JP4073646B2 - シート体検査装置および方法 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、シート体の検査装置および方法に関し、特に、シート体の屈曲や塗布剤厚みの不均一等の欠陥を検出する検査装置および方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
例えば、写真フイルムは、図11に示すようにいくつかの工程に分けて製造される。
【0003】
先ず、図11のステップS501においては、フイルムのベースとなるシート体を製膜し、巻芯500に巻回する。次いで、ステップS502において、製膜されたシート体を巻き出しながら感光乳剤を塗布し、別の巻芯501に巻回する。
【0004】
その後、ステップS503において、感光乳剤が塗布されたシート体を適当な幅に裁断して巻芯502に巻回し、さらにステップS504において製品寸法に切断し、検査等を行った後に外装し製品として出荷される。
【0005】
ところで、ベースとなるシート体の巻き付け端部400においては、シート体の厚みにより段差が生ずるため、その外側に巻回されるシート体に屈曲部分が惹起される(図12参照)。この屈曲部分は巻芯500に近いほど顕著であり、外周になるほど影響は少ない。また、製膜されたシート体は、搬送しながら所定長に切断されて巻芯500に巻回されるため、切断時の搬送速度と、刃物の切断速度とにより、シート体の巻き付け端部400が巻芯500の軸線に対して所定の傾斜角度を持って設定される。
【0006】
その結果、図13に示すように、巻芯500に巻回されたシート体には、巻き付け端部400に近い箇所から巻芯500への1周ごとに屈曲による所定の傾斜角度φを有する変形部位450が発生する。この変形部位450は、巻芯500に近いほど顕著に表れる。
【0007】
前記のような変形部位450を有するシート体に対して感光乳剤を塗布した場合、変形部位450とそれ以外の部位とで感光乳剤を均一に塗布することができない。感光乳剤の厚味が均一でないと、画像を露光記録した際、濃度にむらが惹起されることになる。従って、これらの部位は、欠陥範囲として破棄する必要がある。
【0008】
このような欠陥範囲を自動的に検出する方法として、例えば、特開平2−216437号公報に開示された従来技術がある。この従来技術は、透光性のシート体に対して平行光を照射し、その透過光の光量変化を検出するように構成されている。投光性のシート体に凹部等の欠陥がある場合、前記平行光が大きく屈折して透過するため、透過光の光量が変化し、これによって欠陥部位を検出することが可能となる。
【0009】
しかしながら、このような検出方法では、大きな欠陥の自動検出は可能であるが、熟練者の目視判断に見合ったわずかな欠陥に対する光量変化を得ることは極めて困難である。
【0010】
従って、熟練者がシート体の一部をサンプルとして切り取り、現像し、その現像ネガにより判断するか、あるいは、これらの処理を省略し余裕をもって長めに破棄する、といった方法が採られている。
【0011】
この場合、サンプルを検査する方法においては、処理に長時間を要するだけでなく、その検査結果から破棄長さを決定する際、たとえ熟練者であっても個人差による廃棄長さのばらつきが生じる不具合がある。また、シート体を余裕を持って長めに廃棄することは、本来正常な部分をも破棄範囲に含むことになるため、好ましくない。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】
本発明は、前記の不具合に鑑みてなされたものであり、シート体が有する欠陥部分を確実且つ自動的に検出することができる検査装置および方法を提供することを目的とする。
【0013】
【課題を解決するための手段】
本発明に係るシート体検査装置は、透光性のシート体に形成された筋状の欠陥部分を検査する装置において、前記シート体に対して光を入射させる投光器と、前記シート体を透過した前記光を検出する受光器と、前記投光器または前記受光器の少なくとも一方に配設され、スリットにより前記光をライン状に成形して前記受光器に導くスリット部材と、前記受光器により検出された前記光の信号データを処理する処理手段と、前記処理手段は、前記シート体の基準長さごとに、前記信号データの極値を求める極値算出手段と、前記シート体に形成された前記欠陥部分を含む範囲から得られた複数の前記極値より設定される第1関数と、前記欠陥部分を含まない範囲から得られた複数の前記極値より設定される第2関数とを求め、前記第1関数から前記第2関数に切り替わる前記シート体の位置を、前記欠陥部分が消滅する欠陥消滅位置として特定する欠陥消滅位置特定手段とを有することを特徴とする。
また、前記スリット部材は、筋状の前記欠陥部分の延在方向に対応して前記スリットの方向が設定され、前記処理手段は、前記スリットを介して前記受光器に導かれることで得られた前記信号データを処理し、前記シート体の欠陥部分を検出してもよい。
【0014】
このようにすると、前記欠陥部分を正確に検出することができる。
【0015】
また、前記シート体は、前記投光器および前記受光器に対して相対的に搬送されるものであってもよい。
【0016】
そして、前記シート体は、感光乳剤が塗布されたフイルムであり、前記欠陥部分は、前記感光乳剤が塗布される前の前記フイルムを巻芯に巻回した際に、前記フイルムの端部における段差によって形成されるものであってもよい。
【0017】
さらに、前記スリットの幅は、0.1mm〜1mmの範囲とすると好適である。
【0018】
さらにまた、前記投光器から前記受光器に至る前記光の光軸は、前記シート体の法線に対して5°〜70゜の範囲で傾斜して設定するようにしてもよい。
【0019】
前記光の波長は、940nm〜1310nmの範囲とすると、前記シート体がフイルムである場合に、感光させることがない。
【0020】
前記投光器および前記受光器は、前記シート体の幅方向に対して複数組配設するようにしてもよい。
【0022】
前記処理手段は、前記欠陥消滅位置特定手段により求めた前記第2関数を所定の係数により補正する関数補正手段を有し、前記欠陥消滅位置特定手段は、前記第1関数から補正された前記第2関数に切り替わる前記シート体の位置を、前記欠陥部分が消滅する欠陥消滅位置として特定するようにしてもよい。
【0023】
また、本発明に係るシート体検査方法は、透光性のシート体に形成された筋状の欠陥部分を検査する方法において、前記シート体を透過した光を、筋状の前記欠陥部分の延在方向に対応して設定されたライン状の光として受光器により検出するステップと、前記シート体の基準長さごとに、前記ライン状の光から得られる信号データの極値を求めるステップと、前記シート体に形成された前記欠陥部分を含む範囲から得られた複数の前記極値より設定される第1関数と、前記欠陥部分を含まない範囲から得られた複数の前記極値より設定される第2関数とを求め、前記第1関数から前記第2関数に切り替わる前記シート体の位置を、前記欠陥部分が消滅する欠陥消滅位置として特定するステップとを有することを特徴とする。
【0025】
【発明の実施の形態】
以下、本発明に係るシート体検査装置および方法を、感光乳剤を塗布した透光性のフイルムに対して光を照射し、その透過光の強度信号に基づき、フイルムの屈曲または塗布された感光乳剤の厚みの不均一等の欠陥を検出するシート体検査装置に適用した実施の形態を図1〜図10を参照しながら説明する。
【0026】
本実施の形態に係るシート体検査装置10は、図1に示すように、透光性のフイルム(シート体)50に対して光を照射し、その透過光を検出するセンサシステム14と、センサシステム14による検出信号を処理しフイルム50に存在する欠陥Mを検知する処理装置(処理手段)12とを備える。
【0027】
フイルム50は感光乳剤が塗布された状態で巻芯13に巻回されており、メインフィードロールR1、スリット刃ロールR2を経て2枚のシート体に裁断され、それぞれが巻芯16および18に巻回される。また、巻芯13から巻き戻されたフイルム50には、図11において説明したように、感光乳剤の塗布前のシート体を巻芯500に巻回した際に形成される段差に起因する複数の欠陥Mが斜めに形成されている。なお、それぞれの欠陥Mの間隔は、巻芯500の外周長に対応している。
【0028】
センサシステム14は、メインフィードロールR1の上流側に配置されており、フイルム50の幅Wの方向に平行して等間隔に並べられた12個の投光器L1〜L12と、フイルム50を透過した各投光器L1〜L12から照射光を検出する受光器S1〜S12とを備える。
【0029】
図2に示すように、投光器L1は、遮光された本体20と、赤外線を出力する発光体24と、発光体24の光軸C上に設けられたスリット板22とから構成されている。投光器L2〜L12も同様の構成であるため、その説明は省略する。
【0030】
受光器S1は、フイルム50をはさみ、投光器L1と光軸Cとが一致するように配置されており、遮光された本体30と、集光レンズ36と、光軸C上に配置された光電変換素子34と、本体30の前面に配置されたスリット板32とから構成される。集光レンズ36は発光体24に対して光電変換素子34の受光面が焦点位置になるように設定されている。受光器S2〜S12も同様の構成であるため、その説明は省略する。
【0031】
スリット板22および32は、光軸Cと直交する方向に延在するスリット22a、スリット32aを有しており、これらのスリット22a、スリット23aの幅は0.1〜1.0[mm]の範囲に設定されている。
【0032】
図3に示すように、各受光器S1〜S12のそれぞれの光軸Cはフイルム50の法線(Z軸)に対して傾斜角度θだけ傾いており、その傾きの方向は搬送方向であるX軸方向に設定されている。この傾斜角度θは5°〜70゜の角度が好適である。
【0033】
また、スリット板32のスリット32aの向きは、各受光器S1〜S12から見た欠陥Mの傾きに一致するように設定され、フイルム50の幅方向を示すY軸に対して傾斜角度ψとなっている。
【0034】
傾斜角度ψについて説明すると、まず、欠陥MがY軸に対して30°傾いているとすれば、フイルム50における欠陥MのX軸方向の距離Lxは、フイルム50の幅Wを用いて、
Lx=W×tan(30°)=W/√3
と表される。この距離Lxは、各受光器S1〜S12の位置から見ると傾斜角度θによりcosθだけ圧縮されて見えるので、(W/√3)×cosθとなる。従って、各投光器L1〜L12および各受光器S1〜S12の位置から見た欠陥Mの傾斜角度ψは、
ψ=Tan-1((W/√3)×cosθ/W)
=Tan-1(cosθ/√3) …(1)
となる。投光器L1〜L12を構成するスリット22aの傾斜角度ψについても同様である。
【0035】
図4に示すように、処理装置12は、バス62を介して処理装置12の全体の制御を行うCPU60と、不揮発性記憶部のROM64と、メモリ(RAM)66と、プログラム等を格納するハードディスク68と、外部記録媒体70aを制御する記録媒体ドライブ70と、表示装置のモニタ72と、入力装置のキーボード74およびマウス76と、これらモニタ72、キーボード74、マウス76とセンサシステム14との入出力制御を行うインタフェース回路(IF)78とを備える。
【0036】
RAM66は、センサシステム14から読み込まれたデータを格納するデータ領域66aと、ハードディスク68のプログラムをロードするプログラム領域66bを有する。
【0037】
ハードディスク68には、受光器S1〜S12から受信した信号データを処理するデータ信号処理プログラム80およびOS等が格納されている。
【0038】
このように構成されるシート体検査装置10の動作について、図5〜図10を参照しながら説明する。
【0039】
まず、図5のフロチャートのステップS1において、フイルム50のベースとなるシート体を製膜する。
【0040】
シート体の端部の形状は、シート体を切断するときのシート体の搬送速度と、搬送方向と直交する方向に切断する刃物の移動速度とによって決まるものであり、図13において説明したように、シート体の幅方向であるY軸に対して所定の傾斜角度で形成される。
【0041】
切断されたシート体は、直径300[mm]の巻芯15に巻回される。このとき、巻芯15に巻回されたシート体には、巻芯15への1周ごとに端部の切り口によって形成される段部により欠陥Mが発生する。この欠陥MのY軸に対する傾斜は端部切り口の傾斜に一致する。また、巻芯15に近いほど欠陥Mによるシート体の変形の程度が大きい。
【0042】
ステップS2において、このシート体を巻き戻しながら乳剤塗布装置90で感光乳剤を塗布してフイルム50に加工する。そして、別の巻芯13にフイルム50を巻回する(図6参照)。このとき、シート体に形成された欠陥Mを含む部分には、乳剤が均一に塗布されない事態が生じる。このようなフイルム50の欠陥Mは、巻芯13に巻回されたフイルム50の外周側に配置されることになる。
【0043】
なお、巻芯15に巻回されていたシート体の外周側には、当初から変形がないため、乳剤塗布装置90によって乳剤が均一に塗布される。乳剤が均一に塗布された後、巻芯13に巻回されたフイルム50には、巻芯13側からその端部切り口によって形成される段部によって変形の生じるおそれがあるが、それによる乳剤の厚みに不均一が生じることはない。
【0044】
次に、巻芯13に巻回されたフイルム50を別の製造ラインへ移し、フイルム50を2つのシート体に裁断する。フイルム50は、具体的には図1に示すように、メインフィードロールR1、スリット刃ロールR2を経て2枚のシート体に裁断され、それぞれが巻芯16および18に巻回される。
【0045】
このとき、ステップS3において、センサシステム14の投光器L1〜L12から光を出力し、受光器S1〜S12によりフイルム50の透過光を検出する。発光体24の出力光は、乳剤であるハロゲン化銀が感光しないように、赤外光(例えば、940nm〜1310nmの波長範囲のもの)を使用している。
【0046】
投光器L1〜L12および受光器S1〜S12のそれぞれの前面部には、欠陥Mの傾斜角度(図3の場合、30゜)に対応した(1)式の関係から導かれる傾斜角度ψのスリット22aおよび32aが形成されている。
【0047】
この場合、受光器S1〜S12を構成する光電変換素子34には、スリット22aおよび32aによってライン状に成形された光が到達する。この光のライン方向の傾斜角度は、フイルム50に形成された欠陥Mの傾斜角度に一致するように設定されているため、欠陥Mが光の光路中を通過した際、フイルム50の透過率の変化が光のライン方向に同時に生起され、光電変換素子34によって検出される光量が大きく変動する。従って、透過率の高いフイルム50であっても、欠陥Mの有無を高精度に検出することができる。
【0048】
なお、光をライン状に成形するスリット22aおよび32aは、どちらか一方だけとしてもよい。
【0049】
さらに、本実施の形態では、フイルム50の法線に対して5゜〜70゜の範囲で、光軸Cを傾斜角度θだけ傾けて設定しているため、光路長が増加して透過率が低下し、欠陥Mを一層高精度に検出することが可能となる。
【0050】
またさらに、発光体24から照射された光は、フイルム50に対して集光されるのではなく、受光器の集光レンズ36によって光電変換素子34に集光されるように設定されているため、搬送中にフイルム50が光軸Cの方向に変動するような場合であっても、その影響を受けることなく欠陥Mを高精度に検出することができる。
【0051】
受光器S1〜S12が検出した透過光は、出力信号として処理装置12へ伝送される。処理装置12は、受信した受光器S1〜S12の12チャンネル分の各出力信号をフイルム50の搬送方向に対して1[mm]ずつ計測し、得られたデータ信号をデジタル値としてデータ領域66aに記憶する(ステップS4)。
【0052】
以後のステップS5からステップS12までの処理は、処理装置12の内部における記憶したデータ信号に対する処理である。
【0053】
まず、ステップS5において、データ信号を処理するための区間長さDを決定する。この区間長さDは、欠陥Mによる感光乳剤の塗布むらを含むデータ信号と、欠陥Mによらない感光乳剤の塗布むらを含むデータ信号とに分離して信号処理を行うために設定される。
【0054】
区間長さDは、欠陥Mを形成する巻芯15の外周長をK[mm]としたとき、2D<K<3Dとなる条件に従って決定される。この場合、欠陥Mの最小の間隔は、巻芯15の外周長Kに等しく、シート体が巻芯15に巻回されるのにしたがって広くなる。欠陥Mの間隔が最小の外周長Kから大きく変動しないものとすると、2D<K<3Dとすることで、隣接する3つの区間を選択した際、1つの区間に欠陥Mを含むデータ信号があり、他の2つの区間に欠陥Mを含まないデータ信号があることになる。具体的には、巻芯15の外径が300[mm]であることから、外周長K[mm]は、K=300×π=942[mm]であり、従って、区間長さDは、314<D<471の条件で決定される。以下の説明では、D=400[mm]とする。決定された区間長さDは、処理装置12に入力して記憶させる。
【0055】
次に、ステップS6において、CPU60は、データ信号処理プログラム80をプログラム領域66bにロードして実行し、以下に示すデータ信号処理を行う。
【0056】
ステップS7において、CPU60およびデータ処理プログラム80は、受光器S1からのデータ信号を読み取った順に信号列x(1)〜x(max)とする。この場合、処理装置12は、フイルム50の搬送方向に対してデータ信号を1[mm]間隔で計測するため、例えば、フイルム50の長さが200[m]であったとすれば、max=200000となる。
【0057】
この信号列x(1)〜x(max)から36組の差分配列dx5(i)〜dx40(i)を算出する。なお、dx5(i)=x(i+5)−x(i)、dx6(i)=x(i+6)−x(i)、…、dx40(i)=x(i+40)−x(i)、i=1〜maxである。
【0058】
ここで、差分配列dx5(i)〜dx40(i)は、感光乳剤の塗布むらが5[mm]以上、40[mm]以下の範囲で発生するものとし、フイルム50の搬送方向の距離5〜40[mm]に対応するデータ信号間の差分を求めたものであり、この差分の最大値から欠陥Mを確実に検出することができる。なお、塗布むらの範囲およびそれに対応した差分配列の設定は、適宜変更することができる。
【0059】
次に、ステップS8において、区間長さDごと、つまり最初の区間であればi=1〜400の範囲で差分配列dx5(i)〜dx40(i)の最大値を求め(図7参照)、区間長さDごとのピーク配列P(d)とする。dは区間を特定するパラメータであり、その値の範囲は、1〜(max/400)である。
【0060】
次に、ステップS9において、ピーク配列P(d)を、欠陥Mによる部分と、欠陥Mを含まない正常な部分とに分離する。つまり、区間長さD内には欠陥Mによる信号変化が必ず含まれているとは限らず、正常な部分であっても乳剤の塗布むらがあるために区間長さDごとの多少の信号変化がピーク配列P(d)として表されているため、これらの部分を分離する必要がある。図7に示す例においては、P(1)、P(4)、P(6)は欠陥Mによる信号であり、P(2)、P(3)、P(5)は正常部分の塗布むらによる信号である。
【0061】
欠陥Mによる塗布むらと正常部分の塗布むらとを分離するためには、隣接する3つの区間(基準長さ)内において、ピーク配列P(d)、P(d+1)、P(d+2)のうち最大のものを選択して最大値配列H(d)とし(極値検出手段)、また最小のものを選択して最小値配列L(d)とする。
【0062】
具体的には、図7に示すデータ信号に対する最大値配列H(d)は、順に、P(1)、P(4)、P(4)、P(6)、…となり、最小値配列L(d)は、P(2)、P(2)、P(5)、P(5)、…となる。なお、ピーク配列P(d)を選択する範囲は4つ以上の区間としても良い。
【0063】
次に、ステップS10において、欠陥Mが消滅する欠陥消滅位置Qを求めるために最大値配列H(d)を2つの関数で近似する。すなわち、欠陥Mを含む最大値配列H(d)の値は徐々に減少するものと考えることができ、また、欠陥Mを含まない正常部分の最大値配列H(d)の値は増加あるいは減少の傾向を示さないと考えることができる。従って、これらの特性に対応して設定した2つの関数が切り替わる区間の位置を欠陥消滅位置Qとして特定することができる。
【0064】
図8は、最大値配列H(d)の値をフイルム50の測定方向にプロットした例を示す。図8において、求める欠陥消滅位置Qよりもフイルム50の端部側の関数を以下の(2)式(第1関数)のように設定する。
【0065】
f(d)=αd+β (d≦Q) …(2)
また、フイルム50の端部から離間する欠陥消滅位置Q以降の関数を以下の(3)式(第2関数)のように設定する。
【0066】
g(d)=γ (d>Q) …(3)
なお、g(d)は一定ではなくdの関数であってもよい。
【0067】
この2つの関数を最小二乗誤差法を用いた次の評価式(4)式によって評価値Sが最小になるα、β、γおよびQを求める。
【0068】
ここでG1は安全係数であり、G1を大きく設定することにより欠陥消滅位置Qまでの距離が長めに調整される。G1は、例えば、3程度に設定することができる。また、(2)、(3)、(4)式において、区間の順番を表すパラメータdの代わりにフイルム50の長さx[m]をx=d×400/1000[m]の関係によりdを置換して用いてもよい。図8の横軸は長さx[m]で表している。
【0069】
α、β、γおよびQの求め方は、例えば、フイルム50の欠陥Mが形成されている側の端部付近のデータでf(d)のα、βを最小二乗誤差法等により求め、フイルム50の他端付近のデータによりg(d)のγを求めておき、求まったα、β、γを(4)式に代入して欠陥消滅位置Qの値を変化させてSが最小になるQを求めればよい。
【0070】
また、例えば、(4)式でα、β、γおよびQのうち3つを仮の値に固定し、残る1つをパラメータとして変化させてSが最小になる点を探索し、その後、他の3つについても同様の処理を行う。そして、その処理をさらに連続して行ってSの値が最小値に収束するようなα、β、γおよびQを求めるようにしてもよい。
【0071】
ところで、以上のようにして欠陥消滅位置Qを求めた場合(欠陥消滅位置特定手段)。例えば、H(d)が図9に示す波形であったとすると、欠陥消滅位置Qの前後におけるH(d)の値に差がなく、この位置をフイルム50の廃棄長さとするのが不適当となる場合がある。
【0072】
そこで、ステップS11において、関数g(d)を次のように係数(G2×σ)を用いて補正して新たな関数g2(d)とする(関数補正手段)。
【0073】
g2(d)=g(d)+G2×σ …(5)
この(5)式の中で、G2は検出されたデータ信号に含まれるノイズを考慮した重み付け係数であり、またσは最小値配列L(d)の標準偏差である。そして、このg2(d)とf(d)との交点を補正した欠陥消滅位置Q2として求めることができる(欠陥消滅位置補正手段)。
【0074】
また、図8に示すように、d<Qの範囲において、g2(d)とf(d)との交点が存在しない場合は、元の欠陥消滅位置Gをそのまま補正した欠陥消滅位置Q2とみなしてよい。
【0075】
最小値配列L(d)は正常部分の感光乳剤の塗布むらにより表れる信号なので、その標準偏差σおよび重み付け係数G2を乗算して加えることにより、最大値配列H(d)の成分のうち正常部分のばらつきを相殺することができる。
【0076】
このようにして、受光器S1からのデータ信号について欠陥消滅位置Q2を求めた後、受光器S2〜S12のデータ信号についてもステップS7〜ステップS11の処理を同様に行い、それぞれに対して欠陥消滅位置Q2を求める。
【0077】
次に、ステップS12において、受光器S1〜S12の12チャンネルの信号データについて、それぞれ求めた欠陥消滅位置Q2からフイルム50を破棄する範囲について決定する。
【0078】
図10は、受光器S1〜S12の位置をj=1〜12とし、受光器S1〜S12により求まった欠陥消滅位置Q2をそれぞれQ2(j)と表したときのフイルム50の端部からの廃棄長さEを示したものである。この場合、(j−1)〜jの幅において、破棄長さEはQ2(j−1)とQ2(j)のうち値が大きい方を選択すればよい。また、フイルム50の幅方向(Y軸方向)の両端部はQ2(1)およびQ2(12)の値を適用すればよい。
【0079】
このようにして破棄長さEを決定することにより、必要最小限の部分のみを廃棄対象とすることができ、好適である。
【0080】
なお、上述の説明においては、シート体が巻回される工程上で検査を行う例について示したが、巻回されずに単に搬送される過程で検査を行ってもよいし、また、シート体は固定しておきセンサシステム14を相対的に移動させて検査してもよい。
【0081】
以上説明したように、本発明に係るシート体検査装置および方法によれば、人手によらず、且つ、シート体をサンプリング等することなく欠陥を検出することができるので、個人差がなく、且つ、正確に検出することができるという効果が達成される。
【0082】
また、シート体がフイルム50である場合は、欠陥Mを検出するためにフイルム50を現像する必要もない。
【0083】
欠陥Mを含むデータ信号を検出する場合においては、投光器L1〜L12および受光器S1〜S12のそれぞれの前面に、欠陥Mの傾斜方向に対応させた傾斜角度ψに設定されたスリット22a、32aが形成されているため、光軸C上に欠陥Mが到達した際、光量変化量が非常に大きくなり信号変化を確実に検出できる。
【0084】
さらに、光軸Cはフイルム50の法線に対して傾斜角度θだけ傾いて設定されているので、光路長が長くなり、それによる透過率の低下に起因してコントラストが向上し、欠陥Mを一層確実に検出することができる。
【0085】
またさらに、集光レンズ36では、発光体24に対して焦点位置が光電変換素子36の位置になるように設定されているので、搬送にともなってフイルム50が光軸Cの方向に多少振動しても受光レベルの変動に対する影響は少ない。
【0086】
センサシステムには12個の投光器L1〜L12および受光器S1〜S12がフイルム50の幅W方向に等間隔で配置されており、それぞれ個別に信号を処理するように構成されているため、幅W方向に対する感光乳剤の塗布むらや各受光器S1〜S12の感度むらによる欠陥Mの誤検出といった事態を好適に回避することができる。
【0087】
また、処理装置12内部の処理においては、データ信号を所定の区間長さDで分割し、さらに3つの連続する区間を基準長さとして、その範囲内の最大値を最大値配列H(d)として求めているので、欠陥Mによる信号の変化を確実に抽出することができる。
【0088】
そして、この最大値配列H(d)を2つの関数で近似して処理するので欠陥消滅位置Qの特定が容易になる。
【0089】
さらに、2つの関数のうちの一方を係数により補正するので、最大値配列H(d)が示す波形形状が変則的なものであっても適用可能であり、検出される欠陥消滅位置Qを調整し、フイルム50の所望の廃棄長さを自動設定することができる。
【0090】
次に、本実施の形態に係るシート体検査装置および方法の他の利用形態について説明する。
【0091】
本願発明者は、上述のシート体検査装置および方法により得られる最大値配列H(d)が非常に高い再現性を持ち、かつ、フイルム50ごとに固有の波形を示すことを確認した。すなわち、同じフイルム50に対しては、複数回繰り返し検査を行った場合でも得られる最大値配列H(d)はほぼ同じ値を示し、さらにその最大値配列H(d)はフイルム50ごとに全て異なる波形を表している。
【0092】
一般に、フイルム50は製品の特性上、製造番号等のマーキングを行うことができないが、最大値配列H(d)を記録しておき、必要に応じてフイルム50に対して再度検査を行うことにより、記録してある最大値配列H(d)から製造番号を特定することが可能である。
【0093】
また、フイルム50は、前記欠陥M以外にも他の欠陥が生じることがあるが、これらの欠陥は別の検査により検出および記録しておき、後工程においてその箇所を破棄するようにしている。
【0094】
しかしながら、フイルム50は製造工程において数m単位で切り取られることがあるため、予め記録していた欠陥部分に関する位置情報がずれてしまい、これらの欠陥の位置を精度良く特定することが困難となることがある。従って、欠陥部分を破棄するために、例えばフイルム50の端部から100[m]の箇所に小さい欠陥があった場合でも余裕をもって100±20[m]の範囲を破棄するようにしている。
【0095】
ところで、上述の最大値配列H(d)の特徴を利用すれば、フイルム50の長さ方向における基準点を特定することができるので、欠陥の位置を精度よく算出することが可能である。
【0096】
例えば、フイルム50の端部から10[m]の箇所において最大値配列H(d)が固有の値を示しているとすれば、この箇所を基準点として設定し、100[m]の箇所の欠陥は基準点から90[m]として特定することができる。
【0097】
従って、フイルム50の端部が5[m]切り取られたとしても、フイルム50に対して再度検査を行うことにより基準点を検出すれば、この基準点から90±5[m]程度の範囲を破棄すれば足りるので、フイルム50の正常な部位まで余分に破棄されてしまう事態を回避することができる。
【0098】
なお、この発明に係るシート体検査装置および方法は、上述の実施の形態例に限らず、この発明の要旨を逸脱することなく、種々の構成を採り得ることはもちろんである。
【0099】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明に係るシート体検査装置および方法によれば、人手によらず、且つ、シート体をサンプリング等のために切り取ることなく、欠陥部分を自動的に検出することができる。従って、欠陥部分を効率的に検出し、無駄のない廃棄処理を実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本実施の形態に係るシート体検査装置および方法の全体の回路構成を示すブロック図である。
【図2】投光器および受光器の構造を示す説明図である。
【図3】受光器とシート体の位置関係を示す説明図である。
【図4】処理装置の内部構成を示すブロック図である。
【図5】本実施の形態に係るシート体検査方法を示すフローチャートである。
【図6】シート体に感光乳剤を塗布する工程を示す説明図である。
【図7】受光器の出力信号波形に対して区間ごとに求めたピーク値を示す説明図である。
【図8】最大値配列を近似する2つの関数と欠陥消滅位置を示すグラフである。
【図9】最大値配列を近似する2つの関数を補正して欠陥消滅位置を示すグラフである。
【図10】受光器の配置された間隔ごとにシート体の廃棄長さを決定する手順を説明する説明図である。
【図11】従来のフイルムの製造工程を示す説明図である。
【図12】前記フイルムがロールの巻き芯部において欠陥が発生する状態を示す説明図である。
【図13】前記フイルムの端部付近における欠陥を示す説明図である。
【符号の説明】
10…シート体検査装置 12…処理装置
14…センサシステム 20、30…本体
22、32…スリット板 22a、32a…スリット
24…発光体 34…光電変換素子
36…集光レンズ 50…フイルム
60…CPU 80…データ信号処理プログラム
C…光軸 D…区間長さ
E…破棄長さ H(d)…最大値配列
L1〜L12…投光器 M…欠陥
P(d)…ピーク配列 Q、Q2…欠陥消滅位置
R1、R3…メインフィードロール R2、R4…スリット刃ロール
R21、R22…ロール S1〜S12…受光器
f(d)…第1関数 g(d)…第2関数
g2(d)…補正した第2関数 θ、ψ…傾斜角度
Claims (10)
- 透光性のシート体に形成された筋状の欠陥部分を検査する装置において、
前記シート体に対して光を入射させる投光器と、
前記シート体を透過した前記光を検出する受光器と、
前記投光器または前記受光器の少なくとも一方に配設され、スリットにより前記光をライン状に成形して前記受光器に導くスリット部材と、
前記受光器により検出された前記光の信号データを処理する処理手段と、
前記シート体の基準長さごとに、前記信号データの極値を求める極値算出手段と、
前記シート体に形成された前記欠陥部分を含む範囲から得られた複数の前記極値より設定される第1関数と、前記欠陥部分を含まない範囲から得られた複数の前記極値より設定される第2関数とを求め、前記第1関数から前記第2関数に切り替わる前記シート体の位置を、前記欠陥部分が消滅する欠陥消滅位置として特定する欠陥消滅位置特定手段とを有することを特徴とするシート体検査装置。 - 請求項1記載の検査装置において、
前記シート体は、前記投光器および前記受光器に対して相対的に搬送されることを特徴とするシート体検査装置。 - 請求項1記載の検査装置において、
前記シート体は、感光乳剤が塗布されたフイルムであり、
前記欠陥部分は、前記感光乳剤が塗布される前の前記フイルムを巻芯に巻回した際に、前記フイルムの端部における段差によって形成されることを特徴とするシート体検査装置。 - 請求項1記載の検査装置において、
前記スリットの幅は、0.1mm〜1.0mmの範囲であることを特徴とするシート体検査装置。 - 請求項1記載の検査装置において、
前記投光器から前記受光器に至る前記光の光軸は、前記シート体の法線に対して5°〜70゜の範囲で傾斜して設定されることを特徴とするシート体検査装置。 - 請求項1記載の検査装置において、
前記光の波長は、940nm〜1310nmの範囲であることを特徴とするシート体検査装置。 - 請求項1記載の検査装置において、
前記投光器および前記受光器は、前記シート体の幅方向に対して複数組配設されることを特徴とするシート体検査装置。 - 請求項1記載の検査装置において、
前記スリット部材は、筋状の前記欠陥部分の延在方向に対応して前記スリットの方向が設定され、前記処理手段は、前記スリットを介して前記受光器に導かれることで得られた前記信号データを処理し、前記シート体の欠陥部分を検出することを特徴とするシート体検査装置。 - 請求項1記載の検査装置において、
前記処理手段は、前記欠陥消滅位置特定手段により求めた前記第2関数を所定の係数により補正する関数補正手段を有し、前記欠陥消滅位置特定手段は、前記第1関数から補正された前記第2関数に切り替わる前記シート体の位置を、前記欠陥部分が消滅する欠陥消滅位置として特定することを特徴とするシート体検査装置。 - 透光性のシート体に形成された筋状の欠陥部分を検査する方法において、
前記シート体を透過した光を、筋状の前記欠陥部分の延在方向に対応して設定されたライン状の光として受光器により検出するステップと、
前記シート体の基準長さごとに、前記ライン状の光から得られる信号データの極値を求めるステップと、
前記シート体に形成された前記欠陥部分を含む範囲から得られた複数の前記極値より設定される第1関数と、前記欠陥部分を含まない範囲から得られた複数の前記極値より設定される第2関数とを求め、前記第1関数から前記第2関数に切り替わる前記シート体の位置を、前記欠陥部分が消滅する欠陥消滅位置として特定するステップとを有することを特徴とするシート体検査方法。
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