird, der durch "Knoten", "Korde", "Steine", "Blasen", etc. hervorgerufen wird.

ZUSAMMENFASSUNG DER ERFINDUNG

Gemäß einem Aspekt der vorliegenden Erfindung ist ein Verfahren zum Detektieren eines Defektes einer transparenten Bahn vorgesehen, worin eine Lichtquelle Licht auf die transparente Bahn durch einen Schirm wirft, der eine Reihe abwechselnder lichttransmittierender Teile und abschattender Teile aufweist, und eine Kamera das Licht empfängt, das durch die transparente Bahn transmittiert worden ist, und ein Bild zur Untersuchung des Defektes erzeugt, dadurch gekennzeichnet, daß die Kamera in einem Abstand fokussiert ist, der kleiner als der zu der transparenten Bahn, oder größer als der zu dem Schirm ist.
Gemäß einem anderen Aspekt der vorliegenden Erfindung ist eine Vorrichtung zum Detektieren eines Defektes einer transparenten Bahn vorgesehen mit Oberflächenlichtquellenmitteln, die aufeiner von gegenüberliegenden Seiten der transparenten Bahn angeordnet sind, Schlitzmitteln, die benachbart zu den Oberflächenlichtquellenmitteln angeordnet sind, so daß Licht von der Oberflächenlichtquelle dort hindurch auf die transparente Bahn geworfen wird, und Kameramitteln, die auf der anderen der gegenüberliegenden Seiten der transparenten Bahn zum Bilden eines Bildes des Defektes durch direktes Aufnehmen des Lichtes, das durch die Schlitzmittel transmittiert worden ist, angeordnet sind, in welcher das Kameramittel in einem Abstand fokussiert ist, der näher als die transparente Bahn oder ferner als die Schlitzmittel ist.
Dieses Verfahren und diese Einrichtung bewirken ein Lösen der oben erwähnten, dem Stand der Technik eigenen Probleme.
Es ist daher ein Ziel der vorliegenden Erfindung, ein verbessertes Verfahren zum Detektieren eines Defektes einer transparenten Bahn zu schaffen, welches nicht fehlerhaft einen Fleck aus Schmutz, etc. auf einer transparenten Bahn als einen Defekt beurteilt, der durch "Knoten", "Korde", "Steine", "Blasen", etc. hervorgerufen wird.
Es ist ein weiteres Ziel der vorliegenden Erfindung, ein Verfahren zum Detektieren eines Defektes einer transparenten Bahn des oben beschriebenen Charakters zu schaffen, welches einen verläßlichen Betrieb bewirken kann, ohne eine komplizierte, teuere Vorrichtung zu benötigen, und daher in der Praxis sehr nützlich ist.
Es ist ein weiteres Ziel der vorliegenden Erfindung, eine Vorrichtung zum Durchführen des Verfahrens des oben beschriebenen Charakters zu schaffen.

KURZE BESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN

Fig. 1 ist eine schematische Ansicht einer Vorrichtung zum Durchführen eines Verfahrens zum Detektieren eines Defektes einer transparenten Bahn gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung,
Fig. 2 ist eine Perspektivansicht eines Hauptteils der Vorrichtung von Fig. 1,
Fig. 3 ist ein Bild, das von einer zweidimensionalen Kamera erzeugt wird, wenn ein Defekt ein "Kord" ist,
Fig. 4 ist ein Graph einer Variation eines Hellund und Dunkelpegels, der von der Bildverarbeitungseinrichtung in Antwort auf die Signale erzeugt wird, die von einer zweidimensionalen Kamera produziert werden, wenn ein Defekt ein "Kord" ist,
Fig. 5 ist ein Graph einer Intensität eines Defekts und eines Rauschpegels eines Teils, das keinen Defekt aufweist, in Relation zu einem Brennpunkt einer Kamera, und
Fig. 6 ist eine Perspektivansicht einer Vorrichtung zum Durchführen eines Verfahrens gemäß einer anderen Ausführungsform.

DETAILLIERTE BESCHREIBUNG BEVORZUGTER AUSFÜHRUNGSFORMEN

Mit Bezug auf Fig. 1 und 2 besteht eine Lichtquelle 1 aus einem Kasten mit einer oberen offenen Endfläche, einer Vielzahl von Lichtquellen, z.B. einer Vielzahl von Fluoreszenzlampen, die in dem Kasten eingebaut sind, und einer weißen Diffusionsplatte, die an der oberen Endfläche des Kastens angebracht ist. Eine Schlitzplatte 2 umfaßt eine Vielzahl von abwechselnden lichttransmittierenden Teilen und abschattenden Teilen in der Form einer Reihe dünner paralleler Linien, welche parallel oder schräg zur Richtung der Beförderung oder des Laufs einer transparenten Bahn oder Platte 3, wie einer Glasbahn, zur Untersuchung angeordnet sind. Die lichttransmittierenden Teile sind durch schlitzähnliche, parallele Öffnungen mit einer Breite von 0,25 mm gebildet. Die abschattenden Teile sind zwischen den lichttransmittierenden Teilen vorgesehen und weisen eine Breite von 0,5 mm auf. Die Schlitzplatte 2 ist aus einer transparenten Bahn oder Platte gebildet und mit den lichttransmittierenden Teilen und abschattenden Teilen durch Drucken oder andersartiges Aufbringen von Tinte, Farbe, Paste, etc. auf die Oberfläche davon ausgebildet. Die Schlitzplatte 2 ist im Gebrauch auf die oben beschriebene weiße Diffusionsplatte gelegt und mit ihr verbunden oder auf andere Weise daran gesichert, und ist so bemessen, daß sie eine größere Breite aufweist, als die transparente Bahn 3 zur Untersuchung. Wie aus Fig. 2 ersichtlich, ist die Lichtquelle 1 mit der Schlitzplatte 2 so angeordnet, daß sie sich über die transparente Bahn 3 hinweg unter rechten Winkeln erstreckt. Eine andere Lichtquelle kann verwendet werden, solange sie eine Oberflächenlichtquelle ist, statt der oben beschriebenen Lichtquelle 1.
Eine Vielzahl von zweidimensionalen Kameras 4, die eine CCD (charge coupled device = ladungsgekoppelte Einrichtung) verwenden, ist in einer Linie angeordnet, so daß sie der Lichtquelle 1 gegenüberliegen, d.h. in einer Linie, die sich über die transparente Bahn 3 erstreckt, während dazwischen die transparente Bahn 3 gesetzt ist. Jede Kamera 4 ist senkrecht -zu der oberen Fläche der transparenten Bahn 3 gesetzt und auf eine Weise, daß ihre Abtastzeilen parallel zu der Richtung liegen, in welcher die transparente Bahn 3 gefördert wird oder läuft, so daß das Licht, das durch die lichttransmittierenden Teile der Schlitzplatte 2 transmittiert worden ist, als ein zweidimensionales Blickfeld genommen werden kann. Die Vielzahl von Kameras 4 ist wie oben angeordnet, um ein Blickfeld zu erhalten, das die Breite der transparenten Bahn 3 abdeckt. Die zweidimensionalen Kameras 2 geben Signale an eine Bildverarbeitungseinheit 5 aus, welche ein Bild, das von den Kameras 4 produziert worden ist, auf einen Defekt oder Fehler der transparenten Bahn 3 untersucht.
Wenn die transparente Bahn 3 an einer bestimmten Stelle einen Defekt, beispielsweise einen "Kord"-Defekt, aufweist, erzeugt eine entsprechende der Kameras 4 ein Bild, wie es in Fig. 3 gezeigt ist.
In Fig. 4 stellt eine durchgezogene Linie Variationen der Helligkeit oder Luminanz der Abtastzeile Sm dar, während die gepunktete Linie Variationen der Luminanz der Abtastzeile Sn darstellt, in welcher die Daten mit der Luminanz als Ordinate gezeichnet ist, und in welcher die Luminanz Null (0) wird, wenn die Kamera 2 von Licht weggehalten wird, und die maximale Luminanz "1" beträgt. Aus dem Graph von Fig. 4 wird herausgefunden, daß ein "Riefen"-Defekt sich auf der Abtastzeile Sm befindet, während es keinen Defekt auf der Abtastzeile Sn gibt. Die Luminanz der Abtastzeile Sn liegt zwischen hell und dunkel, wie durch die gepunktete Linie gezeigt, wohingegen die Luminanz der Abtastzeile Sm abwechselnd variiert, um helle Teile (Spitzen) und dunkle Teile (Boden) zu umfassen, welche abwechselnd auftreten. Aus den Variationen der Luminanz der Abtastzeile Sm wird herausgefunden, daß es kontinuierliche Defekte längs dieser Abtastzeile gibt. Obwohl nur zwei Abtastzeilen Sm und Sn in den Fig. 3 und 4 zum Zwecke der Erläuterung gezeigt sind, ist tatsächlich eine Anzahl von Abtastzeilen vorgesehen. Weiter erscheinen die gestreiften Muster, die sonst durch die abwechselnden lichttransmittierenden Teile oder abschattenden Teile der Schlitzplatte 2 hervorgerufen werden, nicht, weil jede Kamera 4 nicht in einem Abstand zu der Schlitzplatte 2 fokussiert ist, d.h. jede Kamera 4 ist nicht auf die Schlitzplatte 2 fokussiert.
In diesem Zusammenhang ist anzumerken, daß die vorliegende Erfindung auf einer derartigen Entdeckung beruht, daß wenn jede Kamera 4 in einem anderen Abstand als die Abstände zu der Schlitzplatte 2 und der transparenten Bahn 3 fokussiert ist, und wo Interferenzstreifen aufgrund der Schlitzplatte 2 nicht hervorgerufen werden, sie ein Bild erzeugt, in welchem ein transparenter Bahnteil mit einem Defekt eine größere oder geringere Helligkeit als die eines transparenten Bahnteils mit keinem Defekt aufweist, so daß durch Fokussieren der Kamera in einem derartigen Abstand es möglich wird, einen Defekt der transparenten Bahn 3, wie "Korde" oder "Riefen" sicher zu detektieren. Dies ist so, weil, wenn die Kamera 4 in einem Abstand (z.B. einer Brennweite innerhalb des Bereiches "A" und "B" in Fig. 5) fokussiert wird, der anders als die Abstände zu der Schlitzplatte 2 und der transparenten Bahn 3 ist, der Hintergrund des von der Kamera 4 produzierten Bildes, welcher einem transparenten Bahnteil mit keinem Defekt entspricht, eine Helligkeit aufweist, die zwischen hell und dunkel liegt und in Grau gefärbt ist, wohingegen ein Teil des Bildes, das einem transparenten Bahnteil mit einem Defekt, wie einer Verspannung oder chemischen Inhomogenität, eine derartige Helligkeit aufweist, die größer oder geringer als die Hintergrundluminanz aufgrund von Diffraktion, Interferenz, etc. des durch die transparente Bahn 3 transmittierten Lichtes ist. Wenn die Kamera 4 in einem Abstand fokussiert ist, der näher als die transparente Bahn 3 ist, wird die Differenz der Helligkeit zwischen dem Hintergrund und einem Teil, der einen Defekt anzeigt, größer, wodurch es möglich wird, den Defekt leicht zu erkennen.
Weiter ist anzumerken, daß, weil jede Kamera 4 nicht auf die transparente Bahn 3 fokussiert ist, eine fehlerhafte Detektion eines Schmutzfleckes, etc. gemäß der vorliegenden Erfindung sicher verhindert wird.
Das in jeder Kamera 4 erzeugte Bild wird längs 512 Abtastzeilen und längs 512 Abschnitten von jeder Abtastzeile in 512 x 512 Blöcke unterteilt, so daß die Helligkeit jedes Blocks von den am weitesten links und am weitesten oben liegenden zu dem am weitesten rechts und am weitesten unten liegenden Block numerisch dargestellt und in einem Speicher gespeichert wird, und unter Verwendung eines Helligkeitsfilters der Bildverarbeitungseinheit 5 werden die Differenz zwischen der maximalen Helligkeit in einer Gruppe von Blöcken (z.B. 3 x 3 Blöcke) und der Hintergrundhelligkeit und die Differenz zwischen der minimalen Helligkeit der Gruppe von Blöcken und der Hintergrundhelligkeit berechnet.
Die Differenz wird in einer binären Form ausgedrückt, d.h. durch "1", wenn sie größer als ein vorbestimmter Wert ist, und durch "0", wenn sie kleiner ist. Nach der binären Verarbeitung wird beurteilt, ob die Blöcke, für welche das Signal "1", das einen Defekt anzeigt, erzeugt wird, kontinuierlich vertikal, horizontal oder geneigt sind, und wenn die Blöcke kontinuierlich beurteilt werden, werden die Länge und die Fläche der Defekte aus den Koordinaten der Blöcke berechnet. Wenn der Defekt kontinuierlich in der Richtung der Abtastung ist, wird er als "Kord" beurteilt, und wenn er nicht kontinuierlich ist, wird er als ein Punktdefekt beurteilt.
Weiter werden die Daten, die die Art, Größe, etc. des oben beschriebenen Defektes betreffen, an einen Personalcomputer 6, etc. ausgegeben, um eine integrierte Steuerung verschiedener Informationen durchzuführen. Weiter kann der Defekt sofort detektiert und seine Stelle spezifiziert werden, so daß ein Teil mit einem Defekt zur Detektion und zum automatischen Wegschneiden in dem folgenden Prozeß markiert ist.
Eine beispielhafte Verwendung einer derartigen Einrichtung wird beschrieben. Es ist so eingerichtet, daß der Abstand L1 zwischen jeder Kamera 4 und der transparenten Bahn 3 1000 mm, der Abstand L2 zwischen der transparenten Bahn 3 und der Schlitzplatte 2 600 mm, die Breite jedes abschattenden Teils der Schlitzplatte 2 0,5 mm, die Breite jedes lichttransmittierenden Teils der Schlitzplatte 2 0,25 mm, die Diaphragmaöffnung F der Kamera 4 5 und die Brennweite f 25 mm beträgt. Durch verschiedene Veränderung des Fokus der Kamera 2 wird ein beispielhafter Defekt, welcher ein geringfügiger "Kord" ist, von der oben beschriebenen Bildverarbeitung behandelt und durch eine Binärform ausgedrückt, in welcher "0" den Fall darstellt, wo die Kamera 4 von dem Licht weggehalten ist, und "1" stellt die maximale Helligkeit dar, wodurch ein derartiges Ergebnis, wie es durch eine durchgezogene Linie in Fig. 5 dargestellt ist, erhalten wird. Unter der gleichen Bedingung wird die Helligkeit eines Teils mit keinem Defekt gemessen, wodurch ein Ergebnis erhalten wird, wie es durch die gepunktete Linie in Fig. 5 dargestellt ist.
Die Brennweite von "1" (die durch "G" in Fig. 5 gezeigte Position) zeigt, daß jede Kamera 4 in einem Abstand zu der transparenten Bahn 3 fokussiert ist, d.h. jede Kamera 4 ist auf die transparente Bahn 3 fokussiert. Andererseits zeigt die Brenriweite von "S", daß jede Kamera 4 in einem Abstand zur Schlitzplatte 2 fokussiert ist, d.h. jede Kamera 4 ist auf die Schlitzplatte 2 fokussiert. Wenn jede Kamera 4 in einem Abstand zur Schlitzplatte 2 oder dem Abstand benachbart dazu fokussiert ist, ist die Hintergrundhelligkeit (d.h. die Helligkeit, die dem Bahnglasteil ohne Defekt entspricht) stark vergrößert, wie aus den Zwischenteilen der Kurven mit gepunkteter Linie in Fig. 5 zu sehen. Dies ist so, weil abwechselnde helle Teile (weiß) und dunkle Teile (schwarz) aufgrund der Schlitzplatte 2 einen Interferenzstreifen in der Form von Streifen und daher ein Rauschen oder eine Störung bei der Detektion eines Defektes einer transparenten Bahn bilden. Somit ist es kaum schwierig, wenn jede Kamera 4 in einem Abstand zu der Schlitzplatte 2 oder dem Abstand benachbart dazu fokussiert ist, die Detektion eines Defektes durchzuführen. Andererseits sind die gegenüberliegenden Endteile der Kurve mit gepunkteter Linie in Fig. 5 relativ planar, so daß, wenn die Brennweite jeder Kamera 4 innerhalb der Bereiche "A" und "B" liegt, die Hintergrundhelligkeit zwischen hell und dunkel liegt, d.h. der Hintergrund ist in Grau gefärbt. So ist verständlich, daß ein "Kord"- oder "Riefen"-Defekt erkannt werden kann, wenn die Brennweite jeder Kamera 4 im Bereich "A", d.h. 0,8 oder kleiner und im Bereich "B", d.h. 5,0 oder größer liegt, in welchen die Helligkeit, die den transparenten Bahnteil mit einem Defekt darstellt, größer wird als die Helligkeit, die den transparenten Bahnteil ohne Defekt (d.h. Hintergrundhelligkeit) darstellt.
Fig. 6 zeigt eine andere Ausführungsform, welche im wesentlichen der vorhergehenden Ausführungsform der Fig. 1 bis 5 ähnlich ist, außer daß jede Kamera 4 nicht senkrecht zu der Seitenfläche der transparenten Bahn, sondern geneigt eingestellt ist. Diese Ausführungsform kann im wesentlichen die gleiche Wirkung wie die vorherige Ausführungsform erzeugen.
Zu dem Vorhergehenden ist anzumerken, daß im Kontrast zu dem Verfahren, das in der vorläufigen japanischen Patentveröffentlichung Nr. 61-176838 offenbart ist, eine Kamera verwendet wird, um direkt ein Bild paralleler Linien durch eine transparente Bahn aufzunehmen (d.h. die Kamera ist auf die parallelen Linien fokussiert), wobei die Kamera in dem Verfahren dieser Erfindung nicht angepaßt ist, um das Bild der Schlitzplatte aufzunehmen, sondern um das Bild eines Defektes einer transparenten Bahn durch die Wirkung des Lichtes, das durch die Schlitzplatte tritt, aufzunehmen, wodurch durch die Wirkung der Kombination aus dem Vorsehen der Schlitzplatte und dem oben beschriebenen Fokussieren der Kamera das Bild des Defektes verstärkt wird, d.h. relativ zu dem Hintergrund sichtbarer oder erkennbarer wird.
Während die vorliegende Erfindung oben beschrieben und gezeigt worden ist, können verschiedene Modifikationen und Variationen daran durchgeführt werden, ohne vom Bereich der beigefügten Ansprüche abzuweichen.
Beispielsweise ist der Brennpunkt, der die Detektion eines Defektes ermöglicht, nicht auf die Bereiche "A" und "B" in Fig. 5 begrenzt, sondern variiert abhängig von den optischen Charakteristiken der Kamera, der Schlitzplatte, etc.
Während weiter die abwechselnden lichttransmittierenden Teile und abschattenden Teile der Schlitzplatte so beschrieben und gezeigt worden sind, als daß sie die Form einer Reihe paralleler Linien aufweisen, können sie ansonsten die Form eines Rostes oder eines Gitters oder die Form eines mit Maschen versehenen Schirms mit einer Honigwabenstruktur, oder eine Struktur, die aus Reihen rhombischer Öffnungen besteht, aufweisen.
Weiter ist die Kamera nicht auf den Typ, der eine CCD verwendet, begrenzt, sondern kann ansonsten aus dem Typ bestehen, der ein MOS oder eine Bildaufnahmeröhre verwendet.
Weiter kann ein Defekt mit einer relativ großen Größe oder Intensität detektiert werden, selbst wenn die Abtastzeilen senkrecht zu der Laufrichtung der transparenten Bahn stehen. Da jedoch ein geringfügiger "Kord"- oder "Riefen"-Defekt im allgemeinen nahezu parallel zu der Laufrichtung der transparenten Bahn erscheint, gibt es eine Möglichkeit, daß ein derartiger Defekt nicht detektiert werden kann, wenn die Abtastzeilen nicht parallel zu der Laufrichtung der transparenten Bahn liegen. So ist es erwünscht, die Abtastzeilen parallel zu der Laufrichtung der transparenten Bahn anzuordnen.
Weiter ist die Kamera nicht auf einen zweidimensionalen Typ begrenzt, sondern kann ansonsten aus einem eindimensionalen Typ bestehen. In einem derartigen Fall kann die Länge der Lichtquelle und der Schlitzplatte in der Laufrichtung der transparenten Bahn kleiner sein.
Weiter kann die vorliegende Erfindung zur Detektion eines Defektes nicht nur einer Glasbahn sondern auch einer transparenten Bahn, wie einer transparenten Kunststoffbahn, verwendet werden.

Claims

1. Ein Verfahren zum Detektieren eines Defektes einer transparenten Bahn, worin eine Lichtquelle Licht auf die transparente Bahn durch einen Schirm wirft, der eine Reihe abwechselnder lichttransmittierender Teile und abschattender Teile aufweist, und eine Kamera das Licht empfängt, das durch die transparente Bahn transmittiert worden ist, und ein Bild zur Untersuchung des Defektes erzeugt, dadurch gekennzeichnet, daß die Kamera in einem Abstand fokussiert ist, der kleiner als der zu der transparenten Bahn, oder größer als der zu dem Schirm ist.

2. Ein Verfahren zum Detektieren eines Defektes einer transparenten Bahn, worin die Lichtquelle Licht auf die transparente Bahn durch eine Schlitzplatte wirft, die eine Reihe abwechselnder lichtemittierender Teile und abschattender Teile aufweist, eine Kamera das Licht empfängt, das durch die transparent& Bahn transmittiert worden ist, und ein Bild zur Untersuchung des Defektes erzeugt, und eine Bildverarbeitungseinheit das Bild auf den Defekt der transparenten Bahn untersucht, dadurch gekennzeichnet, daß die Kamera auf einen Punkt fokussiert ist, wo die Schlitzplatte und die transparente Bahn sich außerhalb des Fokus befinden, und ein Bild des Defektes direkt aufnimmt.

3. Ein Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß der Punkt, auf welchen die Kamera fokussiert ist, weniger entfernt als die transparente Bahn ist.

4. Ein Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß der Punkt, auf welchen die Kamera fokussiert ist, weiter entfernt als die Schlitzplatte ist.

5. Ein Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die abwechselnden lichttransmittierenden Teile und abschattenden Teile der Schlitzplatte die Form einer Reihe paralleler Linien aufweisen, die parallel zu der Richtung der Beförderung der transparenten Bahn angeordnet sind.

6. Ein Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß eine Vielzahl der Kameras in einer Linie vorgesehen und angeordnet ist, die sich über die Richtung der Beförderung der transparenten Bahn hinweg erstreckt.

7. Ein Verfahren nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß die Kamera senkrecht zu der Schlitzplatte angeordnet ist.

8. Ein Verfahren nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß die Schlitzplatte parallel zu der transparenten Bahn liegt.

9. Ein Verfahren nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß die Schlitzplatte zu der transparenten Bahn geneigt ist.

10. Ein Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Lichtquelle eine Oberflächenlichtquelle ist.

11. Eine Vorrichtung zum Detektieren eines Defektes einer transparenten Bahn mit:

Oberflächenlichtquellenmitteln, die auf einer von gegenüberliegenden Seiten der transparenten Bahn angeordnet sind,

Schlitzmitteln, die benachbart zu den Oberflächenlichtquellenmitteln angeordnet sind, so daß Licht von der Oberflächenlichtquelle dort hindurch auf die transparente Bahn geworfen wird, und

Kameramitteln, die auf der anderen der gegenüberliegenden Seiten der transparenten Bahn zum Bilden eines Bildes des Defektes durch direktes Aufnehmen des Lichtes, das durch die Schlitzmittel transmittiert worden ist, angeordnet sind,

dadurch gekennzeichnet, daß das Kameramittel in einem Abstand fokussiert ist, der näher als die transparente Bahn oder ferner als die Schlitzmittel ist.

12. Eine Vorrichtung nach Anspruch 11, worin das Schlitzmittel eine Schlitzplatte umfaßt, die eine Vielzahl von abwechselnden lichttransmittierenden Teilen und abschattenden Teile in der Form einer Reihe paralleler Linien aufweist, welche parallel zu der Beförderungsrichtung der transparenten Bahn angeordnet sind.

13. Eine Vorrichtung nach Anspruch 11, worin das Kameramittel eine Vielzahl von Kameras umfaßt, welche in einer Linie angeordnet sind, die sich über die Beförderungsrichtung der transparenten Bahn hinweg erstreckt.

14. Eine Vorrichtung nach Anspruch 13, worin jede der Kameras senkrecht zu einer Seitenfläche der Schlitzplatte gesetzt ist.

15. Eine Vorrichtung nach Anspruch 14, worin die Seitenfläche der Schlitzplatte geneigt zu einer Seitenfläche der transparenten Rahn angeordnet ist.

16. Eine Vorrichtung nach Anspruch 11, welche weiter Bildverarbeitungsmittel zum Untersuchen des Bildes umfaßt, das durch das Kameramittel erzeugt worden ist, auf den Defekt der transparenten Bahn.